JP5137910B2 - ポリッシング装置及び研磨方法 - Google Patents
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Description
(1)半導体レーザや発光ダイオード(LED)などの単色光源を被研磨面に照射し、その反射強度の変化を検出する。
(2)白色光を被研磨面に照射し、その分光(比)反射率を予め記録してある研磨終点の分光(比)反射率と比較する。
また、最近では、ウェハの初期膜厚を推定し、レーザ光をウェハに照射して、反射した反射光の反射強度の測定値の時間変化を正弦波のモデル関数で近似して膜厚を算出する研磨状態監視装置も開発されている。
(1)一定周期の干渉波パターンが存在する。
(2)オフセットが存在する。
(3)右上がりにほぼ線形のドリフトが存在する。
(4)干渉効率のため、波数が大きいほど干渉波の振幅が小さくなる。
2nd/λ1≒2nd/λ2+1 すなわち 1/λ1≒1/λ2+1/2nd
となる。
図13は、図10と同一のパターン酸化膜を研磨したとき、図11の重み関数のセットL、及び、Lの各重み関数を波長軸上でそれぞれ10nm、20nm、30nm、長波長側に移動したL1、L2、L3を用いて、式(11)により特性値X3をモニタリングした例である。各特性値の時間変化の位相は、重み関数を長波長側へ移動するほど、前倒しされていることが分かる。
12 研磨テーブル
14 トップリング
16 研磨液供給ノズル
18 トップリングシャフト
20 研磨状態監視装置
22 透光部
30 光源
32 発光光ファイバ
34 受光光ファイバ
36 分光器ユニット
40 制御部
42 電源
44,46 ケーブル
48 演算部
50 近接センサ
52 ドグ
60−1〜60−N 受光素子
CW ウェハの中心
CL 透光部の中心
CT 研磨テーブルの中心
LT−W ウェハ中央線
Q 研磨液
W 半導体ウェハ(研磨対象物)
Claims (12)
- 研磨対象物の被研磨面に形成された膜を研磨する方法であって、
前記被研磨面を研磨テーブルに対して相対運動させながら、
光源から前記被研磨面に光を照射し、
前記被研磨面からの反射光を受光し、
前記受光した反射光を複数の波長に分光してスペクトルデータを生成し、
前記スペクトルデータに所定の重み関数を乗じて積分することによりスカラー値を生成し、
前記スカラー値を用いて前記被研磨面に対する特性値を算出し、
前記特性値の時間変化の特徴点を用いて前記被研磨面の研磨進捗状況を監視し、
前記重み関数を調節して前記特性値の時間変化を調整することを特徴とする研磨方法。 - 前記重み関数を波長軸に沿って移動させて調節することを特徴とする請求項1に記載の研磨方法。
- 前記特性値の時間変化の特徴点を検知し、
前記検知がなされてから所定の時間経過した時点で研磨を停止し、又は、研磨条件を変更することを特徴とする請求項1または2に記載の研磨方法。 - 前記膜は酸化膜からなることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の研磨方法。
- 前記スペクトルデータに前記重み関数とは異なる所望の第2の重み関数を乗じて積分することにより第2のスカラー値を生成し、
前記第2のスカラー値を用いて前記被研磨面に対する第2の特性値を算出し、
前記特性値と前記第2の特性値とを用いて被研磨面の研磨進捗状況を監視することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の研磨方法。 - 前記膜は金属膜からなることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の研磨方法。
- 前記光源は、波長帯域を有する光を発することを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載に研磨方法。
- 前記光源は、パルス点灯光源であることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載に研磨方法。
- 前記光源は、前記被研磨面からの反射光を受光している間、連続して点灯する連続点灯光源であることを特徴とする1乃至6のいずれか一項に記載に研磨方法。
- 研磨対象物の被研磨面に形成された膜を研磨するポリッシング装置であって、
前記被研磨面に光を照射する光源と、
前記被研磨面からの反射光を受光する受光部と、
前記受光部により受光された光を複数の波長に分光する分光器と、
前記複数の波長に分光された光からスペクトルデータを生成するスペクトルデータ生成部と、
前記スペクトルデータにそれぞれ異なる所望の第1及び第2の重み関数を乗じて積分することにより第1及び第2のスカラー値を生成し前記第1及び第2のスカラー値を用いて前記被研磨面に対する第1及び第2の特性値を算出する演算部と、
前記第1及び第2の重み関数を設定するための入力部と、
前記第1及び第2の特性値を監視するための表示部とを有することを特徴とするポリッシング装置。 - 前記膜は酸化膜からなることを特徴とする請求項10に記載のポリッシング装置。
- 前記膜は金属膜からなることを特徴とする請求項10に記載のポリッシング装置。
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