JP5067817B2 - 導電性及び耐熱性に優れたCu−Fe−P系銅合金板及びその製造方法 - Google Patents
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- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 title claims description 53
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 11
- 229910017824 Cu—Fe—P Inorganic materials 0.000 title description 14
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 64
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 40
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 33
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 31
- 238000005097 cold rolling Methods 0.000 claims description 24
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 24
- 229910001369 Brass Inorganic materials 0.000 claims description 22
- 239000010951 brass Substances 0.000 claims description 22
- 238000001887 electron backscatter diffraction Methods 0.000 claims description 21
- 238000000137 annealing Methods 0.000 claims description 16
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 claims description 15
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 14
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 9
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims description 5
- 238000005098 hot rolling Methods 0.000 claims description 3
- 238000005266 casting Methods 0.000 claims description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 24
- 239000000463 material Substances 0.000 description 12
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 11
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 10
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 9
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 9
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 8
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 8
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 5
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 5
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000001953 recrystallisation Methods 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 3
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 3
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 3
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 3
- 239000006104 solid solution Substances 0.000 description 3
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- -1 and mass% Substances 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000000445 field-emission scanning electron microscopy Methods 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 229910000765 intermetallic Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000003801 milling Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000000452 restraining effect Effects 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- 238000010008 shearing Methods 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
- 238000009864 tensile test Methods 0.000 description 1
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 1
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Description
また、近年では、発光ダイオードを用いたLEDランプの液晶ディスプレイ、携帯電話や情報端末のバックライトなどへの多方面の展開が飛躍的に進んでいる。LEDランプを種々の用途に適用する場合は、白色発光を得ることが重要となり、更に、高輝度化及び放熱性を目的に、基板(ボード)の上に複数のLEDチップを搭載し、樹脂層により被覆したチップオンボード(COB)タイプのものが開発されており、これらに使用されるリードフレーム用の銅合金基板として、熱伝導性、プレス加工性、導電性、機械的強度とのバランスがとれたCu−Fe−P系銅合金が使用され始めている。
また、EBSD法にて測定したCopper方位密度が13.0〜25.5%であると、銅合金板の耐熱特性が特に向上することを見出した。
更に、EBSD法にて測定したBrass方位密度が11.0〜14.5%であると、銅合金板の引張り強度特性を維持できることを見出した。
EBSD法にて測定した結晶組織内のCopper方位密度が13.0%未満、或いは、25.5%を超えると、400℃にて1時間加熱した後のビッカース硬さが100以上とならない。
EBSD法にて測定した結晶組織内のBrass方位密度が11.0%未満、或いは、14.5%を超えると、引張り強度が590MPa以上とならない。
これらの元素の添加は、更に耐熱性を向上させる役割を有する。添加量が0.01重量%未満では効果がなく、0.20重量%を超えると導電率を低下させる。
[銅合金条の成分組成]
本発明では、導電率が90%IACS以上であり、400℃にて1時間加熱後のビッカース硬さが100以上であることを特徴とする電気電子部品用Cu−Fe−P系銅合金板として、Fe;0.05〜0.15重量%、P;0.015〜0.050重量%およびZn;0.01〜0.20重量%を各々含有し、残部Cuおよび不可避的不純物からなる基本組成を有する。この基本組成に対し、後述するNi、Coを更に選択的に含有させても良い。
(Fe)
Feは銅の母相中に分散する析出物粒子を形成して強度、耐熱性及び導電率を向上させる効果があるが、その含有量が、0.05重量%未満では効果がなく、0.15重量%を超えると、強度及び耐熱性は向上するが、導電率は低下する。このため、Feの含有量は0.05〜0.15質量%の範囲内とすることが好ましい。
(P)
PはFeと共に銅の母相中に分散する析出物粒子を形成して強度及び耐熱性を向上させる効果があるが、その含有量が0.015重量%未満では効果がなく、0.050重量%を超えて含有すると、強度及び耐熱性は向上するが、導電率及び熱間加工性が低下する。このため、Pの含有量は0.015〜0.050重量%の範囲内とすることが好ましい。
(Zn)
Znは銅の母相中に固溶して半田耐熱剥離性を向上させる効果を有しており、0.01重量%未満では効果がなく、一方、0.20重量%を超えて含有しても、更なる効果を得ることが出来なくなると共に母層中への固溶量が多くなって導電率の低下をきたす。このため、Znの含有量は0.01〜0.20重量%の範囲内とすることが好ましい。
(Ni、Co)
Ni、Coは母相中に固溶して耐熱性及び導電性を向上させる効果を有しており、0.01重量%未満では効果がなく、0.20重量%を超えて含有すると導電率の低下をきたす。このため、Ni、Coを含有する場合には、これらの合計で0.01〜0.20質量%の範囲内とすることが好ましい。
本発明では、EBSD法にて測定した結晶粒内の全ピクセル間の平均方位差の結晶組織内の全結晶粒における平均値が2.5〜5.0°であり、Brass方位密度が11.0〜14.5%であり、Copper方位密度が13.0〜25.5%であることにより、導電率が90%IACS以上で、400℃にて1時間加熱した後のビッカース硬さが100以上となる。
nは結晶粒内のピクセル数を示す。
αijはピクセルiとjの方位差を示す。
結晶粒内の全ピクセル間の平均方位差の全結晶粒における平均値が2.5°未満、或いは、5.0°を超えると、導電率が90%IACS以上とならない。
Brass方位密度が11.0%未満、或いは、14.5%を超えると、引張り強度が590MPa以上とならない。
Copper方位密度が13.0未満、或いは、25.5%を超えると、400℃にて1時間加熱した後のビッカース硬さが100以上とならない。
次に、本発明の析出物粒子(Fe−P系化合物)を有するCu−Fe−P系銅合金の製造条件について以下に説明する。EBSD法にて測定した結晶粒内の全ピクセル間の平均方位差の全結晶粒における平均値が2.5〜5.0°であり、EBSD法にて測定したBrass方位密度が11.0〜14.5%であり、Copper方位密度が13.0〜25.5%とする為の冷間圧延、最終焼鈍、仕上げ冷間圧延の各条件を除き、通常の製造工程自体を大きく変えることは不要である。
焼鈍後の銅合金板に圧延率25〜90%で(中間)冷間圧延を施す。(中間)冷間圧延の圧延率が25%未満であると、Brass方位密度及びCopper方位密度が発達せず、90%を超えるとBrass方位密度及びCopper方位密度が増加し、引張強度は高くなるが耐熱性が低下する。
冷間圧延が施された銅合金板に400〜600℃にて60分以上での最終焼鈍を施す。
最終焼鈍の温度が400℃未満、或いは、時間が60分未満であると、結晶粒内の全ピクセル間の平均方位差の全結晶粒における平均値が2.5〜5.0°にならず、温度が600℃を超えると、再結晶が生じて析出物も粗大化し、導電率は高くなるが引張強度が低下する。時間が240分を超えると引張強度が低下する傾向があり、60〜240分とすることが好ましい。
最終焼鈍が施された銅合金板にバックテンションを45〜70N/mm2とし、フロントテンションを75〜100N/mm2として仕上げ冷間圧延を施す。圧延率は、15〜30%であることが好ましく、15%未満であるとBrass方位密度及びCopper方位密度が発達せず、30%を超えるとBrass方位密度及びCopper方位密度が増加し、引張強度は高くなるが耐熱性が低下する傾向がある。
仕上げ冷間圧延のテンションのうち、バックテンションが45N/mm2未満、或いは、フロントテンションが75N/mm2未満であると、Copper方位密度が発達せず、バックテンションが70N/mm2、或いは、フロントテンションが100N/mm2を超えるとCopper方位密度を増加させるが、銅合金薄板に亀裂或いは切断が生じる可能性がある。
表1に示す組成の銅合金(添加元素以外の成分はCu及び不可避不純物)を、電気炉により還元性雰囲気下で溶解し、厚さが20mm、幅が120mm、長さが200mmの鋳塊を作製した。これらの鋳塊を950℃にて1時間加熱した後、圧延率60%にて熱間圧延を行って厚さ8mmに仕上げ、その表面をフライスで板厚7mmになるまで面削した。次に粗冷間圧延を行った後、750℃で10秒間の焼鈍を行って、厚さ1.0mmの板材に仕上げた。次にこれらの銅合金板を表1に示す条件で(中間)冷間圧延と最終焼鈍を行い、更に、表1に示すテンションと圧延率を負荷しながら仕上げ冷間圧延を行って、厚さ0.076〜0.68mmの銅合金薄板を作製した。
EBSD法による結晶粒内の全ピクセル間の平均方位差の全結晶粒における平均値の測定は、試料の測定領域を通常、六角形等の領域に区切り、区切られた各領域について、試料表面に入射させた電子線の反射電子から菊地パターンを得て、電子線を試料表面に2次元で走査させ、ステップサイズ1.0μmにて、測定面積範囲内の全ピクセルの方位を測定し、隣接するピクセル間の方位差が15°以上である境界を結晶粒界とみなし、結晶粒界で囲まれた個々の結晶粒の全てにについて、結晶粒内の全ピクセル間の方位差の平均値である平均方位差(GOS:Grain Orientation Spread)を(1)式にて計算し、当該測定領域内の全ての結晶粒における値の平均値を全結晶粒における平均方位差の平均値とした。なお、2ピクセル以上が連結しているものを結晶粒とした
nは結晶粒内のピクセル数を示す。
αijはピクセルiとjの方位差を示す。
EBSD法によるCopper方位密度の測定は、試料の測定領域を通常、六角形等の領域に区切り、区切られた各領域について、試料表面に入射させた電子線の反射電子から菊地パターンを得て、電子線を試料表面に2次元で走査させ、ステップサイズ1.0μmにて、測定面積範囲内の全ピクセルの方位を測定し、隣接するピクセル間の方位差が15°以上である境界を結晶粒界とみなして、試料表面の結晶粒の分布を求めた。そして、各結晶粒が、対象とするCopper方位(理想方位から15°以内)か否かを判定し、測定領域におけるCopper方位密度(結晶方位の面積率)を求めた。
導電率は、ミーリングにより、幅10mm×長さ300mmの短冊状の試験片を加工し、ダブルブリッジ式抵抗測定装置により電気抵抗を測定して、平均断面積法により算出した。
ビッカース硬さは、得られた各試料から10×10mmの試験片を切出し、加熱炉にて400℃で1時間保持後に、松沢精機社製のマイクロビッカース硬度計(商品名「微小硬度計」)を用いて0.5kgの荷重を加えて4箇所硬さ測定を行い、硬さはそれらの平均値とした。
これらの得られた結果を表2に示す。
2 銅合金板
3 アンコイラー
4 ワークロール
5 リコイラー
B バックテンション
F フロントテンション
Claims (3)
- Fe;0.05〜0.15重量%、P;0.015〜0.050重量%およびZn;0.01〜0.20重量%を各々含有し、残部Cuおよび不可避的不純物からなる組成を有し、EBSD法にて測定した結晶粒内の全ピクセル間の平均方位差の結晶組織内の全結晶粒における平均値が2.5〜5.0°であり、EBSD法にて測定したBrass方位密度が11.0〜14.5%であり、Copper方位密度が13.0〜25.5%であり、導電率が90%IACS以上であり、400℃にて1時間加熱した後のビッカース硬さが100以上であることを特徴とする電気電子部品用銅合金板。
- Ni、Coからなる元素のうち少なくとも一種を0.01〜0.20重量%含有することを特徴とする請求項1に記載の電気電子部品用銅合金板。
- 請求項1又は2に記載の銅合金板の製造方法であって、溶解鋳造、熱間圧延、粗圧延、焼鈍、冷間圧延、最終焼鈍、仕上げ冷間圧延をこの順で含む工程で銅合金を製造するに際して、前記冷間圧延の圧延率を25〜90%にて実施し、前記最終焼鈍を400〜600℃にて60分間以上実施し、前記仕上げ冷間圧延を銅合金板に負荷するバックテンションを45〜70N/mm2とし、フロントテンションを75〜100N/mm2として実施することを特徴とする電子機器用銅合金板の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010121906A JP5067817B2 (ja) | 2010-05-27 | 2010-05-27 | 導電性及び耐熱性に優れたCu−Fe−P系銅合金板及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010121906A JP5067817B2 (ja) | 2010-05-27 | 2010-05-27 | 導電性及び耐熱性に優れたCu−Fe−P系銅合金板及びその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011246772A JP2011246772A (ja) | 2011-12-08 |
JP5067817B2 true JP5067817B2 (ja) | 2012-11-07 |
Family
ID=45412399
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010121906A Active JP5067817B2 (ja) | 2010-05-27 | 2010-05-27 | 導電性及び耐熱性に優れたCu−Fe−P系銅合金板及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5067817B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5623309B2 (ja) * | 2011-02-24 | 2014-11-12 | 三菱伸銅株式会社 | プレス加工性に優れた異形断面銅合金板およびその製造方法 |
JP5700834B2 (ja) * | 2011-12-09 | 2015-04-15 | 株式会社神戸製鋼所 | 酸化膜密着性に優れた高強度銅合金板 |
JP6226511B2 (ja) * | 2012-02-14 | 2017-11-08 | Jx金属株式会社 | 放熱性及び繰り返し曲げ加工性に優れた銅合金板 |
JP5908796B2 (ja) * | 2012-06-05 | 2016-04-26 | 三菱伸銅株式会社 | 機械的な成形性に優れたCu−Mg−P系銅合金板及びその製造方法 |
CN103366857B (zh) * | 2013-07-12 | 2015-07-08 | 深圳市雨新电线电缆有限公司 | 耐弯折性强的铜铁镍合金电缆 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3962751B2 (ja) * | 2004-08-17 | 2007-08-22 | 株式会社神戸製鋼所 | 曲げ加工性を備えた電気電子部品用銅合金板 |
CN101180412B (zh) * | 2005-07-07 | 2010-05-19 | 株式会社神户制钢所 | 具备高强度和优异的弯曲加工性的铜合金及铜合金板的制造方法 |
JP4157899B2 (ja) * | 2006-11-17 | 2008-10-01 | 株式会社神戸製鋼所 | 曲げ加工性に優れた高強度銅合金板 |
JP4210703B1 (ja) * | 2007-09-07 | 2009-01-21 | 株式会社神戸製鋼所 | 耐応力緩和特性と曲げ加工性とに優れた銅合金板 |
JP2009185375A (ja) * | 2008-02-08 | 2009-08-20 | Mitsui Mining & Smelting Co Ltd | 回復現象を利用して強化した析出硬化型銅合金条 |
-
2010
- 2010-05-27 JP JP2010121906A patent/JP5067817B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2011246772A (ja) | 2011-12-08 |
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Legal Events
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120730 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150824 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5067817 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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