JP5126795B2 - 裏面電極型太陽電池構造及びその製造プロセス - Google Patents

裏面電極型太陽電池構造及びその製造プロセス Download PDF

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Description

関連出願の相互参照
本出願は、2005年12月21日付け出願の米国特許仮出願第60/752664号明細書の利益を主張するものであり、参照によりその全体がここに援用される。
技術分野
本発明は、太陽電池に関し、より詳細には、裏面電極型太陽電池構造若しくはバックコンタクトソーラーセル(back side contact solar cell structures)及びその製造プロセスに関するが、これに限られることはない。
太陽電池は、太陽放射を電気エネルギーに変換するためのよく知られた装置であり、半導体プロセス技術を使用して半導体ウェハ上に製造することができる。一般に、太陽電池は、シリコン基板にP型及びN型の活性拡散領域を形成することによって製造することができる。太陽電池に当てられる太陽放射によって電子及び正孔が生成し、これらは接活性拡散領域と移動し、これにより、活性拡散領域間での電圧差が形成される。裏面電極型太陽電池では、活性拡散領域も、それに接続している金属格子も、太陽電池の裏面に設けらている。この金属格子によって、外部電気回路が太陽電池に接続され且つこの外部電気回路に太陽電池からの電力供給を行うことができる。裏面電極型太陽電池は、米国特許第5053083号及び第4927770号明細書にも開示されており、これらの特許文献は、参照によりその全体がここに援用される。
効率は、太陽電池の電力発生能力に直接的に関連するので、太陽電池の重要な特性である。したがって、一般に、太陽電池の効率を増大させるための技術が望まれる。太陽電池を製造するコストを低減させる方法及び構造も、その節約分を消費者に回すことができるので、望ましい。本発明は、従来の太陽電池に比べてより高い効率とより低いコストをもたらすことができる、改善された裏面電極型太陽電池の構造及び製造プロセスを開示する。
一態様では、太陽電池の活性拡散接合部は、ウェハの裏面に選択的に堆積させたドーパント源からドーパントを拡散させることによって形成される。ドーパント源は、例えば印刷法を使用することによって選択的に堆積することができる。複数のドーパント源を利用して、様々なドーピングレベルの活性拡散領域を形成することができる。例えば、太陽電池のシリコン/誘電体の境界、シリコン/金属の境界又はそれら両方を最適化するために、3つ又は4つの拡散領域を製造することができる。ウェハの前面は、テクスチャリングプロセスを利用してドーパント源を形成する前にテクスチャリングされ、これにより、ウェハ材料の除去が低減する。金属の格子ラインを活性拡散接合部に接続するための開口を、自己整合コンタクト開口エッチングプロセス(self-aligned contact opening etch process)を利用して形成し、これにより、不整合の作用を低減することができる。
本発明の上記の及びさらなる特徴は、添付図面及び特許請求の範囲を含む本開示全体を読むことによって、当業者には容易に明らかとなるであろう。
異なる図面においても使用されている同じ参照番号は、同じ又は同様の構成要素を示す。図面の縮尺は、別途記載がない限り、必ずしも正しくはない。
本開示では、本発明の態様への理解が徹底されるように、多数の具体的な詳細、例えば構造及び製造ステップの例を示す。しかし、1つ以上の具体的な詳細を利用せずに本発明が実施可能であることは、当業者には認識されるであろう。
本開示は、太陽電池の製造に関する。太陽電池の製造プロセスは、参照によりここに援用される同一出願人による以下の開示、「Improved Solar Cell and Method of Manufacture」と題するWilliam P. Mulligan, Michael J. Cudzinovic, Thomas Pass David Smith, Neil Kaminar, Keith McIntosh, and Richard M. Swansonによる2003年4月10日付け出願の米国特許出願第10/412638号、「Metal Contact Structure For Solar Cell And Method Of Manufacture」と題するWilliam P. Mulligan, Michael J. Cudzinovic, Thomas Pass David Smith, and Richard M. Swansonによる2003年4月10日付け出願の米国特許出願公開第2004/0200520号(第10/412711号出願)、及びSmithらの米国特許第6998288号明細書にも記載されている。
太陽電池の製造では、太陽電池の前面(つまり、通常の運転中太陽を向く面)を、太陽放射収集効率の改善のためにランダムなピラミッド形にテクスチャリングすることが望ましい。このテクスチャリングプロセスは、水酸化カリウム及びイソプロピルアルコールを利用する湿式エッチングプロセスを含んでいてよい。太陽電池の裏面(つまり、前面の反対側の面)は、この面がテクスチャリングプロセスによる損傷から保護されるように二酸化シリコンの保護層で覆うことができる。ほとんどの部分に対して効果があるが、上述のテクスチャリングプロセスは、太陽電池の裏面を加工する前に行うことによって改善することができ、図1A〜1Dに示すテクスチャリングの前にウェハから除去する材料の量を減らすことができる。
図1A、1B、1C及び1Dからなる図1に、本発明の一態様によるテクスチャリングプロセスを施した基板の断面を概略的に示す。一態様では、基板は、N型シリコンウェハ100を含む。図1Aでは、ウェハ100は加工されておらず、ウェハの製造業者又は製造プラントから受け取った状態である。したがって、ウェハ100は、バルクの無傷の部分101に沿って損傷を受けている部分102(つまり、102−1、102−2)をまだ有している。この損傷部分102は、通常、ウェハ100をインゴットからスライシングするために使用される切断プロセスによるものである。ウェハ100の全体の厚みは、この段階では、約200μmであってよい
図1Bでは、各損傷部分102が、部分的に除去されている。つまり、ウェハ100の両面は薄化され、損傷部分102の全てではなくいくらかが除去されている。一態様では、約10μmが、水酸化カリウム又は水酸化ナトリウムを含む湿式エッチングプロセスを利用してウェハ100の各面から除去される。
図1Cでは、ウェハ100の両面が、全ての残された損傷部分102も除去するプロセスにより、テクスチャリングされている。一態様では、ウェハの両面が、水酸化カリウム又はイソプロピルアルコールを含む湿式エッチングプロセスを利用してランダムなピラミッドにテクスチャリングされている。このテクスチャリングプロセスによって、ウェハ100の両面から約10μmの材料を除去することができ、よっって、残された損傷部分102の全てが除去される。ここで、ウェハ100のテクスチャリングされた前面に103−1の番号を付与し、ウェハ100のテクスチャリングされた裏面には103−2の番号を付与する。
図1Dでは、ウェハ100の裏面が、研磨され洗浄されており、これにより、研磨面104が得られる。前面103−1は、通常の運転時には太陽放射を収集するように太陽の方を向く。以下でより明確にされるように、活性拡散領域は、ウェハの、前面103−1とは反対側の裏面から形成される。ウェハ100の両面で損傷部分102を部分的に除去するステップ(図1B)、ウェハ100の両面をテクスチャリングし、同時に残された損傷部分102を除去するステップ(図1C)、並びにウェハ100の裏面を研磨するステップは、単一のプロセス装置において行うことができ、ウェハ100はステップ毎に移動する。
ウェハ100の裏面の研磨は、裏面を片面エッチングすることによって行うことができる。例えば、裏面の片面エッチングは、水平エッチャー、つまり、エッチング溶液を収容したタンク上をウェハがコンベヤ上で水平方向に搬送される装置において行うことができる。この装置は、ウェハの裏面のみがエッチング溶液と接触するように構成されていてよい。片面エッチングは、反応性イオンエッチング(つまり「プラズマエッチング」)によって達成することもできる。片面エッチングによりウェハの裏面を研磨することによって、後続のパターンニング作業が簡単になり、裏面の拡散の再結合特性が改善される。以下に示すように、続いて、図1Dからウェハ100を加工することができ、太陽電池が完成する。
図2〜9に、本発明の態様により製造された裏面電極型太陽電池の断面を概略的に示す。図2〜9は、図1Dに示すウェハ100を利用して説明される。上述のように、ウェハ100は、N型シリコンウェハを含んでいてよい。以下の例における複数のドーパント及び拡散領域は、P型ウェハに対応するように変更してもよい。一般に、P型ドーパント源に適したドーパントはホウ素を含んでいてよく、N型ドーパント源に適したドーパントはリンを含んでいてよい。
図2A及び図2Bからなる図2に、選択的に堆積された隣接するドーパント源を使用した裏面電極型太陽電池の活性拡散領域の製造を示す。ドーパント源201〜204は、選択的に堆積されており、ブランケット堆積によって形成された後にパターン形成されたものでない。図2Aでは、ドーパント源201〜204は、ウェハ100の、前面103−1の反対側である裏面に直接的にプリントすることによって選択的に堆積されている。ドーパント源201〜204は、工業的なインクジェット印刷又はスクリーン印刷によって印刷することができる。例えば、ドーパント源201〜204のそれぞれは、異なるプリントヘッド又は同じプリントヘッドのノズルの異なる群によって吐出することができる。ドーパント源201〜204は、1つ以上のプリントヘッドの1つ又は複数のパス(工程)で印刷することができる。
図2及び本発明の以下の態様では、ドーパント源のインクジェット印刷に適した材料は、溶剤(例えばIPA)、オルガノシロキサン及び触媒の適宜ドープされた組合せを含んでいてよく、ドーパント源のスクリーン印刷に適した材料は、溶剤、オルガノシロキサン、触媒及び充填剤、例えばAl、TiO又はSiO粒子の適宜ドープされた組合せを含んでいてよい。
保護材料の追加的な層(図示せず)、例えば二酸化シリコンを、ドーパント源201〜204上に形成することができ、これにより、電気的な分離が得られ、シリコン界面での再結合が低減する、或いは場合によっては、ドーパントの相互汚染が防止される。ドーパント源201及び202は、N型ドーパント、例えばリンを含んでいてよく、ドーパント源201は低濃度にドープされており(N−)、ドーパント源202は高濃度にドープされている(N+)。ドーパント源203及び204は、ホウ素のようなP型ドーパントを含んでいてよく、ドーパント源203は低ドープされており(P−)、ドーパント源204は高ドープされている(P+)。
図2Bでは、図2Aの試料は、加熱炉内に置かれて高温に曝され、ドーパントがドーパント源201〜204からウェハ100内に拡散する。ドーパント源201〜204からのドーパントの拡散によって、ウェハ100において、活性拡散領域211〜214がそれぞれ形成される。図2B及び以下に開示の態様の拡散ステップは、ウェハ100内へのドーパントの単一ステップでのドライブイン(drive-in)であってよい。この単一ステップであるドライブインによって、拡散されたドーパントを電気的に活性化させ、活性拡散領域を形成することができる。
ドーパント源201及び203は、得られる各拡散領域211及び213が、例えば約250オーム/sqの抵抗率を有するように低ドープすることができる。ドーパント源202及び204は、得られる各拡散領域212及び214が、例えば約10オーム/sqの抵抗率を有するように高ドープすることができる。ドーパント源201〜204には、ツーダッシュが付与され(つまり201”〜204”)、これにより、その源のドーパントが拡散ステップ中にウェハ100内にドライブインされた(拡散された)後であることを示す。ウェハ100が高温に曝されている間、加熱炉中にリン濃度が高いガスが存在していることによって、リンが前面103−1内に拡散し、これによりN型領域206が形成される。さらに、酸素を加熱炉内に導入して、前面103−1上に熱酸化層207を形成することもできる。前面103−1上のN型領域206及び熱酸化層207の形成は、図2Bの例及び以下に説明する別の態様での裏面拡散ステップと同時にインサイトゥで行うことができる。
図2Bによれば、バックエンドプロセスは、金属格子線を高ドープ拡散領域212及び214に結合させるように行うことができる。このようなバックエンドプロセスは、前面103−1への反射防止コーティングの形成、裏面にコンタクト開口を形成するためのコンタクトマスクの形成、コンタクト開口を形成するためのコンタクトエッチングステップ、及びコンタクト開口を通る各拡散領域への格子線のめっきを含んでいてよい。このようなバックエンドプロセスは、後述する他の態様においては、金属格子線を拡散領域に結合させるように行うこともできる。適切な他のバックエンドプロセスも利用することができる。
図3A〜3Cからなる図3に、選択的に堆積された重ねられたドーパント源を利用した裏面電極型太陽電池の活性拡散領域の製造を示す。図3Aでは、ドーパント源304が、ウェハ100の、前面103−1の反対側の裏面に選択的に堆積されている。ドーパント源304は、P型にドープされ、約5ミクロンの厚みに選択的に堆積されている。図3Bでは、ドーパント源302は、ドーパント源304で覆われていない裏面の部分及びドーパント源304の一部上に選択的に堆積されている。ドーパント304の一部上へ選択的な堆積を行うことによって、有利には、ドーパント源302の選択的な堆積部が、整合の変動から影響を受けにくくなる。ドーパント源302は、N型ドーパントでドープされており、約5ミクロンの厚みに選択的に堆積される。ドーパント源302及び304は、例えばインクジェット印刷又はスクリーン印刷によって選択的に堆積させることができる。硬化プロセスを、ドーパント源302及び304のそれぞれを堆積させた後に行うことができる。図3Cでは、拡散ステップが行われ、これにより、ドーパントがドーパント源302及び304からウェハ100内へと拡散する。この拡散ステップによって、P型ドーパントがドーパント源304からウェハ100内へと拡散して、P+活性拡散領域314が形成され、N型ドーパントがドーパント源302からウェハ100内へと拡散して、N+活性拡散領域312が形成される。
図4A及び4Bからなる図4に、選択的に堆積された隔置されたドーパント源を利用した、裏面電極型太陽電池の活性拡散領域の製造を示す。選択的堆積されたドーパント源間のギャップを残すことにより、P型及びN型活性拡散領域の境が大きな再結合電流が導入される応用例で太陽電池の効率を向上させることができる。図4Aでは、ドーパント源402及び404は、インクジェット印刷又はスクリーン印刷によって、ウェハ100の裏面に選択的に堆積されている。ドーパント源402及び404は、例えば、印刷プロセスの単一のパスで約5ミクロンの厚みに選択的堆積させることができる。ドーパント源402は、N型ドーパントでドープされていてよく、ドーパント源404は、P型ドーパントでドープされていてよい。パターニング技術の整合公差によって決められるが、約3ミクロン以上のギャップが、ドーパント源402及び404間に存在していてよい。図4Bでは、拡散ステップが行われ、ドーパントがドーパント源402及び404からウェハ100内へと拡散する。この拡散ステップによって、N型ドーパントがドーパント源402からウェハ100内へと拡散し、N+活性拡散領域412が形成される。同様に、拡散ステップによって、ドーパントがドーパント源404からウェハ100内へと拡散し、活性拡散領域414が形成される。拡散ステップによって、ドーパント源402及び404は、シリコンガラスを含み得る誘電層416へと転換若しくは変化する。
太陽電池の製造においては、金属格子線を形成し、これにより、太陽電池を外部デバイスに接続する活性拡散領域へのコンタクトを形成する。これによって、P型及びN型の活性拡散領域は、シリコン/誘電体及びシリコン/金属境界下に存在するようになる。シリコンと金属格子との間にコンタクトを形成しなくてはならないので、シリコン/金属の境界は、排除することができない。シリコン/誘電体の境界下の少数キャリアの再結合速度は低くすることができるが(例えば、熱成長酸化物下で通常10cm/s)、シリコン/金属境界下では常に極めて高い。表面再結合速度が大きいことは、デバイス効率に不都合な影響を与える。「不透明拡散(opaque diffusions)」とも呼ばれる高濃度で且つ深い拡散は、基板から境界部を遮蔽することによって、大きな表面速度の影響を低減する。しかし、この不透明拡散は、高い少数キャリア再結合を発生ささせるものであり、これによりデバイス効率が低減する。
本発明の一態様によれば、より効率が高い裏面電極型太陽電池は、様々なドーピングレベルの活性拡散領域、例えばシリコン/金属境界下では不透明拡散、シリコン/誘電体境界下ではそれほど遮蔽する必要のない低再結合拡散を形成することによって形成することができる。選択的な堆積により、有利には、様々なドーピングレベルでドーパント源をコスト効率よく堆積させることが可能となる。他の手法では、様々なドーピングレベルでドーパント源を配置させるために行わなくてはならないマスキング及びパターニングのステップは、法外な費用がかかる又は製造プロセスを複雑にするものとなるであろう。例えば、選択的な堆積を利用して、ドーパント源の4つの異なる組、すなわち(1)シリコン/誘電体境界下の低再結合P型活性拡散領域を形成するための低ドープされたP型ドーパント源(P−)、(2)シリコン/金属境界下での不透明P型活性拡散領域を形成するための高ドープされたP型ドーパント源(P+)、(3)シリコン/誘電体境界下の低再結合N型活性拡散領域を形成するための低ドープされたN型ドーパント源(N−)、及び(4)シリコン/金属境界下の不透明N型活性拡散領域を形成するための高ドープされたN型ドーパント源(N+)を形成することができる。
図5A及び5Bからなる図5に、様々なドーピングレベルで選択的に堆積されたドーパント源を利用した裏面電極型太陽電池の活性拡散領域の製造を示す。一態様では、高ドープされたドーパント源は、ウェハ100の、活性拡散領域が金属と接触する部分上(つまり、コンタクト開口下)に形成され、低ドープされたドーパント源は、ウェハ100の他の部分上に形成される。
図5Aに、ドーパント源501、503、521及び523を、ウェハ100の、前面103−1の反対側の裏面に選択的に堆積させる。ドーパント源501、503、521及び523は、その化学組成又は厚みを調節することによって、低ドープ又は高ドープとなるように構成されていてよい。例えば、ドーパント源501は、ドーパント源521より厚く形成することができるか又はより高いドーパント濃度にすることができる。同様に、ドーパント源503は、ドーパント源523より厚く形成することができるか又はより高いドーパント濃度にすることができる。例えば、ドーパント源501はN型ドーパントで高ドープされていてよく、ドーパント源521はN型ドーパントで低ドープされていてよく、ドーパント源503はP型ドーパントで高ドープされていてよく、ドーパント源523はP型ドーパント源で低ドープされていてよい。ドーパント源501及び503の選択的な堆積は、プリントプロセスの第1のパスで行うことができ、その後、プリントプロセスの第2のパスでドーパント源523の選択的な堆積を行い、さらにその後、プリントプロセスの第3のパスでドーパント源521の選択的な堆積を行う。
図5Bでは、拡散ステップを行い、ドーパントをドーパント源501、503、521及び523からウェハ100へと拡散されている。拡散ステップによって、N型ドーパントがドーパント源501から拡散してN+活性拡散領域532が形成され、N型ドーパントがドーパント源521から拡散してN−活性拡散領域531が形成され、P型ドーパントがドーパント源503から拡散してP+活性拡散領域534が形成され、P型ドーパントがドーパント源523から拡散してP−活性拡散領域533が形成されている。ウェハ100のドーパントの拡散によって、ドーパント源501、503、521及び523は、ドープされていない誘電層535へと変化する。コンタクト開口536が、誘電層535を通して形成され、これにより、金属格子線は、N+活性拡散領域532及びP+活性拡散領域534に接触する。
いくつかの応用例では、拡散領域の4つでなく3つの異なる組が望ましい場合もある。例えば、図5の低ドープされた活性拡散領域の1つを、図8で以下に説明するように省略することができる。
図6A及び6Bからなる図6に、様々なドーピングレベルで選択的に堆積されたドーピング源を利用して裏面電極型太陽電池の活性拡散領域を形成する別の方法を示す。図6Aでは、ドーパント源602、603及び604が、ウェハ100の、前面103−1の反対側の裏面に選択的に堆積される。例えば、ドーパント源602はN型ドーパントで高ドープされていてよく、ドーパント源603はP型ドーパントで低ドープされていてよく、ドーパント源604はP型ドーパントで高ドープされていてよい。ドーパント源602及び604の選択的な堆積は、プリントプロセスの第1のパスで行うことができ、その後、ドーパント源603の選択的な堆積を、プリントプロセスの第2のパスで行うことができる。
図6Bでは、拡散ステップを行い、ドーパントをドーパント源602、603及び604からウェハ100内へと拡散させる。拡散ステップによって、N型ドーパントがドーパント源602から拡散してN+活性拡散領域632が形成され、P型ドーパントがドーパント源603から拡散してP−活性拡散領域633が形成され、P型ドーパントがドーパント源604から拡散してP+活性拡散領域634が形成される。ドーパントのウェハ100への拡散によって、ドーパント源602、603及び604は、ドープされていない誘電体層635へと変化する。コンタクト開 口636は、誘電層635を通して形成され、これにより、金属格子線がN+活性拡散領域632及びP+活性拡散領域634に接触することができる。
選択的な堆積及び化学蒸着(CVD)の他に、スピンコーティングを使用してドーパント源を形成することもできる。例えば、適切にドープされたスピンオングラス(SOG)を、図7に示すP型及びN型ドーパント源として使用することができる。
図7A、7B、7C及び7Dからなる図7に、スピンコーティングされたドーパント源を使用した、裏面電極型太陽電池の活性拡散領域の製造を示す。図7Aでは、ドーパント源704が、ウェハ100の、前面103−1の反対側の裏面の露出した表面全体上にスピンコーティングされている。ドーピング源704は、例えば、P型ドーパントで高ドープされ且つ約2μmの厚みにスピンコーティングされたSOGを含んでいてよい。図7Bでは、ドーパント源704が、ウェハ100の裏面の一部を露出するようにパターニングされ、そこには、別のドーパント源が形成される。図7Cでは、ドーパント源702は、図7Bの試料上にスピンコーティングされている。ドーパント源702は、例えば、N型ドーパントで高ドープされ且つドーパント源704上に約2ミクロンの厚みでスピンコーティングされているSOGを含んでいてよい。図7では、拡散ステップを行い、これにより、ドーパントはドーパント源704及び702からウェハ100内へと拡散する。この拡散ステップにより、N型ドーパントがドーパント源702からウェハ100内へと拡散して、N+活性拡散領域712が形成される。同様に、拡散ステップによって、P型ドーパントがドーパント源704からウェハ100内へと拡散して、活性拡散領域714が形成される。ドーパントのウェハ100内への拡散によって、ドーパント源702及び704は、ドープされていない誘電層716へと変化する。
図8A、8B及び8Cからなる図8に、選択的な堆積及び他の堆積プロセスの組合せを利用した、裏面電極型太陽電池の活性拡散領域の製造を示す。図8Aでは、ドーパント源804が、ウェハ100の、前面103−1の反対側の裏面に選択的に堆積されている。ドーパント源804は、ウェハ100の裏面に、例えば約5ミクロンの厚みに直接的に印刷することができる。ドーパント源804は、P型ドーパントで高ドープされていてよい。ドーパント源804の選択的な堆積は、印刷プロセス(例えば、インクジェット印刷又はスクリーン印刷)の単一パスで行うことができる。
図8Bでは、ドーパント源802が、図8Aの試料上にスピンコーティングされている。ドーパント源802は、N型ドーパントで高ドープされ且つドーパント源804上に約2ミクロンの厚みでスピンコートされているSOGを備えていてよい。ドーパント源804の選択的な堆積によって、有利には、ドーパント源804をパターニングする必要なくドーパント源802をスピンコートできることに留意されたい。応用例に応じて、ドーパント源802は、ロールオン、スプレーオン、スクリーン印刷又はインクジェット印刷プロセスを利用したブランケット堆積によって塗布することもできる。
図8Cでは、拡散ステップを行い、これにより、ドーパントがドーパント源804及び802からウェハ100内へと拡散する。拡散ステップにより、N型ドーパントは拡散源802からウェハ100内へと拡散し、N+活性拡散領域812が形成される。同様に、拡散ステップによって、P型ドーパントが、ドーパント源804からウェハ100へと拡散し、P+活性拡散領域814が形成される。ドーパントのウェハ100への拡散によって、ドーパント源802及び804は、ドープされていない誘電層816へと変化する。
図9A、9B、9C及び9Dからなる図9に、自己整列コンタクト開口エッチングプロセスを可能にするドーパント源を利用した裏面電極型太陽電池の活性拡散領域の製造を示す。
図9Aでは、ドーパント源603が、ウェハ100の、前面103−1の反対側の裏面に形成されている。一態様では、ドーパント源903は、高ドープされた活性拡散領域が形成される場所上にのみ開口906が存在することとなるように形成される(図9Cの922及び924を参照)。以下でより明確に説明するように、開口906が活性拡散領域に対するコンタクト開口(図9Dの936を参照)の位置を規定するので、比較的厚いドーパント源903によって、自己整合プロセスが可能となる。ドーパント源903は、ウェハ100の裏面に選択的に堆積することができる。好ましくは、ドーパント源903は、ウェハ100の裏面に、ブランケット堆積(例えば化学蒸着又はスピンコーティング)によって形成され、その後、パターンニングされ開口906が形成される。ブランケット堆積に続きパターニングを行うことは、有利には、印刷可能なドーパントの互いの接触を防止する。
一態様では、ドーパント源903は、P型ドーパントで低ドープされた誘電体を含む。ドーパント源903の組成及び厚みは、高温拡散ステップ後に、P型活性拡散領域が低ドープされ(例えば、約250オーム/sq)、低キャリア再結合が生成され(例えば、エミッタ飽和電流密度(emitter saturation current density)が約25fA/cm)、ドーパント源903が、続いて形成されるドーパント源902及び904に比べて厚く(例えば、約2000オングストローム)なるように(図9B参照)、形成することができる。
図9Bでは、ドーパント源902及び904が、ドーパント源903上に及び開口906内に形成されている。ドーパント源902及び904は、金属格子線が接続される、ウェハ100内に活性拡散領域を形成するためのものである。ドーパント源902及び904は、好ましくは、ウェハ100の裏面に直接的に印刷することによって選択的に堆積される。例えば、ドーパント源902及び904は、スクリーン印刷又はインクジェット印刷によって1つの又は複数のパスで選択的に堆積させることができる。ドーパント源902及び904は、ブランケット堆積(例えば、化学蒸着又はスピンコーティング)し、その後パターニングすることによっても形成することができるが、追加的なエッチング停止層が必要になり得る。
一態様では、ドーパント源902は、N型ドーパントで高ドープされた誘電体を含み、ドーパント源904は、P型ドーパントで高ドープされた誘電体を含む。ドーパント源902及び904の組成及び厚みは、高温拡散ステップ後、(a)ドーパント源902及び904が、ウェハ100において高ドープされた(例えば約10オーム/sq)拡散領域を形成し、(b)ドーパント源902及び904が、ドーパント源903と比較して薄く(例えば約500オングストローム)なるように(図9Bを参照)、(c)得られる拡散領域が不透明であるように(つまり、拡散領域によって誘導されるキャリア再結合が、その場所のシリコン境界の状況に著しく影響されることなく)、形成することができる。
ドーパント源902及び904と比較したドーパント903の厚みは、好ましくは、後に行われるコンタクト開口エッチングプロセスによって、ドーパント源903が完全に除去される前にドーパント源902及び904がウェハ100にまでエッチングされるように、形成することができる。これにより、有利には、ドーパント源902及び904が活性拡散領域のためのドーパントを提供するばかりでなくコンタクト開口の位置も整合させるので、自己整合コンタクト開口エッチングプロセスが可能となる。硬化ステップ又は保護層堆積は、太陽電池の具体的な種類に応じて行うことができる。
図9Cでは、拡散ステップを行い、ドーパントをドーパント902、903及び904からウェハ100へと拡散させる。拡散ステップにより、N型ドーパントが、ドーパント源902からウェハ100内へと拡散し、N+活性拡散領域922が形成される。拡散ステップにより、ドーパント源904からP型ドーパントがウェハ100内へと拡散してP+活性拡散領域924が形成され、ドーパント源903からP型ドーパントがウェハ100内へと拡散してP−活性拡散領域913が形成される。ドーパントのウェハ100への拡散によって、ドーパント源902、903及び904が誘電層935へと変化する。つまり、拡散ステップ後の誘電体935のより厚い部分は、ドーパント源903の残部であり、誘電体935のより薄い部分はドーパント源902及び904の残部である。
拡散ステップ中、ドーパントリッチガス(例えばPOCl3)及びいくらかの酸素を、選択された時間にわたり加熱炉中に導入することができ、これにより、前面103−1に低濃度のN型拡散が形成され、熱酸化物層が成長する。前面103−1に形成されたN型拡散及び熱酸化物によって、太陽電池のテクスチャリングされた側での再結合が低減する。
図9Dでは、図9Cの試料に、自己整合コンタクト開口エッチングステップが施され、誘電層935の、活性拡散領域922及び924上の部分が除去されている。コンタクト開口エッチングステップにより、上述のコンタクト開口906を通るコンタクト開口936が形成される(図9Cを参照)。コンタクト開口エッチングステップは、コンタクト開口906内の誘電層935の一部を薄化してコンタクト開口936を形成するように設定されていてよい。ドーパント源902及び904はドーパント903より薄く形成されているので、コンタクト開口エッチングステップによって、誘電層935のより厚い部分も薄化されるが、誘電層935のより薄い部分は完全には除去される。金属格子線は、活性拡散領域922及び924に電気的に接触するように、コンタクト開口936に形成することができる。
一態様では、コンタクト開口エッチングステップは、時間制御されたウェットエッチングプロセスを含む。例えば、コンタクト開口エッチングステップは、図9Cの試料の裏面(つまり、テクスチャリングされていない面)を、制御された時間長さにわたってHFリッチエッチャント(液体又は蒸気)に曝すことによって行うことができる。一般に、誘電層935の制御可能なエッチング速度をもたらす任意のエッチャントを利用することができる。片面のみのエッチングが実用的でない応用例では、追加の保護層をテクスチャリングされた前面103−1に堆積させて、その面をコンタクト開口エッチング中に保護する。プラズマエッチャーを利用して、これにより、前面103−1がエッチングされることなくウェハ100の裏面をエッチングすることもできる。プラズマエッチングステップは、金属格子線をコンタクト開口936に形成するための後続の金属スパッタリングステップに組み込むことができる。例えば、クラスターツール(cluster tool)が、プラズマエッチングステップを行うための第1のチャンバ、及び金属格子線を形成するための別のチャンバを有していてよい。
別の態様では、活性拡散領域を形成するための比較的薄いドーパント源をまず形成し、続いてより厚いドーパント源を形成することができる。例えば、より厚いドーパント源903を、より薄いドーパント源902及び904の後に、ウェハ100の裏面上に形成することができる。しかし、図9A〜9Dの態様は、真の自己整合プロセスを可能にし、印刷可能なドーパントの混合が防止されるので、好ましい。
以上、本発明の特定の態様を説明したが、これらの態様が、例示を目的としているにすぎず、制限的でないことを理解されたい。さらなる多くの態様があることは、本開示を読む当業者には明らかであろう。
図1A〜1D(FIG.1A〜1D)からなる。本発明の一態様による、テクスチャリングプロセスを施している基板の断面を概略的に示す。 図2A及び2B(FIG.2A及び2B)からなる。本発明の一態様による、選択的に堆積させた隣接するドーパント源を利用した、裏面電極型太陽電池の活性拡散領域の製造を示す。 図3A〜3C(FIG.3A〜3C)からなる。本発明の一態様による、選択的に堆積させた重ねられたドーパント源を利用した、裏面電極型太陽電池の活性拡散領域の製造を示す。 図4A及び4B(FIG.4A及び4B)からなる。本発明の一態様による、選択的に堆積させた隔置されたドーパント源を利用した、裏面電極型太陽電池の活性拡散領域の製造を示す。 図5A及び5B(FIG.5A及び5B)からなる。本発明の一態様による、様々なドーピングレベルを有する選択的に堆積させたドーパント源を利用した、裏面電極型太陽電池の活性拡散領域の製造を示す。 図6A及び6B(FIG.6A及び6B)からなる。本発明の一態様による、様々なドーピングレベルを有する選択的に堆積させたドーパント源を利用した、裏面電極型太陽電池の活性拡散領域を形成する別の方法を示す。 図7A〜7D(FIG.7A〜7D)からなる。本発明の一態様による、スピンコーティングされたドーパント源を利用した、裏面電極型太陽電池の活性拡散領域の製造を示す。 図8A〜8C(FIG.8A〜8C)からなる。本発明の一態様による、選択的な堆積プロセス及び別の堆積プロセスの組合せを利用した、裏面電極型太陽電池の活性拡散領域の製造を示す。 図9A〜9D(FIG.9A〜9D)からなる。本発明の一態様による、自己整合コンタクト開口エッチングプロセスを可能にするドーパント源を利用した、裏面電極型太陽電池の活性拡散領域の製造を示す。

Claims (19)

  1. 裏面電極型太陽電池の活性拡散領域を形成する方法であって、
    太陽電池に加工されるウェハを設け、該ウェハの前面が、前記太陽電池の通常の作動時に太陽の方を向くように構成されており、
    P型ドーパント源及びN型ドーパント源を、前記ウェハの、前記太陽電池の前面とは反対側にある裏面に選択的に堆積し、当該P型及びN型ドーパント源が、前記ウェハの前記裏面に直接的に印刷されることによって選択的に堆積され、前記N型ドーパント源は前記P型ドーパント源によって覆われていない前記ウェハの前記裏面の露出した部分上と、前記P型ドーパント源と重なる位置とに選択的に堆積され、
    前記P型ドーパント源からドーパントを拡散させ、前記太陽電池のP型活性拡散領域を形成し、前記N型ドーパント源からドーパントを拡散させ、前記太陽電池のN型活性拡散領域を形成する、拡散ステップを行う
    ことを含む、方法。
  2. 前記N型ドーパント源と第1のP型ドーパント源とを前記ウェハの前記裏面の露出した部分上に選択的に堆積し、前記第1のP型ドーパント源に対して低濃度である第2のP型ドーパント源を前記ウェハの前記裏面の露出した部分上と、前記N型ドーパント源及び前記第1のP型ドーパント源に重なる位置とに選択的に堆積することによって、前記第1のP型ドーパント源、前記第2のP型ドーパント源及び前記N型ドーパント源を選択的に堆積し、
    前記N型ドーパント源からドーパントを拡散させ、前記太陽電池の前記N型活性拡散領域を形成し、前記第1のP型ドーパント源からドーパントを拡散させ、前記太陽電池の第1のP型活性拡散領域を形成し、前記第2のP型ドーパント源からドーパントを拡散させ、前記太陽電池の第2のP型活性拡散領域を形成する
    請求項1に記載の方法。
  3. 第1のN型ドーパント源と第1のP型ドーパント源とを前記ウェハの前記裏面の露出した部分上に選択的に堆積し、前記第1のP型ドーパント源に対して低濃度である第2のP型ドーパント源を前記ウェハの前記裏面の露出した部分上と前記第1のP型ドーパント源に重なる位置とに選択的に堆積し、前記第1のN型ドーパント源に対して低濃度である第2のN型ドーパント源を前記ウェハの前記裏面の露出した部分上と前記第1のN型ドーパント源及び前記第2のP型ドーパント源に重なる位置とに選択的に堆積することによって、前記第1のP型ドーパント源、前記第2のP型ドーパント源、前記第1のN型ドーパント源及び前記第2のN型ドーパント源を選択的に堆積し、
    前記第1のN型ドーパント源からドーパントを拡散させ、前記太陽電池の第1のN型活性拡散領域を形成し、前記第2のN型ドーパント源からドーパントを拡散させ、前記太陽電池の第2のN型活性拡散領域を形成し、前記第1のP型ドーパント源からドーパントを拡散させ、前記太陽電池の第1のP型活性拡散領域を形成し、前記第2のP型ドーパント源からドーパントを拡散させ、前記太陽電池の第2のP型活性拡散領域を形成する
    請求項1に記載の方法。
  4. 前記ウェハの前記前面が、前記P型及びN型ドーパント源を形成する前に、テクスチャリングされる、請求項1から3のいずれか1項に記載の方法。
  5. 前記ウェハの前面が、テクスチャリングプロセスを使用してテクスチャリングされ、該テクスチャリングプロセスが、
    前記ウェハの前面及び裏面を薄化して、該前面及び該裏面上のウェハの損傷部分を部分的に除去し、
    前記ウェハの前面及び裏面をテクスチャリングして、当該ウェハの前面及び裏面上に残された損傷部分を除去し、
    前記ウェハの裏面を研磨して、当該ウェハの裏面上のテクスチャリングを除去することを含む、請求項に記載の方法。
  6. 前記P型及びN型ドーパント源を、スクリーン印刷によって選択的に堆積させる、請求項1に記載の方法。
  7. 前記P型及びN型ドーパント源を、インクジェット印刷によって選択的に堆積させる、請求項1に記載の方法。
  8. 前記P型及びN型ドーパント源を、印刷プロセスの単一のパスで選択的に堆積させる、請求項1に記載の方法。
  9. 前記拡散ステップを行う前に、前記ウェハの裏面に直接的に印刷することによって、Pドーパント源及びNドーパント源を選択的に堆積させ、
    前記P型ドーパント源からドーパントを拡散させて前記太陽電池の前記P型活性拡散領域を形成し、前記N型ドーパント源からドーパントを拡散させて前記太陽電池の前記N型活性拡散領域を形成し、前記P−ドーパント源からドーパントを拡散させて前記太陽電池のP−活性拡散領域を形成し、前記N−ドーパント源からドーパントを拡散させて、前記太陽電池のN−活性拡散領域を形成する、拡散ステップを行う
    ことをさらに含む、請求項1に記載の方法。
  10. 裏面電極型太陽電池の活性拡散領域を形成する方法であって、
    太陽電池に加工されるウェハを設け、該ウェハの前面が、前記太陽電池の通常の作動時に太陽の方を向くように構成されており、
    前記ウェハの、前記太陽電池の前記前面の反対側の裏面に、第1のドーパント種でドープされた第1の組のドーパント源を選択的に堆積させ、該第1の組のドーパント源が、前記ウェハの裏面に直接的に印刷することによって選択的に堆積され、
    前記第1のドーパント種とは異なる第2のドーパント種でドープされた第2の組のドーパント源を、前記第1の組のドーパント源によって覆われていない前記ウェハの前記裏面の露出した部分上と、前記第1の組のドーパント源と重なる位置とに堆積させ
    前記第1の組のドーパント源からドーパントを拡散させ、前記太陽電池の第1の組の活性拡散領域を形成し、前記第2の組のドーパント源からドーパントを拡散させ、前記太陽電池の第2の組の活性拡散領域を形成する、拡散ステップを行う
    ことを含む、方法。
  11. 前記第2の組のドーパント源が、スピンコーティングによって前記ウェハの裏面に形成される、請求項10に記載の方法。
  12. 前記ウェハの前面が、前記第1及び第2の組のドーパント源を形成する前に、テクスチャリングプロセスを利用してテクスチャリングされ、該テクスチャリンプロセスが、
    前記ウェハの前面及び裏面を薄化して、前記前面及び裏面の前記ウェハの損傷部分を部分的に除去し、
    前記ウェハの前面及び裏面をテクスチャリングして、前記ウェハの前面及び裏面に残された損傷部分を除去し、
    前記ウェハの裏面を研磨して、該ウェハの裏面のテクスチャリングを除去する
    ことを含む、請求項10または11に記載の方法。
  13. 前記第2の組のドーパント源が、前記ウェハの裏面に印刷される、請求項10に記載の方法。
  14. 前記拡散ステップを行う前に、前記ウェハの裏面に第3の組のドーパント源を堆積し、該第3の組のドーパント源が、前記第1の組のドーパント源よりも低濃度でドープされており、
    前記第1の組のドーパント源からドーパントを拡散させて前記太陽電池の第1の組の活性拡散領域を形成し、前記第2の組のドーパント源からドーパントを拡散させて前記太陽電池の第2の組の活性拡散領域を形成し、前記第3の組のドーパント源からドーパントを拡散させて前記太陽電池の第3の組の活性拡散領域を形成する、拡散ステップを行う
    ことをさらに含む、請求項13に記載の方法。
  15. 裏面電極型太陽電池において活性拡散領域を形成する方法であって、
    前記太陽電池に加工されるウェハの裏面に、第1の組のドーパント源を形成し、該ウェハが、前記太陽電池の通常の作動時に太陽の方を向くように構成されている前面を有し、前記裏面が前記前面の反対側にあり、
    前記第1の組のドーパント源上に第2及び第3の組のドーパント源を選択的に堆積させ、前記第2の組のドーパント源が、前記第1の組のドーパント源を通る第1の組の開口内であって前記第1の組のドーパント源によって覆われていない前記ウェハの前記裏面の露出した部分上と、前記第1の組のドーパント源と重なる位置とに選択的に堆積され、前記第3の組のドーパント源が、前記第1の組のドーパント源を通る第2の組の開口内であって前記第1の組のドーパント源によって覆われていない前記ウェハの前記裏面の露出した部分上と、前記第1の組のドーパント源と重なる位置とに選択的に堆積され、前記第1の組のドーパント源が、前記第2の組のドーパント源及び前記第3の組のドーパント源より厚く形成されており、
    前記第1の組のドーパント源からドーパントを拡散させて前記太陽電池の第1の組の活性拡散領域を形成し、前記第2の組のドーパント源からドーパントを拡散させて前記太陽電池の第2の組の活性拡散領域を形成し、前記第3の組のドーパント源からドーパントを拡散させて前記太陽電池の第3の組の活性拡散領域を形成し、
    前記拡散の後、前記第1、第2及び第3の組のドーパント源の残された部分をエッチャントに曝し、前記第3及び第2の組のドーパント源の残された部分を自己整合エッチングプロセスで除去し、前記第2及び第3の組の活性拡散領域にコンタクト開口を形成し、その際、前記第1の組のドーパント源の残された部分が完全に除去されない
    ことを含む、方法。
  16. 前記第1、第2及び第3の組のドーパント源の残された部分をエッチャントへ曝すことを、時間制御されたエッチングステップを用いて行う、請求項15に記載の方法。
  17. 前記第1の組のドーパント源を前記ウェハの裏面に形成することが、
    ブランケット堆積を行って前記第1の組のドーパント源を形成し、
    前記第1の組のドーパント源をパターニングして、前記第1の組のドーパント源を通る前記第1及び第2の組の開口を形成する
    ことを含む、請求項15に記載の方法。
  18. 前記ブランケット堆積が、スピンコーティングによってなされる、請求項17に記載の方法。
  19. 前記第1の組のドーパント源を選択的に形成する前且つ前記第2及び第3の組のドーパント源を選択的に堆積させる前に、テクスチャリングプロセスを用いて前記ウェハの前面をテクスチャリングし、前記テクスチャリングプロセスが、
    前記ウェハの前面及び裏面を薄化し、前記前面及び裏面の前記ウェハの損傷部分を部分的に除去し、
    前記ウェハの前面及び裏面をテクスチャリングして、前記ウェハの前面及び裏面に残された損傷部分を除去し、
    前記ウェハの裏面を研磨し、前記ウェハの裏面のテクスチャリングを除去する
    ことを含む、請求項15に記載の方法。
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JP2012019071A Active JP5511861B2 (ja) 2005-12-21 2012-01-31 裏面電極型太陽電池構造及びその製造プロセス

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US (3) US7820475B2 (ja)
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WO (1) WO2007081510A2 (ja)

Families Citing this family (156)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7057256B2 (en) 2001-05-25 2006-06-06 President & Fellows Of Harvard College Silicon-based visible and near-infrared optoelectric devices
US7442629B2 (en) 2004-09-24 2008-10-28 President & Fellows Of Harvard College Femtosecond laser-induced formation of submicrometer spikes on a semiconductor substrate
US9508886B2 (en) * 2007-10-06 2016-11-29 Solexel, Inc. Method for making a crystalline silicon solar cell substrate utilizing flat top laser beam
US8399331B2 (en) 2007-10-06 2013-03-19 Solexel Laser processing for high-efficiency thin crystalline silicon solar cell fabrication
US8637340B2 (en) 2004-11-30 2014-01-28 Solexel, Inc. Patterning of silicon oxide layers using pulsed laser ablation
US20130164883A1 (en) * 2007-10-06 2013-06-27 Solexel, Inc. Laser annealing applications in high-efficiency solar cells
US7790574B2 (en) 2004-12-20 2010-09-07 Georgia Tech Research Corporation Boron diffusion in silicon devices
JP5126795B2 (ja) * 2005-12-21 2013-01-23 サンパワー コーポレイション 裏面電極型太陽電池構造及びその製造プロセス
JP5710879B2 (ja) 2007-01-03 2015-04-30 ナノグラム・コーポレイションNanoGram Corporation シリコン/ゲルマニウムによるナノ粒子インク、ドーピングされた粒子、印刷法、及び半導体用途のためのプロセス
CN103077978B (zh) 2007-02-16 2016-12-28 纳克公司 太阳能电池结构、光生伏打模块及对应的工艺
US9455362B2 (en) 2007-10-06 2016-09-27 Solexel, Inc. Laser irradiation aluminum doping for monocrystalline silicon substrates
DE102008030880A1 (de) * 2007-12-11 2009-06-18 Institut Für Solarenergieforschung Gmbh Rückkontaktsolarzelle mit großflächigen Rückseiten-Emitterbereichen und Herstellungsverfahren hierfür
DE102008013445A1 (de) * 2008-02-15 2009-08-27 Ersol Solar Energy Ag Verfahren zur Herstellung monokristalliner Silizium-Solarzellen mit rückseitigen Emitter- und Basiskontakten sowie Solarzelle, hergestellt nach einem derartigen Verfahren
KR101028085B1 (ko) * 2008-02-19 2011-04-08 엘지전자 주식회사 비대칭 웨이퍼의 식각방법, 비대칭 식각의 웨이퍼를포함하는 태양전지, 및 태양전지의 제조방법
US20090239363A1 (en) * 2008-03-24 2009-09-24 Honeywell International, Inc. Methods for forming doped regions in semiconductor substrates using non-contact printing processes and dopant-comprising inks for forming such doped regions using non-contact printing processes
DE102008019402A1 (de) * 2008-04-14 2009-10-15 Gebr. Schmid Gmbh & Co. Verfahren zur selektiven Dotierung von Silizium sowie damit behandeltes Silizium-Substrat
US7851698B2 (en) * 2008-06-12 2010-12-14 Sunpower Corporation Trench process and structure for backside contact solar cells with polysilicon doped regions
US20220209037A1 (en) * 2008-06-12 2022-06-30 Sunpower Corporation Trench process and structure for backside contact solar cells with polysilicon doped regions
US8309446B2 (en) * 2008-07-16 2012-11-13 Applied Materials, Inc. Hybrid heterojunction solar cell fabrication using a doping layer mask
US20100035422A1 (en) * 2008-08-06 2010-02-11 Honeywell International, Inc. Methods for forming doped regions in a semiconductor material
US8053867B2 (en) 2008-08-20 2011-11-08 Honeywell International Inc. Phosphorous-comprising dopants and methods for forming phosphorous-doped regions in semiconductor substrates using phosphorous-comprising dopants
US7951696B2 (en) * 2008-09-30 2011-05-31 Honeywell International Inc. Methods for simultaneously forming N-type and P-type doped regions using non-contact printing processes
US8242354B2 (en) * 2008-12-04 2012-08-14 Sunpower Corporation Backside contact solar cell with formed polysilicon doped regions
CN102318078B (zh) 2008-12-10 2013-10-30 应用材料公司 用于网版印刷图案对准的增强型检视系统
US7820532B2 (en) * 2008-12-29 2010-10-26 Honeywell International Inc. Methods for simultaneously forming doped regions having different conductivity-determining type element profiles
US8518170B2 (en) 2008-12-29 2013-08-27 Honeywell International Inc. Boron-comprising inks for forming boron-doped regions in semiconductor substrates using non-contact printing processes and methods for fabricating such boron-comprising inks
JPWO2010090090A1 (ja) * 2009-02-05 2012-08-09 シャープ株式会社 半導体装置の製造方法および半導体装置
KR101099480B1 (ko) 2009-02-13 2011-12-27 엘지전자 주식회사 태양전지 및 그의 제조방법과 기판 식각 방법
JP2010205839A (ja) 2009-03-02 2010-09-16 Sharp Corp 半導体装置の製造方法
US8921686B2 (en) 2009-03-12 2014-12-30 Gtat Corporation Back-contact photovoltaic cell comprising a thin lamina having a superstrate receiver element
JP2010283339A (ja) * 2009-05-02 2010-12-16 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 光電変換装置及びその作製方法
US20100294349A1 (en) * 2009-05-20 2010-11-25 Uma Srinivasan Back contact solar cells with effective and efficient designs and corresponding patterning processes
US20100294352A1 (en) * 2009-05-20 2010-11-25 Uma Srinivasan Metal patterning for electrically conductive structures based on alloy formation
US8211735B2 (en) 2009-06-08 2012-07-03 International Business Machines Corporation Nano/microwire solar cell fabricated by nano/microsphere lithography
