JP5029603B2 - カーボンナノチューブの製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は,カーボンナノチューブの製造方法に関し,特に,電子デバイス等に適した微細なカーボンナノチューブの直径と層数の均一化を実現できるカーボンナノチューブの製造方法に関する。
カーボンナノチューブ(Carbon Nanotube
: CNT)を用いた電子素子の研究が盛んに行われている。カーボンナノチューブは,炭素原子の六角形の網目構造のグラフェンシートを円筒状に丸めた構造を基本とする。カーボンナノチューブは,微細化されて単層カーボンナノチューブ(シングルウオールナノチューブ(Single-Walled
Carbon Nanotube:SWNT))や2層カーボンナノチューブ(ダブルウオールナノチューブ(Double-Walled Carbon Nanotube:DWNT))になると,その直径やカイラリティの違いから金属的電気特性または半導体的電気特性を有し,それぞれの電気特性を有するカーボンナノチューブは,電子デバイスへの適用が期待できる。未だに基礎的な研究段階ではあるが,カーボンナノチューブの電子デバイスへの適用例が種々報告されている。
例えば,特許文献1では,多層カーボンナノチューブに電気的に接続される電極の構造が提案されている。これによれば,電極を形成する直前にカーボンナノチューブを切削し,炭素原子と強い化学結合をする金属を切削したカーボンナノチューブ上に形成して電極を形成する。それにより,電極とカーボンナノチューブとの接触抵抗を低減して電子デバイスへの適用を試みている。
また,特許文献2では,2層カーボンナノチューブの金属性の内層をゲート電極にし,半導体性の外層をチャネルにした電界効果トランジスタが提案されている。また,特許文献2には先行技術として,2層のカーボンナノチューブの半導体性の内層をチャネル領域にし,金属性の外層をゲート電極とした電界効果トランジスタも開示されている。
上記の通りカーボンナノチューブを利用した電子デバイスへの応用が報告されているが,半導体的性質を有する単層または2層のカーボンナノチューブを再現性良く製造する方法は,未だ数える程度しか報告されていない。
たとえば,特許文献3では,シリコン基板表面に微細な突起を形成し,突起の先端のみに触媒金属を塗布し,それを利用して所望の直径のカーボンナノチューブを生成することが記載されている。
また,非特許文献1では,カーボンナノチューブの生成に必要な触媒金属にレーザー光を照射してガス化し,それをガス流により基板上に降り積もらせ,その基板表面に微粒子状の触媒金属を担持させることが開示されている。この方法によれば所望の径の触媒金属微粒子を生成することができ,それを利用してカーボンナノチューブを成長すれば,所望の直径または層数のカーボンナノチューブを製造することができる。
WO 02/063693A1 特開2004−171903号公報 特開2004−182537号公報 Chemical PhysicsLetter 382 (2003) 361
しかしながら,上記特許文献1による製造方法では,レジスト膜を利用したリソグラフィ技術により微細な触媒金属の微粒子を生成するものであり,極めて高精度の制御を必要とし量産技術には適していない。また,上記非特許文献1による製造方法では,触媒金属の微粒子を生成するために大規模な製造設備が必要であり,量産技術には不適切である。
そこで,本発明の目的は,所望の直径,所望の層数のカーボンナノチューブを再現性良く生成することができるカーボンナノチューブの製造方法を提供することにある。
上記の目的を達成するために,本発明の第1の側面によれば,所望形状のカーボンナノチューブの製造方法において,基板表面に微細な凹凸を形成する第1の工程と,前記凹凸を有する表面上に所定の膜厚の触媒金属層を形成する第2の工程と,
所定温度の熱処理を行って,当該触媒金属層を孤立した複数の微粒子にする第3の工程と,前記複数の微粒子を担持する基板を炭素含有ガス雰囲気中に置いて,当該炭素含有ガスを利用したCVD法により,前記触媒金属の微粒子上に前記カーボンナノチューブを成長させる第4の工程とを有する。
