JP5077872B2 - 太陽電池のフォトルミネセンスによる欠陥検査装置及び方法 - Google Patents
太陽電池のフォトルミネセンスによる欠陥検査装置及び方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5077872B2 JP5077872B2 JP2007063527A JP2007063527A JP5077872B2 JP 5077872 B2 JP5077872 B2 JP 5077872B2 JP 2007063527 A JP2007063527 A JP 2007063527A JP 2007063527 A JP2007063527 A JP 2007063527A JP 5077872 B2 JP5077872 B2 JP 5077872B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- solar cell
- led
- image
- filter
- unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
Description
特許文献2の検査装置は、起電力を測定する必要があり、そのための測定装置が必要である。特許文献2では、プローブで起電力を測定することにより、部分的な特性を検査することができるとしているが、欠陥の細かい形状を検出することはできなかった。
本発明の他の目的は、内部のクラックも検出することができ、また、電気短絡状態等の組成による欠陥も検出することができる装置及び方法を提供することである。
本発明の他の目的は、欠陥の分布状態を検出することができる装置及び方法を提供することである。
前記太陽電池を載置する試料台と、
前記太陽電池を照射するための、LEDユニットを有する照射装置と、
前記LEDユニットのLEDに電流を印加するためのLED電源と、
前記太陽電池の画像を撮像するための、フィルターユニットを有する撮像装置と、
前記撮像装置による撮像を制御し、前記撮像装置により撮像した画像データを処理する制御演算装置と、
撮像した画像を表示する出力装置と、を備え、
前記フィルターユニットのフィルターは、長波長透過フィルターであり、透過限界波長は、前記LEDの発光波長より長く、前記太陽電池の少なくとも1つの発光波長より短いことを特徴とする太陽電池検査装置である。
また、LEDの発光が撮像装置に入射せず、太陽電池の発光を検出することができる。
これにより、LEDの発光が太陽電池で反射し撮像装置に直接入射するのを防止することができる。
前記フィルターユニットの前記フィルターは交換可能に取付けられていることが好ましい。
異なる発光波長のLEDにより太陽電池を照射し、透過限界波長の異なるフィルターを用いることより、太陽電池の異なる層の発光を分離して撮像することができる。
前記太陽電池を載置する試料台と、
前記太陽電池を照射するための、LEDユニットを有する照射装置と、
前記LEDユニットのLEDに電流を印加するためのLED電源と、
前記太陽電池の画像を撮像するための、フィルターユニットを有する撮像装置と、
前記撮像装置による撮像を制御し、前記撮像装置により撮像した画像データを処理する制御演算装置と、
撮像した画像を表示する出力装置と、を備え、
前記LEDユニットは、第1の発光波長を有する第1のLEDと第2の発光波長を有する第2のLEDとを含み、第1のLEDと第2のLEDとを選択的に発光させることができ、
前記フィルターユニットは、第1の透過限界波長を有する第1のフィルターと、第2の透過限界波長を有する第2のフィルターとを含み、前記第1のフィルターと第2のフィルターとを自動的に交換することができ、
前記第1のフィルターの前記第1の透過限界波長は、前記第1のLEDの第1の発光波長より長く、前記太陽電池の第1の発光波長より短く、
前記第2のフィルターの前記第2の透過限界波長は、前記第2のLEDの第2の発光波長より長く、前記太陽電池の第2の発光波長より短いことを特徴とする太陽電池検査装置である。
これにより、第1のLEDを発光させて、太陽電池の第1の発光を第1のフィルターを通して撮像し、次に、第2のLEDを発光させて、太陽電池の第2の発光を第2のフィルターを通して撮像し、太陽電池の第1の発光と第2の発光を区別して捕らえることができる。
前記照射装置と前記撮像装置を移動するための駆動装置を備え、
前記制御演算装置は、前記駆動装置を制御するための駆動制御部を備え、
前記駆動装置により前記照射装置と前記撮像装置を移動して、前記太陽電池パネルの各々の太陽電池の画像を撮像することができることが好ましい。