US8530990B2 (en) 2009-07-20 2013-09-10 Sunpower Corporation Optoelectronic device with heat spreader unit
US8324089B2 (en) 2009-07-23 2012-12-04 Honeywell International Inc. Compositions for forming doped regions in semiconductor substrates, methods for fabricating such compositions, and methods for forming doped regions using such compositions
NL2003324C2 (en) * 2009-07-31 2011-02-02 Otb Solar Bv Photovoltaic cell with a selective emitter and method for making the same.
US20110041910A1 (en) * 2009-08-18 2011-02-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Photoelectric conversion device and manufacturing method thereof
NL2003390C2 (en) * 2009-08-25 2011-02-28 Stichting Energie Solar cell and method for manufacturing such a solar cell.
US20110048505A1 (en) * 2009-08-27 2011-03-03 Gabriela Bunea Module Level Solution to Solar Cell Polarization Using an Encapsulant with Opened UV Transmission Curve
US9673243B2 (en) 2009-09-17 2017-06-06 Sionyx, Llc Photosensitive imaging devices and associated methods
US9911781B2 (en) 2009-09-17 2018-03-06 Sionyx, Llc Photosensitive imaging devices and associated methods
KR101893331B1 (ko) * 2009-09-17 2018-08-30 사이오닉스, 엘엘씨 감광성 이미징 장치 및 이와 관련된 방법
GB2486626B (en) * 2009-10-20 2012-09-26 Solar Group Pl Sp Z O O A solar cell and a method for manufacturing of a solar cell
US8614115B2 (en) * 2009-10-30 2013-12-24 International Business Machines Corporation Photovoltaic solar cell device manufacture
US8304644B2 (en) * 2009-11-20 2012-11-06 Sunpower Corporation Device and method for solar power generation
US8809671B2 (en) * 2009-12-08 2014-08-19 Sunpower Corporation Optoelectronic device with bypass diode
KR101027829B1 (ko) * 2010-01-18 2011-04-07 현대중공업 주식회사 후면전극형 태양전지의 제조방법
FR2956242A1 (fr) * 2010-02-05 2011-08-12 Commissariat Energie Atomique Procede de realisation de premier et second volumes dopes dans un substrat
US8790957B2 (en) * 2010-03-04 2014-07-29 Sunpower Corporation Method of fabricating a back-contact solar cell and device thereof
US8692198B2 (en) 2010-04-21 2014-04-08 Sionyx, Inc. Photosensitive imaging devices and associated methods
JP5213188B2 (ja) * 2010-04-27 2013-06-19 シャープ株式会社 裏面電極型太陽電池、および裏面電極型太陽電池の製造方法
KR101348752B1 (ko) * 2010-05-10 2014-01-10 삼성디스플레이 주식회사 태양 전지 및 그 제조 방법
JP4831709B2 (ja) * 2010-05-21 2011-12-07 シャープ株式会社 半導体装置および半導体装置の製造方法
WO2011160130A2 (en) 2010-06-18 2011-12-22 Sionyx, Inc High speed photosensitive devices and associated methods
US9911882B2 (en) 2010-06-24 2018-03-06 Sunpower Corporation Passive flow accelerator
US8604404B1 (en) 2010-07-01 2013-12-10 Sunpower Corporation Thermal tracking for solar systems
US8377738B2 (en) * 2010-07-01 2013-02-19 Sunpower Corporation Fabrication of solar cells with counter doping prevention
DE102010026960A1 (de) * 2010-07-12 2012-01-12 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Photovoltaische Solarzelle und Verfahren zur Herstellung einer photovoltaischen Solarzelle
US8563849B2 (en) 2010-08-03 2013-10-22 Sunpower Corporation Diode and heat spreader for solar module
US8336539B2 (en) 2010-08-03 2012-12-25 Sunpower Corporation Opposing row linear concentrator architecture
US9897346B2 (en) 2010-08-03 2018-02-20 Sunpower Corporation Opposing row linear concentrator architecture
US8669169B2 (en) 2010-09-01 2014-03-11 Piquant Research Llc Diffusion sources from liquid precursors
WO2012061266A2 (en) 2010-11-01 2012-05-10 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Method of forming an array of nanostructures
KR101172611B1 (ko) 2010-11-03 2012-08-08 현대중공업 주식회사 태양전지 제조 방법
WO2012067117A1 (ja) * 2010-11-17 2012-05-24 日立化成工業株式会社 太陽電池の製造方法
US8492253B2 (en) 2010-12-02 2013-07-23 Sunpower Corporation Method of forming contacts for a back-contact solar cell
US9246037B2 (en) 2010-12-03 2016-01-26 Sunpower Corporation Folded fin heat sink
WO2012077797A1 (ja) 2010-12-10 2012-06-14 帝人株式会社 半導体積層体、半導体デバイス、及びそれらの製造方法
US8893713B2 (en) 2010-12-22 2014-11-25 Sunpower Corporation Locating connectors and methods for mounting solar hardware
US8839784B2 (en) 2010-12-22 2014-09-23 Sunpower Corporation Locating connectors and methods for mounting solar hardware
US8912083B2 (en) 2011-01-31 2014-12-16 Nanogram Corporation Silicon substrates with doped surface contacts formed from doped silicon inks and corresponding processes
US8486746B2 (en) * 2011-03-29 2013-07-16 Sunpower Corporation Thin silicon solar cell and method of manufacture
CN102738263B (zh) * 2011-04-15 2015-01-28 上海凯世通半导体有限公司 掺杂单元、掺杂晶片、掺杂方法、电池及制作方法
CN102738264B (zh) * 2011-04-15 2015-05-13 上海凯世通半导体有限公司 掺杂单元、掺杂晶片、掺杂方法、太阳能电池及制作方法
CN102738265A (zh) * 2011-04-15 2012-10-17 上海凯世通半导体有限公司 掺杂单元、掺杂晶片、掺杂方法、太阳能电池及制作方法
CN102208486B (zh) * 2011-04-18 2013-01-16 晶澳(扬州)太阳能科技有限公司 一种mwt太阳能电池的制备方法
US8802486B2 (en) * 2011-04-25 2014-08-12 Sunpower Corporation Method of forming emitters for a back-contact solar cell
KR101724005B1 (ko) 2011-04-29 2017-04-07 삼성에스디아이 주식회사 태양전지와 그 제조 방법
CN102208492B (zh) * 2011-05-20 2012-08-08 上海采日光伏技术有限公司 一种太阳能电池的制作方法
CN102208493B (zh) * 2011-05-20 2012-12-19 上海采日光伏技术有限公司 一种全背电极太阳能电池的制作方法
US9496308B2 (en) 2011-06-09 2016-11-15 Sionyx, Llc Process module for increasing the response of backside illuminated photosensitive imagers and associated methods
US9038421B2 (en) 2011-07-01 2015-05-26 Sunpower Corporation Glass-bending apparatus and method
CN103946867A (zh) 2011-07-13 2014-07-23 西奥尼克斯公司 生物计量成像装置和相关方法
JP6127047B2 (ja) * 2011-08-04 2017-05-10 アイメックImec 相互嵌合型電極形成
JP6006796B2 (ja) * 2011-08-05 2016-10-12 アイメックImec 異なってドープされた領域のパターンの形成方法
US20140360567A1 (en) * 2011-08-05 2014-12-11 Solexel, Inc. Back contact solar cells using aluminum-based alloy metallization
US8802457B2 (en) * 2011-08-08 2014-08-12 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Backside surface treatment of semiconductor chips
US8629294B2 (en) 2011-08-25 2014-01-14 Honeywell International Inc. Borate esters, boron-comprising dopants, and methods of fabricating boron-comprising dopants
US8992803B2 (en) 2011-09-30 2015-03-31 Sunpower Corporation Dopant ink composition and method of fabricating a solar cell there from
US9559228B2 (en) * 2011-09-30 2017-01-31 Sunpower Corporation Solar cell with doped groove regions separated by ridges
US8796535B2 (en) 2011-09-30 2014-08-05 Sunpower Corporation Thermal tracking for solar systems
US8586397B2 (en) * 2011-09-30 2013-11-19 Sunpower Corporation Method for forming diffusion regions in a silicon substrate
US8975170B2 (en) 2011-10-24 2015-03-10 Honeywell International Inc. Dopant ink compositions for forming doped regions in semiconductor substrates, and methods for fabricating dopant ink compositions
DE102011056495A1 (de) * 2011-12-15 2013-06-20 Rena Gmbh Verfahren zum einseitigen Glattätzen eines Siliziumsubstrats
KR101860919B1 (ko) 2011-12-16 2018-06-29 엘지전자 주식회사 태양 전지 및 이의 제조 방법
US9035168B2 (en) 2011-12-21 2015-05-19 Sunpower Corporation Support for solar energy collectors
US8528366B2 (en) 2011-12-22 2013-09-10 Sunpower Corporation Heat-regulating glass bending apparatus and method
US8822262B2 (en) 2011-12-22 2014-09-02 Sunpower Corporation Fabricating solar cells with silicon nanoparticles
US9583651B2 (en) * 2011-12-26 2017-02-28 Solexel, Inc. Systems and methods for enhanced light trapping in solar cells
CN103208556A (zh) * 2012-01-13 2013-07-17 上海凯世通半导体有限公司 太阳能电池的制作方法及太阳能电池
US8871608B2 (en) 2012-02-08 2014-10-28 Gtat Corporation Method for fabricating backside-illuminated sensors
KR20130096822A (ko) * 2012-02-23 2013-09-02 엘지전자 주식회사 태양 전지 및 그 제조 방법
US20150056743A1 (en) * 2012-03-12 2015-02-26 Mitsubishi Electric Corporation Manufacturing method of solar cell
US9064764B2 (en) 2012-03-22 2015-06-23 Sionyx, Inc. Pixel isolation elements, devices, and associated methods
US9397611B2 (en) 2012-03-27 2016-07-19 Sunpower Corporation Photovoltaic systems with local maximum power point tracking prevention and methods for operating same
FR2988908B1 (fr) * 2012-04-03 2015-03-27 Commissariat Energie Atomique Procede de fabrication d'une cellule photovoltaique a contacts interdigites en face arriere
US8486747B1 (en) 2012-04-17 2013-07-16 Boris Gilman Backside silicon photovoltaic cell and method of manufacturing thereof
JP6310649B2 (ja) 2012-07-26 2018-04-11 東京応化工業株式会社 不純物拡散成分の拡散方法、及び太陽電池の製造方法
DE102012107537A1 (de) * 2012-08-16 2014-05-22 Hanwha Q Cells Gmbh Verfahren zur Oberflächenbehandlung eines monokristallinen Halbleiterwafers und Verfahren zur Herstellung einer monokristallinen Halbleiterwafer-Solarzelle
US9306087B2 (en) 2012-09-04 2016-04-05 E I Du Pont De Nemours And Company Method for manufacturing a photovoltaic cell with a locally diffused rear side
TWI501292B (zh) * 2012-09-26 2015-09-21 Ind Tech Res Inst 形成圖案化摻雜區的方法
US8636198B1 (en) 2012-09-28 2014-01-28 Sunpower Corporation Methods and structures for forming and improving solder joint thickness and planarity control features for solar cells
US9812590B2 (en) 2012-10-25 2017-11-07 Sunpower Corporation Bifacial solar cell module with backside reflector
US9379258B2 (en) 2012-11-05 2016-06-28 Solexel, Inc. Fabrication methods for monolithically isled back contact back junction solar cells
US9035172B2 (en) 2012-11-26 2015-05-19 Sunpower Corporation Crack resistant solar cell modules
US8796061B2 (en) 2012-12-21 2014-08-05 Sunpower Corporation Module assembly for thin solar cells
US9530923B2 (en) 2012-12-21 2016-12-27 Sunpower Corporation Ion implantation of dopants for forming spatially located diffusion regions of solar cells
TWI488319B (zh) * 2013-01-22 2015-06-11 Motech Ind Inc 太陽能電池、其製造方法及其模組
US9082925B2 (en) * 2013-03-13 2015-07-14 Sunpower Corporation Methods for wet chemistry polishing for improved low viscosity printing in solar cell fabrication
WO2014151093A1 (en) 2013-03-15 2014-09-25 Sionyx, Inc. Three dimensional imaging utilizing stacked imager devices and associated methods
US9093598B2 (en) * 2013-04-12 2015-07-28 Btu International, Inc. Method of in-line diffusion for solar cells
NL2010941C2 (en) * 2013-06-07 2014-12-09 Stichting Energie Photovoltaic cell and method for manufacturing such a photovoltaic cell.
JP6141223B2 (ja) 2013-06-14 2017-06-07 三菱電機株式会社 受光素子モジュールおよびその製造方法
TWI497733B (zh) * 2013-06-20 2015-08-21 Motech Ind Inc 背接觸太陽能電池及其模組
US9209345B2 (en) 2013-06-29 2015-12-08 Sionyx, Inc. Shallow trench textured regions and associated methods
US9685571B2 (en) 2013-08-14 2017-06-20 Sunpower Corporation Solar cell module with high electric susceptibility layer
US10553738B2 (en) 2013-08-21 2020-02-04 Sunpower Corporation Interconnection of solar cells in a solar cell module
DE102013112638A1 (de) 2013-11-15 2015-05-21 Universität Stuttgart Verfahren zur Herstellung rückseitenkontaktierter Solarzellen aus kristallinem Silizium
US9048374B1 (en) 2013-11-20 2015-06-02 E I Du Pont De Nemours And Company Method for manufacturing an interdigitated back contact solar cell
US9577134B2 (en) * 2013-12-09 2017-02-21 Sunpower Corporation Solar cell emitter region fabrication using self-aligned implant and cap
US9570576B2 (en) * 2013-12-10 2017-02-14 Infineon Technologies Ag Method for forming a semiconductor device having insulating parts or layers formed via anodic oxidation
US9059341B1 (en) 2014-01-23 2015-06-16 E I Du Pont De Nemours And Company Method for manufacturing an interdigitated back contact solar cell
KR102173644B1 (ko) * 2014-01-29 2020-11-03 엘지전자 주식회사 태양 전지 및 이의 제조 방법
CN105428453A (zh) * 2014-09-18 2016-03-23 上海神舟新能源发展有限公司 一种叉指型背接触电池的制作方法
CN105428452A (zh) * 2014-09-18 2016-03-23 上海神舟新能源发展有限公司 基于掺杂浆料的全背接触高效晶体硅电池制备工艺
CN105529251A (zh) * 2014-09-30 2016-04-27 上海晶玺电子科技有限公司 掺杂方法
CN104485389B (zh) * 2014-12-17 2016-09-28 常州天合光能有限公司 自对准选择性扩散的太阳能电池形成方法
KR20160084261A (ko) * 2015-01-05 2016-07-13 엘지전자 주식회사 태양 전지 및 이의 제조 방법
US20160284913A1 (en) 2015-03-27 2016-09-29 Staffan WESTERBERG Solar cell emitter region fabrication using substrate-level ion implantation
WO2017019308A1 (en) 2015-07-27 2017-02-02 Sierra Nevada Corporation Solar array system and method of manufacturing
CN108140680B (zh) * 2015-12-07 2020-08-28 株式会社钟化 光电转换装置及其制造方法
DE102016107802A1 (de) 2016-04-27 2017-11-02 Universität Stuttgart Verfahren zur Herstellung rückseitenkontaktierter Solarzellen aus kristallinem Silizium
USD822890S1 (en) 2016-09-07 2018-07-10 Felxtronics Ap, Llc Lighting apparatus
CN106340568A (zh) * 2016-09-14 2017-01-18 英利能源(中国)有限公司 Ibc电池制备方法
FR3058264B1 (fr) * 2016-10-28 2020-10-02 Commissariat Energie Atomique Procede de fabrication de cellules photovoltaiques a contacts arriere.
US10775030B2 (en) 2017-05-05 2020-09-15 Flex Ltd. Light fixture device including rotatable light modules
USD846793S1 (en) 2017-08-09 2019-04-23 Flex Ltd. Lighting module locking mechanism
USD877964S1 (en) 2017-08-09 2020-03-10 Flex Ltd. Lighting module
USD833061S1 (en) 2017-08-09 2018-11-06 Flex Ltd. Lighting module locking endcap
USD832494S1 (en) 2017-08-09 2018-10-30 Flex Ltd. Lighting module heatsink
USD872319S1 (en) 2017-08-09 2020-01-07 Flex Ltd. Lighting module LED light board
USD862777S1 (en) 2017-08-09 2019-10-08 Flex Ltd. Lighting module wide distribution lens
USD832495S1 (en) 2017-08-18 2018-10-30 Flex Ltd. Lighting module locking mechanism
USD862778S1 (en) 2017-08-22 2019-10-08 Flex Ltd Lighting module lens
USD888323S1 (en) 2017-09-07 2020-06-23 Flex Ltd Lighting module wire guard

Family Cites Families (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4479027A (en) * 1982-09-24 1984-10-23 Todorof William J Multi-layer thin-film, flexible silicon alloy photovoltaic cell
US4478879A (en) * 1983-02-10 1984-10-23 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Screen printed interdigitated back contact solar cell
US4927770A (en) 1988-11-14 1990-05-22 Electric Power Research Inst. Corp. Of District Of Columbia Method of fabricating back surface point contact solar cells
US5053083A (en) * 1989-05-08 1991-10-01 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Bilevel contact solar cells
DK170189B1 (da) * 1990-05-30 1995-06-06 Yakov Safir Fremgangsmåde til fremstilling af halvlederkomponenter, samt solcelle fremstillet deraf
US5164019A (en) 1991-07-31 1992-11-17 Sunpower Corporation Monolithic series-connected solar cells having improved cell isolation and method of making same
US5369291A (en) 1993-03-29 1994-11-29 Sunpower Corporation Voltage controlled thyristor
US5360990A (en) 1993-03-29 1994-11-01 Sunpower Corporation P/N junction device having porous emitter
DE19508712C2 (de) * 1995-03-10 1997-08-07 Siemens Solar Gmbh Solarzelle mit Back-Surface-Field und Verfahren zur Herstellung
US5641362A (en) * 1995-11-22 1997-06-24 Ebara Solar, Inc. Structure and fabrication process for an aluminum alloy junction self-aligned back contact silicon solar cell
EP0851511A1 (en) * 1996-12-24 1998-07-01 IMEC vzw Semiconductor device with two selectively diffused regions
US6552414B1 (en) * 1996-12-24 2003-04-22 Imec Vzw Semiconductor device with selectively diffused regions
US6180869B1 (en) * 1997-05-06 2001-01-30 Ebara Solar, Inc. Method and apparatus for self-doping negative and positive electrodes for silicon solar cells and other devices
JPH11312814A (ja) * 1998-04-28 1999-11-09 Toyota Motor Corp 太陽電池素子
US6387726B1 (en) 1999-12-30 2002-05-14 Sunpower Corporation Method of fabricating a silicon solar cell
US6274402B1 (en) 1999-12-30 2001-08-14 Sunpower Corporation Method of fabricating a silicon solar cell
US6337283B1 (en) 1999-12-30 2002-01-08 Sunpower Corporation Method of fabricating a silicon solar cell
US6423568B1 (en) * 1999-12-30 2002-07-23 Sunpower Corporation Method of fabricating a silicon solar cell
JP2001267610A (ja) * 2000-03-17 2001-09-28 Hitachi Ltd 太陽電池
US6313395B1 (en) 2000-04-24 2001-11-06 Sunpower Corporation Interconnect structure for solar cells and method of making same
US6333457B1 (en) 2000-08-29 2001-12-25 Sunpower Corporation Edge passivated silicon solar/photo cell and method of manufacture
JP2002164556A (ja) * 2000-11-27 2002-06-07 Kyocera Corp 裏面電極型太陽電池素子
JP2004071763A (ja) * 2002-08-05 2004-03-04 Toyota Motor Corp 光起電力素子
US6872321B2 (en) 2002-09-25 2005-03-29 Lsi Logic Corporation Direct positive image photo-resist transfer of substrate design
JP2004221188A (ja) * 2003-01-10 2004-08-05 Ebara Corp 裏面接合型太陽電池およびその製造方法
JP2004221149A (ja) 2003-01-10 2004-08-05 Hitachi Ltd 太陽電池の製造方法
US7402448B2 (en) * 2003-01-31 2008-07-22 Bp Corporation North America Inc. Photovoltaic cell and production thereof
JP2005005352A (ja) * 2003-06-10 2005-01-06 Hitachi Ltd 太陽電池およびその製造方法
US6998288B1 (en) 2003-10-03 2006-02-14 Sunpower Corporation Use of doped silicon dioxide in the fabrication of solar cells
JP2005310830A (ja) * 2004-04-16 2005-11-04 Sharp Corp 太陽電池および太陽電池の製造方法
DE102004050269A1 (de) * 2004-10-14 2006-04-20 Institut Für Solarenergieforschung Gmbh Verfahren zur Kontakttrennung elektrisch leitfähiger Schichten auf rückkontaktierten Solarzellen und Solarzelle
JP4481869B2 (ja) * 2005-04-26 2010-06-16 信越半導体株式会社 太陽電池の製造方法及び太陽電池並びに半導体装置の製造方法
JP5126795B2 (ja) * 2005-12-21 2013-01-23 サンパワー コーポレイション 裏面電極型太陽電池構造及びその製造プロセス

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