JP5261125B2 - チャックテーブルの原点高さ位置検出方法 - Google Patents
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該第1の高さ検出器の計測針を退避位置から該チャックテーブルの該基部の上面に接触させて該基部の高さ位置を検出するとともに、該第2の高さ検出器の計測針を退避位置から該チャックテーブルの該保持部の保持面に接触させて該保持部の高さ位置を検出する高さ位置検出工程と、
該第1の高さ検出器の計測針と該第2の高さ検出器の計測針をそれぞれ該退避位置に位置付けるとともに、該チャックテーブルを所定角度回転して次の検出位置に位置付けるチャックテーブル位置付け工程と、
該高さ位置検出工程と該チャックテーブル位置付け工程とを繰り返し実施し、該基部の複数の高さ位置を検出してその平均値を求めるとともに、該保持部の複数の高さ位置を検出してその平均値を求める原点高さ位置算出工程と、とを含む、
ことを特徴とするチャックテーブルの原点高さ位置検出方法が提供される。
図示の実施形態における研削装置は、略直方体状の装置ハウジング2を具備している。装置ハウジング2の図1において右上端には、静止支持板21が立設されている。この静止支持板21の内側面には、上下方向に延びる2対の案内レール22、22および23、23が設けられている。一方の案内レール22、22には荒研削手段としての荒研削ユニット3が上下方向に移動可能に装着されており、他方の案内レール23、23には仕上げ研削手段としての仕上げ研削ユニット4が上下方向に移動可能に装着されている。
研削作業を開始するに先立って、上記チャックテーブル6の原点高さ位置を検出する原点高さ位置検出工程を実施する。この原点高さ位置検出工程は、例えばその日の研削作業を開始する前に実施する。原点高さ位置検出工程は、先ず図1に示すように荒研削加工域Bに位置付けられているチャックテーブル6に対して実施する。そして、チャックテーブル6が荒研削加工域Bで停止している状態で、制御手段10は第1の高さ検出器15aおよび第2の高さ検出器15bの作動手段152aおよび152bを制御して計測針151aおよび151bを図3において実線で示すようにチャックテーブル6の基部62の上面および保持部61を構成する吸着保持チャックの上面(保持面)に接触する作用位置に位置付ける。このようにして計測針151aおよび151bが作用位置に位置付けられた第1の高さ検出器15aおよび第2の高さ検出器15bは、それぞれ基部62および保持部61の高さ位置を検出し、その検出信号を制御手段10に送る(高さ位置検出工程)。第1の高さ検出器15aおよび第2の高さ検出器15bからそれぞれ送られた検出信号を入力した制御手段10は、それぞれの高さ位置をランダムアクセスメモリ(RAM)103に一時格納する。
即ち、第1のカセット7に収容された研削加工前の被加工物である半導体ウエーハWは被加工物搬送手段12の上下動作および進退動作により搬送され、中心合わせ手段9に載置され6本のピン91の中心に向かう径方向運動により中心合わせされる。中心合わせ手段9に載置され中心合わせされた半導体ウエーハWは、被加工物搬入手段14の旋回動作によって被加工物搬入・搬出域Aに位置付けられたチャックテーブル6の保持部61を構成する吸着保持チャックの上面(保持面)に載置される。そして、図示しない吸引手段を作動して、半導体ウエーハWを保持部61を構成する吸着保持チャックの上面(保持面)に吸引保持する。次に、ターンテーブル5を図示しない回転駆動機構によって矢印5aで示す方向に120度回動せしめて、半導体ウエーハWを載置したチャックテーブル6を荒研削加工域Bに位置付ける。
3:荒研削ユニット
33:研削ホイール
36:研削送り手段
4:仕上げ研削ユニット
43:研削ホイール
46:研削送り手段
5:ターンテーブル
6:チャックテーブル
61:チャックテーブルの保持部
62:チャックテーブルの基部
7:第1のカセット
8:第2のカセット
9:仮置きテーブル
10: 制御手段
11:スピンナー洗浄手段
12:被加工物搬送手段
13:被加工物搬入手段
14:被加工物搬出手段
15a:第1の高さ検出器
15b:第2の高さ検出器
W:半導体ウエーハ
T:保護テープ
Claims (1)
- 被加工物を保持する保持面を有する保持部と該保持部を囲繞して支持する基部を備えたチャックテーブルと、該チャックテーブルの該保持部の保持面に保持された被加工物を研削する研削手段と、該研削手段を該チャックテーブルの該保持部の保持面に対して垂直な方向に研削送りする研削送り機構を具備している研削装置におけるチャックテーブルの原点高さ位置を第1の高さ検出器と第2の高さ検出器とからなる厚み計測手段を用いて検出するチャックテーブルの原点高さ位置検出方法であって、
該第1の高さ検出器の計測針を退避位置から該チャックテーブルの該基部の上面に接触させて該基部の高さ位置を検出するとともに、該第2の高さ検出器の計測針を退避位置から該チャックテーブルの該保持部の保持面に接触させて該保持部の高さ位置を検出する高さ位置検出工程と、
該第1の高さ検出器の計測針と該第2の高さ検出器の計測針をそれぞれ該退避位置に位置付けるとともに、該チャックテーブルを所定角度回転して次の検出位置に位置付けるチャックテーブル位置付け工程と、
該高さ位置検出工程と該チャックテーブル位置付け工程とを繰り返し実施し、該基部の複数の高さ位置を検出してその平均値を求めるとともに、該保持部の複数の高さ位置を検出してその平均値を求める原点高さ位置算出工程と、とを含む、
ことを特徴とするチャックテーブルの原点高さ位置検出方法。
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JP2008264506A JP5261125B2 (ja) | 2008-10-10 | 2008-10-10 | チャックテーブルの原点高さ位置検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2008264506A JP5261125B2 (ja) | 2008-10-10 | 2008-10-10 | チャックテーブルの原点高さ位置検出方法 |
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- 2008-10-10 JP JP2008264506A patent/JP5261125B2/ja active Active
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