JP5070841B2 - 誘電体セラミック組成物、その製造方法及び積層セラミックコンデンサ - Google Patents

誘電体セラミック組成物、その製造方法及び積層セラミックコンデンサ Download PDF

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Description

本発明は、誘電体セラミック組成物、その製造方法及び積層セラミックコンデンサに関し、更に詳しくは、信頼性が高く、高調波歪率が向上した誘電体セラミック組成物、その製造方法及び積層セラミックコンデンサに関する。
従来のこの種の誘電体セラミック組成物及び積層セラミックコンデンサとしては、例えば特許文献1、特許文献2、特許文献3及び特許文献4において提案されたものが知られている。
特許文献1では誘電体磁器および積層型電子部品が提案されている。この誘電体磁器は、Ba、Ti、希土類元素、MgおよびMnを含有するペロブスカイト型複合酸化物からなる主結晶粒子と、粒界相とからなる誘電体磁器であって、前記粒界相中に、希土類元素およびSiを含有する複合酸化物からなる結晶相を含有するものである。この構成から、結晶相として、γ−YSiが存在することにより、薄層化しても高温負荷試験における信頼性を向上させることができる。
特許文献2では誘電体磁器が提案されている。この誘電体磁器は、組成式{(Ba1−xCa(Ti1−yZr)}O(但し、0.01≦x≦0.10、0.15≦y≦0.25、0.99≦m≦1.02)で表される結晶粒子と、希土類元素(Yを除く)を含有する粒界相とからなるものである。この構成から、還元性雰囲気で焼成しても、高い比誘電率、高い絶縁抵抗値、誘電損失の小さい誘電体磁器が得られ、延いては積層磁器コンデンサの誘電体層が薄層化した場合でも高温負荷試験における信頼性不良を低減することができる。
また、特許文献3では誘電体磁器およびその製法が提案されている。この誘電体磁器は、Ba、Ti、Mn、YおよびMgを含有する誘電体磁器であって、少なくともBaおよびTiを含有するペロブスカイト型複合酸化物からなる主結晶粒子と、少なくともYおよびMgを含有する粒界相とからなるとともに、前記Mnが実質的に前記主結晶粒子内にのみ存在するものである。この構成から、主結晶粒子内にのみMnが存在するため、主結晶粒子内へのMgおよびYの固溶が抑制され、燒結性が向上し、1200℃以下の低温で焼成することができるとともに、主結晶粒子内にのみMnが存在するため、誘電体磁器が高い絶縁抵抗を示す。
また、特許文献4では積層型コンデンサが提案されている。この積層型コンデンサは、誘電体層がBaTiOを主成分とする結晶粒子と、該結晶粒子間の粒界とからなり、前記誘電体層の破断面における全粒界個数のうち80%以上の粒界が、Si、希土類元素、アルカリ土類金属元素および酸素を含む非晶質からなるものである。この構成から、Ni/NiOの平衡酸素分圧以下の焼成条件で焼成しても、高温負荷寿命で優れた特性を示す。
特開2002−265260号公報 特開平11−157928号公報 特開2000−335966号公報 特許第3389408号公報
しかしながら、特許文献1に記載の誘電体磁器および積層型電子部品の場合には、希土類元素とSiのみからなる複合酸化物は、還元性雰囲気で焼結して結晶が成長すると急激に高温負荷信頼性等の特性が低下することが判った。
また、特許文献2に記載の誘電体磁器の場合には、Si、Li、Bと希土類元素酸化物からなるガラスを調製して添加するため、希土類元素とSiの複合酸化物が存在し、上述した理由から高温負荷試験の信頼性が低下する虞がある。
特許文献3に記載の誘電体磁器の場合には、Mnが主結晶中に固溶しているため、希土類元素、Mgの主結晶中への固溶が抑制され、第三次高調波の歪率が悪化する問題があった。
特許文献4に記載の積層型コンデンサの場合には、焼成過程で添加剤を溶融させる必要があるため、主成分と添加剤の反応が進み易く、容量の温度特性の制御が難しく、また、添加剤を作製する時に希土類元素とSiを同時に仮焼するため、希土類元素とSiの複合酸化物の生成を制御することができないという課題があった。
本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、信頼性を高めることができると共に、第三次高調波の歪率を向上させることができる誘電体セラミック組成物、その製造方法及び積層セラミックコンデンサを提供することを目的としている。
本発明者らは、希土類元素とSiの複合酸化物が存在すると急激に信頼性が低下する原因について検討した結果、この複合酸化物は還元性雰囲気において大きいサイズの二次相粒子として成長し易く、急激な粒成長に伴って信頼性が急激に低下することを突き止めた。そこで、本発明者らは、特定の製造方法を採用することによって希土類元素とSiの複合酸化物の生成を抑制し、防止し得ることを知見した。
本発明は、上記知見に基づいてなされたもので、請求項1に記載の誘電体セラミック組成物は、ABO(但し、Aサイトは、Ba、またはBaと少なくともCa、Srのいずれか一種を含み、Bサイトは、Tiとその一部が置換された少なくともZr、Hfのいずれか一種を含むペロブスカイト型結晶を表す。)を主成分とする主相粒子、希土類元素R(但し、Rは、Y、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Luの少なくとも一種を表す。)、Mg及びSiを含む誘電体セラミック組成物において、上記希土類元素RとMgを主成分とする結晶性複合酸化物からなる二次相粒子が存在し、更に、上記BサイトのTiの一部をZrによって置換した時、モル換算で0.06≦Zr/(Zr+Ti+Hf)≦0.40の関係が成立し、且つ、上記希土類元素R、Mg、SiのABOに対する含有量が、モル換算で、それぞれ、上記希土類元素R:4〜40%、Mg:2〜20%、Si:2〜15%であり、上記ABOに対して、0.5モル%以上、5モル%以下の金属元素M(但し、Mは、Cr、V、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Nb、Mo及びWのうち少なくとも一種を表す。)を含むことを特徴とするものである。
本発明の請求項2に記載の誘電体セラミック組成物は、請求項1に記載の発明において、上記希土類元素RとSiを主成分とする結晶性複合酸化物が実質的に存在しないことを特徴とするものである。
本発明の請求項3に記載の誘電体セラミック組成物は、請求項1または請求項2に記載の発明において、Siを含み、且つ、Ca、Ba、B及びLiのうち少なくとも一種を含む焼結助剤を含むことを特徴とするものである。
本発明の請求項4に記載の誘電体セラミック組成物の製造方法は、ABO(但し、Aサイトは、Ba、またはBaと少なくともCa、Srのいずれか一種を含み、Bサイトは、Tiとその一部が置換された少なくともZr、Hfのいずれか一種を含むペロブスカイト型結晶を表す。)を、上記BサイトのTiの一部をZrによって置換した時にモル換算で0.06≦Zr/(Zr+Ti+Hf)≦0.40の関係が成立するように調製する工程と、少なくとも希土類元素R(但し、Rは、Y、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Luの少なくとも一種を表す。)とMgを、上記希土類元素R、Mgの上記ABOに対する含有量がモル換算でそれぞれ、上記希土類元素R:4〜40%、Mg:2〜20%になるように調整して反応させ、一部に結晶性を有する反応物を調製する工程と、少なくとも上記ABOと上記反応物と金属元素M(但し、Mは、Cr、V、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Nb、Mo及びWのうち少なくとも一種を表す。)を、上記金属元素Mが上記ABOに対して0.5モル%以上、5モル%以下になるように混合することによって、原料粉末を調製する工程と、上記原料粉末を焼成する工程と、を備えたことを特徴とするものである。
また、本発明の請求項5に記載の積層セラミックコンデンサは、積層された複数の誘電体セラミック層と、静電容量を取得できるように上記誘電体セラミック層間の特定の界面に沿って形成される複数の内部電極と、上記内部電極の特定のものに電気的に接続される外部電極と、を備えた積層セラミックコンデンサであって、上記誘電体セラミック層は、請求項1〜請求項4のいずれか1項に記載の誘電体セラミック組成物によって形成されてなることを特徴とするものである。
而して、本発明の誘電体セラミック組成物は、ABOを主成分とする主相粒子と、希土類元素R(但し、Rは、Y、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Luの少なくとも一種を表す。)、Mg及びSiと、を含有している。
主相粒子の主成分となるABOは、AサイトにBaを含み、BサイトにTiを含むチタン酸バリウム(BaTiO)系のペロブスカイト型複合酸化物として構成されている。Aサイトは、Baの一部がCa及び/またはSrによって置換され、Bサイトは、Tiの一部がZr及び/またはHfによって置換されたものであ。特に、Tiの一部をZrによって置換することによって、電界強度が大きな中高圧用途の積層セラミックコンデンサの誘電体材料としても好適に用いることができる。
希土類元素R(但し、Rは、Y、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Luの少なくとも一種を表す。)、Mg及びSiは、それぞれ誘電体材料の誘電率、温度特性、キュリー温度等の特性を改善するための添加物である。
本発明の誘電体セラミック組成物は、例えば図1に模式的に示すように、ABOを主成分とする主相粒子と、希土類元素RとMgを主成分とする結晶性複合酸化物からなる二次相粒子(同図では、黒く塗りつぶして示した部分)と、MgとSiを主成分とする結晶性複合酸化物からなる二次相粒子(同図では、網点で示した部分)と、を含んだ結晶構造をしている。
二次相粒子の希土類元素RとMgを主成分とする結晶性複合酸化物は、予め調製された希土類元素RとMgの複合酸化物を焼成段階で添加することによって生成する。この複合酸化物を焼成段階で添加することによって、希土類元素RとSiを添加しても希土類元素RとSiとを主成分とする複合酸化物の生成を抑制し、あるいは防止することができ、結果として、希土類元素RとSiを主成分とする結晶性複合酸化物が実質的には存在せず、信頼性の低下を抑制し、あるいは防止することができる誘電体セラミック組成物を得ることができる。ここで、希土類元素RとMgを主成分とする結晶性複合酸化物とは、希土類元素RとMgを金属元素比でそれぞれ8%以上含有し、希土類元素RとMgを合計で50%以上含有する相を指す。
また、希土類元素RとMgの複合酸化物を添加することにより、希土類元素RとMgの主相粒子中への固溶を促進して、主相粒子の信頼性を向上させることができ、延いては誘電体材料としての信頼性を向上させることができる。更に、希土類元素RとMgの複合酸化物を添加することにより、希土類元素RとMgが主相粒子中へ固溶して第三次高調波の歪率を向上させることができる。主相粒子の希土類元素RとMgが固溶した相は斜線で示してある。
尚、希土類元素RとMgを主成分とする結晶性複合酸化物は、焼成条件によってTi、Zrとの反応物を生成することがあるが、希土類元素RとMgとTi、Zrを主成分とする結晶性複合酸化物が存在しても、希土類元素RとSiを主成分とする複合酸化物の生成を抑制する効果、及び希土類元素RとMgの主相粒子中への固溶を促進する効果を低減させることはなく、希土類元素RとMgを主成分とする結晶性複合酸化物と同等の効果が得られる。
ABOのBサイトにおけるZrの置換率[Zr/(Zr+Ti+Hf)]は、モル換算で0.06〜0.40の関係を満足する。Zr/(Zr+Ti+Hf)が0.06未満ではキュリー点が上昇し、誘電体材料としても温度特性が多少悪化し、Zr/(Zr+Ti+Hf)が0.40を超えると誘電率が多少低下する。
希土類元素Rの含有量は、ABOに対して、4〜40モル%の範囲である。希土類元素Rが4モル%未満では主相粒子の主成分に固溶した相(図1の斜線部分)が減少するため、第三次高調波歪率を向上させる機能が多少低下し、希土類元素Rが40モル%を超えると逆に主相粒子の主成分への固溶が増加するため、誘電率が多少低下し、温度特性が若干悪化する。
Mgの含有量は、ABOに対して、2〜20モル%の範囲である。Mgが2モル%未満では主相粒子の主成分に固溶した相が減少するため、第三次高調波歪率を向上させる機能が多少低下し、Mgが20モル%を超えると逆に主相粒子の主成分への固溶が増加するため、誘電率が多少低下し、温度特性が若干悪化する。
Siの含有量は、ABOに対して、2〜15モル%の範囲である。Siが2モル%未満では焼結性が低下して第三次高調波歪率が多少悪化し、Siが15モル%を超えると逆に過焼結ぎみになって温度特性が若干悪化する。上述のように第三次高調波歪率が多少悪化する場合であっても誘電体材料としての特性や信頼性を損なうものではない。
希土類元素RとSiを主成分とする結晶性複合酸化物は、前述したように信頼性を低下させる虞があるため、実質的に存在しないことが好ましい。希土類元素RとSiを主成分とする結晶性複合酸化物が実質的に存在しないとは、この結晶性複合酸化物が仮に存在していても、希土類元素RとMgの結晶性複合酸化物の存在で希土類元素R、Siの複合酸化物の影響を無視し得る程度の存在(量)を云う。
本発明では、上述したように希土類元素RとMgの複合酸化物を添加することにより、希土類元素RとSiを主成分とする結晶性複合酸化物が実質的に存在しない誘電体セラミック組成物を得ることができ、誘電体材料としての信頼性を向上させることができる。また、希土類元素RとSiの複合酸化物は、希土類元素Rの主相粒子への固溶を抑制する結果、第三次高調波の歪率を悪化させる。しかし、本発明の誘電体セラミック組成物は、希土類元素RとSiの複合酸化物が実質的に存在しないため、第三次高調波の歪率が悪化することがなく、むしろ上述したように希土類元素RとMgの複合酸化物の存在によって第三次高調波の歪率が向上する。ここで、希土類元素RとSiを主成分とする結晶性複合酸化物とは、希土類元素RとSiを金属元素比でそれぞれ25%以上含有し、且つ、Mgが合計で8%以下の相を指す。
二次相粒子のMgとSiを主成分とする結晶性複合酸化物は、希土類元素RとMgを主成分とする結晶性複合酸化物と同様の機能を有し、希土類元素RとSiの複合酸化物の生成を抑制し、防止することができると共に、希土類元素Rの主相粒子への固溶を促進することができる。ここで、MgとSiを主成分とする結晶性複合酸化物とは、MgとSiを金属元素比でそれぞれ8%以上含有し、MgとSiを合計で50%以上含有し、且つ、希土類元素Rが8%以下の相を指す。
また、本発明の誘電体セラミック組成物は、ABOに対して、0.5モル%以上、5モル%以下の金属元素Mを含むことが好ましい。金属元素Mが0.5モル%未満でも5モル%を超えても高温負荷信頼性が若干低下する。金属元素Mとしては、例えばCr、V、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Nb、Mo及びWのうち少なくとも一種を適宜選択して用いることができ、二種以上を適宜選択して用いても良い。
また、本発明の誘電体セラミック組成物は、焼結助剤として、例えばSiを含み、且つ、Ca、Ba、B及びLiのうち少なくとも一種を含んだものが好ましい。これらの焼結助剤を添加することによって焼結温度を低下させることができる。
また、本発明の誘電体セラミック組成物の製造方法では、ABO(但し、Aサイトは、BaまたはBaと少なくともCa、Srのいずれか一種を含み、Bサイトは、TiまたはTiと少なくともZr、Hfのいずれか一種を含むペロブスカイト型結晶を表す。)を作製する工程において、誘電体セラミック組成物の基本となるペロブスカイト型結晶を調製する。
少なくとも希土類元素R(但し、Rは、Y、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Luの少なくとも一種を表す。)とMgを反応させ、一部に結晶性を有する反応物を作製する工程では、本発明の誘電体セラミック組成物の出発原料として、予め希土類元素RとMgとの反応物、即ち一部に希土類元素RとMgの結晶性複合酸化物を含む複合酸化物を調製する。このように希土類元素RとMgの複合酸化物を出発原料として調製することにより、本発明の誘電体セラミック組成物を焼成する段階で希土類元素Rと焼結助剤として添加されるSiとの複合酸化物の生成を抑制し、防止することができる。この工程では希土類元素RとMgの他に他の複数の金属元素等を追加して反応させても良い。希土類元素Rとしては、Y、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Luの少なくとも一種を選択して用いることができ、二種以上の希土類元素を用いても良い。
原料粉末を調製する工程では、少なくともABOとR−Mg反応物(一部に希土類元素RとMgの結晶性複合酸化物を含む複合酸化物)を混合することによって、原料粉末を調製する。従って、ABOとR−Mg反応物以外に必要に応じて他の金属酸化物等を適宜選択、追加して混合しても良い。
原料粉末を焼成する工程では、少なくともABOとR−Mg反応物(希土類元素RとMgの結晶性複合酸化物を含む複合酸化物)とからなる原料粉末を焼成することによって、本発明の誘電体セラミック組成物を得ることができる。焼成工程において、希土類元素RはMgとは予め結晶性複合酸化物を形成しているため、希土類元素RとSiを主成分とする複合酸化物の生成を抑制し、防止できるため、高温負荷信頼性の向上した誘電体セラミック組成物を得ることができる。
本発明の積層セラミックコンデンサは、本発明の誘電体セラミック組成物を誘電体材料として用いるため、温度特性、高温負荷信頼性や第三次高調波歪率等が向上したものになる。
本発明によれば、信頼性を高めることができると共に、第三次高調波の歪率を向上させることができる誘電体セラミック組成物、その製造方法及び積層セラミックコンデンサを提供することができる。
本発明の誘電体セラミック組成物の結晶構造を示す模式図である。 本発明の積層セラミックコンデンサの一実施形態を示す断面図である。
符号の説明
1 積層セラミックコンデンサ
2 誘電体セラミック層
3A、3B 内部電極
4A、4B 外部電極
以下、図2を参照しながら本発明の一実施形態について説明する。本実施形態の積層セラミックコンデンサ1は、例えば図2に示すように、複数層(本実施形態では5層)の誘電体セラミック層2及びこれらの誘電体セラミック層2間にそれぞれ配置された複数の第1、第2内部電極3A、3Bを有する積層体と、これらの内部電極3A、3Bに電気的に接続され且つ積層体の両端に形成された第1、第2外部電極4A、4Bとを備えている。
第1内部電極3Aは、図2に示すように、誘電体セラミック層2の一端(同図の左端)から他端(右端)の近傍まで延び、第2内部電極3Bは誘電体セラミック層2の右端から左端の近傍まで延びている。第1、第2内部電極3A、3Bは導電性材料によって形成されている。この導電性材料としては、例えば、ニッケル、ニッケル合金、銅、銅合金、銀、銀合金の中から選択されるいずれか一種の金属を好ましく用いることができる。また、内部電極の構造欠陥を防止するために、導電性材料に加えてセラミック粉末を少量添加しても良い。
また、第1外部電極4Aは、図2に示すように、積層体内の第1内部電極3Aに電気的に接続され、第2外部電極4Bは積層体内の第2内部電極3Bに電気的に接続されている。第1、第2外部電極4A、4Bは、従来公知のAg、銅等の種々の導電性材料によって形成することができる。また、第1、第2外部電極4A、4Bの形成手段は、従来公知の各手段を適宜採用することができる。
本実施形態の積層セラミックコンデンサの場合には、還元性雰囲気で焼成することができるため、ニッケル、ニッケル合金、銅、銅合金などの卑金属を用いて内部電極を形成することができる。
本実施例では、誘電体セラミック層2に用いられる本発明の誘電体セラミック組成物を調製し、この誘電体セラミック組成物を用いて本発明の積層セラミックコンデンサを作製し、積層セラミックコンデンサの電気的特性を評価した。
実施例1〜15
本実施例1〜15では、ABOとして(Ba0.94Sr0.04Ca0.02)(Ti0.80Zr0.20)Oを用い、添加成分として表1に示す希土類元素の酸化物(以下、「RO」と称す。)、MgO、MnO、CuO、V及びSiOを用いた。
(1)(Ba0.94Sr0.04Ca0.02)(Ti0.80Zr0.20)Oの調製
まず、出発原料としてBaCO、SrCO、CaCO、TiO及びZrOの各粉末を準備し、これら出発原料を(Ba0.94Sr0.04Ca0.02)(Ti0.80Zr0.20)Oとなるように秤量した後、これらの出発原料をボールミルによって混合し、1150℃で熱処理を行い、c/a軸比が1.0087、平均粒径が0.25μmの(Ba0.94Sr0.04Ca0.02)(Ti0.80Zr0.20)Oを合成した後、これを粉砕した。
(2)2RO−MgO系反応物の調製
また、表1に示す希土類元素の酸化物ROとMgOを、それぞれがモル比でRO:MgO=2:1になるように秤量した後、ボールミルによって混合し、1100℃で熱処理し、平均粒径0.3μmの2RO−MgO系の反応物を得た。但し、xは希土類元素Rの価数により変動する値であり、例えば希土類元素RがLaの場合にはx=3/2である。
(3)誘電体原料粉末の調製
次いで、84.4モル%の(Ba0.94Sr0.04Ca0.02)(Ti0.80Zr0.20)O、8.4モル%の2RO−MgO系反応物、1.7モル%のMgO、4.3モル%のSiO、0.4モル%のMnO、0.4モル%のCuO及び0.4モル%のVをボールミルによって混合して誘電体原料粉末を得た。
(4)積層セラミックコンデンサの作製
表1において実施例1〜15に示す誘電体原料粉末それぞれにポリビニルブチラール系バインダ及びエタノール等の有機溶剤をそれぞれ加え、ボールミルにより湿式混合してセラミックスラリーを調製した。これらのセラミックスラリーをドクターブレード法により、焼成後の誘電体セラミック層厚が3μmになるようにシート状に成形し、矩形のセラミックグリーンシートを得た。次いで、これらのセラミックグリーンシート上に、ニッケル(Ni)を導電成分として含む導電性ペーストをスクリーン印刷し、内部電極を構成するための導電性ペースト層を形成した。この導電性ペースト層が形成されたセラミックグリーンシートを導電性ペーストの引き出されている側が互い違いになるように複数枚積層し、生の積層体を得た。この生の積層体を、窒素ガス雰囲気中で350℃に加熱し、バインダを燃焼させた後、酸素分圧10−9.0MPaのHガス、Nガス及びHOガスからなる還元雰囲気中において1250℃で2時間焼成してセラミック積層体を得た。
焼成後のセラミック積層体の両端面にガラスフリットを含有するCuペーストを塗布し、N雰囲気中において700℃の温度でCuペーストを焼き付け、内部電極と電気的に接続された外部電極を形成し、本発明の誘電体セラミック組成物からなる実施例1〜15の積層セラミックコンデンサを得た。
このようにして得られた積層セラミックコンデンサ(実施例1〜15)の外形寸法は、それぞれ、幅が1.6mm、長さが3.2mm、厚さが0.8mmであり、内部電極間に介在する誘電体セラミック層の厚みは3μmであった。更に、有効誘電体セラミック層の総数は100であり、一層当たりの対向電極の面積は2.1mmであった。
(4)積層セラミックコンデンサの特性評価
実施例1〜15の積層セラミックコンデンサそれぞれについて誘電率ε、温度特性、高温負荷寿命及び第三次高調波歪率(THD)をそれぞれ測定し、その結果を表1に示した。また、積層セラミックコンデンサの中央部を含む任意の破断面について、セラミック構造の分析を行った。
誘電率εは、温度25℃、1kHz、1Vrmsの条件下で測定した。温度変化に対する静電容量の変化率は、25℃での静電容量を基準とした125℃での変化率を温度特性として示した。
また、高温負荷試験は、温度125℃において、50Vの電圧を印加して、その絶縁抵抗の経時変化を測定した。高温負荷試験は、100個の積層セラミックコンデンサについて行い、1000時間経過するまでに絶縁抵抗値が100kΩ以下になった試料を故障と判断した。
THDは、部品直線性試験装置CLT−20(ダンブリッジ社製)を用いて、入力電圧1V、10kHzの条件下で測定した。THDは、10kHzの電流(電圧G10k)を試料に流した時に試料内で発生する第三次高調波(30kHz)成分(電圧E30k)を測定し、次式によって求めた。
THD=20Log(E30k/G10k)[dB]
更に、セラミック構造の分析には波長分散型X線分析法(WDX)を用いて二次相粒子の組成を確認し、その結果を表1に示した。また、結晶性の確認は、X線回折分析または電子線回折分析によって行われる。
比較例1〜15
比較例1〜15では、実施例1〜15と同様に、ABOとして(Ba0.94Sr0.04Ca0.02)(Ti0.80Zr0.20)Oを用い、添加成分として表1に示すRO、MgO、MnO、CuO、V及びSiOを用いた。そして、各比較例では、上記各実施例における8.4モル%の2RO−MgO系反応物と1.7モル%のMgOに代えて、16.8モル%の希土類元素酸化物ROと10.1モル%のMgOを用いた以外は、上記実施例1〜15に対応する比較例1〜15の積層セラミックコンデンサを上記各実施例の積層セラミックコンデンサと同様の手順で作製し、比較例1〜15の各積層セラミックコンデンサについて上記各実施例と同様の評価を行い、その結果を表1に示した。尚、各比較例における各構成元素の化学量論比は各実施例のものと同一である。
Figure 0005070841
表1に示す結果によれば、以下のことが判った。
WDXの結果によれば、実施例1〜15の積層セラミックコンデンサの誘電体セラミック層には希土類元素RとMgを主成分とする複合酸化物からなる二次相粒子が認められたが、希土類元素RとSiを主成分とする複合酸化物からなる二次相粒子は認められなかった。これに対して、比較例1〜15の積層セラミックコンデンサの誘電体セラミック層には希土類元素RとSiを主成分とする複合酸化物からなる二次相粒子が認められたが、希土類元素RとMgを主成分とする複合酸化物からなる二次相粒子には認められなかった。
また、実施例1〜15の場合には、焼成段階で、予め調製された希土類元素RとMgからなる複合酸化物を添加することにより、希土類元素RとSiからなる複合酸化物の生成を抑制し、あるいは防止することができ、高温負荷試験での信頼性の低下を抑制することができた。希土類元素RとMgを主成分とする複合酸化物、及び希土類元素RとMgが固溶した主相粒子は信頼性が高く、誘電体セラミック層としても高温負荷試験での信頼性(高温負荷信頼性)が向上した。
これに対して、比較例1〜15の場合には、希土類元素RとMgを主成分とする複合酸化物が存在せず、希土類元素RとSiを主成分とする複合酸化物が存在すると、高温負荷信頼性が低下した。
また、THDについては、その値が希土類元素Rの種類によって変動するため、一概に比較できないが、各実施例と各比較例それぞれを、同じ希土類元素R、添加量で対比した場合には、各実施例では希土類元素RとMgを主成分とする二次相粒子の生成により、THDが各比較例より低減した。
実施例16〜21
本実施例16〜21では、ABOとしてBa(Ti0.94Zr0.06)Oを用い、添加成分として表2に示す希土類元素酸化物ROと、MgO、MnO、SiOとを用いた。
(1)Ba(Ti0.94Zr0.06)Oの調製
まず、出発原料としてBaCO、TiO及びZrOの各粉末を準備し、これら出発原料をBa(Ti0.94Zr0.06)Oとなるように秤量した後、これらの出発原料をボールミルによって混合し、1150℃で熱処理を行い、c/a軸比が1.011、平均粒径が0.2μmのBa(Ti0.94Zr0.06)Oを合成した後、これを粉砕した。
(2)3RO−MgO系反応物の調製
また、表2に示す希土類元素酸化物ROとMgOを、それぞれがモル比でRO:MgO=3:1になるように秤量した後、ボールミルによって混合し、1100℃で熱処理し、平均粒径0.3μmの3RO−MgO系の反応物を得た。実施例21では二種類の希土類元素酸化物RO(4Gd、2Ndの配合)を用いた。
(3)誘電体原料粉末の調製
次いで、95.7モル%のBa(Ti0.94Zr0.06)O、1.9モル%の3RO−MgO系反応物、1.9モル%のSiO及び0.5モル%のMnOをボールミルによって混合して誘電体原料粉末を得た。
(4)積層セラミックコンデンサの作製
表2において実施例16〜21に示す誘電体原料粉末それぞれにポリビニルブチラール系バインダ及びエタノール等の有機溶剤をそれぞれ加え、ボールミルにより湿式混合してセラミックスラリーを調製した。これらのセラミックスラリーをドクターブレード法により、焼成後の誘電体セラミック層厚が2μmになるようにシート状に成形し、矩形のセラミックグリーンシートを得た。次いで、これらのセラミックグリーンシート上に、Niを導電成分として含む導電性ペーストをスクリーン印刷し、内部電極を構成するための導電性ペースト層を形成した。この導電性ペースト層が形成されたセラミックグリーンシートを導電性ペーストの引き出されている側が互い違いになるように複数枚積層し、生の積層体を得た。この生の積層体を、窒素ガス雰囲気中で350℃に加熱し、バインダを燃焼させた後、酸素分圧10−10.5MPaのHガス、Nガス及びHOガスからなる還元雰囲気中において1250℃で2時間焼成してセラミック積層体を得た。
焼成後のセラミック積層体の両端面にガラスフリットを含有するCuペーストを塗布し、N雰囲気中において700℃の温度でCuペーストを焼き付け、内部電極と電気的に接続された外部電極を形成し、本発明の誘電体セラミック組成物からなる実施例16〜21の積層セラミックコンデンサを得た。
このようにして得られた積層セラミックコンデンサ(実施例16〜21)の外形寸法は、それぞれ、幅が1.2mm、長さが2.0mm、厚さが1.2mmであり、内部電極間に介在する誘電体セラミック層の厚みが2.0μmであった。更に、有効誘電体セラミック層の総数は300であり、一層当たりの対向電極の面積は1.0mmであった。
(4)積層セラミックコンデンサの特性評価
実施例16〜21の積層セラミックコンデンサそれぞれについて、誘電率ε、温度特性、高温負荷寿命及び第三次高調波歪率(THD)をそれぞれ上記各実施例と同様に測定し、その結果を表2に示した。尚、高温負荷試験については、32Vの電圧を印加した以外は上記各実施例と同様に高温負荷寿命を測定した。また、積層セラミックコンデンサの中央部を含む任意の破断面について、上記各実施例と同様に、セラミック構造の分析を行い、二次相粒子の組成を確認し、その結果を表2に示した。
Figure 0005070841
表2に示す結果によれば、以下のことが判った。
即ち、主成分であるABOのZrが異なる組成においても高温負荷試験結果を観れば信頼性等が向上していることが判る。また、希土類元素Rが2種類添加された実施例21においても高温負荷信頼性等が向上していることが判る。従って、希土類元素Rを2種類以上添加しても同傾向の結果が得られると推定される。
実施例22
本実施例22では、実施例16〜21における3RO−MgO系反応物に代えて、GdO3/2、MgO、SiOそれぞれが3:1:1のモル比になるように秤量した後、ボールミルによって混合し、1100℃で熱処理し、3GdO3/2−MgO−SiO系反応物を調製した後、97.5モル%のBa(Ti0.94Zr0.06)O、2.0モル%の3GdO3/2−MgO−SiO系反応物及び0.5モル%のMnOをボールミルによって混合して誘電体原料粉末を得た。次いで、実施例16〜21と同様の手順で積層セラミックコンデンサを作製し、各積層セラミックコンデンサと同様の評価を行い、その結果を表3に示した。
比較例16
比較例16では、実施例16〜21における3RO−MgO系反応物を調製せず、92.9モル%のBa(Ti0.94Zr0.06)O、2.8モル%のGd、1.9モル%のMgO、1.9モル%のSiO及び0.5モル%のMnOをボールミルによって混合して得た誘電体原料粉末を用いて、実施例16〜21と同様の手順で積層セラミックコンデンサを作製し、各積層セラミックコンデンサと同様の評価を行い、その結果を表3に示した。
比較例17
本比較例17では、実施例16〜21における3RO−MgO系反応物に代えて、GdO3/2とSiOを3:1のモル比になるように秤量した後、ボールミルによって混合し、1100℃で熱処理し、3GdO3/2−SiO系の反応物を調製し、95.7モル%のBa(Ti0.94Zr0.06)O、1.9モル%の3GdO3/2−SiO系反応物、1.9モル%のMgO及び0.5モル%のMnOをボールミルによって混合して得た誘電体原料粉末を用いて、実施例16〜21と同様の手順で積層セラミックコンデンサを作製し、各積層セラミックコンデンサと同様の評価を行い、その結果を表3に示した。
比較例18
本比較例18では、実施例16〜21における3RO−MgO系反応物に代えて、GdO3/2とSiOを3:1のモル比になるように秤量した後、ボールミルによって混合し、この混合物を1500℃で溶融し、この溶融物を水中に投入してガラスカレットとし、このガラスカレットを粉砕して3GdO3/2−SiO系のガラス粉末を調製した。次いで、95.7モル%のBa(Ti0.94Zr0.06)O、1.9モル%の3GdO3/2−SiO系ガラス粉末、1.9モル%のMgO及び0.5モル%のMnOをボールミルによって混合して得た誘電体原料粉末を用いて、実施例16〜21と同様の手順で積層セラミックコンデンサを作製し、各積層セラミックコンデンサと同様の評価を行い、その結果を表3に示した。
比較例19
本比較例19では、実施例16〜21においてBa(Ti0.94Zr0.06)Oの組成となるようにBaCO、TiO及びZrOを秤量し、また、Baに対して3モル%のGd、2モル%のMgOを秤量した後、ボールミルによって混合し、1150℃で熱処理し、主成分結晶を得た。この主成分結晶のBa換算で97.5モル%に対して、2.0モル%のSiO及び0.5モル%のMnOをボールミルによって混合して得た誘電体原料粉末を用いて、実施例16〜21と同様の手順で積層セラミックコンデンサを作製し、各積層セラミックコンデンサと同様の評価を行い、その結果を表3に示した。
比較例20
本比較例20では、実施例16〜21においてBa(Ti0.94Zr0.06)Oの組成となるようにBaCO、TiO及びZrOを秤量し、また、Baに対して0.5モル%のMnOを秤量した後、ボールミルによって混合し、1150℃で熱処理し、主成分結晶を得た。この主成分結晶のBa換算で93.4モル%に対して、2.8モル%のGd、1.9モル%のMgO及び1.9モル%のSiOをボールミルによって混合して得た誘電体原料粉末を用いて、実施例16〜21と同様の手順で積層セラミックコンデンサを作製し、各積層セラミックコンデンサと同様の評価を行い、その結果を表3に示した。
比較例21
本比較例21では、実施例16〜21において、94.7モル%のBa(Ti0.94Zr0.06)O、2.8モル%のGd、2.0モル%のMgO及び0.5モル%のMnOを秤量した後、ボールミルによって混合し、乾燥してGd、MgO及びMnOで被覆された主成分結晶を得た。この主成分結晶のBa換算で100モルに対して、2モルのSiOをボールミルによって混合して得た誘電体原料粉末を用いて、実施例16〜21と同様の手順で積層セラミックコンデンサを作製し、各積層セラミックコンデンサと同様の評価を行い、その結果を表3に示した。
比較例22
本比較例22では、実施例16〜21における3RO−MgO系反応物に代えて、GdO3/2とMgOとSiOとLiCOを3:1:1のモル比になるように秤量した後、ボールミルによって混合し、1100℃で熱処理し、3GdO3/2−MgO−SiO−LiO系反応物を調製し、97.5モル%のBa(Ti0.94Zr0.06)O、2.0モル%の3GdO3/2−MgO−SiO−LiO系反応物及び0.5モル%のMnOをボールミルによって混合して得た誘電体原料粉末を用いて、実施例16〜21と同様の手順で積層セラミックコンデンサを作製し、各積層セラミックコンデンサと同様の評価を行い、その結果を表3に示した。
Figure 0005070841
表3に示す結果によれば、以下のことが判った。
即ち、実施例22のように希土類元素RとMg、Siを仮焼して添加した場合には、希土類元素RとMgを主成分とする二次相粒子、及び希土類元素RとSiを主成分とする二次相粒子の双方が存在するため、小さいTHD値が得られた。この場合には希土類元素RとSiを主成分とする二次相粒子が存在していても、希土類元素RとMgを主成分とする二次相粒子と比較して少量であれば、希土類元素RとMgを主成分とする二次相粒子による高温負荷信頼性等を向上させる効果が勝るため、希土類元素RとSiを主成分とする二次相粒子が実質的に存在しない場合と比較して信頼性が劣るが、定格電圧を下げることによって十分に実用可能なものと云える。
比較例16のように希土類元素RとMgの仮焼物(反応物)を添加しなかった場合には、希土類元素RとMgを主成分とする二次相粒子が生成せず、希土類元素RとSiを主成分とする二次相粒子が生成するため、THD及び高温負荷信頼性が悪化した。
また、比較例17のように希土類元素RとSiとの仮焼物(反応物)を調製した場合には、比較例16よりも希土類元素RとSiを主成分とする二次相粒子の存在比率が増加し、THD及び高温負荷信頼性が更に悪化した。
比較例18においても比較例17と同様に、希土類元素RとSiを主成分とする二次相粒子の割合が高く、THD及び高温負荷信頼性が悪化することが判った。
比較例19では、主結晶の合成時に希土類元素RとMgを加えたため、主結晶全域でGdとMgが固溶し、静電容量の温度特性が大幅に悪化した。しかも希土類元素RとMgを主成分とする二次相粒子が存在しないため、十分な高温負荷信頼性が得られなかった。
比較例20では、Mnが主結晶中に固溶しているため、希土類元素R、Mgの主結晶中への固溶が抑制され、THDが悪化した。また、希土類元素RとMgを仮焼しないため、希土類元素RとSiを主成分とする二次相粒子が生成し、高温負荷信頼性が低下した。
比較例21では、希土類元素RがMgと化合物を形成していないため、希土類元素RとMgを主成分とする二次相粒子が生成せず、希土類元素RとSiを主成分とする二次相粒子が生成し、THD及び高温負荷信頼性が悪化した。
比較例22では、希土類元素RとMgを主成分とする結晶性の二次相粒子が存在しないため、THD及び高温負荷信頼性が悪化した。この原因は、Liが入ると、二次相がガラス化してしまい、結晶とならないためである。
実施例23
本実施例23では、実施例16〜22における、95.7モル%のBa(Ti0.94Zr0.06)O、1.9モル%の3RO−MgO系反応物、1.9モル%のSiO、及び0.5モル%のMnOをボールミルによって混合する工程で、15Li−30B−10Ba−5Ca−40Si−Oガラスを主結晶に対して1重量%添加した誘電体原料粉末を用いて、焼成条件以外は、実施例16〜22と同一の手順で積層セラミックコンデンサを作製し、その評価を行い、その結果を表4に示した。焼成温度は1000℃、酸素分圧は10−11.5MPaであった。
Figure 0005070841
表4に示す結果によれば、1000℃という低温で十分な焼結性が得られ、信頼性等において問題のない特性が得られた。
実施例24〜29及び参考例1〜10
本実施例24〜29及び参考例1〜10では、ABOとしてBa(Ti0.94Zr0.06)Oを用い、添加成分としてGdO3/2、MgO、MnO、SiOを用いた。本実施例と参考例において、BサイトにおけるZrの置換率[=Zr/(Zr+Ti+Hf)]、及びABOに対する希土類元素R、MgO、SiOの含有率の影響を調べた。
(1)Ba(Ti0.94Zr0.06)Oの調製
まず、出発原料としてBaCO、TiO及びZrOの各粉末を準備し、これら出発原料をBa(Ti0.94Zr0.06)Oの組成となるように秤量した後、これらの出発原料をボールミルによって混合し、1000〜1300℃で熱処理を行い、Ba(Ti0.94Zr0.06)Oを合成した後、これを粉砕した。
(2)4GdO3/2−MgO系反応物の調製
また、希土類元素酸化物GdO3/2とMgOを、モル比でGdO3/2:MgO=4:1になるようにそれぞれ秤量した後、ボールミルによって混合し、1100℃で熱処理し、平均粒径0.3μmの4GdO3/2−MgO系の反応物を得た。
(3)誘電体原料粉末の調製
次いで、100モルのBa(Ti0.94Zr0.06)Oに対して、表5に示すように、bモルの4GdO3/2−MgO系反応物、cモルのSiO、dモルのMnO及びeモルのMgOをボールミルによって混合して誘電体原料粉末を得た。
(4)積層セラミックコンデンサの作製
表5において実施例24〜29及び参考例1〜10に示す誘電体原料粉末それぞれにポリビニルブチラール系バインダ及びエタノール等の有機溶剤をそれぞれ加え、ボールミルにより湿式混合してセラミックスラリーを調製した。これらのセラミックスラリーをドクターブレード法により、焼成後の誘電体セラミック層厚が2μmになるようにシート状に成形し、矩形のセラミックグリーンシートを得た。次いで、これらのセラミックグリーンシート上に、Niを導電成分として含む導電性ペーストをスクリーン印刷し、内部電極を構成するための導電性ペースト層を形成した。この導電性ペースト層が形成されたセラミックグリーンシートを、導電性ペーストの引き出されている側が互い違いになるように複数枚積層し、生の積層体を得た。この生の積層体を、窒素ガス雰囲気中で350℃に加熱し、バインダを燃焼させた後、酸素分圧10−10.5MPaのHガス、Nガス及びHOガスからなる還元雰囲気中において1250℃で2時間焼成してセラミック積層体を得た。
焼成後のセラミック積層体の両端面にガラスフリットを含有するCuペーストを塗布し、N雰囲気中において700℃の温度でCuペーストを焼き付け、内部電極と電気的に接続された外部電極を形成し、本発明の誘電体セラミック組成物からなる実施例24〜29及び参考例1〜10の積層セラミックコンデンサを得た。
このようにして得られた積層セラミックコンデンサ(実施例24〜29及び参考例1〜10)の外形寸法は、それぞれ、幅が1.2mm、長さが2.0mm、厚さが1.2mmであり、内部電極間に介在する誘電体セラミック層の厚みが2.0μmであった。更に、有効誘電体セラミック層の総数は300であり、一層当たりの対向電極の面積は1.0mmであった。
(4)積層セラミックコンデンサの特性評価
実施例24〜29及び参考例1〜10の積層セラミックコンデンサそれぞれについて、誘電率ε、温度特性、高温負荷寿命及び第三次高調波歪率(THD)をそれぞれ実施例16〜23と同様に測定し、その結果を表5に示した。また、積層セラミックコンデンサの中央部を含む任意の破断面について、上記各実施例と同様に、セラミック構造の分析を行い、二次相粒子の組成を確認し、その結果を表5に示した。尚、表5において、aはZr/(Zr+Ti+Hf)の値を表す。
Figure 0005070841
表5に示す結果によれば、以下のことが判った。
即ち、実施例24〜29に示すように、a(=Zr/(Zr+Ti+Hf))が0.06〜0.40の条件を満足し、ABOに対する、希土類元素Rの含有量(=4×b)が4〜40モル%、Mgの含有量(=b+e)が2〜20モル%、及びSiの含有量cが2〜15モル%の場合には、温度特性、高温負荷信頼性等において特に優れた特性が得られた。しかし、参考例1〜10に示すように、Zrの置換率、希土類元素R、Mg及びSiそれぞれの含有量が本発明の範囲外の場合には、後述するように特性が若干悪化し、低下しているが、希土類元素RとMgを主成分とする複合酸化物からなる二次相粒子が存在するため、従来と比較すればそれぞれ優れた特性を有している。
参考例1に示すようにaが0.06未満ではキュリー点の上昇により温度特性が若干悪化し、参考例2に示すようにaが0.40を超えると誘電率εが低下した。また、参考例3に示すように希土類元素Rの含有量(=4×b)が4モル%未満では主相粒子での希土類元素Rが固溶した相が減少するため、THDが悪化し、参考例4に示すように40モル%を超えると主相粒子での希土類元素Rが固溶した相が増加するため、誘電率εが低下すると共に温度特性が若干低下した。参考例5に示すようにMgの含有量(=b+e)が2モル%未満では主相粒子でのMgの固溶した相が減少するため、THDが悪化し、参考例6に示すように20モル%を超えると主相粒子でのMgの固溶した相が増加するため、温度特性が若干悪化した。また、参考例7に示すようにSiの含有量cが2モル%未満では焼結性が低下しTHDが悪化し、参考例8に示すように15モル%を超えると過焼結となり、温度特性が若干悪化した。また、参考例9、10に示すようにMnOの含有量dが0.5モル%未満でも5モル%を超えても高温負荷信頼性が若干低下した。
尚、本発明は上記実施例に何等制限されるものではなく、本発明の趣旨に反しない限り、本発明に包含される。
本発明は、積層セラミックコンデンサに好適に利用することができる。

Claims (5)

  1. ABO(但し、Aサイトは、Ba、またはBaと少なくともCa、Srのいずれか一種を含み、Bサイトは、Tiとその一部が置換された少なくともZr、Hfのいずれか一種を含むペロブスカイト型結晶を表す。)を主成分とする主相粒子、希土類元素R(但し、Rは、Y、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Luの少なくとも一種を表す。)、Mg及びSiを含む誘電体セラミック組成物において、
    上記希土類元素RとMgを主成分とする結晶性複合酸化物からなる二次相粒子が存在し、
    更に、上記BサイトのTiの一部をZrによって置換した時、モル換算で0.06≦Zr/(Zr+Ti+Hf)≦0.40の関係が成立し、且つ、
    上記希土類元素R、Mg、SiのABOに対する含有量が、モル換算で、それぞれ、上記希土類元素R:4〜40%、Mg:2〜20%、Si:2〜15%であり、
    上記ABOに対して、0.5モル%以上、5モル%以下の金属元素M(但し、Mは、Cr、V、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Nb、Mo及びWのうち少なくとも一種を表す。)を含む
    ことを特徴とする誘電体セラミック組成物。
  2. 上記希土類元素RとSiを主成分とする結晶性複合酸化物が実質的に存在しないことを特徴とする請求項1に記載の誘電体セラミック組成物。
  3. Siを含み、且つ、Ca、Ba、B及びLiのうち少なくとも一種を含む焼結助剤を含むことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の誘電体セラミック組成物。
  4. ABO(但し、Aサイトは、Ba、またはBaと少なくともCa、Srのいずれか一種を含み、Bサイトは、Tiとその一部が置換された少なくともZr、Hfのいずれか一種を含むペロブスカイト型結晶を表す。)を、上記BサイトのTiの一部をZrによって置換した時にモル換算で0.06≦Zr/(Zr+Ti+Hf)≦0.40の関係が成立するように調製する工程と、
    少なくとも希土類元素R(但し、Rは、Y、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Luの少なくとも一種を表す。)とMgを、上記希土類元素R、Mgの上記ABOに対する含有量がモル換算でそれぞれ、上記希土類元素R:4〜40%、Mg:2〜20%になるように調整して反応させ、一部に結晶性を有する反応物を調製する工程と、
    少なくとも上記ABOと上記反応物と金属元素M(但し、Mは、Cr、V、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Nb、Mo及びWのうち少なくとも一種を表す。)を、上記金属元素Mが上記ABOに対して0.5モル%以上、5モル%以下になるように混合することによって、原料粉末を調製する工程と、
    上記原料粉末を焼成する工程と、を備えた
    ことを特徴とする誘電体セラミック組成物の製造方法。
  5. 積層された複数の誘電体セラミック層と、静電容量を取得できるように上記誘電体セラミック層間の特定の界面に沿って形成される複数の内部電極と、上記内部電極の特定のものに電気的に接続される外部電極と、を備えた積層セラミックコンデンサであって、上記誘電体セラミック層は、請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載の誘電体セラミック組成物によって形成されてなることを特徴とする積層セラミックコンデンサ。
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