これにより、太陽電池パネル内の複数の太陽電池を順次自動的に撮像することができる。
これにより、電流印加による太陽電池の過熱を防止することができる。
差分画像により、欠陥部を明確にすることができ、差分2値化画像により、欠陥部を強調した画像を見ることができる。
これにより、欠陥の判定を自動的に行うことができる。
検査対象の太陽電池を欠陥のない基準の画像と比較することにより、欠陥を容易に判定することができる。
これにより、どの信頼性試験により欠陥が生じたか、客観的に明らかにすることができる。
照射装置のLEDユニットに電流を印加し、前記LEDユニットのLEDを発光させて試料台に載置された太陽電池を照射し、
撮像装置が、フィルターを通して前記太陽電池の画像を撮像し、
制御演算装置が、前記撮像装置により撮像した画像データを処理する段階と、
撮像した画像を表示する段階と、を備え、
前記フィルターは、長波長透過フィルターであり、透過限界波長は、前記LEDの発光波長より長く、前記太陽電池の少なくとも1つの発光波長より短い。
照射装置のLEDユニットの第1のLEDに電流を印加して発光させ、試料台に載置された太陽電池を照射し、
撮像装置が、第1の透過限界波長を有する第1のフィルターを通して前記太陽電池の画像を撮像し、
照射装置のLEDユニットの第2のLEDに電流を印加して発光させ、試料台に載置された太陽電池を照射し、
撮像装置が、第2の透過限界波長を有する第2のフィルターを通して前記太陽電池の画像を撮像し、
制御演算装置が、前記撮像装置により撮像した画像データを処理する段階と、
撮像した画像を表示する段階と、を備え、
前記第1のフィルターの前記第1の透過限界波長は、前記第1のLEDの第1の発光波長より長く、前記太陽電池の第1の発光波長より短く、
前記第2のフィルターの前記第2の透過限界波長は、前記第2のLEDの第2の発光波長より長く、前記太陽電池の第2の発光波長より短い。
これにより、太陽電池の第1の発光と第2の発光を区別して捕らえることができる。
また、太陽電池表面のクラックだけでなく、内部のクラックも検出することができる。 更に、電気短絡状態等の組成による欠陥も検出することができる。
更に、欠陥の分布状態も検出することができる。
以下、本発明の実施の形態を説明する。図1は、本発明の第1の実施形態による太陽電池検査装置1の概略斜視図である。太陽電池検査装置1は、太陽電池パネル10を載置する試料台25と、太陽電池パネル10を照射するLEDユニット32を有する照射装置31と、LEDユニット32に電流を印加するためのLED電源30と、太陽電池パネル10の画像を撮像するための撮像装置としてCCDカメラ35と、照射装置31とCCDカメラ35を移動するための駆動装置40とを備える。また、制御演算装置50と、入力装置61と、出力装置62とを備える。
試料台25の上方には、太陽電池パネル10を斜め上方から照明するためのLEDユニット32を有する照射装置31が設けられている。LEDユニット32については、後述する。
照射装置31とCCDカメラ35は、駆動装置40に結合されている。駆動装置40は、第1部材40aと、第2部材40bと、第3部材40cと、第4部材40dとを備える。制御演算装置50からの指示により、第2部材40bは第1部材40a上を図1のy方向に移動することができ、第3部材40cは第2部材40b上をx方向に移動することができ、第4部材40dは第3部材40cに沿ってz方向に移動することができるようになっている。その結果、駆動装置40は、照射装置31とCCDカメラ35を一緒に太陽電池パネル10の面と平行なx-y平面内で移動させることができ、また照射装置31とCCDカメラ35をz軸方向に移動させて、照射装置31及びCCDカメラ35と太陽電池パネル10との距離を調節することができる。また、照射装置31とCCDカメラ35とは、それぞれ個別に移動させて、相互の間の距離を調整することができるようになっている。
制御演算装置50と、入力装置61と、出力装置62については、図6のブロック図を参照して後述する。なお、図1には、駆動装置40及びCCDカメラ35と制御演算装置50の接続、LED電源30と照射装置31の接続は図示していない。
次に本発明の太陽電池検査装置1により欠陥を検査する太陽電池パネル10を構成する太陽電池10aについて説明する。本発明の実施形態では、GaAs系の太陽電池10aについて説明するが、本発明は、GaAs系の太陽電池に限らず、Si系その他、あらゆる種類の太陽電池に使用することができる。
図2(A)は、GaAs系でInGaP/GaAs/Geの3層構造を有する太陽電池10aの上面図であり、(B)は下面図である。
図2(A)を参照すると、太陽電池10aの表面には、上側電極21がストライプ状に形成されている。各上側電極21は、集電電極22で接続されている。集電電極22は、電極23により、外部の電極に接続される。
図2(B)を参照すると、太陽電池10aの裏面には、一面にp側電極11が形成されている。
太陽電池パネル10は、通常複数枚の太陽電池10aから構成される。一例では、図4に示すように、太陽電池10aを5枚直列に接続し、この5枚の太陽電池10aを3列並列に接続する。即ち、5×3=15枚の太陽電池10aで太陽電池パネル10を構成する。
図5に照射装置31の概略断面図を示す。図示する実施形態では、照射装置31はLEDユニット32を備え、LEDユニット32には縦横に3×3個のLED33がマトリックス状に配列されている。LED33の前面には凸レンズ34が設けられ、LED33を出た光が略平行となって、太陽電池パネル10に向かうようになっている。LEDユニット32は太陽電池パネル10の面に対して60〜70°傾いた角度から照射するように取付けられていて、LED33から太陽電池パネル10の面で反射した光がCCDカメラ35に直接入らないようになっている。LED33をLED電源30に接続して、LED33を発光させることができる。
LEDユニット32は照射装置31から取り外し可能であり、異なる種類のLEDのついたLEDユニット32と交換することができる。
図1に戻って、撮像装置のCCDカメラ35に使用するCCDについて説明する。InGaPの発光波長665nm、GaAsの発光波長890nmの光を検出するため、950nmまでの波長に感度を有するシリコンのCCDを使用する。
Si太陽電池を使用する場合は、Si太陽電池の発光波長はバンドギャップのエネルギーに相当する1070nmなので、冷却タイプのSi CCDか、800〜1700nmの範囲の波長に感度を有するInGaAsのCCDを使用する。
青色LED(発光波長470nm)で太陽電池に光を照射すると、主にInGaPが発光し(発光波長665nm)、GaAsも発光する(発光波長890nm)。透過限界波長625nmのフィルターを用いると、InGaPの発光とGaAsの発光が共にフィルターを透過する。CCDの感度は、InGaPの発光よりGaAsの発光に対する感度が低い(約1/6)。入射光のほとんどをInGaPが吸収・発光するため、主にInGaPの発光を検出することになる。
赤色LED(発光波長780nm)で太陽電池に光を照射すると、GaAsが発光し(発光波長890nm)、透過限界波長830nmのフィルターを用いると、GaAsの発光を検出することができる。
このように、フィルターを用いることにより、InGaP層の情報とGaAs層の情報を分離して得ることができる。
フィルター37は交換可能で、LEDの異なる波長の発光を検出するとき、迅速に交換できるようになっている。
本発明は、GaAs系、Si系に限定されない。太陽電池に適した励起光源とフィルターを使用することにより、あらゆる種類の太陽電池に適用することができる。
図7は、本発明の実施形態による太陽電池検査装置1の概略斜視図であり、制御演算装置50と、入力装置61と、出力装置62とをブロック図で示す。試料台25と、照射装置31と、LED電源30と、CCDカメラ35と、駆動装置40とは、図1を参照して前述したので概略を示す。
制御演算装置50は、駆動装置40を制御する駆動制御部51と、カメラのシャッターを操作して撮像するカメラ制御部52と、LED電源のオンオフを制御するLED電源オンオフ部53とを含む。
カメラ制御部52は、CCDカメラ35のシャッターを操作して、太陽電池10aの画像を撮像する。
LED電源オンオフ部53は、LED電源30をオンオフする。LED電源オンオフ部53は、CCDカメラ35の撮像と同期して、CCDカメラ35が太陽電池10aを撮像するときのみ、照射装置31のLED33に電流を印加することができる。
画像処理部56は、撮像した画像データに必要により圧縮処理を行い、表示できる画像データとして記憶部59に記憶する。記憶された画像データは、出力装置62のディスプレーに画像として表示することができる。
画像比較部57は、2つの画像の差分をとることにより、太陽電池10aの差分画像を作成することができる。
差分画像を画素に区分し、画素毎に予め設定したしきい値で2値化し、差分がしきい値より大きい画素を欠陥部分「1」とし、差分がしきい値以下の画素を「0」とした差分2値化画像を作成することができる。この差分2値化画像を肉眼で見ることにより、容易に欠陥の判定を行うことができる。
