JP4881271B2 - テストチャート及びその測定方法、テストチャート測定装置並びにプログラム - Google Patents
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Description
所定間隔は、各ラインパターンが重なり合わず、それぞれ個別のラインとして独立に読み取り可能な値として予め設定される。
図1は、インクジェット記録装置の全体構成図である。同図に示すように、このインクジェット記録装置10は、黒(K),シアン(C),マゼンタ(M),イエロー(Y)の各インクに対応して設けられた複数のインクジェット記録ヘッド(「液体吐出ヘッド」に相当、以下、「ヘッド」という。)12K,12C,12M,12Yを有する印字部12と、各ヘッド12K,12C,12M,12Yに供給するインクを貯蔵しておくインク貯蔵/装填部14と、記録媒体たる記録紙16を供給する給紙部18と、記録紙16のカールを除去するデカール処理部20と、前記印字部12のノズル面(インク吐出面)に対向して配置され、記録紙16の平面性を保持しながら記録紙16を搬送するベルト搬送部22と、記録済みの記録紙(プリント物)を外部に排出する排紙部26とを備えている。
次に、ヘッドの構造について説明する。色別の各ヘッド12K,12C,12M,12Yの構造は共通しているので、以下、これらを代表して符号50によってヘッドを示すものとする。
図6は、インクジェット記録装置10のシステム構成を示すブロック図である。同図に示したように、インクジェット記録装置10は、通信インターフェース70、システムコントローラ72、画像メモリ74、ROM75、モータドライバ76、ヒータドライバ78、プリント制御部80、画像バッファメモリ82、ヘッドドライバ84等を備えている。
次に、本発明の実施形態によるテストチャートの作成方法とその読取方法について説明する。
第1の態様は、テストチャートをスキャナ装置130で読み取れる大きさに分割する様態である。広幅のラインヘッド100により打滴されるドットの着弾位置(不吐を含む)を測定するにあたり、1枚のテストチャート(全ノズル分のラインパターンを含むもの)から狭幅の複数枚のテストチャートに分割したとき、以下が課題となる。
課題1で述べたとおり、全体のテストチャートを分割した場合、異なるテストチャートでラインパターンを作成するノズル間の位置を決定することが問題となるが、本例の場合、異なるテストチャート間で基準ラインパターン領域のノズルを重複(オーバーラップ)させているため、このオーバーラップさせたノズルを、各テストチャート間の位置を計算するときの基準とすることができる。
図14はスキャナ装置130で読み取った画像の処理手順(不吐判定処理フロー)を示すフローチャートである。
図16のように1枚のテストチャートを読み取った画像に対して、操作者がコンピュータのディスプレイを見ながら手動で(マウスやキーボード等の入力装置を操作して)テストチャート基準位置(A,B,C)を入力すると、テストチャートの配置情報(テストチャート内のラインパターンブロックの各解析範囲の位置情報とテストチャート規準位置の相対位置関係の情報)に基づいて、各ラインパターンのラインパターンブロック解析範囲150〜153が設定される。
こうして設定されたラインパターンブロック解析範囲において、公知の方法(例えば、「High Image Quality achieved through High Precision Measurement」, Howard Mizes; Xerox Corp.; Webster, NY, USA, 2006 Society for Imaging Science and Technology,p.472〜p.476に記載の方法を用いることができる)で画像を解析し、ラインパターンの数(np)、ラインパターンの位置座標position=(x0,x1,...,xnp-1)、及びライン幅width=(w0,w1,..,wnp-1)を計算する(図14のステップS112)。
次に、図18の情報から、ラインパターンブロック内部の不吐ラインパターンの存在を推定する処理(内部不吐判定処理)を行う(図14のステップS116)。
これと平均間隔ave_pitch との比Kiを求める。
ただし、実測によるライン間隔pitch iから計算して得られた平均間隔ave_pitchの値と、予め用意しておいたテストパターンの設計に用いたラインパターン間隔 design_pitchを比較して、差分の絶対値d = | ave_pitch - design_pitch | / design_pitch が所定の条件を満たさない場合、Kiの計算方法を変更し、ave_pitchに替えて、design_pitchを使用して Ki= pitch i / design_pitch と計算する。Kiの計算方法を変更する際の判断基準となる前記所定の条件の例としては、例えば、「d ≦ 0.1」とする。ただし、この数値に限定されず、画像形成装置の不吐の程度によって適宜設計される。
ave_pitchとライン幅平均値ave_widthを求める(ステップS212)。更に、内部不吐処理ノズル番号0の情報として仮ノズル番号0の情報を格納し、ノズル状態は「正常」という情報を格納する。そして、内部不吐処理ノズル番号jを「0」とする。また、仮ノズル番号iを「0」に設定(初期化)する(ステップS212)。
内部不吐判定処理後、次に、外部不吐ノズルの判定処理と基準ラインパターンの推定を行う(図14のステップS118)。具体的には、次の情報に基づいて外部不吐ノズルの判定を行う。すなわち、既述のとおり、基準ラインパターンは正常時において左右各4ラインあり、それぞれ長と中が2ラインずつで4ライン連続している。また、基準ラインパターンを合わせて全ラインパターンは18ラインであるため、通常ラインパターンは18−(4+4)=10ラインとなる。
異なるラインパターンブロック間の位置誤差を調整する手段として、図23〜図25で例示するような構成のテストパターンを採用することが好ましい。
(出力)=COEFA×{(入力値)−P5@(4n+1)}+COEFB
ただし、COEFA=(P25@5n −P5@5n)/(P25@(4n+1)−P5@(4n+1)),COEFB=P5@5n
と補正される。
ただし、COEFS=(PL1―PL0)/(PU1−PU0)
COEFT=PL0
図26から明らかなように、上段4nから下段4nまでのY方向距離4Bに対して、4n+1ブロックは3Bの距離なので、
(出力値)=COEFS×{(入力値)−PU0)}+COEFT
ただし、COEFS=(PS1―PS0)/(PU1−PU0)
COEFT=PL0
PS0=PL0+(PU0−PL0)×3/4
PS1=PL1+(PU1−PL1)×3/4
なる補正式を用いて、ノズル番号1の位置を補正する。
スキャナ装置130で読み込んだ分割テストチャートが全体のテストチャートのどの部分のテストチャートであるのかという対象の同定(テストチャート0〜3の区別)については、操作者が認識できている場合には、操作者からの指示(入力)によって行う。或いは、後述するように、各ラインパターンブロックに使われるノズル並び情報を用いてテストパターンを自動的に同定できる。
全てのテストパターン(分割された複数枚のテストパターン)について上記情報を決定した後で、全ノズルに一貫した位置情報(絶対位置)を決定する。ノズル番号0〜4095のラインヘッドによりテストチャート0〜3を作成する例では、テストチャート0〜3に含まれるテストパターン(各ラインパターン)の通しノズル番号及びこれらの相対的な位置情報が決定されると、ノズル番号「0番」の位置を絶対位置0として、テストチャート0に含まれる各テストパターンの相対位置に基づいて、テストチャート0に含まれる各テストパターンの絶対位置を決定していく。具体的にはノズル番号0の相対位置を各相対位置から減算する。
シフト量=[テストチャート0の重複ノズルの絶対位置の平均値]
−[テストチャート1の重複ノズルの相対位置の平均値]
このシフト量を各ノズル番号における相対位置に加算する。
次に、テストチャートの作成からチャート読み取り時のユーザーインターフェースを含む処理全体のアルゴリスムについて図30のフローチャートで説明する。
次に、上述したテストチャートの測定方法を用いるテストチャート計測装置の構成例について説明する。本例のテストチャート測定に用いる画像解析の処理アルゴリズムをコンピュータに実行させるプログラムを作成し、このプログラムによってコンピュータを動作させることにより、当該コンピュータをテストチャート測定装置の演算装置として機能させることができる。
上述した第1の態様では、テストチャートをスキャナ装置130で読み取れる大きさに分割した例を述べたが、第2の態様は、テストチャートを一枚物の状態で(複数枚に切断せずに)読み取る領域を変えながら全体を読み取る態様である。
できる。
Claims (10)
- 複数の記録素子が配列されたラインヘッドと記録媒体とを相対移動させるとともに、前記記録素子を記録動作させることにより、前記記録素子に対応したラインパターンを形成してなるテストチャートであって、
前記テストチャートは、異なる記録素子のそれぞれに対応する複数本のラインパターンが互いに離れて所定間隔以上で並んだラインパターンブロックを含んでおり、
前記ラインパターンブロックにおける両端部の各領域にはライン特徴量を異ならせた複数本の基準ラインパターンが形成されていることを特徴とするテストチャート。 - 前記複数本の基準ラインパターンは、第1のライン特徴量を有する基準ラインパターンと、第2のライン特徴量を有する基準ラインパターンを含んで構成されることを特徴とする請求項1記載のテストチャート。
- 前記複数本の基準ラインパターンを形成する記録素子を重複させて前記ラインヘッドの記録素子列が複数の記録素子範囲に分割され、当該分割された各記録素子範囲についてそれぞれ前記ラインパターンブロックが形成されていることを特徴とする請求項1又は2記載のテストチャート。
- 前記ラインヘッドにおいて前記相対移動の方向と交差する第1方向に位置を異ならせて配列された前記複数の記録素子の当該記録素子配列の一端から順に記録素子番号j(j=0,1,2…,N-1)を付すときに、前記ラインパターンブロックは、記録素子番号を2以上の整数αで除したときの剰余値R(R=0,1…α-1)が等しい記録素子群によって作成され、
前記テストチャートは、前記剰余値Rが異なる記録素子群によってそれぞれ形成されるラインパターンブロックを前記ラインパターンのライン方向に沿う第2方向に位置を異ならせて配置したα列のラインパターンブロックを含むことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載のテストチャート。 - 前記剰余値Rに対応したラインパターンブロックの並び順をテストパターンごとに異ならせることにより、複数組のテストパターンを識別可能としたことを特徴とする請求項4記載のテストチャート。
- 請求項1乃至5のいずれか1項に記載のテストチャートを画像読取手段によって読み取り、
得られたテストチャート画像から前記ライン特徴量を異ならせた基準ラインパターンの分布を基に、記録異常の記録素子を判定することを特定するテストチャート測定方法。 - 請求項3記載のテストチャートについて前記分割された記録素子範囲に応じて複数の領域に分けて画像読取手段によって読み取り、
得られたテストチャート画像から前記ライン特徴量を異ならせた基準ラインパターンの分布を基に、記録異常の記録素子を判定することを特定するテストチャート測定方法。 - 請求項1乃至5のいずれか1項に記載のテストチャートを読み取り画像データに変換する画像読取手段と、
前記画像読取手段により得られたテストチャート画像を解析し、前記ライン特徴量を異ならせた基準ラインパターンの分布を基に、記録異常の記録素子を判定する演算処理手段と、
を備えたことを特徴とするテストチャート測定装置。 - 前記演算処理手段は、
前記画像読取手段により取得されたテストチャート画像におけるラインパターンブロックについて各ラインパターンの位置、ライン幅、及びライン特徴量の情報を特定する情報特定手段と、
予め把握されている前記複数本の基準ラインパターンのライン特徴量と分布の情報を基に、記録異常の記録素子によるラインパターンの存在を特定する異常ライン特定手段と、
を含んで構成されることを特徴とする請求項8記載のテストチャート測定装置。 - 請求項9記載のテストチャート測定装置における前記情報特定手段及び異常ライン特定手段としてコンピュータを機能させるためのプログラム。
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