上記の第1の側面において,好ましい態様では,前記第1の工程で,前記基板上にアルミニウム層を形成し,当該アルミニウム層の表面に自然酸化膜を形成して前記微細な凹凸を形成する。その場合,前記第2の工程の触媒金属層が,少なくとも鉄,コバルト,ニッケルを含む遷移金属である。
上記の第1の側面において,好ましい態様では,前記第1の工程には,シリコン基板を前記基板として準備する工程を有し,当該シリコン基板の表面に前記微細な凹凸が形成され,前記第2の工程の触媒金属層が,ニッケルである。
上記の第1の側面において,好ましい態様では,前記第2の工程で前記触媒金属層の膜厚を第1の膜厚に制御して,前記第3の工程で生成される微粒子を第1の径に制御し,または,前記第2の工程で前記触媒金属層の膜厚を第1の膜厚より厚い第2の膜厚に制御して,前記第3の工程で生成される微粒子を第1の径より大きい第2の径に制御することを特徴とする。
上記の第1の側面において,好ましい態様では,前記第4の工程における炭素含有ガスは,少なくともメタン,アセチレン,ブタンを含む炭化水素,アルコール,一酸化炭素,二酸化炭素のいずれかの第1のガスと,水素ガスとを含み,当該第1のガスの量を第1の量に制御して単層のカーボンナノチューブを生成し,または,当該第1のガスの量を前記第1の量より多い第2の量に制御して2層のカーボンナノチューブを生成することを特徴とする。
上記の目的を達成するために,本発明の第2の側面によれば,所望形状のカーボンナノチューブの製造方法において,基板表面にアルミニウム層を形成し,当該アルミニウム層の表面に自然酸化膜を形成してその表面に微細な凹凸を形成する第1の工程と,前記凹凸を有する自然酸化膜表面上に0.1〜0.6nmの膜厚の触媒金属層を形成する第2の工程と,所定温度の熱処理を行って,当該触媒金属層を孤立した複数の微粒子にする第3の工程と,前記複数の微粒子を担持する基板を炭素含有ガス雰囲気中に置いて,当該炭素含有ガスを利用したCVD法により,前記触媒金属の微粒子上に前記カーボンナノチューブを成長させる第4の工程とを有する。
上記の目的を達成するために,本発明の第3の側面によれば,所望形状のカーボンナノチューブの製造方法において,基板表面に微細な凹凸を形成する第1の工程と,前記凹凸を有する表面上に所定の膜厚の触媒金属層を形成する第2の工程と,前記第1の工程後に前記基板表面上に,または前記第2の工程後に前記触媒金属層上に,所定の幅を有し且つ一方向に延びる溝であって,前記基板表面または触媒金属層を露出する溝を有する絶縁層を形成する第3の工程と,所定温度の熱処理を行って,当該触媒金属層を孤立した複数の微粒子にする第4の工程と,前記複数の微粒子を担持する基板を炭素含有ガス雰囲気中に置いて,当該炭素含有ガスを利用したCVD法により,前記溝内から前記絶縁層の表面に沿って前記触媒金属の微粒子上に前記カーボンナノチューブを成長させる第5の工程とを有する。
上記の発明によれば,所望の直径の触媒微粒子を作製でき、その微粒子を用いることで所望の直径,所望の層数のカーボンナノチューブを再現性良く成長することができる。
本実施の形態におけるカーボンナノチューブの製造工程を示す断面図である。 本実施の形態における触媒金属の微粒子の形成を説明する断面図である。 本実施の形態において成長したカーボンナノチューブのSEM像を示す図である。 本実施の形態において成長したカーボンナノチューブのSEM像を示す図である。 図4の3つのサンプルのカーボンナノチューブのTEM像と層数分布を示す図である。 アルミニウム層上の触媒金属の微粒子化とシリコン基板上の触媒金属の微粒子化とを示すSEM像の図である。 デバイスに利用可能なカーボンナノチューブの製造工程を示す断面図である。 図7により複数のカーボンナノチューブが生成された基板の斜視図である。
符号の説明
10:シリコン基板 12:アルミ二ウム層
14:自然酸化膜 16:触媒層
16P:触媒微粒子 CNT:カーボンナノチューブ
以下,図面にしたがって本発明の実施の形態について説明する。但し,本発明の技術的範囲はこれらの実施の形態に限定されず,特許請求の範囲に記載された事項とその均等物まで及ぶものである。
本実施の形態におけるカーボンナノチューブの製造方法では,表面に例えば数ナノメートルの径の凹凸を有する基板を準備し,その表面上に10分の数ナノメートルの触媒金属層を形成し,熱処理を行って触媒金属層を複数の微粒子にし,その微粒子化された触媒金属上にカーボンナノチューブを成長する。基板表面と触媒金属の濡れ性により,熱処理された触媒金属が微粒子化される。触媒金属層の膜厚を制御することで,凹凸により分離される微粒子の径を制御することができるので,制御された径の微粒子上に成長するカーボンナノチューブの直径も制御することができる。また,同じ直径でも成長ガスを制御することで,カーボンナノチューブの層数も制御することができ,単層カーボンナノチューブまたは2層カーボンナノチューブを再現性よく生成することができる。
[カーボンナノチューブの製造工程]
図1は,本実施の形態におけるカーボンナノチューブの製造工程を示す断面図である。図1の工程(a)にて,シリコン基板10の表面に5〜200nm,望ましくは約5nm,のアルミニウム層12をスパッタリング法または蒸着法により生成する。そして,アルミニウム層12が形成された基板を成長チャンバーから取り出して室温雰囲気中にさらすことで,図1の工程(b)に示されるように表面にアルミニウムの自然酸化膜14が形成される。自然酸化膜の形成は室温雰囲気にさらすことに限定されるわけではなく、チャンバー内への酸素の導入やチャンバー内で低圧化で一定時間維持するなどの方法も有効である。
次に,図1の工程(c)のように,表面にカーボンナノチューブ成長のための触媒,例えば,鉄,コバルト,ニッケルを含む遷移金属の層16を,例えば0.1〜0.6nmと薄くスパッタリング法で成長する。そして,図1の工程(d)に示すとおり,真空炉内(例えば1×10-3Pa)で,450〜650℃,望ましくは590℃の熱処理を行って,触媒金属層16を複数の微粒子16Pにする。触媒層の膜厚を0.4nmにすると,この微粒子の径は2nm前後に均一化される。この微粒子化の理由は,後述するとおり,アルミニウム層12の表面の自然酸化膜16の表面に微細な凹凸が周期的に形成されていて,熱処理により膜形状から微粒子化した微粒子が凝集することなく均一な径の微粒子になるものと考えられる。また、加熱温度を低く抑えることで、微粒子のさらなる凝集を防いでいる。アルミ二ウムと遷移金属膜を連続で成膜して、酸素が十分に存在する低圧化で加熱しても同様の結果が得られる。
そして,図1の工程(e)に示されるように,表面に複数の触媒金属の微粒子16Pを有する基板を,CVDチャンバー内に搬入し,水素(H2),炭化水素(好ましくはアセチレンC2H2),アルゴン(Ar)を混合した成長ガスによるCVD法で,触媒金属の微粒子上にカーボンナノチューブCNTを成長する。微粒子の径が均一化されているのに伴って,カーボンナノチューブの直径も均一化される。上記の成長ガスは,炭化水素に代えてアルコール,一酸化炭素,二酸化炭素であってもよい。
図2は,本実施の形態における触媒金属の微粒子の形成を説明する断面図である。断面図(a)は,図1の工程(b)が終了した状態であり,アルミニウム層12の表面に形成された自然酸化膜14の表面には,表面の酸化により微細な凹凸15が均一に形成される。
したがって,この表面に成長させる触媒金属の量(膜厚)を少なくすると,その後の熱処理により溶融された触媒金属はある程度は凝集するものの凹凸15のために凝集が阻害され,孤立した複数の微粒子16Pになる。図2の断面図(b)に示されるとおりである。例えば,触媒金属層の厚みを0.4nm程度にすると,生成される微粒子16Pの径W1は2nm程度に制御される。しかも,自然酸化膜14の表面には常に同様の凹凸が生じるため,径W1がそろった微粒子16Pを再現性良く生成することができる。
また,表面に成長させる触媒金属の量(膜厚)を多くすると,図2の断面図(c)に示されるとおり,近くの微粒子同士が凝集することが可能となり触媒金属は微粒子16Pになる。その径W2は,断面図(b)の径W1よりは大きくなる。さらに,触媒金属の量(膜厚)を多くすると,図2の断面図(d)に示されるとおり,さらに凝集がすすみ触媒金属は大きな微粒子16Pとなる。また,大きな微粒子とは凝集しない微粒子も生じ、もはや径の分布は一様ではなくなる。そして,さらに触媒金属の量(膜厚)を増やすと,微粒子16Pはもはや孤立化することができず,熱処理によってもグレイン状の構造を持った膜となる。
このように,周期的な凹凸を有する表面に形成する触媒金属の量(膜厚)を制御することで,熱処理後の微粒子の径を再現性よく制御できる。そこで,本実施の形態では,アルミニウム層の自然酸化膜表面に約0.4nmの触媒金属層を形成し,590℃の熱処理を行うことで,約4nmの径の触媒金属の微粒子を形成する。
図3は,アルミニウム層上に触媒金属を生成して熱処理した後に観察された走査型電子顕微鏡像(SEM像)を示す図である。表面に自然酸化膜が形成されたアルミニウム層(膜厚5nm)上に鉄をそれぞれ(a)0.2nm,(b)0.4nm,(c)1.0nm,(d)2.0nm堆積した後に,590℃で加熱した後に走査型電子顕微鏡像(SEM像)を撮影した。
図3(a),(b)では,細かい白点で認識できる鉄の微粒子が規則正しく生成されているのがわかる。また,図3(c),(d)では,より大きな鉄の微粒子が生成されており、微粒子の凝集により径の分布は均一ではなくまばらになっていることがわかる。従って、触媒金属の厚みは1nm以下、0.1−0.6nm程度が最適である。その後に観察して透過型電子顕微鏡像(TEM像)によれば,図3(b)の微粒子の径は,約2nmであることが認識された。また、それほど均一な径の分布を持つ微粒子を必要としない場合は、触媒金属の厚みが1nm程度でも微粒子を得るには有効である。
このように,堆積する触媒金属層の厚みを制御することで,熱処理後に形成される微粒子の径を再現性良く制御することができる。よって,径のそろった触媒金属粒子の形成を容易に行うことができるので,量産化に適している。
[カーボンナノチューブの製造条件]
図4は,本実施の形態において成長したカーボンナノチューブのSEM像を示す図である。このサンプルは,シリコン基板上に膜厚5nmのアルミニウム層と,その上に膜厚0.4nmの鉄の層を形成し,590℃で熱処理し,水素,アセチレン,アルゴンの成長ガスによるCVD法でカーボンナノチューブを成長している。3つのサンプル(a)(b)(c)はCVD法の成長ガスのガス分圧が次の通り異なっている。
サンプル(a):ガス分圧は,H2:C2H2/Ar=1995:5
サンプル(b):ガス分圧は,H2:C2H2/Ar=1950:50
サンプル(c):ガス分圧は,H2:C2H2/Ar=1800:200
いずれもC2H2:Arの比は1:9である。
なお,アセチレンC2H2によりカーボンが供給され,水素H2は還元性雰囲気にして酸化を防止するためであり,アルゴンArは搬送ガスとしての不活性ガスである。
図4のSEM像によれば,いずれも同じ径のカーボンナノチューブが密集して成長できたことが理解できる。そして,図4中のスケールに示されるとおり,同じ径の触媒金属粒子であっても,CVD成長ガスのアセチレンガスの量が少ないほど短いカーボンナノチューブが成長し,アセチレンガスの量が多いほど長いカーボンナノチューブが成長している。
図5は,図4の3つのサンプルのカーボンナノチューブのTEM像と層数分布を示す図である。図5の上側がカーボンナノチューブを示すTEM像(TEM像の概略図が上に示されている)を示し,下側が横軸に層の数(Shell number),縦軸に比率(%)を示す分布図が示される。サンプル(a)では,100%が単層のカーボンナノチューブとして成長している。カーボンナノチューブの直径W1は図示されるように,より細いナノチューブも観察されるものの平均的には約4nmである。また,サンプル(b)では,約半分が単層のカーボンナノチューブ,残りの半分が2層のカーボンナノチューブとして成長している。そして,カーボンナノチューブの直径W1は図示されるようにサンプル(a)とほぼ同じである。さらに,サンプル(c)では,ほとんど(約80%)が2層のカーボンナノチューブとして成長している。そして,カーボンナノチューブの直径は図示されるとおり,サンプル(a)(b)らとほぼ同じである。また、図には示していないが、多層カーボンナノチューブを同じ試料で成長した場合には径が約5nm程度の4層のカーボンナノチューブが成長した。その場合のガス分圧は,H2:C2H2/Ar=195:5であった。
このように,触媒金属の微粒子の径が約2nmとそろっている場合に,カーボンナノチューブの成長ガスの炭素含有ガス(即ち炭化水素ガス)の分圧比を制御することで,微粒子の径よりも大きいサイズとはなっているが、径の揃った単層のカーボンナノチューブと2層のカーボンナノチューブとを区別して成長させることができる。したがって,量産化に適したカーボンナノチューブの生成方法を提供できる。
上記の傾向は,触媒金属の膜厚をより薄く,例えば0.2nm程度に制御した場合にも同様に得られる。つまり,カーボンナノチューブのCVD成長ガスの炭素ガスの分圧比を下げれば1層に分圧比を上げれば2層に制御することができる。
[触媒金属の微粒子の表面]
上記の実施の形態では,シリコン基板上にアルミニウム層を形成し,その表面に形成される自然酸化膜の凹凸を触媒金属の微細化に利用した。しかし,アルミニウム層の自然酸化膜に限定されず,触媒金属との表面張力などの相性によって,様々な物質の表面の凹凸を利用することができる。
図6は,アルミニウム層上の触媒金属の微粒子化とシリコン基板上の触媒金属の微粒子化とを示すSEM像の図である。サンプル(a)は,シリコン基板表面に鉄を0.4nm堆積して熱処理した後の状態を示し,白点の微粒子は均一には形成されていない。シリコン表面上では熱処理により鉄は微粒子化するものの、アルミ二ウムの自然酸化膜のような微細な凹凸がないため微粒子同士が凝集し均一な径には揃わないことを示している。サンプル(b)は,シリコン基板表面にコバルトを0.4nm成長して熱処理した後の状態を示し,白点で示される微粒子は,ある程度均一に形成されている。ただし,その径はあまり微細ではない。そして,サンプル(c)は,アルミニウム層表面にコバルトを0.4nm成長して熱処理した後の状態を示し,白点で示される微粒子は,均一に且つ微細に形成されている。
さらに,図示しないが,ニッケルの場合は,アルミニウム層表面及びシリコン基板表面のいずれでも,均一な微細粒子になることが観察された。これは,シリコン基板に対するニッケルの表面張力が,鉄やコバルトと異なっていて,凝集しにくいからと考えられる。
以上のとおり,触媒金属の微粒子化には,様々が材料の表面凹凸を利用することができ,触媒金属の濡れ性に依存して適した材料の表面凹凸が適宜選択されることが望ましい。
[デバイスに利用可能なカーボンナノチューブの製造工程]
本実施の形態における触媒金属の微粒子化技術を利用することで,基板上に所望の直径で所望の層数のカーボンナノチューブを再現性よく成長することができる。そこで,以下に電子デバイスに利用可能なカーボンナノチューブの製造工程について説明する。
図7は,デバイスに利用可能なカーボンナノチューブの製造工程を示す断面図である。工程(a)では,シリコン基板10上に約5nmのアルミニウム層12が形成され,図示しない自然酸化膜がその表面に形成される。工程(b)では,アルミニウム層12上に約400μmのシリコン酸化膜20が形成され,公知のリソグラフィ技術により帯状の開口部(溝部)22が形成され,それをマスクにしてアルミニウム層12が一部エッチングにより除去される。
さらに,工程(c)に示されるとおり,シリコン酸化膜20上にレジスト層24を形成し開口部22より広い帯上の開口部26が形成され,それをマスクにしてシリコン酸化膜20が一部エッチングにより除去される。そして,工程(d)に示されるとおり,全面に鉄の触媒金属層16が形成される。これにより,開口部内のアルミニウム層12の表面に触媒金属層16が形成される。
そして,工程(e)に示されるとおり,表面のレジスト層24を除去することでレジスト層上の触媒金属層16もリフトオフし,その後約590℃の熱処理を行って,アルミニウム層16上の触媒金属層を微粒子16Pにする。これにより,一方向に延びる溝部26内に鉄の触媒金属微粒子16Pを均一に形成することができる。その後,基板をCVDチャンバー内に搬送して,前述の成長ガス雰囲気中でカーボンナノチューブを成長させると,図示されるように,触媒金属粒子16P上にカーボンナノチューブCNTが成長し,且つ,成長したカーボンナノチューブCNTはシリコン酸化膜20の表面側に折れ曲がって形成される。この成長手法については,例えばAbstract of “6th International Conference on the Science and
Application of Nanotubes” p. 63 (2005)に記載されている。
上記の製造工程において,工程(a)の段階で,アルミニウム層12の上に触媒金属層を形成しておいても良い。その場合は,工程(d)の触媒金属層の形成とリフトオフ工程は不要になる。
図8は,図7により複数のカーボンナノチューブが生成された基板の斜視図である。シリコン基板10上に約400μmの溝部26を有する絶縁層20が形成され,その溝部26内にアルミニウム層とその上に形成された鉄の微粒子12,16Pとが形成されている。そして,その微粒子16Pに所望の直径と層数のカーボンナノチューブCNTが並んで成長し,且つシリコン酸化膜20上に並んで形成される。図中丸30内に示されるとおり,シリコン酸化膜からなる絶縁層上に複数のカーボンナノチューブCNTが並んで形成される。
このカーボンナノチューブCNTを所望の直径にして,2層構造に制御することで,カーボンナノチューブの第1層をチャネル領域とし,第2層を保護膜とする電界効果型トランジスタを形成することができる。例えば,特許文献1に示されたような電界効果型トランジスタを複数個形成することができる。
本発明によれば,カーボンナノチューブの成長の核となる触媒金属の微粒子を均一分布且つ均一粒径で再現性よく形成することができる。そして,その触媒金属微粒子を利用してCVD法の成長ガス成分を制御することで,均一の直径で且つ所望の層数のカーボンナノチューブを成長させることができる。したがって,カーボンナノチューブを利用した電子デバイスやセンサなどに好適なカーボンナノチューブの製造方法を提供できる。

Claims (4)

  1. 所望形状のカーボンナノチューブの製造方法において,
    基板上にアルミニウム層を形成し,当該アルミニウム層の表面に自然酸化膜を形成して前記基板の表面に微細な凹凸を形成する第1の工程と,
    前記凹凸を有する表面上に,少なくとも鉄,コバルト,ニッケルを含む遷移金属であって0.1〜0.6nmの膜厚の触媒金属層を,前記自然酸化膜の表面を覆うように形成する第2の工程と,
    少なくとも590℃を含む450〜650℃の熱処理を行って,当該触媒金属層を孤立した複数の微粒子にする第3の工程と,
    前記複数の微粒子を担持する基板を炭素含有ガス雰囲気中に置いて,当該炭素含有ガスを利用したCVD法により,前記触媒金属の微粒子上に前記カーボンナノチューブを成長させる第4の工程とを有するカーボンナノチューブの製造方法。
  2. 請求項1において,
    前記第2の工程で前記触媒金属層の膜厚を第1の膜厚に制御して,前記第3の工程で生成される微粒子を第1の径に制御し,または,前記第2の工程で前記触媒金属層の膜厚を第1の膜厚より厚い第2の膜厚に制御して,前記第3の工程で生成される微粒子を第1の径より大きい第2の径に制御することを特徴とするカーボンナノチューブの製造方法。
  3. 請求項1において,
    前記第4の工程における炭素含有ガスは,少なくともメタン,アセチレン,ブタンを含む炭化水素,アルコール,一酸化炭素,二酸化炭素のいずれかの第1のガスと,水素ガスとを含み,
    当該第1のガスの量を第1の量に制御して単層のカーボンナノチューブを生成し,または,当該第1のガスの量を前記第1の量より多い第2の量に制御して2層のカーボンナノチューブを生成することを特徴とするカーボンナノチューブの製造方法。
  4. 所望形状のカーボンナノチューブの製造方法において,
    基板上にアルミニウム層を形成し,当該アルミニウム層の表面に自然酸化膜を形成して前記基板の表面に微細な凹凸を形成する第1の工程と,
    前記凹凸を有する表面上に,少なくとも鉄,コバルト,ニッケルを含む遷移金属であって0.1〜0.6nmの膜厚の触媒金属層を,前記自然酸化膜の表面を覆うように形成する第2の工程と,
    前記第1の工程後に前記基板表面上に,または前記第2の工程後に前記触媒金属層上に,所定の幅を有し且つ一方向に延びる溝であって,前記基板表面または触媒金属層を露出する溝を有する絶縁層を形成する第3の工程と,
    少なくとも590℃を含む450〜650℃の熱処理を行って,当該触媒金属層を孤立した複数の微粒子にする第4の工程と,
    前記複数の微粒子を担持する基板を炭素含有ガス雰囲気中に置いて,当該炭素含有ガスを利用したCVD法により,前記溝内から前記絶縁層の表面に沿って前記触媒金属の微粒子上に前記カーボンナノチューブを成長させる第5の工程とを有するカーボンナノチューブの製造方法。
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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102007071B (zh) * 2008-04-16 2013-09-18 日东电工株式会社 纤维状柱状结构体集合体和使用该集合体的粘合部件
JP2010030837A (ja) * 2008-07-29 2010-02-12 Denso Corp Cnt合成用基板、cnt、及びそれらの製造方法
IT1400159B1 (it) * 2010-03-15 2013-05-17 St Microelectronics Srl Metodo di fotolitografia ad elevata risoluzione per la realizzazione di nanostrutture, in particolare nella fabbricazione di dispositivi elettronici integrati
JP5652817B2 (ja) * 2010-08-03 2015-01-14 国立大学法人東京工業大学 ナノドット形成方法
JP5673325B2 (ja) * 2011-04-20 2015-02-18 富士通株式会社 カーボンナノチューブの形成方法及び熱拡散装置
US20140044873A1 (en) * 2012-08-10 2014-02-13 Makarand Paranjape Single-walled carbon nanotube (swcnt) fabrication by controlled chemical vapor deposition (cvd)
JP5808468B1 (ja) * 2014-09-01 2015-11-10 ニッタ株式会社 カーボンナノチューブ製造用触媒粒子の保持構造及びその製造方法
US10131989B2 (en) * 2015-03-17 2018-11-20 The United States Of America, As Represented By The Secretary Of The Navy Method of growing a nanotube including passing a carbon-based gas through first and second openings of a tube
JP6810343B2 (ja) * 2016-10-17 2021-01-06 富士通株式会社 カーボンナノチューブ構造、放熱シート及びカーボンナノチューブ構造の製造方法
JP7343425B2 (ja) * 2020-03-13 2023-09-12 日立造船株式会社 カーボンナノチューブの製造方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0931757A (ja) * 1995-07-10 1997-02-04 Res Dev Corp Of Japan グラファイトファイバーの作成方法
JPH1111917A (ja) * 1997-06-18 1999-01-19 Canon Inc カーボンナノチューブの製法
JP2002180252A (ja) * 2000-12-13 2002-06-26 National Institute Of Advanced Industrial & Technology カーボンナノチューブの製造方法
JP2004051432A (ja) * 2002-07-19 2004-02-19 Fujitsu Ltd カーボンナノチューブの製造用基板及びそれを用いたカーボンナノチューブの製造方法
JP2004067413A (ja) * 2002-08-02 2004-03-04 Nec Corp 触媒担持基板およびそれを用いたカーボンナノチューブの成長方法ならびにカーボンナノチューブを用いたトランジスタ
JP2005059167A (ja) * 2003-08-18 2005-03-10 Sony Corp 微細構造体の製造方法および微細構造体、ならびに記録装置の製造方法および記録装置
JP2005272271A (ja) * 2004-03-26 2005-10-06 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> カーボンナノチューブの製造方法及び半導体装置の製造方法

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0758028B1 (en) * 1995-07-10 2002-09-11 Research Development Corporation Of Japan Process of producing graphite fiber
JP4512176B2 (ja) 2001-02-08 2010-07-28 株式会社日立製作所 カーボンナノチューブ電子素子および電子源
AU2002360714A1 (en) * 2001-12-18 2003-06-30 Yale University Controlled growth of single-wall carbon nanotubes
JP3537811B2 (ja) * 2002-03-29 2004-06-14 独立行政法人 科学技術振興機構 単層カーボンナノチューブの製造方法
JP4251268B2 (ja) * 2002-11-20 2009-04-08 ソニー株式会社 電子素子及びその製造方法
JP2004182537A (ja) 2002-12-04 2004-07-02 Mie Tlo Co Ltd ナノカーボン材料配列構造の形成方法
US7531158B2 (en) * 2003-03-20 2009-05-12 Cheol Jin Lee Vapor phase synthesis of double-walled carbon nanotubes
JP2004359478A (ja) * 2003-06-02 2004-12-24 Univ Waseda 繊維状カーボンの形態・位置制御方法、その方法を用いて位置制御された繊維状カーボン素子、及びその素子を用いたデバイス
US7052618B2 (en) * 2004-01-28 2006-05-30 Agilent Technologies, Inc. Nanostructures and methods of making the same
JP4481853B2 (ja) * 2005-03-18 2010-06-16 富士通株式会社 カーボンナノチューブデバイスの製造方法
JP2006327921A (ja) * 2005-05-26 2006-12-07 Viko System Co Ltd 炭素ナノチューブの大量生産のための装置および方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0931757A (ja) * 1995-07-10 1997-02-04 Res Dev Corp Of Japan グラファイトファイバーの作成方法
JPH1111917A (ja) * 1997-06-18 1999-01-19 Canon Inc カーボンナノチューブの製法
JP2002180252A (ja) * 2000-12-13 2002-06-26 National Institute Of Advanced Industrial & Technology カーボンナノチューブの製造方法
JP2004051432A (ja) * 2002-07-19 2004-02-19 Fujitsu Ltd カーボンナノチューブの製造用基板及びそれを用いたカーボンナノチューブの製造方法
JP2004067413A (ja) * 2002-08-02 2004-03-04 Nec Corp 触媒担持基板およびそれを用いたカーボンナノチューブの成長方法ならびにカーボンナノチューブを用いたトランジスタ
JP2005059167A (ja) * 2003-08-18 2005-03-10 Sony Corp 微細構造体の製造方法および微細構造体、ならびに記録装置の製造方法および記録装置
JP2005272271A (ja) * 2004-03-26 2005-10-06 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> カーボンナノチューブの製造方法及び半導体装置の製造方法

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