記憶部59は、画像比較を演算する式、欠陥を判定する式等の演算式、画像データ等のデータを記憶する。
出力装置62は、ディスプレー等の公知の表示装置であり、太陽電池10aの画像、差分画像、差分2値化画像等の画像、欠陥判定結果を表示することができる。出力装置62は、プリンター等の印刷装置を備えてもよく、この場合は結果をプリントアウトすることができる。
図8は、本発明の実施形態による太陽電池検査装置1を使用した太陽電池パネルの検査方法を示すフローチャートである。太陽電池パネルの検査方法は、ステップS01で、太陽電池パネル10を試料台25に載置する。
ステップS02で、照射装置31とCCDカメラ35の高さを調節する。
ステップS03で、太陽電池10aの上にCCDカメラ35を移動し、太陽電池10aを撮像する位置を記憶部60に記憶する。複数の太陽電池10aを撮像する場合は、各太陽電池10aについて、カメラの位置を記憶する。
太陽電池パネルの種類ごとにカメラの位置を予め記憶部60に記憶しておき、測定の都度カメラの位置を求めるのではなく、太陽電池パネルの種類を入力することにより、カメラの位置を自動的に設定することができる。
目視により差分画像又は差分2値化画像を見て、欠陥の判定を行うことができる。
比較には、例えば次の種類がある。
(1) 1つの太陽電池の画像を基準の画像と比較する。
(2) 1つの太陽電池の画像を同じパネル内の他の太陽電池の画像と比較する。
(3) 1つの太陽電池について信頼性試験の前後の画像を比較する。
ステップS12で、画像の比較に基づいて欠陥の判定を行う。欠陥の判定は、差分2値化画像から、欠陥部分「1」の数を求め、その数が所定数より多いとき、欠陥と判定する。そして、判定結果信号を出力し、判定結果を出力装置62に表示することができる。
太陽電池パネルの検査方法を終了する。
(1) 真空中で、太陽電池をパネルに固定するための接着剤が膨張し気泡ができることによる割れ。
(2) 真空中で、太陽電池の下にあるカプトンテープから、ガスが出て膨張することによる割れ。
(3) 太陽電池パネルの基板となるハニカムコアが低温で収縮し、その力を太陽電池が受けることによる割れ。
(4) 太陽電池パネル作製時に発生する割れ。
その他、発光がムラになる箇所もある。これは、電気短絡状態等の組成による欠陥と考えられる。
第2の実施形態は、異なるLEDを選択的に発光させ、フィルターの交換を自動的に行う。即ち、異なるLEDにより太陽電池を発光させ、発光を自動的に撮像するものである。図9に第2の実施形態のLEDユニット32'の概略斜視図を示す。第2の実施形態では、照射装置31'のLEDユニット32'は、第1の発光波長の第1のLED33aと、第2の発光波長の第2のLED33bとが交互に取付けられ、LED電源の切り換えにより、第1のLED33aと第2のLED33bとを選択的に発光させることができる。1実施例では、第1のLED33aは青色LEDであり、第2のLED33bは赤色LEDである。
フィルターユニット37'はフィルターシャフト39を中心に回転するものを示したが、フィルターの交換方法はこれに限定されない。フィルターを直線方向にスライドさせる等他の方法で、フィルターを交換するようにしても良い。
第2の実施形態では、第1のフィルター38aを光路に入れ、第1のLED33aを発光させて、太陽電池の発光を第1のフィルター38aを通して撮像する。次に、第2のフィルター38bを光路に入れ、第2のLED33bを発光させて、太陽電池の発光を第2のフィルター38bを通して撮像する。
図11(A)の太陽電池に電流を印加したときは、クラック部分が明るくなる。(B)のLEDにより太陽電池を照射し、フィルターなしで撮像した場合は、反射光が強く、太陽電池のフォトルミネセンスは明確には捉えられない。図12(C)でフィルターを使用すると、太陽電池のフォトルミネセンスの画像を明確に捉えることができる。クラック部分は暗くなっている。
クラックのない太陽電池を図12(C)と同じ条件で撮像し、(C)のクラックのある太陽電池の画像とクラックのない太陽電池の画像の差分を取って、差分画像を作成し、更に2値化した画像を(D)に示す。(D)の差分2値化画像では、クラックの部分が強調されていることがわかる。
撮像結果を図13に示す。図13(A)は、比較例として、太陽電池に電流を印加したときの発光を撮像したものである。(B)は本発明方法により赤色LEDで太陽電池を照射し、太陽電池のフォトルミネセンスをフィルターありで撮像したものである。本発明方法では、太陽電池のフォトルミネセンスの画像を明確に捉えることができた。図13(A)と同様、(B)でも、クラックの部分は暗くなっている。
