JP5059767B2 - 高ダイナミックレンジ感度センサ素子またはアレイのためのシステムおよび方法 - Google Patents
高ダイナミックレンジ感度センサ素子またはアレイのためのシステムおよび方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5059767B2 JP5059767B2 JP2008532377A JP2008532377A JP5059767B2 JP 5059767 B2 JP5059767 B2 JP 5059767B2 JP 2008532377 A JP2008532377 A JP 2008532377A JP 2008532377 A JP2008532377 A JP 2008532377A JP 5059767 B2 JP5059767 B2 JP 5059767B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- phase
- output
- frequency
- photosensitive element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 22
- 238000003491 array Methods 0.000 title 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 title 1
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 33
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 claims description 14
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 13
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims 8
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 36
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 29
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 23
- 230000006870 function Effects 0.000 description 22
- 230000008859 change Effects 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 8
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 8
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 description 7
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 6
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 5
- 238000013139 quantization Methods 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009795 derivation Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000007620 mathematical function Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 238000005375 photometry Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 1
- 238000009738 saturating Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/70—Circuitry for compensating brightness variation in the scene
- H04N23/76—Circuitry for compensating brightness variation in the scene by influencing the image signals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/12—Analogue/digital converters
- H03M1/64—Analogue/digital converters with intermediate conversion to phase of sinusoidal or similar periodical signals
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/70—Circuitry for compensating brightness variation in the scene
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/70—Circuitry for compensating brightness variation in the scene
- H04N23/71—Circuitry for evaluating the brightness variation
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/50—Control of the SSIS exposure
- H04N25/51—Control of the gain
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/50—Control of the SSIS exposure
- H04N25/57—Control of the dynamic range
- H04N25/571—Control of the dynamic range involving a non-linear response
- H04N25/575—Control of the dynamic range involving a non-linear response with a response composed of multiple slopes
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/71—Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
- H04N25/75—Circuitry for providing, modifying or processing image signals from the pixel array
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N3/00—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages
- H04N3/10—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical
- H04N3/14—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical by means of electrically scanned solid-state devices
- H04N3/15—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical by means of electrically scanned solid-state devices for picture signal generation
- H04N3/155—Control of the image-sensor operation, e.g. image processing within the image-sensor
Description
この発明は電子画像化の分野に一般的に関し、より特定的には、測光を用いた改良された撮像および記録のための方法および装置に関する。
写真は、光の作用によって画像を作り出すプロセスである。光とは、人間の目に見える周波数範囲の電磁放射について一般的に用いられる用語である。被写体から反射または発せられた光のパターンは、時間設定された露光を通して画像センサによって記録される。画像センサは、写真フィルムなどの化学的性質のもの、またはデジタルスチルおよびビデオカメラが用いるCCDおよびCMOS画像センサなどの固体の性質のものであり得る。
チ1050が開き、キャパシタ1040両端の電圧が信号源1000から発する入力信号に応答して変化し始める。積分プロセスの終わりに、スイッチ1030が閉じて、積分器出力1060であるVOUTがサンプリングされる。図3は例示的な図である。同一機能を有する他の同様の積分器の実現例が当業者には周知である。
ドの歪みを回避したであろう。
この発明の1つの局面に従うと、ピクセル構造から高ダイナミックレンジ読出信号を得るための方法は、応答に関連する位相情報を用いて、入射する電磁放射に対する感光素子の応答の積分値を生成するステップを含む。
この発明の1つの局面に従うと、位相領域積分技術を用いて高強度および低強度画像を正確に撮像する高ダイナミックレンジ対応センサ素子またはアレイが提供される。この発明のセンサ素子は先行技術の固体ピクセル構造が呈するダイナミックレンジ特性によって限定されないので、電磁放射の全範囲を捕捉して高品質の出力画像を提供することができる。
拡張されたダイナミックレンジは、電磁放射強度の全範囲にわたってピクセル応答を有し、衝突する放射に対する応答を可能にするのに十分である。その結果、センサ素子は、撮像すべき画像の明るい部分の飽和の影響を回避しつつ、最も暗い部分の十分な電荷を捕捉することができる。純粋な効果としては、センサに当たる電磁エネルギの相対強度に関わらず、撮像すべき画像を忠実に再生できることである。
式中、積分範囲は持続時間ΔTを超える。
Δθ=∫(fnom+fgain・Sin)dt=∫fnomdt+∫fgain・Sindt
=K+fgain・∫Sindt
式中、項Kは一定値fnomとΔT(積分時間)との関数であり、したがって周知である。
Δθ=fgain・∫Sindt
である。
fnom=0である特別な場合はK=0であり、∫Sindt=Δθ/fgainである。
fgain・∫Sindt=Δθ−K
である。
弦波、三角波、鋸波および方形波発振器の出力波形を図示する。すべての場合、示されるピーク電圧範囲は1ボルトである。
式中、fdelta=fgain・Sin である。
てしか求めることができない。したがって、曖昧さを解決するためには、VCO出力の変化する周期の数または周期の有効な端数をカウントする付加的な関数を用いる。
器880によって加算される。ステップ156で、所望により、位相領域積分の結果を時間領域積分結果に変えてもよい。撮像プロセスの必要なステップではないことを示すため、ステップ156は破線で示される。
Claims (11)
- ピクセル構造から高ダイナミックレンジ読出信号を得るための方法であって、
所定時間期間の間、感光素子を電磁放射に晒すステップと、
電磁放射に応答して前記感光素子で生成される信号を周波数信号に変換するステップと、
所定単位時間に関して位相信号を得るよう前記周波数信号を積分するステップと、
前記高ダイナミックレンジ読出信号を得るよう、前記所定時間期間にわたって前記位相信号によって横断される期間の和を積算し、前記位相信号と該位相信号によって横断される期間の前記和とを足し合わせるステップと
を有し、
前記積分するステップは、前記所定単位時間の始まり及び終わりに前記周波数信号をサンプリングし、そのようにしてサンプリングされた前記周波数信号に関連する位相を同定し、該位相を減算するステップを有し、
前記所定単位時間はサンプリング期間であり、前記所定時間期間は前記サンプリング期間の整数倍である、方法。 - 前記感光素子で生成される前記信号は、前記感光素子に結合されている電圧制御発振器によって前記周波数信号に変換され、
前記電圧制御発振器は、前記感光素子で生成される前記信号を受け取り、該信号に従って周波数において変化する出力波形を供給する、請求項1に記載の方法。 - 前記電磁放射の強度に従って前記電圧制御発振器の周波数を調節するステップをさらに有する、請求項2に記載の方法。
- 電磁放射に応答して信号を生成する感光素子と、
前記感光素子に結合される位相積分器と
を有し、
前記位相積分器は、前記感光素子で生成される前記信号を周波数信号に変換し、所定単位時間に関して位相信号を得るよう前記周波数信号を積分し、所定時間期間にわたって前記位相信号によって横断される期間の和を積算し、前記位相信号と該位相信号によって横断される期間の前記和とを足し合わせ、
前記位相積分器は、前記所定単位時間の始まり及び終わりに前記周波数信号をサンプリングし、そのようにしてサンプリングされた前記周波数信号に関連する位相を同定し、該位相を減算することで、前記周波数信号を積分し、
前記所定単位時間はサンプリング期間であり、前記所定時間期間は前記サンプリング期間の整数倍である、ピクセル構造。 - 前記位相積分器は、前記感光素子で生成される前記信号を前記周波数信号に変換する発振器をさらに有し、
前記発振器は、前記感光素子で生成される前記信号を受け取り、該信号に従って周波数において変化する出力波形を供給する、請求項4に記載のピクセル構造。 - 前記発振器は、入力信号の強度に従って前記発振器の周波数を調節するための入力を有する、請求項5に記載のピクセル構造。
- 前記発振器は電圧制御発振器である、請求項5に記載のピクセル構造。
- 前記発振器は電流制御発振器である、請求項5に記載のピクセル構造。
- 前記感光素子からの弱い入力信号に応答して大きな出力を発生するように適合される、請求項4に記載のピクセル構造。
- 前記感光素子からの前記信号が大きい場合に飽和を回避するように適合される、請求項4に記載のピクセル構造。
- 撮像する方法であって、
所定の露出期間の間感光素子を電磁放射に晒してセンサ信号を生成するステップと、
発振器により前記センサ信号を周波数信号に変換するステップと、
所定単位時間に関して位相信号を得るよう前記周波数信号を積分するステップと、
前記所定の露出期間にわたって前記位相信号によって横断される期間の和を積算し、前記位相信号と該位相信号によって横断される期間の前記和とを足し合わせるステップと
を有し、
前記積分するステップは、前記所定単位時間の始まり及び終わりに前記周波数信号をサンプリングし、そのようにしてサンプリングされた前記周波数信号に関連する位相を同定し、該位相を減算するステップを有し、
前記所定単位時間はサンプリング期間であり、前記所定時間期間は前記サンプリング期間の整数倍である、方法。
Applications Claiming Priority (9)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US71930505P | 2005-09-21 | 2005-09-21 | |
US71930605P | 2005-09-21 | 2005-09-21 | |
US71930405P | 2005-09-21 | 2005-09-21 | |
US60/719,306 | 2005-09-21 | ||
US60/719,304 | 2005-09-21 | ||
US60/719,305 | 2005-09-21 | ||
US72789705P | 2005-10-18 | 2005-10-18 | |
US60/727,897 | 2005-10-18 | ||
PCT/US2006/036794 WO2007035861A2 (en) | 2005-09-21 | 2006-09-21 | System and method for a high dynamic range sensitive sensor element or array |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009509475A JP2009509475A (ja) | 2009-03-05 |
JP2009509475A5 JP2009509475A5 (ja) | 2010-02-04 |
JP5059767B2 true JP5059767B2 (ja) | 2012-10-31 |
Family
ID=37889530
Family Applications (4)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008532372A Active JP5242399B2 (ja) | 2005-09-21 | 2006-09-21 | ゲインを制御した高ダイナミックレンジ感度センサ素子またはアレイのためのシステムおよび方法 |
JP2008532376A Expired - Fee Related JP4699524B2 (ja) | 2005-09-21 | 2006-09-21 | 測光およびリアルタイムのレポート能力を有する画像センサ素子またはアレイのためのシステムおよび方法 |
JP2008532373A Expired - Fee Related JP4537483B2 (ja) | 2005-09-21 | 2006-09-21 | 高分解能および広ダイナミックレンジ積分器 |
JP2008532377A Expired - Fee Related JP5059767B2 (ja) | 2005-09-21 | 2006-09-21 | 高ダイナミックレンジ感度センサ素子またはアレイのためのシステムおよび方法 |
Family Applications Before (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008532372A Active JP5242399B2 (ja) | 2005-09-21 | 2006-09-21 | ゲインを制御した高ダイナミックレンジ感度センサ素子またはアレイのためのシステムおよび方法 |
JP2008532376A Expired - Fee Related JP4699524B2 (ja) | 2005-09-21 | 2006-09-21 | 測光およびリアルタイムのレポート能力を有する画像センサ素子またはアレイのためのシステムおよび方法 |
JP2008532373A Expired - Fee Related JP4537483B2 (ja) | 2005-09-21 | 2006-09-21 | 高分解能および広ダイナミックレンジ積分器 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (5) | US7532145B2 (ja) |
EP (4) | EP1938060A4 (ja) |
JP (4) | JP5242399B2 (ja) |
KR (4) | KR101003054B1 (ja) |
WO (4) | WO2007035858A2 (ja) |
Families Citing this family (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7532145B2 (en) * | 2005-09-21 | 2009-05-12 | Rjs Technologies Inc. | High resolution and wide dynamic range integrator |
DE102007036973A1 (de) | 2007-02-24 | 2008-09-04 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Pixelzelle, Verfahren zum Betreiben einer Pixelzelle, Verfahren zum Bestimmen einer Position eines Maximums einer Hüllkurve eines analogen amplituden-modulierten Signals, Vorrichtung zum Bestimmen einer Ladungsmenge, Vorrichtung und Verfahren zum Bestimmen einer Ladungsmenge auf einem kapazitiven Element, Vorrichtung und Verfahren und Setzen eines Schaltungsknotens auf eine vorbestimmte Spannung, Vorrichtung und Verfahren zum ladungsbasierten analog-/digital-Wandeln und Vorrichtung und Verfahren zur ladungsbasierten Signalverarbeitung |
JP5461094B2 (ja) * | 2008-08-08 | 2014-04-02 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 光電変換装置、及び当該光電変換装置を具備する電子機器 |
WO2011086829A1 (en) * | 2010-01-15 | 2011-07-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and electronic device |
KR101625272B1 (ko) * | 2011-01-09 | 2016-05-27 | 엠자 비주얼 센스 리미티드. | 장면 해석을 위한 시간적 분석 능력을 갖는 픽셀 설계 방법 |
US10197501B2 (en) | 2011-12-12 | 2019-02-05 | Kla-Tencor Corporation | Electron-bombarded charge-coupled device and inspection systems using EBCCD detectors |
WO2013123133A1 (en) * | 2012-02-14 | 2013-08-22 | Gentex Corporation | High dynamic range imager system |
JP6041500B2 (ja) * | 2012-03-01 | 2016-12-07 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、撮像システム、撮像装置の駆動方法、撮像システムの駆動方法 |
US9210304B2 (en) | 2012-03-16 | 2015-12-08 | Empire Technology Development Llc | Low light adaptive imaging device |
KR101895415B1 (ko) | 2012-03-27 | 2018-09-06 | 삼성전자주식회사 | 아날로그-디지털 변환 회로와 이를 포함하는 적산 회로 |
US9496425B2 (en) | 2012-04-10 | 2016-11-15 | Kla-Tencor Corporation | Back-illuminated sensor with boron layer |
US9601299B2 (en) | 2012-08-03 | 2017-03-21 | Kla-Tencor Corporation | Photocathode including silicon substrate with boron layer |
US9426400B2 (en) | 2012-12-10 | 2016-08-23 | Kla-Tencor Corporation | Method and apparatus for high speed acquisition of moving images using pulsed illumination |
US9478402B2 (en) | 2013-04-01 | 2016-10-25 | Kla-Tencor Corporation | Photomultiplier tube, image sensor, and an inspection system using a PMT or image sensor |
US9347890B2 (en) | 2013-12-19 | 2016-05-24 | Kla-Tencor Corporation | Low-noise sensor and an inspection system using a low-noise sensor |
US9748294B2 (en) | 2014-01-10 | 2017-08-29 | Hamamatsu Photonics K.K. | Anti-reflection layer for back-illuminated sensor |
US9410901B2 (en) | 2014-03-17 | 2016-08-09 | Kla-Tencor Corporation | Image sensor, an inspection system and a method of inspecting an article |
US9767986B2 (en) | 2014-08-29 | 2017-09-19 | Kla-Tencor Corporation | Scanning electron microscope and methods of inspecting and reviewing samples |
US9860466B2 (en) | 2015-05-14 | 2018-01-02 | Kla-Tencor Corporation | Sensor with electrically controllable aperture for inspection and metrology systems |
US10748730B2 (en) | 2015-05-21 | 2020-08-18 | Kla-Tencor Corporation | Photocathode including field emitter array on a silicon substrate with boron layer |
US10462391B2 (en) | 2015-08-14 | 2019-10-29 | Kla-Tencor Corporation | Dark-field inspection using a low-noise sensor |
US10313622B2 (en) | 2016-04-06 | 2019-06-04 | Kla-Tencor Corporation | Dual-column-parallel CCD sensor and inspection systems using a sensor |
US10778925B2 (en) | 2016-04-06 | 2020-09-15 | Kla-Tencor Corporation | Multiple column per channel CCD sensor architecture for inspection and metrology |
TWI611282B (zh) * | 2017-01-03 | 2018-01-11 | 友達光電股份有限公司 | 電源供應電路及電源供應方法 |
US11114489B2 (en) | 2018-06-18 | 2021-09-07 | Kla-Tencor Corporation | Back-illuminated sensor and a method of manufacturing a sensor |
US10943760B2 (en) | 2018-10-12 | 2021-03-09 | Kla Corporation | Electron gun and electron microscope |
US11114491B2 (en) | 2018-12-12 | 2021-09-07 | Kla Corporation | Back-illuminated sensor and a method of manufacturing a sensor |
US11848350B2 (en) | 2020-04-08 | 2023-12-19 | Kla Corporation | Back-illuminated sensor and a method of manufacturing a sensor using a silicon on insulator wafer |
CN117490838B (zh) * | 2024-01-03 | 2024-03-19 | 成都善思微科技有限公司 | 一种高可靠性的平板探测器数据采集方法、系统及计算机 |
Family Cites Families (67)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US682145A (en) * | 1901-04-23 | 1901-09-03 | William J Jones | Apparatus for carbonating liquids. |
US4352210A (en) * | 1980-09-12 | 1982-09-28 | General Electric Company | Linear mixer with reduced spurious responses |
JPS5795771A (en) * | 1980-12-05 | 1982-06-14 | Fuji Photo Film Co Ltd | Solid-state image pickup device |
US4419692A (en) * | 1981-12-31 | 1983-12-06 | Texas Medical Instruments, Inc. | High speed infrared imaging system |
US4629879A (en) * | 1984-06-11 | 1986-12-16 | Eastman Kodak Company | Light beam intensity controlling apparatus |
JPS6313520A (ja) * | 1986-07-04 | 1988-01-20 | Sony Corp | Ad変換回路 |
US4825144A (en) * | 1987-11-10 | 1989-04-25 | Motorola, Inc. | Dual channel current mode switching regulator |
JP2720478B2 (ja) * | 1988-10-18 | 1998-03-04 | 株式会社ニコン | 縦型オーバーフロードレインを備える固体撮像素子を用いた測光装置 |
US5416616A (en) * | 1990-04-06 | 1995-05-16 | University Of Southern California | Incoherent/coherent readout of double angularly multiplexed volume holographic optical elements |
KR100396203B1 (ko) * | 1993-06-17 | 2003-12-31 | 소니 가부시끼 가이샤 | 노광장치및방법,그노광장치를가지는비디오카메라 |
US5461426A (en) * | 1993-08-20 | 1995-10-24 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus for processing modified NTSC television signals, with digital signals buried therewithin |
KR0168451B1 (ko) * | 1994-03-31 | 1999-01-15 | 다까노 야스아끼 | 컬러 고체 촬상 소자 |
DE4423214C2 (de) * | 1994-07-01 | 1998-02-12 | Harris Corp | Multinorm-Dekoder für Videosignale und Verfahren zum Dekodieren von Videosignalen |
JPH1022489A (ja) * | 1996-07-02 | 1998-01-23 | Fuji Xerox Co Ltd | 固体撮像素子 |
ATE216823T1 (de) * | 1996-09-27 | 2002-05-15 | Markus Boehm | Lokalautoadaptiver optischer sensor |
US5794922A (en) * | 1996-12-13 | 1998-08-18 | Meglino; Don A. | Fence slats with locking portions |
US5796392A (en) * | 1997-02-24 | 1998-08-18 | Paradise Electronics, Inc. | Method and apparatus for clock recovery in a digital display unit |
JP3697678B2 (ja) * | 1997-05-09 | 2005-09-21 | ローム株式会社 | V/f変換回路 |
EP1031087A1 (en) * | 1997-07-18 | 2000-08-30 | Net Exchange, Inc. | Apparatus and method for effecting correspondent-centric electronic mail |
US6229133B1 (en) * | 1997-10-27 | 2001-05-08 | Texas Instruments Incorporated | Image sensing device with delayed phase frequency modulation |
US6452633B1 (en) * | 1998-02-26 | 2002-09-17 | Foveon, Inc. | Exposure control in electronic cameras by detecting overflow from active pixels |
US6529241B1 (en) * | 1998-02-27 | 2003-03-04 | Intel Corporation | Photodetecting device supporting saturation detection and electronic shutter |
US20020176009A1 (en) * | 1998-05-08 | 2002-11-28 | Johnson Sandra Marie | Image processor circuits, systems, and methods |
US6188056B1 (en) * | 1998-06-24 | 2001-02-13 | Stmicroelectronics, Inc. | Solid state optical imaging pixel with resistive load |
US6396561B1 (en) * | 1998-11-10 | 2002-05-28 | Maniabarco N.V. | Method and device for exposing both sides of a sheet |
US6249807B1 (en) * | 1998-11-17 | 2001-06-19 | Kana Communications, Inc. | Method and apparatus for performing enterprise email management |
US6757018B1 (en) * | 1998-12-18 | 2004-06-29 | Agilent Technologies, Inc. | CMOS image sensor with pixel level gain control |
US6654787B1 (en) * | 1998-12-31 | 2003-11-25 | Brightmail, Incorporated | Method and apparatus for filtering e-mail |
US6777663B2 (en) * | 1999-05-07 | 2004-08-17 | Intel Corporation | Enhanced Photocell with sample and hold amplifier |
US7123301B1 (en) * | 1999-06-11 | 2006-10-17 | Analog Devices, Inc. | Pixel gain amplifier |
US6400810B1 (en) * | 1999-07-20 | 2002-06-04 | Ameritech Corporation | Method and system for selective notification of E-mail messages |
JP3903361B2 (ja) * | 1999-08-13 | 2007-04-11 | 日本放送協会 | 固体撮像装置 |
US7133074B1 (en) * | 1999-09-28 | 2006-11-07 | Zoran Corporation | Image sensor circuits including sampling circuits used therein for performing correlated double sampling |
JP4550957B2 (ja) * | 1999-11-15 | 2010-09-22 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光検出装置 |
EP1113254A1 (en) | 1999-12-30 | 2001-07-04 | STMicroelectronics S.r.l. | A circuit and a method for extending the output voltage range of an integrator circuit |
US6438215B1 (en) * | 2000-02-29 | 2002-08-20 | Ameritech Corporation | Method and system for filter based message processing in a unified messaging system |
JP4011818B2 (ja) * | 2000-02-29 | 2007-11-21 | キヤノン株式会社 | 半導体固体撮像装置 |
US6882367B1 (en) * | 2000-02-29 | 2005-04-19 | Foveon, Inc. | High-sensitivity storage pixel sensor having auto-exposure detection |
JP3753925B2 (ja) * | 2000-05-12 | 2006-03-08 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体集積回路 |
US7032023B1 (en) * | 2000-05-16 | 2006-04-18 | America Online, Inc. | Throttling electronic communications from one or more senders |
US6654594B1 (en) * | 2000-05-30 | 2003-11-25 | Motorola, Inc. | Digitized automatic gain control system and methods for a controlled gain receiver |
WO2002005429A2 (en) * | 2000-07-10 | 2002-01-17 | Silicon Laboratories, Inc. | Digital phase detector circuit and method therefor |
EP1731087A3 (en) * | 2000-07-14 | 2008-08-06 | Novadaq Technologies Inc. | Compact fluorescent endoscopy video system |
JP3840050B2 (ja) * | 2000-11-01 | 2006-11-01 | キヤノン株式会社 | 電磁波変換装置 |
US6580496B2 (en) * | 2000-11-09 | 2003-06-17 | Canesta, Inc. | Systems for CMOS-compatible three-dimensional image sensing using quantum efficiency modulation |
US20020113887A1 (en) * | 2001-02-16 | 2002-08-22 | Iimura Russell M. | CMOS image sensor with extended dynamic range |
JP3852324B2 (ja) * | 2001-02-20 | 2006-11-29 | ティアック株式会社 | 信号処理回路及び信号処理方法 |
US7176962B2 (en) * | 2001-03-01 | 2007-02-13 | Nikon Corporation | Digital camera and digital processing system for correcting motion blur using spatial frequency |
US6678039B2 (en) * | 2001-05-23 | 2004-01-13 | Canesta, Inc. | Method and system to enhance dynamic range conversion useable with CMOS three-dimensional imaging |
US6867693B1 (en) * | 2001-07-25 | 2005-03-15 | Lon B. Radin | Spatial position determination system |
US7176976B2 (en) * | 2001-08-30 | 2007-02-13 | Lightsurf Technologies, Inc. | Autoexposure methodology in a digital camera |
US6849841B2 (en) * | 2001-09-28 | 2005-02-01 | Raytheon Company | System and method for effecting high-power beam control with outgoing wavefront correction utilizing holographic sampling at primary mirror, phase conjugation, and adaptive optics in low power beam path |
US6809358B2 (en) * | 2002-02-05 | 2004-10-26 | E-Phocus, Inc. | Photoconductor on active pixel image sensor |
JP4086514B2 (ja) * | 2002-02-13 | 2008-05-14 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置及び撮像装置 |
US20030184673A1 (en) | 2002-04-02 | 2003-10-02 | Michael Skow | Automatic exposure control for digital imaging |
US7031409B2 (en) * | 2002-08-23 | 2006-04-18 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Fully digital AGC circuit with wide dynamic range and method of operation |
US7277129B1 (en) * | 2002-10-31 | 2007-10-02 | Sensata Technologies, Inc. | Pixel design including in-pixel correlated double sampling circuit |
KR100752283B1 (ko) * | 2002-11-07 | 2007-08-29 | 롬 가부시키가이샤 | 에리어 이미지 센서 |
KR100920353B1 (ko) * | 2003-03-14 | 2009-10-07 | 삼성전자주식회사 | 표시 장치용 광원의 구동 장치 |
US20050057670A1 (en) * | 2003-04-14 | 2005-03-17 | Tull Damon L. | Method and device for extracting and utilizing additional scene and image formation data for digital image and video processing |
US20050030393A1 (en) * | 2003-05-07 | 2005-02-10 | Tull Damon L. | Method and device for sensor level image distortion abatement |
JP2005244311A (ja) * | 2004-02-24 | 2005-09-08 | Canon Inc | 撮像装置、撮像装置の制御方法、及び制御プログラム |
US6972995B1 (en) * | 2004-04-09 | 2005-12-06 | Eastman Kodak Company | Imaging cell with a non-volatile memory that provides a long integration period and method of operating the imaging cell |
JP4664017B2 (ja) * | 2004-07-12 | 2011-04-06 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光半導体集積回路装置 |
US7489351B2 (en) * | 2005-01-21 | 2009-02-10 | Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. | Dynamic range extension for focal plane arrays |
US7560679B1 (en) * | 2005-05-10 | 2009-07-14 | Siimpel, Inc. | 3D camera |
US7532145B2 (en) * | 2005-09-21 | 2009-05-12 | Rjs Technologies Inc. | High resolution and wide dynamic range integrator |
-
2006
- 2006-09-21 US US11/533,859 patent/US7532145B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2006-09-21 WO PCT/US2006/036785 patent/WO2007035858A2/en active Application Filing
- 2006-09-21 EP EP20060815089 patent/EP1938060A4/en not_active Ceased
- 2006-09-21 WO PCT/US2006/036786 patent/WO2007044191A2/en active Application Filing
- 2006-09-21 EP EP06815082.0A patent/EP1935018B1/en not_active Not-in-force
- 2006-09-21 KR KR1020087009542A patent/KR101003054B1/ko active IP Right Grant
- 2006-09-21 US US11/533,866 patent/US7786422B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2006-09-21 KR KR1020087009554A patent/KR100972551B1/ko active IP Right Grant
- 2006-09-21 EP EP06836131A patent/EP1938584A4/en not_active Ceased
- 2006-09-21 JP JP2008532372A patent/JP5242399B2/ja active Active
- 2006-09-21 JP JP2008532376A patent/JP4699524B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2006-09-21 WO PCT/US2006/036793 patent/WO2007035860A2/en active Search and Examination
- 2006-09-21 KR KR1020087009532A patent/KR100970599B1/ko active IP Right Grant
- 2006-09-21 WO PCT/US2006/036794 patent/WO2007035861A2/en active Search and Examination
- 2006-09-21 JP JP2008532373A patent/JP4537483B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2006-09-21 EP EP06815090A patent/EP1938059A4/en not_active Ceased
- 2006-09-21 US US11/533,870 patent/US7782369B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2006-09-21 JP JP2008532377A patent/JP5059767B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2006-09-21 US US11/533,851 patent/US7800669B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2006-09-21 KR KR1020087009556A patent/KR101152859B1/ko active IP Right Grant
-
2010
- 2010-08-07 US US12/852,459 patent/US8735793B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5059767B2 (ja) | 高ダイナミックレンジ感度センサ素子またはアレイのためのシステムおよび方法 | |
JP5107442B2 (ja) | 高ダイナミックレンジ画像センサ検知アレイのためのシステム及び方法 | |
EP0804038B1 (en) | Solid-state image sensing device | |
US7605359B2 (en) | Light source frequency detection circuit for image sensor | |
JP4164790B2 (ja) | アクティブ・ピクセル・センサ・システムおよびアクティブ・ピクセル検知方法 | |
US7605355B2 (en) | System and method for a high dynamic range sensitive sensor element array | |
CN107205147B (zh) | 检测超过传感器饱和的量 | |
US8853611B2 (en) | System and method for a high dynamic range sensitive sensor element or array | |
CN101454901B (zh) | 具有增益控制的宽动态范围感光元件或阵列系统和方法 | |
RU2670419C1 (ru) | Способ управления чувствительностью телевизионной камеры на матрице ПЗС в условиях сложной освещённости и/или сложной яркости объектов | |
JP2006148828A (ja) | 撮像素子 | |
JPS6351590B2 (ja) | ||
JP4914568B2 (ja) | 受光装置 | |
JP2007006236A (ja) | ディジタルカメラ及びその制御方法 | |
JPH0662324A (ja) | ビデオカメラのアイリス制御方法とビデオカメラの電子アイリス制御回路 | |
JPS6097782A (ja) | ビデオカメラの自動焦点調整装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20091027 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091209 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20091209 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20100113 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100119 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100415 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100525 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100713 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20101109 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110308 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20110316 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20110624 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20120413 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20120419 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20120516 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20120521 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20120612 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120802 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150810 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5059767 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |