以下添付図面に従って本発明の好ましい実施の形態について詳説する。
ここでは、インクジェット記録装置によるインクドットの着弾位置及びドット径の計測への適用例について説明する。まず、インクジェット記録装置の全体構成について説明する。
〔インクジェット記録装置の説明〕
図1は、インクジェット記録装置の全体構成図である。同図に示すように、このインクジェット記録装置10は、黒(K),シアン(C),マゼンタ(M),イエロー(Y)の各インクに対応して設けられた複数のインクジェット記録ヘッド(「液体吐出ヘッド」に相当、以下、「ヘッド」という。)12K,12C,12M,12Yを有する印字部12と、各ヘッド12K,12C,12M,12Yに供給するインクを貯蔵しておくインク貯蔵/装填部14と、記録媒体たる記録紙16を供給する給紙部18と、記録紙16のカールを除去するデカール処理部20と、前記印字部12のノズル面(インク吐出面)に対向して配置され、記録紙16の平面性を保持しながら記録紙16を搬送するベルト搬送部22と、記録済みの記録紙(プリント物)を外部に排出する排紙部26とを備えている。
インク貯蔵/装填部14は、各ヘッド12K,12C,12M,12Yに対応する色のインクを貯蔵するインクタンクを有し、各タンクは所要の管路を介してヘッド12K,12C,12M,12Yと連通されている。また、インク貯蔵/装填部14は、インク残量が少なくなるとその旨を報知する報知手段(表示手段、警告音発生手段)を備えるとともに、色間の誤装填を防止するための機構を有している。
図1では、給紙部18の一例としてロール紙(連続用紙)のマガジンが示されているが、紙幅や紙質等が異なる複数のマガジンを併設してもよい。また、ロール紙のマガジンに代えて、又はこれと併用して、カット紙が積層装填されたカセットによって用紙を供給してもよい。
複数種類の記録媒体(メディア)を利用可能な構成にした場合、メディアの種類情報を記録したバーコード或いは無線タグなどの情報記録体をマガジンに取り付け、その情報記録体の情報を所定の読取装置によって読み取ることで、使用される記録媒体の種類(メディア種)を自動的に判別し、メディア種に応じて適切なインク吐出を実現するようにインク吐出制御を行うことが好ましい。
給紙部18から送り出される記録紙16はマガジンに装填されていたことによる巻きクセが残り、カールする。このカールを除去するために、デカール処理部20においてマガジンの巻きクセ方向と逆方向に加熱ドラム30で記録紙16に熱を与える。このとき、多少印字面が外側に弱いカールとなるように加熱温度を制御するとより好ましい。
ロール紙を使用する装置構成の場合、図1のように、裁断用のカッター(第1のカッター)28が設けられており、該カッター28によってロール紙は所望のサイズにカットされる。
デカール処理後、カットされた記録紙16は、ベルト搬送部22へと送られる。ベルト搬送部22は、ローラ31、32間に無端状のベルト33が巻き掛けられた構造を有し、少なくとも印字部12のノズル面に対向する部分が水平面(フラット面)をなすように構成されている。
ベルト33は、記録紙16の幅よりも広い幅寸法を有しており、ベルト面には多数の吸引穴(不図示)が形成されている。図1に示したとおり、ローラ31、32間に掛け渡されたベルト33の内側において印字部12のノズル面及び印字検出部24のセンサ面に対向する位置には吸着チャンバ34が設けられており、この吸着チャンバ34をファン35で吸引して負圧にすることによって記録紙16がベルト33上に吸着保持される。なお、吸引吸着方式に代えて、静電吸着方式を採用してもよい。
ベルト33が巻かれているローラ31、32の少なくとも一方にモータ(図6中符号88)の動力が伝達されることにより、ベルト33は図1上の時計回り方向に駆動され、ベルト33上に保持された記録紙16は図1の左から右へと搬送される。
縁無しプリント等を印字するとベルト33上にもインクが付着するので、ベルト33の外側の所定位置(印字領域以外の適当な位置)にベルト清掃部36が設けられている。ベルト清掃部36の構成について詳細は図示しないが、例えば、ブラシ・ロール、吸水ロール等をニップする方式、清浄エアーを吹き掛けるエアーブロー方式、或いはこれらの組合せなどがある。
なお、ベルト搬送部22に代えて、ローラ・ニップ搬送機構を用いる態様も考えられるが、印字領域をローラ・ニップ搬送すると、印字直後に用紙の印字面をローラが接触するので画像が滲み易いという問題があるため、本例のように、印字領域では画像面を接触させない吸着ベルト搬送が好ましい。
ベルト搬送部22により形成される用紙搬送路上において印字部12の上流側には、加熱ファン40が設けられている。加熱ファン40は、印字前の記録紙16に加熱空気を吹き付け、記録紙16を加熱する。印字直前に記録紙16を加熱しておくことにより、インクが着弾後乾き易くなる。
印字部12の各ヘッド12K,12C,12M,12Yは、当該インクジェット記録装置10が対象とする記録紙16の最大紙幅に対応する長さを有し、そのノズル面には最大サイズの記録媒体の少なくとも一辺を超える長さ(描画可能範囲の全幅)にわたりインク吐出用のノズルが複数配列されたフルライン型のヘッドとなっている(図2参照)。
ヘッド12K,12C,12M,12Yは、記録紙16の送り方向に沿って上流側から黒(K)、シアン(C)、マゼンタ(M)、イエロー(Y)の色順に配置され、それぞれのヘッド12K,12C,12M,12Yが記録紙16の搬送方向と略直交する方向に沿って延在するように固定設置される。
ベルト搬送部22により記録紙16を搬送しつつ各ヘッド12K,12C,12M,12Yからそれぞれ異色のインクを吐出することにより記録紙16上にカラー画像を形成し得る。
このように、紙幅の全域をカバーするノズル列を有するフルライン型のヘッド12K,12C,12M,12Yを色別に設ける構成によれば、紙送り方向(副走査方向)について記録紙16と印字部12を相対的に移動させる動作を1回行うだけで(すなわち1回の副走査で)、記録紙16の全面に画像を記録することができる。これにより、記録ヘッドが紙搬送方向と直交する方向に往復動作するシャトル型ヘッドに比べて高速印字が可能であり、生産性を向上させることができる。
本例では、KCMYの標準色(4色)の構成を例示したが、インク色や色数の組合せについては本実施形態に限定されず、必要に応じて淡インク、濃インク、特別色インクを追加してもよい。例えば、ライトシアン、ライトマゼンタなどのライト系インクを吐出するインクジェットヘッドを追加する構成も可能である。また、各色ヘッドの配置順序も特に限定はない。
印字部12の後段には後乾燥部42が設けられている。後乾燥部42は、印字された画像面を乾燥させる手段であり、例えば、加熱ファンが用いられる。印字後のインクが乾燥するまでは印字面と接触することは避けたほうが好ましいので、熱風を吹き付ける方式が好ましい。
後乾燥部42の後段には、加熱・加圧部44が設けられている。加熱・加圧部44は、画像表面の光沢度を制御するための手段であり、画像面を加熱しながら所定の表面凹凸形状を有する加圧ローラ45で加圧し、画像面に凹凸形状を転写する。
こうして生成されたプリント物は排紙部26から排出される。本来プリントすべき本画像(目的の画像を印刷したもの)とテスト印字とは分けて排出することが好ましい。このインクジェット記録装置10では、本画像のプリント物と、テスト印字のプリント物とを選別してそれぞれの排出部26A、26Bへと送るために排紙経路を切り換える不図示の選別手段が設けられている。なお、大きめの用紙に本画像とテスト印字とを同時に並列に形成する場合は、カッター(第2のカッター)48によってテスト印字の部分を切り離す。また、図1には示さないが、本画像の排出部26Aには、オーダー別に画像を集積するソーターが設けられる。
〔ヘッドの構造〕
次に、ヘッドの構造について説明する。色別の各ヘッド12K,12C,12M,12Yの構造は共通しているので、以下、これらを代表して符号50によってヘッドを示すものとする。
図2(a) はヘッド50の構造例を示す平面透視図であり、図2(b) はその一部の拡大図である。また、図3はヘッド50の他の構造例を示す平面透視図、図4は記録素子単位となる1チャネル分の液滴吐出素子(1つのノズル51に対応したインク室ユニット)の立体的構成を示す断面図(図2(a) 中の4−4線に沿う断面図)である。
記録紙16上に印字されるドットピッチを高密度化するためには、ヘッド50におけるノズルピッチを高密度化する必要がある。本例のヘッド50は、図2(a),(b) に示したように、インク吐出口であるノズル51と、各ノズル51に対応する圧力室52等からなる
複数のインク室ユニット(液滴吐出素子)53を千鳥でマトリクス状に(2次元的に)配置させた構造を有し、これにより、ヘッド長手方向(紙送り方向と直交する方向)に沿って並ぶように投影(正射影)される実質的なノズル間隔(投影ノズルピッチ)の高密度化を達成している。
記録紙16の送り方向(矢印S方向;副走査方向)と略直交する方向(矢印M方向;主走査方向)に記録紙16の全幅Wmに対応する長さ以上のノズル列を構成する形態は本例
に限定されない。例えば、図2(a) の構成に代えて、図3に示すように、複数のノズル51が2次元に配列された短尺のヘッドモジュール50’を千鳥状に配列して繋ぎ合わせることで記録紙16の全幅に対応する長さのノズル列を有するラインヘッドを構成してもよい。
各ノズル51に対応して設けられている圧力室52は、その平面形状が概略正方形となっており(図2(a),(b) 参照)、対角線上の両隅部の一方にノズル51への流出口が設けられ、他方に供給インクの流入口(供給口)54が設けられている。なお、圧力室52の形状は、本例に限定されず、平面形状が四角形(菱形、長方形など)、五角形、六角形その他の多角形、円形、楕円形など、多様な形態があり得る。
図4に示したように、各圧力室52は供給口54を介して共通流路55と連通されている。共通流路55はインク供給源たるインクタンク(不図示)と連通しており、インクタンクから供給されるインクは共通流路55を介して各圧力室52に分配供給される。
圧力室52の一部の面(図4において天面)を構成している加圧板(共通電極と兼用される振動板)56には個別電極57を備えたアクチュエータ58が接合されている。個別電極57と共通電極間に駆動電圧を印加することによってアクチュエータ58が変形して圧力室52の容積が変化し、これに伴う圧力変化によりノズル51からインクが吐出される。なお、アクチュエータ58には、チタン酸ジルコン酸鉛やチタン酸バリウムなどの圧電体を用いた圧電素子が好適に用いられる。インク吐出後、アクチュエータ58の変位が元に戻る際に、共通流路55から供給口54を通って新しいインクが圧力室52に再充填される。
入力画像から生成されるドット配置データに応じて各ノズル51に対応したアクチュエータ58の駆動を制御することにより、ノズル51からインク滴を吐出させることができる。記録紙16を一定の速度で副走査方向に搬送しながら、その搬送速度に合わせて各ノズル51のインク吐出タイミングを制御することによって、記録紙16上に所望の画像を記録することができる。
上述した構造を有するインク室ユニット53を図5に示す如く主走査方向に沿う行方向及び主走査方向に対して直交しない一定の角度ψを有する斜めの列方向とに沿って一定の配列パターンで斜めの格子状に多数配列させることにより、本例の高密度ノズルヘッドが実現されている。
すなわち、主走査方向に対してある角度ψの方向に沿ってインク室ユニット53を一定のピッチdで複数配列する構造により、主走査方向に並ぶように投影されたノズルのピッチPNはd× cosψとなり、主走査方向については、実質的に各ノズル51が一定のピッチPで直線状に配列されたものと等価的に取り扱うことができる。このような構成により、主走査方向に並ぶように投影されるノズル列が1インチ当たり2400個(2400ノズル/インチ)におよぶ高密度のノズル構成を実現することが可能になる。
なお、印字可能幅の全幅に対応した長さのノズル列を有するフルラインヘッドで、ノズ
ルを駆動する時には、(1)全ノズルを同時に駆動する、(2)ノズルを片方から他方に向かって順次駆動する、(3)ノズルをブロックに分割して、ブロックごとに片方から他方に向かって順次駆動する等が行われ、用紙の幅方向(用紙の搬送方向と直交する方向)に1ライン(1列のドットによるライン又は複数列のドットから成るライン)を印字するようなノズルの駆動を主走査と定義する。
特に、図5に示すようなマトリクス状に配置されたノズル51を駆動する場合は、上記(3)のような主走査が好ましい。すなわち、ノズル51-11 、51-12 、51-13 、51-14 、51-15 、51-16 を1つのブロックとし(他にはノズル51-21 、…、51-26 を1つのブロック、ノズル51-31 、…、51-36 を1つのブロック、…として)、記録紙16の搬送速度に応じてノズル51-11 、51-12 、…、51-16 を順次駆動することで記録紙16の幅方向に1ラインを印字する。
一方、上述したフルラインヘッドと用紙とを相対移動することによって、上述した主走査で形成された1ライン(1列のドットによるライン又は複数列のドットから成るライン)の印字を繰り返し行うことを副走査と定義する。
そして、上述の主走査によって記録される1ライン(或いは帯状領域の長手方向)の示す方向を主走査方向といい、上述の副走査を行う方向を副走査方向という。すなわち、本実施形態では、記録紙16の搬送方向が副走査方向であり、それに直交する方向が主走査方向ということになる。
本発明の実施に際してノズルの配置構造は図示の例に限定されない。また、本実施形態では、ピエゾ素子(圧電素子)に代表されるアクチュエータ58の変形によってインク滴を飛ばす方式が採用されているが、本発明の実施に際して、インクを吐出させる方式は特に限定されず、ピエゾジェット方式に代えて、ヒータなどの発熱体によってインクを加熱して気泡を発生させ、その圧力でインク滴を飛ばすサーマルジェット方式など、各種方式を適用できる。
〔制御系の説明〕
図6は、インクジェット記録装置10のシステム構成を示すブロック図である。同図に示したように、インクジェット記録装置10は、通信インターフェース70、システムコントローラ72、画像メモリ74、ROM75、モータドライバ76、ヒータドライバ78、プリント制御部80、画像バッファメモリ82、ヘッドドライバ84等を備えている。
通信インターフェース70は、ホストコンピュータ86から送られてくる画像データを受信するインターフェース部(画像入力部)である。通信インターフェース70にはUSB(Universal Serial Bus)、IEEE1394、イーサネット(登録商標)、無線ネットワークなどのシリアルインターフェースやセントロニクスなどのパラレルインターフェースを適用することができる。この部分には、通信を高速化するためのバッファメモリ(不図示)を搭載してもよい。
ホストコンピュータ86から送出された画像データは通信インターフェース70を介してインクジェット記録装置10に取り込まれ、一旦画像メモリ74に記憶される。画像メモリ74は、通信インターフェース70を介して入力された画像を格納する記憶手段であり、システムコントローラ72を通じてデータの読み書きが行われる。画像メモリ74は、半導体素子からなるメモリに限らず、ハードディスクなど磁気媒体を用いてもよい。
システムコントローラ72は、中央演算処理装置(CPU)及びその周辺回路等から構
成され、所定のプログラムに従ってインクジェット記録装置10の全体を制御する制御装置として機能するとともに、各種演算を行う演算装置として機能する。すなわち、システムコントローラ72は、通信インターフェース70、画像メモリ74、モータドライバ76、ヒータドライバ78等の各部を制御し、ホストコンピュータ86との間の通信制御、画像メモリ74及びROM75の読み書き制御等を行うとともに、搬送系のモータ88やヒータ89を制御する制御信号を生成する。
ROM75には、システムコントローラ72のCPUが実行するプログラム及び制御に必要な各種データなどが格納されている。ROM75は、書換不能な記憶手段であってもよいし、EEPROMのような書換可能な記憶手段であってもよい。画像メモリ74は、画像データの一時記憶領域として利用されるとともに、プログラムの展開領域及びCPUの演算作業領域としても利用される。
モータドライバ76は、システムコントローラ72からの指示に従って搬送系のモータ88を駆動するドライバ(駆動回路)である。ヒータドライバ78は、システムコントローラ72からの指示に従って後乾燥部42等のヒータ89を駆動するドライバである。
プリント制御部80は、システムコントローラ72の制御に従い、画像メモリ74内の画像データ(元画像のデータ) から印字制御用の信号を生成するための各種加工、補正などの処理を行う信号処理機能を有し、生成した印字データ(ドットデータ)をヘッドドライバ84に供給する制御部である。
プリント制御部80には画像バッファメモリ82が備えられており、プリント制御部80における画像データ処理時に画像データやパラメータなどのデータが画像バッファメモリ82に一時的に格納される。なお、図6において画像バッファメモリ82はプリント制御部80に付随する態様で示されているが、画像メモリ74と兼用することも可能である。また、プリント制御部80とシステムコントローラ72とを統合して1つのプロセッサで構成する態様も可能である。
画像入力から印字出力までの処理の流れを概説すると、印刷すべき画像のデータは、通信インターフェース70を介して外部から入力され、画像メモリ74に蓄えられる。この段階では、例えば、RGBの画像データが画像メモリ74に記憶される。
インクジェット記録装置10では、インク(色材) による微細なドットの打滴密度やドットサイズを変えることによって、人の目に疑似的な連続階調の画像を形成するため、入力されたデジタル画像の階調(画像の濃淡)をできるだけ忠実に再現するようなドットパターンに変換する必要がある。そのため、画像メモリ74に蓄えられた元画像(RGB)のデータは、システムコントローラ72を介してプリント制御部80に送られ、該プリント制御部80において閾値マトリクスや誤差拡散などを用いたハーフトーン化処理によってインク色ごとのドットデータに変換される。
すなわち、プリント制御部80は、入力されたRGB画像データをK,C,M,Yの4色のドットデータに変換する処理を行う。こうして、プリント制御部80で生成されたドットデータは、画像バッファメモリ82に蓄えられる。
ヘッドドライバ84は、プリント制御部80から与えられる印字データ(すなわち、画像バッファメモリ182に記憶されたドットデータ)に基づき、ヘッド50の各ノズル51に対応するアクチュエータ58を駆動するための駆動信号を出力する。ヘッドドライバ84にはヘッドの駆動条件を一定に保つためのフィードバック制御系を含んでいてもよい。
ヘッドドライバ84から出力された駆動信号がヘッド50に加えられることによって、該当するノズル51からインクが吐出される。記録紙16の搬送速度に同期してヘッド50からのインク吐出を制御することにより、記録紙16上に画像が形成される。
上記のように、プリント制御部80における所要の信号処理を経て生成されたドットデータに基づき、ヘッドドライバ84を介して各ノズルからのインク液滴の吐出量や吐出タイミングの制御が行われる。これにより、所望のドットサイズやドット配置が実現される。
また、プリント制御部80は、後述するドット計測方法によって取得されるドット着弾位置やドット径(インク体積)の情報、サテライトやゴミ・ホコリ検出の情報等に基づいてヘッド50に対する各種補正を行うとともに、必要に応じて予備吐出や吸引、ワイピング等のクリーニング動作(ノズル回復動作)を実施する制御を行う。
〔ドット計測方法の概要〕
本発明の実施形態によるドット計測技術の全体的理解のために、まず概要を説明する。本実施形態によるドット計測方法は概ね以下の手順(工程1〜8)によって行われる。
(工程1):インクジェットヘッドの各ノズルから記録紙上に測定対象のインクを打滴しつつ、ヘッドと記録紙を相対的に移動させ、各ノズルから打滴されるインクにより、各ノズルに対応するドット列によるラインパターンを記録紙上に形成する。つまり、測定対象のインクを用いてラインパターンを形成したサンプルチャート(測定用チャート)を形成する。
この測定用チャートを形成するタイミングは、特に限定されず、ヘッドの取り付け時、メンテナンスによる打滴位置の回復が不可能な変化があったとき、所定の期間が経過したとき、始業点検時など、ヘッドとメンテナンスユニットの組み合わせによってさまざまである。
(工程2):工程1で形成したラインパターンのライン方向(ページワイドのフルライン型ヘッドを用いる場合の副走査方向に相当、これを「S方向」とする。)に対して、撮像画像の画素格子方向が所定の角度(好ましくは、1度〜30度)を持つようにラインパターンを撮像して、撮像画像(ラインパターンを読み取った画像)の電子画像データを取得する。
(工程3):工程2でラインパターンを読み取って取得した撮像画像(電子画像データ)上において、各ノズルに対応するラインパターンを横切る(切断する)撮像画像の画素格子方向に沿って画像データを走査して、当該走査方向における一次元画素配列の画像信号値の変動を表すプロファイルグラフを1つのラインパターンに対して複数取得する。
(工程4):工程3で得られる1つのラインパターンに対する複数のプロファイルグラフについて、それぞれ各プロファイルグラフにおいてラインパターンの濃度中心に対応するピーク位置(「極値位置」に相当、ただし、白を最大値に対応付ける場合には「谷の位置」に相当するが、説明の便宜上、両者を総称して単に「ピーク位置」と呼ぶ場合がある)と、ラインパターンの左右のエッジ位置(「第1エッジ位置」,「第2エッジ位置」に相当)を算出する。なお、ラインパターンの幅方向のエッジは左右で2つあり、プロファイルグラフにおいて信号値がエッジに対応する所定の階調値となる位置をエッジ位置と判定する。
このエッジ位置とピーク位置の算出においては、プロファイルグラフの一次元画素格子位置と信号値(階調値)に基づいて公知の補間計算を使用して、プロファイルグラフにおける一次元画素格子位置間隔(画素ピッチ)よりも高精度に位置を計算することが好ましい。このようにして、1つのラインパターンに対する各プロファイルグラフからピーク位置と2つのエッジ位置を算出する。
(工程5):工程4によって同じラインパターンに対する複数のプロファイルグラフからそれぞれ得られたピーク位置とエッジ位置のデータを集計し、最小二乗法を用いて、1つのラインパターンのピーク位置に対応する近似直線とエッジ位置(左右2つの)に対応する近似直線を算出する。
(工程6):1つのラインパターンに関して、左右2つエッジ位置に対応する2本の近似直線を用いて、これら2直線間の垂直距離を計算し、この垂直距離を当該ラインパターンのライン幅とする。また、各ラインパターンのピーク位置に対応する近似直線を用いて、互いに隣り合うラインパターンのピーク位置に対応する近似直線間の垂直距離から、ラインパターン間隔(隣り合うラインパターンの間の距離)を算出する。
(工程7):その一方で、所定のインクと記録紙の組み合わせで、ドット径とライン幅の関係(相関)を知見しておき、また、吐出液滴の体積とドット径の関係も知見しておき、これらの相関データ(対応テーブルなど)をメモリ等の記憶手段に格納しておく。
(工程8):この知見しておいたライン幅とドット径(インク体積)の関係に基づき、工程6で算出したラインパターンのライン幅から、対応するドット径(インク体積)を算出する。また、工程6で算出したラインパターン間隔から各ノズルの相対的な打滴位置を算出する。
このように本実施形態によれば、ラインパターンを含むサンプルチャートの1回の撮像に基づいてドット径(インク体積)とドット着弾位置を同時に算出することができるので、撮像回数を減らす効果がある。また、ラインパターンに基づいてドット径を算出するので、従来のように孤立ドットを明瞭に撮像して面積を算出する必要がなく、比較的低解像度の撮像装置を利用可能である。
以下、本実施形態に係るドット計測方法をより詳細に説明する。
〔1.サンプルチャートにおけるラインパターンの説明〕
図7は、インクジェットヘッドによって記録紙上に形成されるラインパターンの例を示す模式図である。図7において矢印Sで示す縦方向が記録紙の搬送方向(副走査方向)を表し、これと直交する矢印Mの示す横方向がヘッド50の長手方向(主走査方向)を表す。同図では、図示の簡略化のために、複数のノズルが1列に並んだヘッドを例示するが、図3で説明したように、複数のノズルが2次元配列されてなるマトリクスヘッドについて当然に適用できる。すなわち、2次元配列のノズル群は主走査方向に沿う直線上に正射影される実質的なノズル列を考慮することにより、1列のノズル列と実質的に同等のものとして取り扱うことができる。
ヘッド50のノズル51から記録紙16に向けて液滴を吐出しつつ、記録紙16を搬送することにより、記録紙16上にインク滴が着弾し、図7のように、各ノズル51からの着弾インクによるドット90がライン状に並んだドット列(ラインパターン92)が形成される。
図7は、ヘッド50における規則的なノズル配置に対して、実際に吐出されるインクの着弾位置やインク体積に揺らぎがあったときの記録紙16上に形成されるラインパターンの例が示されている。
各ラインパターン92はそれぞれ1つのノズルからの打滴で形成される。高記録密度のラインヘッドの場合、全ノズルから同時に打滴すると隣接ノズルによるドット同士が部分的に重なり合うため、1ドット列のラインにはならない。それぞれのラインパターン92が互いに重なり合わないようにするため、同時吐出するノズル間は少なくとも1ノズル、好ましくは3ノズル以上、間隔を空けることが望ましい。
図7では、3ノズルの間隔を空けた例が示されている。各ラインパターンはそれぞれ対応するノズルの特性を反映しており、個々のノズルの特性に起因して着弾位置(ドット位置)やドット径にばらつきが生じ、ラインパターンの不規則性となって現れる。
ヘッド50における全ノズル51についてラインパターンを得るためには、例えば、図8のようなサンプルチャートを形成する。すなわち、ラインパターン同士の重なりを回避するために、3ノズル間隔を空けることにすると、ヘッド50におけるノズル列の端からノズル番号i(i=1,2,3…)を付すものとし、4の倍数に対応するノズル番号を持つノズルによってラインパターンを搬送方向と垂直な方向に複数本形成したブロック、4の倍数プラス1に対応するノズル番号を持つノズルによってラインパターンを搬送方向と垂直な方向に複数本形成したブロック、4の倍数プラス2に対応するノズル番号を持つノズルによってラインパターンを搬送方向と垂直な方向に複数本形成したブロック、4の倍数プラス3に対応するノズル番号を持つノズルによってラインパターンを搬送方向と垂直な方向に複数本形成したブロック、のように4つのブロックからなるラインパターンを形成したサンプルチャートを作成する。これにより、全ノズルについてのラインパターンを得ることができる。
すなわち、ラインヘッドにおいて、実質的に主走査方向に沿って1列に並ぶノズル列(正射影によって得られる実質的なノズル列)を構成するノズルに、その主走査方向の端から順番にノズル番号を付与したとき、nを0以上の整数として、例えば、4n、4n+1、4n+2、4n+3のノズル番号のグループ(ブロック)ごとに打滴タイミングを変えて、それぞれラインパターンを形成する。
これにより、図8に示すように、各ブロックのラインパターンが互いに重なり合わず、また、ブロック内においてもライン同士が重なり合わず、全ノズルについて独立した(他のラインと重ならない)ラインを形成できる。なお、異なるブロック間の位置の検出精度を画像読取装置の位置精度よりも高めるために工夫された他のサンプルチャート例については後述する(図24〜26)。
〔2.サンプルチャートの読み取り(斜め角度による撮像)〕
上述のように複数のラインパターンを形成したサンプルチャートAを画像読取装置によって読み取る際に、撮像装置の受光素子列がラインパターンに対して所定の角度(0<γ<90度、好ましくは1度から30度の範囲)を持つ斜め方向に読み取りを行う。
図9は、撮像装置としてラインセンサ(リニアイメージセンサ)100を用いた例である。ここでは、説明の便宜上、受光素子(光電変換素子)101が1列に並んだものを示してあるが、実際には、R(赤),G(緑),B(青)の各色のカラーフィルタを備えたRGB毎の受光素子列を有する3ラインセンサ(いわゆるRGBラインセンサ)を用いている。このラインセンサ100の受光面は被撮像物の読み取り面(サンプルチャート92が記録されている記録紙面)と平行に配置され、受光素子列が記録紙上のラインパターン92に対して、直交しない所定の角度で斜めに配置される。
ラインパターン92を形成した記録紙又はラインセンサ100の何れか一方、若しくはその両方をラインセンサ100の受光素子配列方向(図9におけるX方向)と直交する方向(図9の矢印Y方向)に移動させながら撮像を行うことによって、サンプルチャートの全面(すべてのラインパターン)を電子画像データとして取り込む。
ラインセンサ100の受光素子列と記録紙上のラインパターン92とが図9の矢印Yで示す一軸方向に相対移動することにより、ラインセンサ100上のある位置jの受光素子(1つの受光素子)に注目すると、当該j番目の受光素子はY方向の相対移動によってラインパターン92を斜めに横切るように走査される。ラインセンサ100の全ての受光素子がラインパターンのライン方向に対して斜めに走査されることになるため、読み取りの結果、図10のように、ラインパターン92に対して斜めに交差する格子状の画素配列による電子画像データ(撮像画像)が得られる。
図10は、上記取得された画像データにおける画素位置(画像読み取り格子位置)とサンプルチャートの位置関係を例示した模式図である。なお、図10において、画像データの画素(セル)とドットの大きさの比率は実際の比率を必ずしも反映したものではなく、説明の便宜上、画素の単位を実際よりも大きく描いている(他の図面も同様)。
図10のように、画像データの画素は正方格子状に配列され、記録紙16上のラインパターン92は、画素の格子を斜めに横切るように撮像される。図10における横方向をX軸、これと直交する縦方向をY軸とし、画像データ上の画素格子位置を座標(X,Y)で表すものとする。撮像により得られた電子画像データの各画素は、被写体の光学濃度(ここではラインパターンの濃度)を反映した信号値(階調値)を有する。
このように、記録紙16上に形成されたラインパターンのサンプルチャートは画像読取装置の撮像装置によって読み取られ、電子画像データ化される。なお、このときの読取解像度は1200DPI(Dots Per Inch) 以上であることが望ましい。
〔3.撮像画像データの解析〕
読み取った画像データに対して、インクの種類に応じたカラーで画像解析を行う。インクの色と処理チャンネル(カラー、RGB)の関係は、各インクについてRGBの中でコントラストが最大となるカラー(処理チャンネル)が選択される。すなわち、シアンインクの場合はR、マゼンタインクの場合はG、イエローインクの場合はB、ブラックインクの場合はGの信号を用いて解析を行うことが望ましい。その他の特別色については、RGBのなかでコントラストが最大になるカラーを選択すればよい。なお、後述するゴミ・ホコリ判別時には逆に、測定対象のインクについてコントラストが最小であるカラー(チャンネル)の信号を用いることが好ましい。複数のチャンネルで同程度のコントラストであるときは、ノイズの少ないカラーを選択する。
撮像画像データ解析の具体的内容は次のとおりである。まず、撮像により得られた電子画像データに基づいて、各ラインパターンを横切る格子方向(ここでは、Y方向)に沿った一次元画素列の画像信号値の変動を表すプロファイルグラフを得る。図11は、プロファイルグラフを得る一次元画素列とサンプルチャート上のラインパターンの関係を模式的に示したものである。同図において網点で塗りつぶした画素列の範囲は、ラインパターンを横切るj番目の一次元画素列のうちラインパターンのインクドットによって画像信号値が高くなる部分を示したものである。
図11に示すように、1本のラインパターンを横切る一次元画素列(読み取り走査方向(Y方向)に並ぶ画素列)は複数存在し、各画素列からプロファイルグラフが得られるため、1本のラインパターンについて、複数のプロファイルグラフが得られる。
図12にプロファイルグラフの例を示す。図12の横軸はY方向の画素位置を表し、縦軸は画像信号値(すなわち濃度を反映した値)を表す。図12における複数の曲線(グラフ)は、それぞれX方向の画素位置が異なるものである。図示のように、X方向の画素位置に対応して複数のプロファイルグラフが得られる。プロファイルグラフは明るさの変動を表しており、ここでは、インクによるドットの濃度が高いほど画像信号値が大きいデータとなっており、ドットが存在しない部分(記録紙の部分、つまり白)は画像信号値が低い値となっている。
プロファイルグラフのピーク位置が概ねラインパターンのライン幅の中心に相当しており、画像信号値が所定の値(例えば、図12において濃度「70」で示す階調値)となる画素位置をラインパターンのエッジ位置(幅方向の境界位置)と規定する。
具体的には、各プロファイルグラフからエッジ位置に相当する階調値と、この階調値もしくはこの階調値を挟んで変化する位置から補間演算で階調値となる画素位置(左右両方)を算出する。また、ラインパターンの最も光学濃度の大きい位置に相当するピーク位置(濃度信号、輝度信号、明度信号の場合、最も信号値の小さい谷位置)を算出する。なお、当該ピーク位置の算出に際しては、信号値の変化の極値位置を前後の信号値から補間演算で算出する。
サンプルチャート上から読み取った各ラインパターンについて、それぞれ対応する複数のプロファイルグラフからエッジ位置(左右)、ピーク位置を算出し、これらの情報を集めて、位置情報を記録紙上の物理的な距離に換算する。例えば、撮像画像の水平方向解像度Rx,垂直方向解像度Ry(mm/画素)のとき、位置X,YはそれぞれRx×Xmm,Ry×Ymmの物理的な位置に換算される。そして、各ラインパターンに対応する左右エッジ位置、ピーク位置のそれぞれについて最小二乗法に基づいて、近似直線を算出する。近似直線は独立に3つの直線を求めても良いし、直線の傾きが一致するように制限を付けて近似直線を求めても良い。
上記により得られた近似直線を基に、各ラインパターンの左エッジに対応する近似直線と、右エッジに相当する近似直線間の垂直距離を算出して線幅を求める。
なお、近似直線を求める際に、直線の傾きが一致するように制限を付けて計算したときは前記方法で問題ないが、3つの近似直線を独立して求めた場合は、該当するラインパターンのエッジ位置の中心位置を求めて(例えば、単純にエッジ位置座標の平均位置を中心位置として特定する)、左エッジ位置の中心位置のX座標を左側のエッジの近似直線に当てはめてY座標を得て、このX座標とY座標と右エッジの近似直線との距離を求め、次は右エッジ位置の中心座標のX座標を右側のエッジの近似直線に当てはめてY座標を得て、このX座標とY座標と左エッジの近似直線との距離を求める。そしてこれら2つの距離の平均値を線幅とする。
ピーク位置に関しても、上記と同様の方法を使ってラインパターン間の距離を求めることができる。すなわち、各ラインパターンに相当するピーク位置に対応する近似直線を各ラインパターン間で平行になるように傾きが一致するように計算したときは、隣接するピーク位置に対応する近似直線間の距離がノズルから形成されるドット着弾位置の間隔に相当する。
その一方、各ラインパターンにおいて必ずしも平行にならないように近似直線を求めた場合、各ラインパターンに相当するピーク位置の中心位置を求める。例えば、各ラインパターンに対応するピーク位置のX座標の平均値を求めて、X座標の平均値を近似直線に当てはめてY座標を得る。このX座標とY座標と隣接するラインパターンのピーク位置に対応する近似直線との距離を求める。次に前記隣接するラインパターンのピーク位置の中心位置を求めて、他のラインパターンに対応する近似曲線との距離を求める。そして、これら2つの距離の平均値をノズルから形成されるドット着弾位置の間隔とする。
〔4.ラインパターンの線幅に基づいてドット径(インク体積)を求める方法〕
上記した画像解析によってラインパターンの線幅を特定した後、この線幅の情報に基づき、ドット径(インク体積)を以下の方法によって計算する。
すなわち、予め所定の記録紙の種類とインクの組み合わせにより、記録紙上に一つのノズルから吐出したインクで孤立ドット(望ましくは複数)とそれに続いてラインパターンを形成し、これを顕微鏡に撮像装置を付けた高解像度カメラを用いて撮像することにより、得られた画像データから前記孤立ドットのドット径とラインパターンの線幅を測定する。このように孤立ドットとラインパターンを組にしたサンプルチャートBを測定し、孤立ドット径とラインパターンの線幅の関係を表す変換関数(ドット径と線幅の相関を表す「ドット径−線幅相関関数」)を求めておく。孤立したドットのドット径と、ライン状につながって打滴されたドット列のライン幅は、広がり率が異なり、同一の値ではない。
なお、このサンプルチャートBは前述した測定用のサンプルチャートAと同じ(同種の)記録紙並びにインクの組み合わせ(記録条件)であるとする。
さらに、同サンプルチャートBのラインパターン部分を、既述した〔2.サンプルチャート読み取り〕,〔3.撮像画像データ解析〕による手法(以下、「本実施形態の方法」という。)によって線幅を算出する。そして、顕微鏡カメラによって測定される線幅と、本実施形態による方法によって測定されるラインパターンの線幅の関係を表す変換関数(顕微鏡カメラによる測定結果と本実施形態の方法による測定結果の相関を表す「測定結果相関関数」)を求めておく。
上記した2つの変換関数(「ドット径−線幅相関関数」,「測定結果相関関数」)を組み合わせることにより、本実施形態の方法で測定されたラインパターンの線幅の情報をドット径の情報に変換することが可能になる。なお、孤立ドット径と本実施形態の方法で得られる線幅の関係を直接変換関数として求めておいてもよい。
更に公知の方法でノズルから飛翔するインク体積を測定し、当該インク体積のドットにより形成されるドット径を顕微鏡カメラで測定しておき、インク体積とドット径の関係を変換関数(インク体積とドット径の相関を示す「体積−ドット径相関関数」)として求め、当該変換関数(「体積−ドット径相関関数」)と前述した2つの変換関数(「ドット径−線幅相関関数」,「測定結果相関関数」)とを組み合わせることにより、線幅の情報からインク体積を求めることが可能である。
孤立ドットを測定してドット径を求める際には、複数の孤立ドットを測定しその平均値を利用することが望ましい。
「測定結果相関関数」、並びに「体積−ドット径相関関数」、「ドット径−線幅相関関数」は、測定結果を表す2つの変数の関係を、多項式によるカーブフィッティングにより多項式関数として求め、前記変換関数を多項式として利用しても良い。あるいは、前記測定結果を表す2つの変数の関係を、公知のノイズシェービング処理またはスムージング処理を行って、処理後の2つの変数をテーブル形式として求め、関数を利用するときに公知のスプライン関数や、線形補間により前記変換関数を利用しても良い。
「体積−ドット径相関関数」を得る方法の一例を説明すると、公知の方法で特定のノズルから飛翔するインク体積を複数回求めて、その平均値計算し、前記特定ノズルから飛翔するインクをドット径を測定用のサンプルチャートAと同じ(同種の)記録紙に打適し、そのドット径を顕微鏡カメラにより複数測定し、その平均値を計算し、インク体積とドット径の関係を変換関数(インク体積とドット径の相関を示す「体積−ドット径相関関数」)として求めることができる。
前記公知のノズルから飛翔するインク体積の測定方法としては、飛翔体を高速度カメラで撮像する方法や、複数回の打滴を容器で受け止めて、打滴前の容器の重量と打滴後の容器の重量の差分と、打滴回数から1打滴の重量を求め、インク密度からインク体積を求める方法が利用可能である。
[画像解析の処理内容の具体例]
以下、さらに詳細に説明する。
(手順1)図8で説明した測定サンプルチャートAを読み取って得た撮像画像データの各ラインパターンブロックについて、図13に示すように、それぞれラインパターンブロックを横切るような四辺形(同図において点線で示した長方形)に沿って、粗い間隔(例えば、図中の矢印で示すように、中央部分と両端付近)で矢印の方向に画像を走査し、その走査方向の信号値の変動を示すプロファイルグラフを取得する。
図14及び図15にその一例を示す。図14,図15の横軸は画素位置を表し、縦軸は画像の信号値を表す。ただし、図14,図15では、ここでは、インクによるドットの濃度が高いほど信号値が小さい値となっており、ドットが存在しない部分(記録紙の部分、つまり白)は信号値が大きい値となっている。この点、図12で説明したグラフとは信号値の意義が異なる(濃度と信号値の大小関係が逆の関係になっている)。
(手順2)次いで、手順1で得たプロファイルグラフを所定の信号値で横に切断して交差する座標を求める。
そして、信号の変化する方向(白から黒、または黒から白)と順番で分類し、同じ順番と同じ信号変化方向に相当する座標毎に集計する。こうすることで同じラインパターンに相当する左エッジと右エッジを、各画像走査にまたがって分類することができる。
(手順3)得られたラインパターン毎の右エッジの座標群に基づいて、エッジをなす直線を最小二乗法などを用いて求める。同様にして左エッジをなす直線を求める。
(手順4)各ラインパターンについて求めた左右のエッジに相当する直線と、最初の四辺形(図13参照)の上辺と下辺により、それぞれのラインパターンを含む四辺形と(図16参照)、ラインパターン間にあってラインパターンを含まない四辺形を決定する(図17参照)。
このとき、前記エッジを規定した所定の信号値によってはラインパターンを完全に含むことができないが、ラインパターンを含む四辺形を左エッジに相当する直線に平行に拡張する(右も同様)ことでラインパターンを完全に含む四辺形を決定することができる。
[シェーディング補正]
画像読取装置はシェーディングと呼ばれる読み取り信号の不均一性があり、図14,図15に示したように、プロファイルグラフでは、各ラインパターンに対応したグラフ間で白と黒のレベルの変動となって表れる。このような白黒レベルの変動は信号値(階調値)に基づくエッジ位置の計算精度(位置精度)に悪影響を及ぼす。そのため、位置精度向上の観点から次のようなシェーディング補正を実施する。
X方向を横(水平)方向、且つラインセンサの受光素子の並び方向とし、Y方向を縦(垂直)方位、且つラインセンサの副走査方向とすると、上記シェーディング補正として、ラインパターンを含む各四辺形(図16における太線で示した各四辺形を参照)についてそれぞれ、X方向のシェーディング補正とY方向のシェーディング補正を次のようにして行う。
[X方向のシェーディング補正方法]
(1)まず、図16で説明したラインパターンを含む四辺形内において、黒に相当する信号値を決定する。決定方法は黒に相当する信号を(四辺形内のX方向内の)最小値または最大値として求め、それをY方向に平均化して黒に相当する信号値を決定する。この信号値を「BKi」とする。
(2)一方、図17で説明したラインパターンを含まない四辺形内において、四辺形内で、X方向に画像をローパス処理した画像に対して、白に相当する信号をX方向内の最小値または最大値として求め、各Y方向についてY座標と関連付けたテーブルとして決定する。このテーブルを「WH_TBLi(Y)」とし、更にY方向に平均化した信号値「WHi
」を求める。
このようにして全ての四辺形(ラインパターンを含む四辺形とラインパターンを含まない四辺形)について上記値(BKi,WHi)を求める。
(3)次に、各ラインパターンを含む四辺形のBKiの平均値BKave、各ラインパターンを含まない四辺形のWHiの平均値WHaveを求める。
(4)各ラインパターンを含む四辺形において、X方向のシェーディングを補正する補正値を次のようにして決定する。
(5)注目するラインパターンを含む四辺形のBKi、X方向の中心座標をX1i、当該四辺形に隣接するラインパターンを含まない四辺形の左側の白に相当するWHiをWH0i、
そのX方向の中心座標をX0i、右側に相当するWHiをWH2i、そのX方向の中心座標をX2iとすると、
X座標がX0iにおいて、
出力信号=gain0×入力信号+offset0
gain0=(WHave -BKave)/(WH0i -BKi)、offset0= -gain0×BKi +BKave
すなわち、入力値がBKiのとき、出力値がBKaveになり、入力値がWH0iのときに
、出力値がWHaveになるような線形変換を定義する。
(6)同様にして、X座標がX1iにおいて、入力値がBKiのとき、出力値がBKaveになり、入力値が(WH0i+WH2i)/2のときに、出力値がWHaveになるような線形変換(次式)
出力信号=gain1×入力信号+offset1
を定義する。
(7)同様にして、X座標がX2iにおいて、入力値がBKiのとき、出力値がBKaveになり、入力値がWH2iのときに、出力値がWHaveになるような線形変換(次式)
出力信号=gain2×入力信号+offset2
を定義する。
(8)上記定義した式を用い、X座標がX0iとX1iの間(X0i<x<X1i)においては、次式
gain(x)= s×gain0+ t×gain1,
offset(x)=s×offset0 + t×offset1
ただし、s=(X1i−x)/(X1i −X0i)、t=(x−X0i)/(X1i−X0i)
を適用し、
また、X座標がX1iとX2iの間(X1i<x<X2i)においては、次式
gain(x)= s×gain1 + t×gain2
offset(x)=s×offset1 + t×offset2
ただし、s=(X2i−x)/(X2i−X1i)、t=(x−X1i)/(X2i−X1i)
を適用してなる次式
出力値=gain(x)×入力値+offset(x)
によってX方向の補正を行う。
[Y方向のシェーディング補正方法]
次に、Y方向のシェーディング補正について説明する。図16で説明したラインパターンを含む四辺形において、Y方向のシェーディングを補正する補正値を次のようにして決定する。
(1)注目する四辺形(ラインパターンを含むもの)に隣接する、ラインパターンを含まない四辺形の左側の白に相当するWH_TBLi(Y)をWH_TBL0i(Y)とし、右側に
相当するWH_TBLi(Y)をWH_TBL1i(Y)とすると、
WH_TBL0i(Y)内の最も白いデータWhPeak0を決定し、次式により
Scale0 (Y) = WhPeak0/ WH_TBL0i(Y)
を定める。
(2)同様に、WH_TBL1i(Y)内の最も白いデータWhPeak1を決定し、次式によ
り
Scale1(Y) = WhPeak1/ WH_TBL1i(Y)
を定める。
(3)そして、白に相当する信号値がY方向で一定になるように補正するScalek(Y)を求める。
Scalek(Y)={Scale0(Y)+Scale1(Y)}/2
(4)補正は次のようにして行う。座標(X,Y)の信号S(X,Y)は、
S’(X,Y)=gain( X )×S( X, Y ) + Offset ( X )
S”(X,Y)=Scalek(Y)×S’(X,Y)
ただし、Scalek(Y)は対応するラインパターンを含む四辺形(k)によって異なる。
[ラインパターンに対応したプロファイルグラフの取得]
(手順5)手順4で説明したラインパターンを完全に含む四辺形について、図16の太線矢印で示すようにX方向若しくはY方向に画像を走査し、走査方向の一次元画素列について信号値の変動を示すプロファイルグラフを取得する。プロファイルグラフは走査する座標(X,Y)に応じて、上記したシェーディング補正を実施する。
また、プロファイルグラフはノイズを低減するために、ローパスフィルタ処理をすることが望ましい。
図16においてk番目のラインパターンを含む四辺形から得られるプロファイルグラフを次のように表記する。
ProfGraphYkx ( Y ) :Y方向に走査(x:四辺形内のX座標)
ProfGraphXky ( X ) :X方向に走査(Y:四辺形内のY座標)
[ピーク位置を特定する処理]
(手順6)上記の手順5で得られたプロファイルグラフにおいて、信号値の大小関係が白>黒であるときは、プロファイルグラフの谷の位置を、大小関係が白<黒であるときは、プロファイルグラフの山の位置としてピーク位置(ノズル打滴位置に相当)を決定する。
谷の位置をピーク位置とする場合のピーク位置は、次のように決定する。すなわち、〔Si-1≧Si 且つ Si<Si+1〕、または〔Si-1>Si 且つ Si≦Si+1〕を満たす3つの点、X方向に走査して得たプロファイルグラフのときは、(x, S )={(xi-1,Si-1),(xi,Si),(xi+1,Si+1)}を通る2次関数(ax2+bx+c) を求めて、極値をとるX座標−b/(2a)をピーク位置の座標とする。なお、Y座標は上記走査の基点となったY座標を用いる。Sは前記補正処理後のプロファイルグラフ上の信号値であり、添え字は所定の方向(X方向またはY方向)へ1画素単位で走査していることを表す(連続する添え字は所定の方向で隣接していることを表す)。
Y方向に走査して得たプロファイルグラフの場合には、上記3つの点(x, S )に代えて、〔Si-1≧Si 且つ Si<Si+1〕、または〔Si-1>Si 且つ Si≦Si+1〕を満たす3点( Y, S)={(yi-1,Si-1),(yi,Si),(yi+1,Si+1)}を用い、これら3点
を通る2次関数(ay2+by+c) を求めて、極値をとるY座標−b/(2a)をピーク位置の座標とする。このとき、X座標は当該走査の基点となったX座標を用いる。
その一方、山の位置をピーク位置とする場合のピーク位置は、〔Si-1≦Si 且つ Si>Si+1〕、または〔Si-1<Si 且つ Si≧Si+1〕を満たす3つの点、X方向に走査し
て得たプロファイルグラフのときは、(x, S )={(xi-1,Si-1),(xi,Si),(xi+1,Si+1)}を通る2次関数(ax2+bx+c) を求めて、極値をとるX座標−b/(2a)を
ピーク位置の座標とし、Y座標は上記走査の基点となったY座標を用いる。
また、Y方向に走査して得たプロファイルグラフの場合には、〔Si-1≦Si 且つ Si>Si+1〕、または〔Si-1<Si 且つ Si≧Si+1〕を満たす3点( Y, S)={(yi-1,Si-1),(yi,Si),(yi+1,Si+1)}を通る2次関数(ay2+by+c) を求めて、極値をとるY座標−b/(2a)をピーク位置の座標とし、X座標は当該走査の基点となったX座標を用いる。
このように、2次関数近似によって極値(ピーク位置)を求めることにより、高精度にピーク位置を特定することができる。
[エッジ位置を特定する処理]
(手順7)次に、上記の手順5で得られたプロファイルグラフからエッジ位置を特定する処理を説明する。エッジ位置は、ライン幅のエッジと判断する基準となる所定の階調値をTとすると、左右エッジの一方のエッジ(ここでは、左側の「エッジL」とする)は、次のように決定する。
(a)谷の位置をピーク位置とする場合
谷の位置をピーク位置とする場合については、Si-1>Si 且つ Si >Si+1、且つ Si≧T 且つ T≧Si+1 を満たす3つの点、X方向に走査して得たプロファイルグラフのときは、(x,S)={(xi-1,Si-1),(xi,Si),(xi+1,Si+1)}のうち、SiとSi+1に対応する2点(xi,Si),(xi+1,Si+1)を通る直線と、階調値Tの直線との交点のX座標をエッジ位置(エッジL)の座標とする。このときのY座標は当該走査の基点となったY座標とする。
また、Y方向に走査して得たプロファイルグラフのときは、Si-1>Si 且つ Si >Si+1、且つ Si≧T 且つ T≧Si+1 を満たす3つの点(y,S)={(yi-1,Si-1),(yi,Si),(yi+1,Si+1)}のうちのSiとSi+1に対応する2点(yi,Si),(yi+1,Si+1)を通る直線と、階調値Tの直線との交点の座標をエッジ位置(エッジL)の座標とする。このときのX座標は当該走査の基点となったX座標とする。
(b)山の位置をピーク位置とする場合
山の位置をピーク位置とする場合については、Si-1<Si 且つ Si <Si+1、且つ Si≦T 且つ T≦Si+1 を満たす3つの点のうち、SiとSi+1に対応する2点(X方向に走査した場合は(xi,Si),(xi+1,Si+1),Y方向に走査した場合は(yi,Si),(yi+1,Si+1))を通る直線と、階調値Tの直線との交点の座標をエッジ位置(エッジL)の座標とする。
もう一方のエッジ(ここでは右側の「エッジR」)についても、同様に、谷の位置をピーク位置とする場合、Si-1<Si 且つ Si <Si+1、且つ Si≦T 且つ T≦Si+1 を満たす3つの点、X方向に走査して得たプロファイルグラフのときは、(x, S )={(xi-1,Si-1),(xi,Si),(xi+1,Si+1)}のうち、SiとSi+1に対応する2点
(xi,Si),(xi+1,Si+1)を通る直線と、階調値Tの直線との交点のX座標をエッジ位置(エッジL)の座標とする。このときのY座標は当該走査の基点となったY座標とする。
また、Y方向に走査して得たプロファイルグラフのときは、Si-1<Si 且つ Si <Si+1、且つ Si≦T 且つ T≦Si+1 を満たす3つの点(y,S)={(yi-1,Si-1),(yi,Si),(yi+1,Si+1)}のうちのSiとSi+1に対応する2点(yi,Si),(yi+1,Si+1)を通る直線と、階調値Tの直線との交点の座標をエッジ位置(エッジR)の座標とする。このときのX座標は当該走査の基点となったX座標とする。
なお、山の位置をピーク位置とする場合については、Si-1>Si 且つ Si >Si+1、且つ Si≧T 且つ T≧Si+1 を満たす3つの点のうち、SiとSi+1に対応する2点(X方向に走査した場合は(xi,Si),(xi+1,Si+1),Y方向に走査した場合は(yi,Si),(yi+1,Si+1)を通る直線と、階調値Tの直線との交点の座標をエッジ位置(エッジR)の座標とする。
このように、判定の基準値となる所定の階調値Tを挟む2点を通る直線と、Tの直線との交点からエッジ位置の座標を計算するため、撮像画像の解像度よりも一層精度よくエッジ位置を特定することができる。
〔計測精度をさらに向上させる付加的な処理について〕
[サテライト対策]
ノズル不良など、何らかの原因で特定のノズルについて、インク吐出時に主液滴から分離した副液滴(いわゆるサテライト滴)が発生する場合がある。このサテライト滴が記録紙上の主液滴と異なる位置に付着することにより、サテライトドットが形成される場合がある。この場合、図18に示すように、サンプルチャートのラインパターンにおいて、主液滴の着弾によるメインドット110によるドット列112に、副液滴の着弾によるサテライトドット114のドット列116が付加されることになる。
サテライトのない通常のラインパターンを横切るプロファイルグラフは、図19(a)に示すように、概ねピーク位置を中心として対称性を有する(横軸はY方向の画素位置)。これに対し、サテライトドット114を含むラインパターンを横切るプロファイルグラフは、例えば、図19(b)に示すように、サテライトの信号成分を含むため、非対称な形となる。よって、ラインパターンに対応したプロファイルグラフの非対称性やサブピーク(サテライトによるもの)の存在から、サテライトドットの有無を判定し、エッジ推定位置からのズレ量で判断して再計算を行う。
サテライトドットの有無を判定する具体的な処理例として以下の方法を用いることができる。
すなわち、サテライトを含むラインパターンのプロファイルグラフは、図20のようになる。プロファイルグラフにおける左エッジ位置とピーク位置の間隔をt0、ピーク位置と右エッジ位置の間隔をt1とすると、R=t0/(t0 +t1) はプロファイルグラフが対称形のときには約0.5の値になる。これに対し、サテライトを含む場合は対称性が失われるため、Rの値が0.5から外れて、0または1に近い値をとる。
したがって、Rの値と「0.5」の差の絶対値D=ABS(R−0.5)なる値が所定値より大きい場合はサテライトありと判断する。所定値は実験的に求めて最適な値を決定することが望ましいが、おおよそ0.07以上とすることができる。
なお、サテライトが検出された場合には、その情報を保存し、ヘッドメンテナンス(ノズル吸引、予備吐出、ノズル面のワイピングなど、ノズルの吐出性能を回復させるクリーニング動作)を実施させるなどの制御に活用することも可能である。
[読み取り時のゴミ・ホコリ対策]
また、何らかの原因でサンプルチャート上にゴミやホコリ等が付着する場合があり、ラインパターンの読み取り並びにその画像解析においてゴミやホコリ(以下、「塵埃」という。)が悪影響を及ぼすことが想定される。図18の符号120は、サンプルチャート上に付着した塵埃が撮像された様子を示している。かかるゴミ・ホコリへの対策として、以下の対処を実施する。
一般的に塵埃は吸収ピークを持たないので、RGB信号は塵埃に対して同じような変動を示す。したがって、測定対象のインクの吸収波長からずれた読み取り波長データから塵埃の有無を判断し、塵埃による影響を含むプロファイルデータを演算から除外する処理を行う。
例えば、シアンインクで形成されたラインパターンを読み取ってドット位置とドット径を算出するときは、塵埃とシアンインク(R信号で最大の変動を示す)をG信号(またはB信号)を使ってG信号変動が大きい位置は塵埃の影響があると判断し、ピーク位置・エッジ位置の算出に用いるプロファイルグラフから除外することで、塵埃の影響を低減した算出を行うことができる。
[ゴミ・ホコリ対策の処理例]
具体的には、次のような処理を行う。エッジ位置、ピーク位置を算出後に処理に用いたカラーチャンネルとは異なるゴミ・ホコリ検出チャンネルについて、算出した位置の各信号値について(左右のエッジ位置、ピーク位置でそれぞれ)統計値、具体的には、平均値と標準偏差σ(シグマ)を計算する。
ゴミ・ホコリ検出チャンネルの信号値が平均値から±3σ(シグマ)より離れる場合(平均値+3σ以上もしくは、平均値−3σ以下)、その信号値は塵埃の影響があると見做して、その位置データを削除(除外)する。なお、このとき、座標が実数の場合は、四捨五入した整数位置を使うものとする。
ブラック(黒)インクのように、異なるゴミ・ホコリ検出チャンネルのコントラストが高い場合は、後述する最小二乗法で算出した直線と、最小二乗に用いた座標位置との垂直距離の統計値(平均値と標準偏差σ)を計算し、距離が±3σより離れる場合はその位置データを削除して、最小二乗法による直線を再度計算する。
また、サテライト検出と同様に、ゴミ・ホコリが検出された場合には、その情報を保存し、ヘッドメンテナンス(ノズル吸引、予備吐出、ノズル面のワイピングなど、ノズルの吐出性能を回復させるクリーニング動作)を実施させるなどの制御に活用することも可能である。
[最小二乗法による直線の算出]
(手順8)手順6,7で説明したとおり、ラインパターンを含む四辺形kについて、当該四辺形内に存在するラインパターンを横切る複数のプロファイルグラフから上記のようにして求めたピーク位置、エッジL,エッジRの各座標(X,Y)のデータに基づいて、ピーク位置、エッジL,エッジRのそれぞれ対応するAX+BY+C=0なる直線を最小二乗法を用いて求める。ピーク位置に対応する直線をPk,エッジLに対応する直線をLk,エッジRに対応する直線をRkとする。
[ドット着弾位置(実効的なノズル位置)、ライン幅の測定]
(手順9)手順8により、ラインパターンを含む四辺形kについて上記の最小に乗法を用いて求めた直線Pk,直線Lk,直線Rkから、ノズル位置(ドットの着弾位置)とライン幅を次のようにして求める。
(a)ライン幅の算出方法
ライン幅Dは、次のようにして求まるD0とD1の平均値として算出される。すなわち、ラインパターンを含む四辺形kの中心座標を通り、直線Rkに垂直な直線RVkと直線Lkの交点C0を求め、この交点C0と直線Rkとの垂直距離D0を求める(図21参照)。なお、距離を算出する前のX座標、Y座標の段階で1画素に相当する物理的な距離をそれぞれXYに乗じることで物理的な距離に変換できる。
同様に、ラインパターンを含む四辺形kの中心座標を通り、直線Lkに垂直な直線LVkと直線Rkとの交点C1を求め、この交点C1と直線Rkとの垂直距離D1を求める。
そして、上記得られた垂直距離D0,D1により、次式
D=(D0+D1)/2
によってライン幅Dが求められる。
(b)ノズル位置の算出方法
ドット着弾位置(つまり、実効的なノズル位置)は、各四辺形kについて、直線Pkの傾きの平均値θを算出し、この傾きと垂直な傾きθVを求める。そして、ラインパターンブロック全体の中心位置(各四辺形kの中心位置の平均値でよい)を通る前記傾きθVの直線BaseLineを求め、この直線BaseLineと各直線Pkとの交点CPkを決定する。
直線BaseLine上で直線に並ぶ点CPk間の距離が実効的なノズル間隔を表している。また、点CPkの位置は実効的なノズル位置(各ノズルの打滴によるドット着弾位置)に相当している。
このようなラインパターンブロックが複数あるとき(例えば、図8で説明したサンプルチャートを用いる場合)は、全部のブロックでの直線Pkの傾きの平均値を算出し、この傾きと垂直な傾きθVを求め、各ブロックにおいて、それぞれのブロック内の中心位置BCkを通る直線BaseLineを求め(図22参照)、このブロックに対応する直線BaseLineとブロックに含まれるラインパターンで決定した各直線Pkとの交点CPkを求める(図23参照)。
次に、全ブロックの中心位置ACを通る共通基準直線CommonBaseLine(傾きθV)を求め、図23に示すように、各直線BaseLine上の中心位置BCkから共通基準直線CommonBaseLineへ降ろした垂線との交点BCCkを求め、BCkからBCCkへ平行移動するパラメータ(Move_Xk、Move_Yk)を算出し、前記CPkを、このパラメータ(Move_Xk、Move_Yk)を用いて平行移動する。これは、BaseLineを共通基準直線CommonBaseLineへマップすることに等しい。なお、Move_XkはX軸方向への平行移動量を表し、Move_YkはY軸方向への平行移動量を表す。
このようにして、全てのブロックについて共通基準直線CommonBaseLine上へマップすることができるので、各ブロックに分かれているドットの形成位置(ノズル位置)は共通の1次元座標として求められる。
ただし、画像読取装置(スキャナー)の搬送精度やセンサピッチの変動の影響で、上記共通基準直線CommonBaseLine上にマップされた、異なるブロックに属するノズル位置が誤差を持つことがある。ノズル位置は隣接していてもサンプルチャート上におけるラインパターンのブロックとしては離れているので、測定結果は上記変動の影響を強く受けることが想定される。
[ラインパターンブロック間の位置誤差を修正する処理]
このような問題を解消する手段の一例として、異なるブロック間の位置の検出精度を読取装置の位置精度よりも高めるために、図24〜図26で例示するような構成のサンプルチャートを採用することが好ましい。
図24は、基準となるノズル(図24においてノズル番号0)によるラインを、全てのラインパターンブロックに形成するものである。つまり、図24に示すサンプルはチャートでは、全てのラインパターンブロックについて、基準となる共通のノズルにより形成されるラインパターン(符号130で示すもの)が含まれている。
この基準となるラインパターンの位置(ピーク位置)を各ブロックで一致させるように共通基準直線CommonBaseLine上で、各ブロックに属するノズル位置を一律平行移動することで誤差を低減可能である。
図25は、ブロック間の位置誤差の修正を考慮した他の測定パターンの例である。図25では、4n+3のノズルによるラインパターンのブロックの後段(下段)に、ノズル番号が5m(ただし、mは0以上の整数)のノズルからなるラインパターンのブロックを形成している。5mに含まれるノズルは、4n、4n+1、4n+2、4n+3のノズルが均等に含まれる。すなわち、5mのノズルによるラインパターンのブロックにおいて、m=0,1,2,3における各ラインは、それぞれ4n(n=0)、4n+1(n=1)、4n+2(n=2)、4n+3(n=3)のノズルと同じノズルによって記録される(以後、同様)。
このため、各ブロックで決定した座標間の位置合わせを5mのブロックの各ライン位置に基づいて行うこともできる。なお、ここでは、5mのノズルによるラインパターンを付加した例を示したが、5の倍数に限らず、4の倍数でない整数であれば同様のことが可能である。ある公倍数をもったノズル同士であれば、同じように適用できる。
図25では、5m(m=0,1,2,3…)のノズル番号に相当するブロックに属するノズル位置を正しいものとして、5mのブロックに属するノズル位置が整合するように他のブロックのノズル位置を補正するときに使用する。
その位置補正の方法を具体的な例で説明する。
図25の最下段に示した5mのラインパターンブロックはノズル番号が0,5,10,15,20番目のノズルを含んでいる。例えば21番目のノズル位置に注目すると、「21」は(4n+1)のブロックに属するので、同じ5mと(4n+1)のブロックに共通に属し、「21」を挟むようなノズル番号5番と25番について、5m上の5番と25番の位置に対して、4n+1上の5番と25番を一致するように、4n+1上の5番が一致するべく平行移動のパラメータを決定し、25番が一致するべく更に5番と25番の距離を伸張するパラメータを決定する。ノズル21番は上記平行移動と伸張するパラメータを用いて位置を補正する。
すなわち、5mブロックに属する5番ノズルによる位置を「P5@5m」と表記し、5mブロックに属する25番を「P25@5m」、(4n+1)ブロックに属する5番ノズルによる位置を「P5@(4n+1)」、(4n+1)ブロックに属する25番ノズルによる位置を「P25@(4n+1)」と表記するとき、
(出力)=COEFA×{(入力値)−P5@(4n+1)}+COEFB
ただし、COEFA=(P25@5n −P5@5n)/(P25@(4n+1)−P5@(4n+1)),COEFB=P5@5n
と補正される。
なお、上記のように共通に属するノズル位置で挟むことができない場合は、共通に属する最も近い位置と同じ補正パラメータで補正を行う。例えば、ノズル番号1(4n+1ブロックに属するもの)は、最も近い共通に属するノズル番号5と25に挟まれる場合と同じ補正を行う。
共通に属するノズル位置で挟む補正方法の他に、以下の方法がある。
すなわち、(4n+1)と5mで共通するノズルを抽出して、
P5@(4n+1)、P25@(4n+1)、P45@(4n+1)、P65@(4n+1)、P85@(4n+1)、‥‥
P5@5m、P25@5m、P45@5m、P65@5m、P85@5m、‥‥
これら抽出した位置が一致するような変換関数を求めて補正する方法も適用可能である。
変換関数として一次関数(y=ax+b)或いは二次関数(y=a0+a1x+a2x2)などの多項式関数を用いて、多項式関数の各係数を最小自乗法で決定する。
簡単な例として、二次関数(y=a0+a1x+a2x2)を例に説明すると、
公知の最小自乗法でXデータをP5@(4n+1)、P25@(4n+1)、P45@(4n+1)、P65@(4n+1)、P85@(4n+1)、‥‥、
YデータをP5@5m、P25@5m、P45@5m、P65@5m、P85@5m、‥‥として各係数を決定する。
決定した多項式関数F1を用いて、4n+1に属するP1@(4n+1)、P5@(4n+1)、P9@(4n+1)、P13@(4n+1)、P17@(4n+1)、‥‥、を変換する。変換した結果をP’1@(4n+1)、P’5@(4n+1)、P’9@(4n+1)、P’13@(4n+1)、P’17@(4n+1)、‥‥とする。
多項式関数F1による変換は、4n+1の位置を5mの位置で補正していることになる。
同様にして、4n+2を5mで補正(多項式関数F2)のように同じ5mで他の4n+を補正する。
このようにすると、読取装置の副走査位置に基づく変動要因(光学歪、キャリッジのシフトなど)を、一つのブロック(5m)を基準として補正することで、顕著に低減することができる。
以上の説明は規則的な間隔で行ったが、本質的には略一定間隔で且つ、略一様に共通するノズルから打滴されたラインパターンを備えたラインブロック(4n+0、4n+1、4n+2、4n+3に該当)と、それらに属するノズルと共通ノズルが略一様に分布し且つ略一定間隔のラインブロック(5mに相当する)ラインブロックであれば本発明は有効である。
光学歪など非線形な変動要因を補正するには、変換関数は高次の多項式関数が有効である。一部の位置の影響を受けすぎないためには共通する位置は略一様に分布していることが望ましい。
共通する位置が少ない場合は多項式の次数を落とすこともできる。また、吐出安定のためのパターンをテストパターンに組み込む構成も適用可能である。要求される測定精度がインク色で異なる場合は、測定するインク色によって略一定間隔を変更、ライン長さを変更してテストパターンの大きさを調整することも好適である。
<テストパターンのバリエーションについて>
図25に示したテストパターンは、いわゆる「1オンNオフ」(N=3)のラインパターンと、(N+2)n(ただし、nは0以上の整数)のノズル番号系列によるラインパターンとを組み合わせたものとなっている。
「1オンNオフ」(N=1,2,3…)の線パターンは、インクジェットヘッドの全ノズルについて各ノズルによる連続打滴ラインを記録するテストパターンであり、各ノズルからの連続打滴によりそれぞれ形成される1ドット列の線分(ライン)が互いに重なり合わないようにするため、実質的なノズル並び方向(ここでは主走査方向)について同時吐出するノズルの間隔をNノズル分空けて(N個のノズルをオフにして)打滴される。
即ち、インクヘッドにおける実質的なノズル列の端からノズル番号i(i=0,1,2,3…)を付すものとし、nを0以上の整数として、(N+1)n、(N+1)n+m、(但し、m=1,2,…,n−1)のノズル番号のグループごとに打滴タイミングを変えて、記録媒体14における副走査方向に記録位置を異ならせながら、(N+1)段のラインパターン群を形成する。こうして、インクジェットヘッドにおける全ノズルについて、異なるノズル間で互いに重なり合わない(孤立化した)ラインパターンを得る。
このように、Nノズルの間隔を空けて、異なるノズル間のラインパターン同士の重なりを回避した各ドット列(ラインパターン)はそれぞれ対応するノズルの特性を反映しており、不吐出ノズルであれば当該ラインが記録されず、また、個々のノズルの特性に起因して、着弾位置(ドット位置)やドット径にばらつきが生じ、ラインパターンの不規則性となって現れる。
図25で例示したテストパターンを一般化して別の表現で記載する、Aを1以上の整数、Bを0以上A以下の整数、Cを1以上の整数(但し、C≠A)、Dを0以上C以下の整数、Nを0以上の整数とするとき、(A+1)N+Bのノズル番号のグループごとに打滴タイミングを異ならせて前記被吐出媒体上に形成されたラインパターンブロックと、このラインパターンブロックとは異なる位置に形成され、(C+1)N+Dのノズル番号のノズルによって形成された基準ラインパターンブロックと、が組み合わされたものである。
記録解像度1200DPIのインクジェットに対して、16N+0、16N+1、‥‥、16N+15、17N+0のテストパターンが望ましい。また被測定打滴ラインの長くして安定した測定をしたい場合は、ライン間隔を詰めて8N+0、8N+1、‥‥、8N+7、9N+0のテストパターンでも良い。
「16N」のラインパターンブロックが望ましい理由は次のとおりである。被測定ラインパターンに使用する記録メディアの光学的な内部散乱によりラインパターンの周辺には濃度分布が発生する。ラインパターンの間隔が狭い場合、この散乱に起因する濃度分布がお互いに影響し合うが、規則的なラインパターンでは上記影響による濃度分布は重なり合い結局ローカリティを持たない。つまり、ラインパターンがテストパターン中のどこにあっても同じである。
しかしながら不吐ノズルがある場所或いはラインパターンの端部では、ラインパターンの対称性が崩れる(片側のライン間距離が広がる)ためローカリティが発生し、正確な位置測定に支障を来たす。
1200DPIで16N(空白として約318μm)は不吐の有無に関わらずローカリティの影響が十分低い距離である。光学散乱は記録メディアによって異なるため、光学散乱が小さくて、むしろ吐出安定性や測定に使用するテストパターンサイズを重視する場合もある。このときは1200DPIで8N(空白として約148μm)程度までライン間隔を短縮することができる。
なお、基準ラインパターンブロックとして用いる17N+0は、もちろん17N+M17(M17=0、‥‥、16)でも良い。17N+Mの代わりに15N+M15(M15=0、‥‥、14)や、18N+M18、19N+M19,15N+M15、14N+M14、13N+M13でも良い。
同様に、9N+M9の代わりに10N+M10、11N+M11、12N+M12、7N+M7、6N+M6でも良い。
また、若干不規則に変更しても本発明の効果は変わらないことは自明である。
図26は、ブロック間の位置誤差の修正を考慮した更に他の測定パターンの例である。
図26は、基準となるブロック(同図では4nのブロック)に挟まれるブロックに属するノズル位置を、基準となるブロックの変動に基づいて補正する例を示すものである。
図26では、一方の端のブロック(4n)と同じブロックを他方の端(図26における最下段)に形成している。このような構成により、上下2つの同じ(4nの)ブロック間で、同じノズルの位置関係の変動を特定することができ、この特定される位置関係の変動を、両ブロック間にはさまれたブロック(4n+1、4n+2、4n+3)に反映することができる。
図26において、上段の4nブロックの位置Uiと下段4nブロックの位置Liについて、上段と下段のブロック間のY方向の距離を4B、各ブロック間のY方向の距離をBとしている。ここで、ノズル番号1を例に取ると、図27に示すように、ノズル番号1を挟む4nのノズル0番と4番について、上段のブロックにおける位置PU0とPU1、下段の位置PL0,PL1について、ノズル番号1が属するブロック4n+1との間で、上段4nから下段4nへの変換は次の通りである。
(出力値)=COEFS×{(入力値)−PU0}+COEFT
ただし、COEFS=(PL1―PL0)/(PU1−PU0)
COEFT=PL0
図27から明らかなように、上段4nから下段4nまでのY方向距離4Bに対して、4n+1ブロックは3Bの距離なので、
(出力値)=COEFS×{(入力値)−PU0)}+COEFT
ただし、COEFS=(PS1―PS0)/(PU1−PU0)
COEFT=PL0
PS0=PL0+(PU0−PL0)×3/4
PS1=PL1+(PU1−PL1)×3/4
なる補正式を用いて、ノズル番号1の位置を補正する。
なお、挟む位置が存在しない場合は、最も近い4nのノズル番号を用い、これら2つの間の補正式を適用する。
次に、本実施形態によるドット計測処理の流れをフローチャートに沿って説明する。
[フローチャートの例1]
図28は、第1の例を示すフローチャートである。図示のように、まず、サンプルチャートを所定の斜め角度で読み取り、撮像画像の電子画像データを得る(ステップS110)。
この撮像画像から、図13,図16,図17で説明したように、白領域、ライン領域を特定し、各領域における白レベル、黒レベルを決定する(図28のステップS112)。
そして、得られた白レベル、黒レベルの情報から各ライン領域に対応するシェーディング補正テーブルを作成する(ステップS114)。X方向及びY方向についてシェーディング補正を実施する方法は既に説明したとおりである。
続いて、各ライン領域において、プロファイルグラフからエッジ位置(左右)とピーク位置(谷位置の場合もあり、以下同様)を特定する(ステップS116)。
つぎに、ゴミ・ホコリ検出処理のサブルーチン(図29に記載)を実施する(ステップS120)。
図29にゴミ・ホコリ検出処理のフローチャートを示す。同図に示す、ゴミ・ホコリ検出処理のサブルーチンか開始されると、まず、ゴミ・ホコリ検出チャンネルが設定してあるか否かの判定を行う(ステップS210)。YES判定ならばステップS212に進む。ステップS212では、ゴミ・ホコリ検出チャンネルのプロファイルグラフから得られるエッジ位置に該当する階調値の平均値と標準偏差を計算し、得られた平均値±(標準偏差×3)を上限,下限に設定して、上限〜下限の範囲外の階調値(ゴミ・ホコリ検出チャンネルのもの)に相当するエッジ位置(測定用チャンネルから得られるもの)を除外する。
続いて、ステップS214において、ゴミ・ホコリ検出チャンネルのプロファイルグラフから得られるピーク位置に該当する階調値の平均値と標準偏差を計算し、得られた平均値±(標準偏差×3)を上限、下限に設定して、当該上限〜下限の範囲外の階調値(ゴミ・ホコリ検出チャンネルのもの)に相当するピーク位置(測定用チャンネルから得られるもの)を除外する。
その一方で、ステップS210において、ゴミ・ホコリ検出チャンネルが設定してない場合は、ステップS210でNO判定となり、ステップS222に進む。
ステップS222では、同じライン領域における複数のプロファイルグラフより算出された各エッジ位置から最小自乗直線を計算し、得られた直線と各エッジ位置との垂直距離を計算して、これら垂直距離の平均値と標準偏差を求める。この得られた平均値±(標準偏差×3)を上限、下限に設定して、当該上限〜下限の範囲外の垂直距離に相当するエッジ位置(測定用チャンネルから得られるもの)を除外する。
続いて、ステップS224において、同じライン領域における複数のプロファイルグラフより算出された各ピーク位置から最小自乗直線を計算し、得られた直線と各ピーク位置との垂直距離を計算して、これら垂直距離の平均値と標準偏差を求める。この得られた平均値±(標準偏差×3)を上限、下限に設定して、当該上限〜下限の範囲外の垂直距離に相当するピーク位置(測定用チャンネルから得られるもの)を除外する。
ステップS214又はS224の処理後は、図29のサブルーチンを抜けて図28のフロー(ステップS120)に復帰する。
図28のステップS120では、ゴミ・ホコリ検出処理(ステップS118)で除外対象とならずに残ったエッジ位置、ピーク位置からそれぞれ最小自乗直線を計算する(ステップS120)。
各最小自乗直線の傾きの平均値を求め、前記傾き平均値と垂直でかつラインターンブロクの中心座標を通る直線BaseLine(「直線BL」と表記する。)を求める(ステップS122)。
次いで、ステップS124では、1つのラインパターンに属する2つのエッジ近似直線と、直線BLの距離を計算し、この得られた距離を「ライン幅」とする。また、ラインパターンのピーク近似直線と直線BLの各交点の距離を計算し、この得られた距離を「ライン間隔」とする。なお、こうして得られた「ライン間隔」は各ノズルによるドット着弾位置を示すものである。
そして、予め知見しておいたライン幅とドット径(または、インク体積)の関係に基づいて、ライン幅の情報を、ドット径またはインク体積、若しくはこれらの両方の情報に変換する処理を行う(ステップS126)。
上記の工程により得られたドット着弾位置(ライン間隔)、ドット径(インク体積)の情報は、インクジェット記録装置に入力され、打滴補正やヘッドメンテナンスの制御等に利用される。
[フローチャートの例2]
図30は、第2の例を示すフローチャートである。図示のように、まず、サンプルチャートを所定の斜め角度で読み取り、電子画像データを得る(ステップS310)。
次いで、ステップS312へ進み、サンプルチャート内の全てのラインパターンブロックについて、ブロック処理1(図31で説明するサブルーチン処理)が終了したか否かの判定を行う。ステップS312でNO判定ならば、ステップS314に進み、未処理のブロックについてブロック処理1を実施する。
図31は、ブロック処理1のサブルーチン内容を示すフローチャートである。同図に示す、ブロック処理1のサブルーチンか開始されると、まず、対象となるラインターンブロックについて、白領域、ライン領域を特定し、各領域の白レベル、黒レベルを決定する(ステップS410)。そして、各ライン領域に対応するシェーディング補正テーブルを作成する(ステップS414)。
各ライン領域において、プロファイルグラフからエッジ位置(左右)とピーク位置(谷位置の場合もあり、以下同様)を特定する(ステップS416)。
次に、ゴミ・ホコリ検出処理のサブルーチン(図29に記載)を実施する(ステップS418)。その後、確定したエッジ位置、ピーク位置から最小自乗直線を計算する(ステップS422)。
また、当該ブロックの中心座標Piを決定するとともに、当該ブロックの各最小自乗直線の傾きの平均値Θiを求める(ステップS424)。
次に、ステップS426に進み、該ブロックに対応するノズル番号と各直線を対応付ける。そして、後述の不吐ノズル判定処理(図32のフローに記載)を行い、不吐ノズルを特定する(図31のステップS426)。ステップS426の処理後は、図31のサブルーチンを抜けて図30のフロー(ステップS312)に復帰する。
図32は、不吐ノズル判定処理のサブルーチンを示すフローチャートである。図示のとおり、不吐ノズル判定処理では、まず、当該ブロック内において互いに隣接するラインパターン間隔を、当該ブロック内の隣接するライパターン間隔の期待値で除した値をqとおく(ステップS440)。そして、この求めたqを四捨五入した整数値Qが1以上の場合、Q−1を不吐ノズル数とし、ノズル番号を不吐ノズルの分だけ進める(ステップS442)。こうして、不吐ノズルを特定する処理を終了し、図30のステップS312に戻る。
サンプルチャート上における全ブロックについて、ブロック処理1が終了すると、図30のステップS312でYES判定となり、ステップS316に進む。ステップS316では、各ブロックの最小自乗直線の傾きの平均値Θiの、ブロック間の平均値Θaveを求め、同様に、各ブロックの中心座標Piの、ブロック間平均値Paveを求める(ステップS316)。
次いで、各ブロックにおいて、各ブロックの基準となる直線BLiを、傾き平均値Θaveと垂直且つ各ラインパターンブロックの中心座標Piを通る直線として求めるとともに、全ブロックの基準となる共通基準直線CommonBaseLine(「直線CBL」と表記する。)を、傾き平均値Θaveと垂直且つ全ラインパターンブロックの中心座標Paveを通る直線として求める(ステップS318)。
各ブロックの基準直線BLiと全ブロックの共通基準直線CBLにおいて、BLi上の点からCBLへ降ろした垂線が対応するようにBLi上の点をCBL上の点へと平行移動するパラメータMOVEiをBLi毎に求める(ステップS320)。
次いで、ステップS322へ進み、サンプルチャート内の全てのラインパターンブロックについて、ブロック処理2(図33で説明するサブルーチン処理)が終了したか否かの判定を行う。ステップS322でNO判定ならば、ステップS324に進み、未処理のブロックについてブロック処理2を実施する。
図33は、ブロック処理2のサブルーチン内容を示すフローチャートである。同図の処理がスタートすると、まず、1つのラインパターンに属する2つのエッジ近似直線と該ブロックの基準直線BLiとの交点の座標を計算するとともに、ラインパターンのピーク近似直線と該ブロックの基準直線BLiとの各交点の座標を計算する(ステップS450)
。そして、計算で得られた交点を全ブロックの基準直線CBLへの平行移動パラメータMOVEiを用いて、CBL上の座標へ変換する(ステップS452)。ステップS452の処理後は、図33のサブルーチンを抜けて図30のフロー(ステップS322)に復帰する。
サンプルチャート上における全ブロックについて、ブロック処理2が終了すると、図30のステップS322でYES判定となり、ステップS326に進む。ステップS326では、計算した各ノズルの全ブロックの基準直線CBL上の座標を、ノズル順に並べ替える。そして、並べ替えた各ノズルについて、2つのエッジ近似直線と直線CBL上の座標間の距離を計算し、この計算して求めた距離をライン幅とする(ステップS326)。
そして、予め知見しておいてライン幅とドット径(または、インク体積)の関係に基づいて、ライン幅の情報を、ドット径またはインク体積、若しくはこれらの両方の情報に変換する処理を行う(ステップS328)。
[フローチャートの例3]
図34は、第3の例を示すフローチャートである。図示のように、まず、サンプルチャートを所定の斜め角度で読み取り、電子画像データを得る(ステップS510)。
次いで、ステップS512へ進み、サンプルチャート内の全てのラインパターンブロックについて、ブロック処理1(図31で説明したサブルーチン処理)が終了したか否かの判定を行う。ステップS512でNO判定ならば、ステップS514に進み、未処理のブロックについてブロック処理1を実施する。
サンプルチャート上における全ブロックについて、ブロック処理が終了すると、ステップS512でYES判定となり、ステップS516に進む。ステップS516では、全ブロックの基準となる直線CBLを、基準ブロック(5mノズル)の各最小自乗直線の傾きの平均値Θ0と垂直且つ、基準ブロック(5mノズル)の中心座標Poを通る直線として求める。
次に、ステップS518に進み、基準ブロック(5mノズル)に属するラインパターンに属する2つのエッジ近似直線と該ブロックの基準直線CBLとの交点の座標を計算する。また、基準ブロック(5mノズル)に属するラインパターンのピーク近似直線と該ブロックの基準直線CBLとの各交点の座標を計算する(ステップS518)。
そして、ステップS518の計算で得られた交点の座標を、基準直線CBL上の一次元座標に変換する(ステップS520)。
次いで、ステップS522へ進み、サンプルチャート内の全てのラインパターンブロックについて、ブロック処理3(図35で説明するサブルーチン処理)が終了したか否かの判定を行う。ステップS522でNO判定ならば、ステップS524に進み、未処理のブロックについてブロック処理3を実施する。
図35は、ブロック処理3のサブルーチン内容を示すフローチャートである。同図の処理がスタートすると、まず、各ブロックの基準となる直線BLiを、傾き平均値Θiと垂直且つ各ラインパターンブロックの中心座標Piを通る直線として求める(ステップS610)。
次に、ステップS612に進み、1つのラインパターンに属する2つのエッジ近似直線と該ブロックの基準直線BLiとの交点の座標を計算する。また、ラインパターンのピーク近似直線と該ブロックの基準直線BLiとの各交点の座標を計算する(ステップS612)。
そして、計算で得られた交点計算した交点の座標を基準直線BLi上の1次元座標に変換する(ステップS614)。
次いで、該ブロックに属するノズル番号と、基準ブロック(5mノズル)とで共通のノズル番号を抽出し、共通のノズル番号について、該ブロックの基準直線BLi上の1次元座標列Xijと、基準ブロック(5mノズル)の基準直線CBL上の1次元座標Yjについて、入力データ列Xij、出力データ列Yiを満たす変換関数Fiを求める(ステップS616)。
この変換関数Fiを用いて、該ブロックに属するラインパターンの先に求めた基準直線BLi上の1次元座標を、基準ブロック(5mノズル)の基準直線CBL上の1次元座標に変換する(ステップS618)。
図36はブロックiに関して変換関数Fiを説明する図である。ブロック(4N+1ノズル)に属するノズル5、25、45は、基準ブロック(5mノズル)と共通である。
変換関数Fiは、これら共通のノズルの基準直線BLi上の1次元座標を入力、全ブロックの基準直線CBL上の1次元座標Yjを出力にした変換特性を持つ。
このような特性を線形補間としても良いし、ラグランジェ補間やスプライン補間として利用しても良い。
必ずXij → Yj に変換するような特性で、これ以外の点が滑らかに写像される補間関数が利用可能である。
このような変換関数Fiと補間処理を用いて、直線BLi上の座標(ノズル5,9,13,・・・の座標)を変換して、全ブロック共通の基準直線CBL上の座標に変換する。
補間処理が線形補間のときは、補外処理は最近傍の補間処理と同様の補間特性として、ノズル1の基準直線BLi上の座標を全部ロック共通の基準直線CBL上の座標に変換する。
このようにして、図35のステップS618の処理が終了した後は、図35のサブルーチンを抜けて図34のフロー(ステップS522)に復帰する。
サンプルチャート上における全ブロックについて、ブロック処理3が終了すると、図34のステップS522でYES判定となり、ステップS526に進む。ステップS526では、計算した各ノズルの基準ブロックの基準直線CBL上の座標を、ノズル順に並べ替える。
並べ替えた各ノズルについて、2つのエッジ近似直線と直線CBL上の座標間の距離を計算し、ライン幅とする。また、並べ替えた各ノズルについて、ラインパターンのピーク近似直線と直線CBL上の座標間の距離を計算し、ライン間隔とする。
そして、予め知見しておいてライン幅とドット径(及び/又はインク体積)の関係に基づいて、ライン幅の情報を、ドット径又はインク体積、若しくはこれらの両方の情報に変換する処理を行う(ステップS528)。
上述したように、本実施形態によるドット計測方法によれば、次のような効果が得られる。
(1)一度のサンプルチャートの撮像(読み取り)によって得られる電子画像データからドット着弾位置と、ドット径(及び/又はインク体積)を同時に、且つ高精度に測定することができる。このため、サンプルチャートの形成や撮像回数を最小限に抑えることができる。
(2)画像読取時に斜めの角度を付けない従来の読取方法に比べて低解像度で読み取りを行うことができ、解像度よりも高い精度で測定を行うことができる。このため、画像サイズの低減、処理時間の高速化、読み取り時間の短縮を達成できる。
(3)測定対象のインクの吸収ピークとは異なるカラーチャンネル画像に基づいてゴミ・ホコリを判断し、ゴミ・ホコリ位置に対応するピーク位置とエッジ位置を計算対象から除外する構成にしたので、ゴミ・ホコリの影響を低減することができる。
(4)ラインパターンに対してラインセンサを用いて斜め角度を付けて撮像する構成により、ラインセンサの各受光素子の特性差(アパーチャー、階調特性、素子間隔の誤差)の影響を低減することができる。
すなわち、撮像装置(ラインセンサ)の受光素子間に特性差(アパーチャーサイズ、階調特性、受光素子間隔の誤差など)があったときに、角度をつけずに(受光素子列をラインパターンのライン方向に直交させ)、ライン方向に沿って読み取り走査を行う場合は、特定のラインパターンのピーク位置とエッジ位置を1つの受光素子のみで撮像するために結果として計算されるドット位置やドット径が当該受光素子の特性差に影響を強く受ける。
これに対し、図9で説明したように、斜め角度を付けて読み取を行うことによって複数の受光素子がラインパターンを横切るため、複数の受光素子によりラインパターンのピーク位置とエッジ位置を撮像することになる。これにより、受光素子の特性差が平均化され、結果として計算されるドット位置やドット径は、受光素子の特性差の影響が低減されたものとなる。
[画像読み取り時の傾き角度、解像度と測定精度に関する考察]
解像度(4800DPI、2400DPI、1200DPI)と読取角度の水準を変更して、ラインパターンを測定した結果を図37に示す。
図37のY軸は、基準とする測定値と各条件でのラインピッチ測定値の差分の絶対値を平均した値である。読取角度が8度前後を中心にして測定精度が最良になっていることが分かる。
解像度が2400DPIで読取角度が8度前後の測定結果は、解像度が4800DPIで読取角度0度の測定結果よりも良化していることからもわかるように、読取角度によって測定精度が向上している。
[ドット計測装置の構成例]
次に、上述したドット計測方法を用いるドット計測装置の構成例について説明する。本例のドット計測に用いる画像解析の処理アルゴリズムをコンピュータに実行させるプログラム(ドット計測処理プログラム)を作成し、このプログラムによってコンピュータを動作させることにより、当該コンピュータをドット計測装置の演算装置として機能させることができる。
図38は、ドット計測装置の構成例を示すブロック図である。図示のドット計測装置200は、画像読取装置202としてのフラットベットスキャナーと、画像解析の演算等を行うコンピュータ210とから構成される。
画像読取装置202は、図9で説明したように、サンプルチャート上のラインパターンを斜めに読み取るRGBラインセンサを備えるとともに、該ラインセンサを読み取り走査方向(図9のY方向)に移動させる走査機構及びラインセンサの駆動回路、センサの出力信号(撮像信号)をA/D変換して、所定フォーマットのデジタル画像データに変換する信号処理回路等を備えている。
コンピュータ210は、本体212と、ディスプレイ(表示手段)214及びキーボードやマウスなど入力装置(各種の指示を入力するための入力手段)216から構成される。本体212内には中央演算処理装置(CPU)220、RAM222、ROM224、入力装置216からの信号入力を制御する入力制御部226、ディスプレイ214に対して表示用の信号を出力する表示制御部228、ハードディスク装置230、通信インターフェース232、及びメディアインターフェース234などを有し、これら各回路はバス236を介して相互に接続されている。
CPU220は、全体の制御装置及び演算装置(演算手段)として機能する。RAM222は、データの一時記憶領域やCPU220によるプログラム実行時の作業用領域として利用される。ROM224は、CPU220を動作させるブートプログラムや各種設定値・ネットワーク接続情報などを記憶する書き換え可能な不揮発性の記憶手段である。ハードディスク装置230には、オペレーティングシステム(OS)や各種のアプリケーションソフト(プログラム)やデータ等が格納される。
通信インターフェース232は、USB(Universal Serial Bus)やLAN、Bluetooth(登録商標)など所定の通信方式に従って外部機器や通信ネットワークに接続するための手段である。メディアインターフェース234は、メモリカードや磁気ディスク、光磁気ディスク、光ディスクに代表される外部記憶装置238の読み書き制御を行う手段である。
本例では、通信インターフェース232を介して画像読取装置202とコンピュータ210とが接続され、画像読取装置202で読み取った撮像画像のデータがコンピュータ210に取り込まれる。なお、画像読取装置202によって取得された撮像画像のデータを外部記憶装置238に一旦記憶し、外部記憶装置238を通じて撮像画像データをコンピュータ210に取り込む構成も可能である。
本発明の実施形態に係るドット計測方法における画像解析の処理プログラムは、ハードディスク装置230、或いは外部記憶装置238に格納されており、必要に応じて当該プログラムが読み出され、RAM222に展開されて実行される。或いは、通信インターフェース232を介して接続される不図示のネットワーク上に設置されたサーバによってプログラムが提供される態様も可能であるし、インターネット上のサーバによって本プログラムによる演算処理サービスを提供するという態様も考えられる。
オペレータは、ディスプレイ214上に表示されるアプリケーションウインドウ(不図示)を見ながら入力装置216を操作して各種初期値の設定を入力することができるとともに、演算結果をディスプレイ214上で確認することができる。
また、演算結果のデータ(計測結果)は、外部記憶装置238に記憶したり、通信インターフェース232を介して外部に出力したりすることができる。計測結果の情報は、通信インターフェース232又は外部記憶装置238を介してインクジェット記録装置に入力される。
(変形例)
上述の実施形態では画像読取装置の撮像装置としてラインセンサを用いた例を述べたが、ラインセンサに代えて、エリアセンサ(面撮像デバイス)を用いることもできる。一枚のエリアセンサによってサンプルチャートの全体を撮像し得る構成としてもよいし、撮像領域を区切り、領域ごとに撮像を行い、これらを繋ぎ合わせて全体のデータを取得する構成でもよい。
図39は、撮像範囲を複数の領域に分割し、各領域をエリアセンサによって撮像する例を示す。具体的には、複数のエリアセンサを紙幅方向に並べ、各エリアセンサの受光素子の配列方向はラインパターンに対して斜めの角度を有するものとする。それぞれのエリアセンサの撮像領域の境界部分を互いに所定画素数分オーバーラップさせるものとし、各エリアセンサから得られる撮像画像データを繋ぎ合わせることにより、サンプルチャートの全ラインパターンを含む撮像画像データを得ることができる。
処理の演算は、分割した領域ごとに実施してもよいし、つなぎ合わせた画像データをもとに演算を行ってもよい。
かかる態様によれば、画像読取装置をインクジェット記録装置に組み込む構成も可能であり、サンプルチャートの形成(ラインパターンの印字)からその読み取り、並びにその
後の画像解析による計測という一連の動作をインクジェット記録装置の制御プログラムによって連続的に実施することができる(オンライン計測が可能)。
上記実施形態では、記録媒体の全幅に対応する長さのノズル列を有するページワイドのフルライン型ヘッドを用いたインクジェット記録装置を説明したが、本発明の適用範囲はこれに限定されず、シリアル型(シャトルスキャン型)ヘッドなど、短尺の記録ヘッドを移動させながら、複数回のヘッド走査により画像記録を行うインクジェット記録装置についても本発明を適用可能である。
また、上述の説明では、画像形成装置の一例としてインクジェット記録装置を例示したが、本発明の適用範囲はこれに限定されず、液体吐出ヘッドを用いて機能液その他各種の液体を被吐出媒体に向けて噴射する各種の装置(塗装装置、塗布装置、配線描画装置、微細構造物形成装置など)について本発明を適用することができる。すなわち、本発明は、工業用の精密塗布装置、レジスト印刷装置、電子回路基板の配線描画装置、染色加工装置、塗装装置など、液体を吐出(噴射)する各種の液体吐出装置におけるドット着弾位置やドット径(液滴体積)の測定技術として広く適用可能である。
〔付記〕
上記に詳述した発明の実施形態についての記載から把握されるとおり、本明細書では以下に示す発明を含む多様な技術思想の開示を含んでいる。
(発明1):複数のノズルが配列された液体吐出ヘッドの各ノズルから被吐出媒体上に液滴を吐出しつつ、前記液体吐出ヘッドと前記被吐出媒体とを相対的に移動させ、各ノズルから吐出された液滴を前記被吐出媒体上に液滴を着弾させることにより、各ノズルに対応したドット列によるラインパターンを形成するラインパターン形成工程と、前記被吐出媒体上に形成されたラインパターンのライン方向に対して撮像装置の受光素子列を所定の角度で斜めに交差させた配置関係で前記ラインパターンを前記撮像装置により撮像することにより、当該撮像画像を表す電子画像データを構成する画素の格子方向が当該撮像画像上における前記ラインパターンのライン方向に対して斜めに交差する2次元の画素格子を持つ電子画像データを取得するパターン読取工程と、前記電子画像データから前記ラインパターンを斜めに貫く画素の格子方向に沿う一次元画素列における画像信号値の変動を表すプロファイルグラフを、1つのラインパターンに対して複数取得するプロファイルグラフ取得工程と、1つのラインパターンに対して複数取得された各プロファイルグラフからそれぞれ、当該ラインパターンの濃度中心に対応する極値位置と、当該ラインパターンの左右両エッジに対応する第1エッジ位置及び第2エッジ位置を算出する特徴位置算出工程と、前記特徴位置算出工程により同じラインパターンに対して複数算出された極値位置、第1エッジ位置及び第2エッジ位置のデータについて、それぞれ最小二乗法を用いて、当該ラインパターンの濃度中心を示す極値位置に対応するライン中心近似直線と、当該ラインパターンの第1エッジ位置に対応する第1エッジ近似直線と、当該ラインパターンの第2エッジ位置に対応する第2エッジ近似直線とを算出する近似直線算出工程と、前記近似直線算出工程で得られた各ラインパターンに対するライン中心近似直線から、隣り合うラインパターンに対応するライン中心近似直線間の垂直距離を計算し、その値からドットの着弾位置を求める着弾位置算出工程と、前記近似直線算出工程で得られた同じラインパターンに対する第1エッジ近似直線と第2エッジ近似直線の直線間垂直距離を計算し、その値を当該ラインパターンのライン幅として求めるライン幅計算工程と、予め所定の液と被吐出媒体の組み合わせにより、被吐出媒体上に形成されるドット径とライン幅の関係、及び吐出液滴の体積とライン幅の関係のうち少なくとも一つ関係を知得しておく相関情報知得工程と、前記ライン幅計算工程で求められたライン幅の値と前記相関情報知得工程で知得されている関係に基づいて、ライン幅の値から、これに対応するドット径及び吐出液滴の体積のうち少なくとも一つの値を求める計測値算出工程と、を備えたことを特徴とするドット計測方法を提供する。
撮像画像の画像信号値は、縦軸を何にするかによってプロファイルグラフの形態が異なる。ラインパターンの光学濃度を縦軸にすると、ラインパターン部の信号値が大きく、非ラインパターン部の信号値は小さくなるため、「ラインパターンの濃度中心に対応する極値位置」は、プロファイルグラフの極大値の位置となる。その一方、画像データの輝度信号或いは明度信号などを縦軸にすると、ラインパターン部の信号値が小さく、非ラインパターン部の信号値は大きくなるため、「ラインパターンの濃度中心に対応する極値位置」は、プロファイルグラフの極小値の位置となる。
極値位置の算出については、二次関数等による補間法を用いることが望ましい。また、第1エッジ位置及び第2エッジ位置の算出に際しても、線形補間を利用して、読取解像度よりも高精度に位置を特定することが望ましい。
電子画像データにおける画素の位置情報と実際の被吐出媒体上の物理的距離との対応関係は、読み取り解像度によって換算できる。画像データ上における画素の座標系から実際の被吐出媒体上の座標系への変換は換算式によって定義されるため、どちらの座標系で演算を進めるか、また、どの演算段階で座標変換を行うか、については任意性がある。
本発明における液体吐出ヘッドの構成例として、被吐出媒体の全幅に対応する長さにわたって複数のノズルを配列させたフルライン型のヘッドを用いることができる。この場合
、被吐出媒体の全幅に対応する長さに満たないノズル列を有する比較的短尺の記録ヘッドモジュールを複数個組合せ、これらを繋ぎ合わせることで全体として媒体の全幅に対応する長さのノズル列を構成する態様がある。
フルライン型のヘッドは、通常、被吐出媒体の送り方向(搬送方向)と直交する方向に沿って配置されるが、搬送方向と直交する方向に対して、ある所定の角度を持たせた斜め方向に沿ってヘッドを配置する態様もあり得る。
「被吐出媒体」は、液体吐出ヘッドのノズル(吐出口)から吐出される液滴の付着を受ける媒体であり、インクジェットプリンタにおける印字媒体、被画像形成媒体、被記録媒体、受像媒体、被吐出媒体、中間転写体などが含まれる。媒体の形態や材質については、特に限定されず、連続用紙、カット紙、シール用紙、OHPシート等の樹脂シート、フイルム、布、配線パターン等が形成されるプリント基板、ゴムシート、金属シート、その他材質や形状を問わず、様々な媒体を含む。
被吐出媒体と液体吐出ヘッドを相対的に移動させる搬送手段は、停止した(固定された)ヘッドに対して被吐出媒体を搬送する態様、停止した被吐出媒体に対してヘッドを移動させる態様、或いは、ヘッドと被吐出媒体の両方を移動させる態様の何れをも含む。なお、インクジェットヘッドを用いてカラー画像を形成する場合は、複数色のインク(記録液)の色別に記録ヘッドを配置してもよいし、1つの印字ヘッドから複数色のインクを吐出可能な構成としてもよい。
本発明において用いる撮像装置としてはラインセンサ(リニアイメージセンサ)を用い
ることも可能であるし、エリアセンサを用いることも可能である。読み取りの解像度は測定対象となるドットの大きさにもよるが、例えば、写真画質の画像記録を実現するインクジェトプリンタにおけるドットの計測には、12000DPI以上であることが好ましい。
(発明2):前記撮像装置としてカラーイメージセンサが用いられ、前記撮像画像を表すカラー画像の電子画像データが取得されることを特徴とする発明1記載のドット計測方法を提供する。
複数色のインクによるドットの計測を行う場合など、吸収特性の異なる複数種の液を測定対象とする場合には、撮像装置として色分解可能なカラーイメージセンサを用いることが好ましい。例えば、RGBの原色カラーフィルタを備えた撮像デバイスや、CMYの補色カラーフィルタを備えた撮像デバイスが用いられる。
カラーイメージセンサを用いる場合、測定対象の液の吸収スペクトルを考慮して、コントラストが最大になる色チャンネルの信号を用いてプロファイルグラフを得る。
(発明3):前記カラーイメージセンサの分光感度特性にしたがって取得される波長範囲別の読み取り画像データのうち、前記液体吐出ヘッドから吐出される液の吸収ピークの波長に対して最も感度の高い波長範囲以外の波長範囲の読み取り画像データから得られるプロファイルグラフに基づき、当該撮像画像内における塵埃の影響の有無を判定する塵埃判定処理工程を有し、前記塵埃判定処理工程により塵埃の影響があると判定した場合に、前記特徴位置算出工程及び近似直線算出工程のうち少なくとも一つの工程において、当該塵埃の影響をもつデータを演算対象から除外する処理を行う塵埃影響データ除外処理工程を備えることを特徴とする発明2記載のドット計測方法を提供する。
かかる態様によれば、塵埃の影響を低減した演算を行うことができる。
(発明4):前記プロファイルグラフについて極値位置を中心とするグラフの対称性を判定する対称性判定処理工程を有し、前記対称性判定処理工程により対称性が低いと判定した場合に、前記特徴位置算出工程及び近似直線算出工程のうち少なくとも一つの工程において、当該対称性の低いプロファイルグラフに対応するデータを演算対象から除外する処理を行う非対称データ除外処理工程を備えることを特徴とする発明1乃至3の何れか1項に記載のドット計測方法を提供する。
かかる態様によれば、プロファイルグラフの対称性からサテライトの有無を判定することができ、サテライトの影響を低減した演算を行うことができる。
(発明5):前記ラインパターン形成工程は、単一の被吐出媒体上において、前記ラインパターンのライン方向に位置を変えて、複数のラインパターンブロックを形成し、各ラインパターンブロックは、共通するノズルからの打滴により形成された基準ラインパターンを含むことを特徴とする発明1乃至4の何れか1項に記載のドット計測方法を提供する。
かかる態様によれば、同じノズルからの打滴により形成された基準ラインパターンを使って、各ラインパターンブロック間の位置合わせを行うことができる。
(発明6):前記ラインパターン形成工程は、単一の被吐出媒体上において、前記ラインパターンのライン方向について異なる位置に、複数のラインパターンブロックを形成し、前記複数のラインパターンブロックのうち少なくとも1つのラインパターンブロックは、他の異なる位置のラインパターンブロックに属するラインパターンと共通するノズルからの打滴により形成されたラインパターンを含むことを特徴とする発明1乃至5の何れか1項に記載のドット計測方法を提供する。
かかる態様によれば、同じノズルからの打滴により形成されたラインパターンラインを使って、各ラインパターンブロック間の位置合わせを行うことができる。
(発明7):前記共通するノズルからの打滴により形成され、かつ、異なるラインパターンブロックに属するラインパターンの位置関係に基づいて、異なるラインパターンブロック間の位置合わせの処理を行うブロック間位置合わせ処理工程を含むことを特徴とする発明5又は6記載のドット計測方法を提供する。
(発明8):前記パターン読取工程は、前記撮像装置としてラインセンサが用いられ、前記ラインパターンが形成された被吐出媒体と前記ラインセンサとを相対的に移動させることにより前記撮像が行われることを特徴とする発明1乃至7の何れか1項に記載のドット計測方法を提供する。
(発明9):複数のノズルが配列された液体吐出ヘッドの各ノズルから被吐出媒体上に液滴を吐出しつつ、前記液体吐出ヘッドと前記被吐出媒体とを相対的に移動させ、各ノズルから吐出された液滴を前記被吐出媒体上に液滴を着弾させることにより、各ノズルに対応したドット列によるラインパターンを形成して成る被測定物上の前記ラインパターンのライン方向に対して、受光素子列を所定の角度で斜めに交差させる配置関係で前記ラインパターンを撮像する撮像装置を有し、前記撮像装置により得られる撮像画像を表す電子画像データを構成する画素の格子方向が当該撮像画像上における前記ラインパターンのライン方向に対して斜めに交差する2次元の画素格子を持つ電子画像データを取得するパターン読取手段と、前記電子画像データから前記ラインパターンを斜めに貫く画素の格子方向に沿う1次元画素列における画像信号値の変動を表すプロファイルブラフを、1つのライ
ンパターンに対して複数取得するプロファイルグラフ取得手段と、1つのラインパターンに対して複数取得された各プロファイルグラフからそれぞれ、当該ラインパターンの濃度中心に対応する極値位置と、ラインパターンの左右両エッジに対応する第1エッジ位置及び第2エッジ位置を算出する特徴位置算出手段と、前記特徴位置算出手段により同じラインパターンに対して複数算出された極値位置、第1エッジ位置及び第2エッジ位置のデータについて、それぞれ最小二乗法を用いて、当該ラインパターンの濃度中心を示す極値位置に対応するライン中心近似直線と、当該ラインパターンの第1エッジ位置に対応する第1エッジ近似直線と、当該ラインパターンの第2エッジ位置に対応する第2エッジ近似直線とを算出する近似直線算出手段と、前記近似直線算出手段で得られた各ラインパターンに対するライン中心近似直線から、隣り合うラインパターンに対応するライン中心近似直線間の垂直距離を計算し、その値からドットの着弾位置を求める着弾位置算出手段と、前記近似直線算出手段で得られた同じラインパターンに対する第1エッジ近似直線と第2エッジ近似直線の直線間垂直距離を計算し、その値を当該ラインパターンのライン幅として求めるライン幅計算手段と、予め所定の液と被吐出媒体の組み合わせにより、被吐出媒体上に形成されるドット径とライン幅の関係、及び吐出液滴の体積とライン幅の関係のうち少なくとも一つ関係を知得しておいた相関情報を記憶しておく相関情報記憶手段と、前記ライン幅計算手段で求められたライン幅の値と前記相関情報記憶手段に記憶されている相関情報に基づいて、ライン幅の値から、これに対応するドット径及び吐出液滴の体積のうち少なくとも一つの値を求める計測値算出手段と、を備えたことを特徴とするドット計測装置を提供する。
本発明によるドット計測装置は、液滴の吐出を行う液滴吐出装置(インクジェット記録装置や配線描画装置など)と分離した構成でもよいし、液滴吐出装置に組み込まれていてもよい。
(発明10):発明9記載のドット計測装置における前記プロファイルグラフ取得手段、前記特徴位置算出手段、前記近似直線算出手段、前記着弾位置算出手段、前記ライン幅計算手段、絵前記相関情報記憶手段、前記計測値算出手段としてコンピュータを機能させるためのプログラムを提供する。
発明9で特定する撮像装置を有する画像読取装置と、発明10のプログラムを組み込んだコンピュータとを組み合わせることにより、発明9のドット計測装置を実現できる。
(発明11):発明7に記載のドット計測方法において、前記共通するノズルによって打滴されたラインパターンを抽出し、抽出した位置が一致するような変換関数を求めて、補正を行うことを特徴とするドット計測方法を提供する。
(発明12):発明11に記載のドット計測方法において、前記変換関数として多項式関数を用い、多項式関数の各係数を最小自乗法で決定することを特徴とするドット計測方法を提供する。
(発明13):発明12に記載のドット計測方法において、前記多項式関数は一次関数、又は二次以上の関数であることを特徴とするドット計測方法を提供する。
(発明14):ノズルから打滴されたライン位置を測定するためのテストパターンであって、略一定の間隔のノズルで打滴されたラインブロックと、前記ラインブロックを打滴したノズルと一部共通し、かつ前記略一定の間隔と異なる略一定間隔のノズルで打滴されたラインブロックとを備えたことを特徴とするテストパターンを提供する。
(発明15):複数のノズルが配列された液体吐出ヘッドの各ノズルから被吐出媒体上に液滴を吐出しつつ、前記液体吐出ヘッドと前記被吐出媒体とを相対移動させ、各ノズルから吐出された液滴を前記被吐出媒体上に液滴を着弾させることにより、各ノズルに対応したドット列によるラインパターンを形成してなるテストパターンであって、前記液体吐出ヘッドの前記相対移動の方向に直交する幅方向に並ぶ実質的なノズル列の端からノズル番号i(i=0,1,2,3…)を付し、前記液体吐出ヘッドの前記相対移動の方向に直交する幅方向に並ぶ実質的なノズル列の端からノズル番号i(i=0,1,2,3…)を付し、Aを1以上の整数、Bを0以上A以下の整数、Cを1以上の整数(但し、C≠A)、Dを0以上C以下の整数、Nを0以上の整数とするとき、(A+1)N+Bのノズル番号のグループごとに打滴タイミングを異ならせて前記被吐出媒体上に形成されたラインパターンブロックと、前記相対移動によって前記ラインパターンブロックとは異なる位置に形成され、(C+1)N+Dのノズル番号のノズルによって形成された基準ラインパターンブロックと、を備えることを特徴とするテストパターンを提供する。
(発明16):前記液体吐出ヘッドとして、記録解像度が1200DPIのインクジェットヘッドが用いられ、16N+0,16N+1、…、16N+15のノズル番号系列による前記ラインパターンブロックと、17N+0のノズル番号系列による前記基準ラインパターンブロックとを備えることを特徴とする発明15に記載のテストパターンを提供する。
(発明17):前記液体吐出ヘッドとして、記録解像度が1200DPIのインクジェットヘッドが用いられ、8N+0,8N+1、…、8N+7のノズル番号系列による前記ラインパターンブロックと、9N+0のノズル番号系列による前記基準ラインパターンブロックとを備えることを特徴とする発明15に記載のテストパターンを提供する。
10…インクジェット記録装置、12…印字部、12K,12C,12M,12Y…ヘッド、16…記録紙、50…ヘッド、51…ノズル、52…圧力室、58…アクチュエータ、72…システムコントローラ、80…プリント制御部、90…ドット、92…ラインパターン、100…ラインセンサ、101…受光素子、200…ドット計測装置、202…画像読取装置、210…コンピュータ