10 太陽電池パネル
10a 太陽電池
11 p-側電極
12 Ge層
14 GaAs層
16 InGaP層
21 n-側電極
22 集電電極
23 電極
25 試料台
30 LED電源
31 照射装置
32,32' LEDユニット
33,33a,33b LED
34 凸レンズ
35 CCDカメラ
36 対物レンズ
37,37' フィルターユニット
38,38a,38b フィルター
39 フィルターシャフト
40 駆動装置
50 制御演算装置
61 入力装置
62 出力装置
51 駆動制御部
52 カメラ制御部
53 LED電源オンオフ部
56 画像処理部
57 画像比較部
58 欠陥判定部
59 記憶部
Claims (8)
- 太陽電池の欠陥を検査する装置であって、
前記太陽電池を載置する試料台と、
前記太陽電池を照射するための、LEDユニットを有する照射装置と、
前記LEDユニットのLEDに電流を印加するためのLED電源と、
前記太陽電池の画像を撮像するための、フィルターユニットを有する撮像装置と、
前記撮像装置による撮像を制御し、前記撮像装置により撮像した画像データを処理する制御演算装置と、
撮像した画像を表示する出力装置と、を備え、
前記LEDユニットは、第1の発光波長を有する第1のLEDと第2の発光波長を有する第2のLEDとを含み、第1のLEDと第2のLEDとを選択的に発光させることができ、
前記フィルターユニットは、第1の透過限界波長を有する第1のフィルターと、第2の透過限界波長を有する第2のフィルターとを含み、前記第1のフィルターと第2のフィルターとを自動的に交換することができ、
前記第1のフィルターの前記第1の透過限界波長は、前記第1のLEDの第1の発光波長より長く、前記太陽電池の第1の発光波長より短く、
前記第2のフィルターの前記第2の透過限界波長は、前記第2のLEDの第2の発光波長より長く、前記太陽電池の第2の発光波長より短いことを特徴とする太陽電池検査装置。 - 前記試料台上には、複数の太陽電池を有する太陽電池パネルを載置することができ、
前記照射装置と前記撮像装置を移動するための駆動装置を備え、
前記制御演算装置は、前記駆動装置を制御するための駆動制御部を備え、
前記駆動装置により前記照射装置と前記撮像装置を移動して、前記太陽電池パネルの各々の太陽電池の画像を撮像することができる請求項1に記載の太陽電池検査装置。 - 前記制御演算装置は、前記LED電源にかける電流をオンオフするLED電源オンオフ部を備え、前記撮像装置が前記太陽電池の画像を撮像する間だけ、前記にかける電流をオンにする請求項2に記載の太陽電池検査装置。
- 前記制御演算装置は、前記太陽電池の2つの画像から差分画像を作成し、前記差分画像を所定のしきい値で2値化し、差分2値化画像を作成することを特徴とする請求項2に記載の太陽電池検査装置。
- 前記制御演算装置が、前記差分2値化画像により、前記太陽電池の欠陥を判定する請求項4に記載の太陽電池検査装置。
- 太陽電池の欠陥を検査する方法であって、
照射装置のLEDユニットの第1のLEDに電流を印加して発光させ、試料台に載置された太陽電池を照射し、
撮像装置が、第1の透過限界波長を有する第1のフィルターを通して前記太陽電池の画像を撮像し、
照射装置のLEDユニットの第2のLEDに電流を印加して発光させ、試料台に載置された太陽電池を照射し、
撮像装置が、第2の透過限界波長を有する第2のフィルターを通して前記太陽電池の画像を撮像し、
制御演算装置が、前記撮像装置により撮像した画像データを処理する段階と、
撮像した画像を表示する段階と、を備え、
前記第1のフィルターの前記第1の透過限界波長は、前記第1のLEDの第1の発光波長より長く、前記太陽電池の第1の発光波長より短く、
前記第2のフィルターの前記第2の透過限界波長は、前記第2のLEDの第2の発光波長より長く、前記太陽電池の第2の発光波長より短いことを特徴とする太陽電池検査方法。 - 前記試料台上に、複数の太陽電池を有する太陽電池パネルが載置され、
前記制御演算装置の駆動制御部が駆動装置を制御し、
前記駆動装置が、前記照射装置と前記撮像装置を移動して、前記太陽電池パネルの各々の太陽電池の画像を撮像する請求項6に記載の太陽電池検査方法。 - 前記制御演算装置は、前記LED電源にかける電流をオンオフするLED電源オンオフ部を備え、前記撮像装置が前記太陽電池の画像を撮像する間だけ、前記にかける電流をオンにする請求項7に記載の太陽電池検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007063527A JP5077872B2 (ja) | 2007-03-13 | 2007-03-13 | 太陽電池のフォトルミネセンスによる欠陥検査装置及び方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007063527A JP5077872B2 (ja) | 2007-03-13 | 2007-03-13 | 太陽電池のフォトルミネセンスによる欠陥検査装置及び方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008224432A JP2008224432A (ja) | 2008-09-25 |
JP5077872B2 true JP5077872B2 (ja) | 2012-11-21 |
Family
ID=39843239
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007063527A Expired - Fee Related JP5077872B2 (ja) | 2007-03-13 | 2007-03-13 | 太陽電池のフォトルミネセンスによる欠陥検査装置及び方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5077872B2 (ja) |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2245473B1 (de) * | 2008-02-22 | 2012-08-29 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Messverfahren und vorrichtung zur charakterisierung eines halbleiterbauelements |
WO2010088120A2 (en) * | 2009-01-20 | 2010-08-05 | Vserv Technologies Corp | Methods and apparatus for detection and classification of solar cell defects using bright field and electroluminescence imaging |
JP5261505B2 (ja) * | 2009-02-10 | 2013-08-14 | サムスンテックウィン株式会社 | 光発電セル検査装置 |
JP5557368B2 (ja) * | 2009-04-24 | 2014-07-23 | 学校法人東京電機大学 | 半導体検査装置及び半導体検査方法 |
JP5334183B2 (ja) * | 2009-05-12 | 2013-11-06 | シャープ株式会社 | 検査装置、および検査方法 |
EP2284520A1 (en) * | 2009-07-28 | 2011-02-16 | David Marcos Muntal | Assembly for the inspection in a continuous manner of cells, strings and photovoltaic modules and inspection method thereof |
WO2011016420A1 (ja) * | 2009-08-03 | 2011-02-10 | 株式会社エヌ・ピー・シー | 太陽電池の欠陥検査装置、欠陥検査方法、およびプログラム |
KR101104338B1 (ko) * | 2011-04-01 | 2012-01-16 | 디아이티 주식회사 | 태양전지 성능 평가 장치 및 이를 이용한 태양전지 성능 평가 방법 |
JP5694042B2 (ja) * | 2011-04-28 | 2015-04-01 | 三洋電機株式会社 | 太陽電池モジュールの評価方法及び太陽電池モジュールの製造方法 |
JP5804362B2 (ja) * | 2011-07-14 | 2015-11-04 | 株式会社Screenホールディングス | 検査装置および検査方法 |
KR101256810B1 (ko) * | 2012-07-06 | 2013-04-23 | 주식회사 한국테크놀로지 | El 기법을 이용한 태양전지 검사장치 및 방법 |
FR2994264B1 (fr) * | 2012-08-02 | 2014-09-12 | Centre Nat Rech Scient | Procede d'analyse de la structure cristalline d'un materiau semi-conducteur poly-cristallin |
