JP5187925B2 - 導電材料 - Google Patents
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Description
またPtにRh等を添加し、機械的強度を上げる場合もあるが、蒸気圧の違いから、組成変動が生じ、抵抗が変わるといった現象があり、抵抗変化が重要視される用途では使用できないといった問題がある。
添加元素も酸化しにくいものに限られ、例えばRhといったPtよりも高価な元素を使用しなければならない。
また固溶強化の場合、結晶粒の粗大化を抑制する効果が小さく、工程中1500℃以上の高温に晒される場合、Ptとほとんど変わらない程度まで粗大化し、粒界から破壊する場合がある。
このため、酸化物等を分散させた材料も使用されているが、50μm以下の極細線加工が難しく、PtやPt合金と比べると延性が小さい等の問題がある。
このような導電材料は、例えば、温度係数を利用した抵抗線や、酸素センサ等高温で安定した抵抗が求められるリード線等に使用することができる。
表1に示す各成分組成のPtおよびPt合金を、アルゴンガス雰囲気中にて溶融、鋳型に鋳造したインゴットを鍛造、伸線の加工を行い、加工性、機械的強度、抵抗比を調査した。
加工性および機械的強度の調査結果を表2に示す。
また従来例1のPtと比較して、各実施例の引張強さは、室温で1.3倍以上、600℃では2倍以上の強さとなり、十分な引張強度を有している。
またSrが3000ppm以上(実施例3,4)だと、従来例2のPtRh合金と同程度以上の引張強度を有する。
の安定性の確認のために、実施例1〜4を大気中600℃、500時間、熱処理し、熱処理前後の抵抗比の変化率を調査した。
抵抗比の変化率は式1から算出した。
= [熱処理前の抵抗比*2−熱処理後の抵抗比]/熱処理前の抵抗比×100
*2: 熱処理前条件 φ0.3mm×1000mm線、1100℃×1hr熱処理後測定
そこで、表1の試料の1550℃×1hr熱処理後の平均結晶粒径を調べた。試料はφ0.3mmの線とした。
平均結晶粒径の求め方は、式2に示す。
D:平均結晶粒径
A:測定面積
μ1:測定面積内に存在する測定端部に接していない結晶粒の個数
μ2:測定面積内に存在する測定端部に接している結晶粒の個数
比較例1は、従来例よりも結晶粒の粗大化は抑制しているが、実施例ほどの効果は得られなかった。
従来例は、Rhの有無にかかわらず、粗大化しており、観察箇所によっては、線を貫通する粒界も存在していた。
結果を表5に示す。
比較例ではPt以外のピークが確認できなかった。
図1に示すように、Srの面分析から1μm程度および数100nm程度のSr析出物の確認ができた。
(1)ヒーター
(2)測温抵抗体
(3)一酸化炭素および可燃性ガスセンサ用ヒーター及び測温抵抗体
(4)サーミスタ用リード
(5)固体電解質ガスセンサ用リード
(6)半導体ガスセンサ用リード
Claims (2)
- PtにSrを400〜10000ppm含有し、残部を不可避不純物とし、Pt中にPtとSrが金属間化合物相として分散、析出していることを特徴とする導電材料。
- 請求項1記載の導電材料から成ることを特徴とする(1)乃至(6)のいずれかを構成する導電体。
(1)ヒーター
(2)測温抵抗体
(3)一酸化炭素および可燃性ガスセンサ用ヒーターおよび測温抵抗体
(4)サーミスタ用リード
(5)固体電解質ガスセンサ用リード
(6)半導体ガスセンサ用リード
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