JP6104112B2 (ja) * | 2013-09-18 | 2017-03-29 | 株式会社アイテス | 太陽電池検査装置、及び太陽電池検査方法 |
KR101493298B1 (ko) | 2013-12-24 | 2015-02-13 | 주식회사 포스코 | 시편 촬영 장치 및 방법 |
JP6395206B2 (ja) | 2014-03-25 | 2018-09-26 | 株式会社Screenホールディングス | 検査装置および検査方法 |
JP6668732B2 (ja) * | 2015-12-15 | 2020-03-18 | 東京電力ホールディングス株式会社 | 太陽光パネルの破損判断方法 |
JP6705210B2 (ja) * | 2016-03-01 | 2020-06-03 | 東京電力ホールディングス株式会社 | 太陽光パネルの発電能力推定方法 |
JP6716374B2 (ja) * | 2016-07-12 | 2020-07-01 | ソーラーフロンティア株式会社 | バンドギャップ測定方法、バンドギャップ測定装置 |
CN107537791B (zh) * | 2016-09-21 | 2019-04-16 | 北京卫星环境工程研究所 | 用于航天器真空热试验用红外灯的筛选测试仪 |
KR101812483B1 (ko) | 2016-12-29 | 2017-12-27 | 한전케이피에스 주식회사 | 간극측정장치 |
CN107680914A (zh) * | 2017-11-13 | 2018-02-09 | 佛山鑫进科技有限公司 | 一种太阳电池单片缺陷计算机检测装置 |
JP7042609B2 (ja) * | 2017-12-25 | 2022-03-28 | ソーラーフロンティア株式会社 | 検出装置及び検出方法 |
JP6466604B1 (ja) * | 2018-01-24 | 2019-02-06 | 株式会社アイテス | 太陽電池試料検査装置、及び太陽電池試料検査方法 |
WO2020012630A1 (ja) | 2018-07-13 | 2020-01-16 | オリンパス株式会社 | 撮像装置 |
JP7204495B2 (ja) * | 2019-01-10 | 2023-01-16 | 三菱電機株式会社 | フォトルミネセンス検査装置およびフォトルミネセンス検査方法 |
CN112147154B (zh) * | 2020-10-28 | 2023-06-13 | 江苏善果缘智能科技有限公司 | 一种用于产品表面三维疵点检测的同频率共聚焦led照明光源构建方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2525894B2 (ja) * | 1989-04-07 | 1996-08-21 | 浜松ホトニクス株式会社 | 半導体試料の螢光特性検査装置 |
JPH0450643A (ja) * | 1990-06-12 | 1992-02-19 | Nec Corp | 傷検査装置 |
JPH05149888A (ja) * | 1991-03-12 | 1993-06-15 | Nec Corp | 傷検査装置 |
JP4250931B2 (ja) * | 2002-08-30 | 2009-04-08 | 日本電気株式会社 | 外観検査装置および外観検査方法 |
JP2006038816A (ja) * | 2004-07-30 | 2006-02-09 | Nara Institute Of Science & Technology | マイクロアレイ読取装置 |
JP4427738B2 (ja) * | 2004-09-30 | 2010-03-10 | Dowaエレクトロニクス株式会社 | 半導体の特性評価装置 |
JP4701739B2 (ja) * | 2005-02-17 | 2011-06-15 | パナソニック株式会社 | 蛍光測定装置 |
DE102005040010A1 (de) * | 2005-08-23 | 2007-03-15 | Rwe Schott Solar Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung von Produktionsfehlern in einem Halbleiterbau-element |
-
2007
- 2007-03-13 JP JP2007063527A patent/JP5077872B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008224432A (ja) | 2008-09-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5077872B2 (ja) | 太陽電池のフォトルミネセンスによる欠陥検査装置及び方法 | |
JP4915991B2 (ja) | 太陽電池の欠陥検査装置及びその方法 | |
JP5319593B2 (ja) | 太陽電池の検査方法および検査装置 | |
TWI634323B (zh) | 使用光致發光成像檢驗發光半導體裝置之方法及設備 | |
KR102178903B1 (ko) | 외관 검사 장치, 및 외관 검사 장치의 조명 조건 설정 방법 | |
CN101960612B (zh) | 太阳电池检查装置以及太阳电池缺陷判定方法 | |
KR102081671B1 (ko) | 2차전지용 리드탭의 2열 자동 검사 시스템 | |
JP5589888B2 (ja) | 表面検査装置の評価装置及び表面検査装置の評価方法 | |
US20060278831A1 (en) | Infrared inspection apparatus, infrared inspecting method and manufacturing method of semiconductor wafer | |
JP2014510956A (ja) | 熱撮像を用いてエレクトロクロミックデバイス内の欠陥を検出及び修復するためのシステム及び方法 | |
JP2006323032A (ja) | フラットパネルディスプレイディバイスの欠陥画素リペア装置及びその欠陥画素リペア方法 | |
US7800568B2 (en) | Apparatus and method for inspecting liquid crystal display | |
JP2007078404A (ja) | 太陽電池パネル検査装置 | |
JP4583722B2 (ja) | ピンホール検出方法及びメンブレインエレクトロードアッセンブリの生産方法 | |
WO2019176467A1 (ja) | 集光型太陽光発電装置の検査システム及び受光部の検査方法 | |
JP7185388B2 (ja) | 検査装置及び検査方法 | |
JP5830229B2 (ja) | ウエハ欠陥検査装置 | |
JP4136832B2 (ja) | 半導体レーザーダイオードチップの検査方法および検査装置 | |
JP5832909B2 (ja) | 赤外カメラを具備する配線欠陥検出装置、および当該赤外カメラの異常を検知する異常検知方法 | |
JPH04158238A (ja) | 液晶パネルの検査方法 | |
JP6104112B2 (ja) | 太陽電池検査装置、及び太陽電池検査方法 | |
TW202127012A (zh) | 光學檢測設備與光學檢測方法 | |
KR100950270B1 (ko) | 모바일 폰 렌즈 해상력 자동검사장치 | |
JP2011023412A (ja) | 光電変換パネル用端子箱の異物検出装置及び異物検出方法 | |
CN113436986A (zh) | 芯片贴装装置及半导体器件的制造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20091217 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20111219 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111226 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120223 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120507 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120621 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120806 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120821 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150907 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |