JP5019910B2 - マルチポートメモリ素子 - Google Patents
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Description
一方、第1グローバルデータバスGIO_OUTは、各バンクBANK0〜BANK7から入力される有効出力データ信号Pi_DATA<0:15>を並列に各ポートPORT0〜PORT3に独立して伝達するために、全64ビット(16(データビット数)×4(ポート数)ビット)のバスからなる。
テスト信号伝送部101〜104は、テストイネーブル信号MREBに応答して、送信パッドTX0〜TX3及び受信パッドRX0〜RX3から入力されるテスト信号を受信する入力ドライバ(図示せず)と、当該入力ドライバを介して入力されたテスト信号を第1グローバルデータバスGIO_INを介して送る出力ドライバ(図示せず)とからなる。このとき、テスト信号は、テストモード時の書き込みコマンド信号又は読み出しコマンド信号と、バンクを選択するバンクデータ信号とを含む信号であって、送信パッドTX0〜TX3及び受信パッドRX0〜RX3に並列に入力される。
まず、書き込み動作を説明する。
PORT0〜PORT3 第1ポートないし第4ポート
GIO_IN 第1グローバルデータバス
GIO_OUT 第2グローバルデータバス
TX 送信パッド
RX 受信パッド
120〜124 第1入/出力制御部
125〜128 第2入/出力制御部
130 テスト入/出力制御部
Claims (19)
- 外部装置及び直列入/出力インターフェースを支援する複数のポートと、該ポートと並列にデータの送受信を行う複数のバンクと、該バンクと前記ポートとの間にデータの送受信を支援する複数のグローバルデータバスとを備えたマルチポートメモリ素子において、
前記バンクのコア領域をテストするテストモード時、複数のパッドから前記ポートに入力されるテスト信号と入力データ信号とを前記ポートを経由せずにバイパスさせ、前記グローバルデータバスを介して前記バンクに伝達し、前記テスト信号に対応して、前記バンクから出力された出力データ信号を前記グローバルデータバスを介して前記パッドに出力するテスト入/出力制御部を備えることを特徴とするマルチポートメモリ素子。 - 前記パッドが、
前記テスト信号を受信する送受信パッドと、
前記入力データ信号を受信し、前記出力データ信号を出力するテストパッドと
からなることを特徴とする請求項1に記載のマルチポートメモリ素子。 - 前記テスト信号が、前記送受信パッドに並列に入力されることを特徴とする請求項2に記載のマルチポートメモリ素子。
- 前記グローバルデータバスが、
前記テスト入/出力制御部から前記テスト信号と前記入力データ信号とを受信する第1グローバルデータバスと、
前記テスト入/出力制御部に前記出力データ信号を出力する第2グローバルデータバスと
からなることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載のマルチポートメモリ素子。 - 複数の送受信パッドと、
複数のテストパッドと、
前記送受信パッドを介して外部装置と直列にデータの送受信を行う複数のポートと、
メモリコア領域を備え、前記ポートとデータの送受信を行う複数のバンクと、
前記ポートと前記バンクとの間にデータの送受信を支援する複数のグローバルデータバスと、
前記メモリコア領域のテストモード時、イネーブルされるテストイネーブル信号に応答して、前記送受信パッドから入力されるテスト信号を前記ポートを経由せずに前記グローバルデータバスにバイパスさせるテスト信号入/出力伝送手段と、
前記テストイネーブル信号に応答して、前記テストパッドから入力される入力データ信号を前記ポートを経由せずに前記グローバルデータバスに伝送するか、前記テスト信号に対応して、前記バンクから前記グローバルデータバスに出力された出力データ信号を前記ポートを経由せずに前記テストパッドに出力するテスト入/出力制御手段と
を備えることを特徴とするマルチポートメモリ素子。 - 前記テスト信号が、前記送受信パッドに並列に入力されることを特徴とする請求項5に記載のマルチポートメモリ素子。
- 前記ポートが、前記テストモード時、前記テストイネーブル信号に応答して、前記送受信パッドから前記テスト信号が入力されるのを遮断し、前記グローバルデータバスから前記出力データ信号が入力されるのを遮断することを特徴とする請求項6に記載のマルチポートメモリ素子。
- 前記テスト信号入/出力伝送手段が、
前記テストイネーブル信号に応答して、前記送受信パッドから入力される前記テスト信号を受信する入力ドライバと、
前記テストイネーブル信号に応答して、前記入力ドライバに入力された前記テスト信号を前記グローバルデータバスに出力する出力ドライバと
を備えることを特徴とする請求項7に記載のマルチポートメモリ素子。 - 前記グローバルデータバスが、
前記テスト信号入/出力伝送手段から前記テスト信号と前記入力データ信号とを受信する第1グローバルデータバスと、
前記テスト入/出力制御手段に前記出力データ信号を出力する第2グローバルデータバスと
からなることを特徴とする請求項5〜8のいずれか1項に記載のマルチポートメモリ素子。 - 複数の送受信パッドと、
複数のテストパッドと、
前記送受信パッドを介して外部装置と直列にデータの送受信を行う複数のポートと、
メモリコア領域を備え、前記ポートとデータの送受信を行う複数のバンクと、
前記ポートと前記バンクとの間にデータの送受信を支援する複数のグローバルデータバスと、
前記メモリコア領域のテストモード時、イネーブルされるテストイネーブル信号に応答して、前記送受信パッドから入力されるテスト信号を前記ポートを経由せずにバイパスさせて出力する第1入/出力制御手段と、
前記テストイネーブル信号に応答して入力される前記テスト信号と、前記テストパッドから入力される入力データ信号とを前記グローバルデータバスに出力するか、前記テストイネーブル信号に応答して、前記バンクから前記グローバルデータバスを介して出力される出力データ信号を前記ポートを経由せずにバイパスさせて出力する第2入/出力制御手段と、
前記テストイネーブル信号に応答して、前記第1入/出力制御手段を介してバイパスされて入力された前記テスト信号と前記入力データ信号とを前記第2入/出力制御手段に出力するか、前記第2入/出力制御手段からバイパスされて入力された前記出力データ信号を前記テストパッドに出力するテスト入/出力制御手段と
を備えることを特徴とするマルチポートメモリ素子。 - 前記テスト信号が、前記送受信パッドに並列に入力されることを特徴とする請求項10に記載のマルチポートメモリ素子。
- 前記第1入/出力制御手段が、前記テストモード時、前記テストイネーブル信号に応答して、前記送受信パッドから入力される前記テスト信号を前記テスト入/出力制御手段にバイパスさせる第1バッファを備えることを特徴とする請求項11に記載のマルチポートメモリ素子。
- 前記第1入/出力制御手段が、正常モード時、前記テストイネーブル信号に応答して、前記外部装置から前記送受信パッドを介して直列に入力される入力信号を前記ポートに伝送する第2バッファをさらに備えることを特徴とする請求項12に記載のマルチポートメモリ素子。
- 前記第1バッファ及び第2バッファが、トライステートバッファからなることを特徴とする請求項13に記載のマルチポートメモリ素子。
- 前記第2入/出力制御手段が、前記テストイネーブル信号に応答して、前記グローバルデータバスから入力される前記出力データ信号を前記テスト入/出力制御手段にバイパスさせて出力する第3バッファと、
前記テストイネーブル信号に応答して、前記テスト入/出力制御手段から入力される前記テスト信号及び前記入力データ信号と、前記ポートから入力される入力信号のいずれか1つを選択して、前記グローバルデータバスに出力するマルチプレクサと
を備えることを特徴とする請求項11に記載のマルチポートメモリ素子。 - 前記第3バッファが、トライステートバッファからなることを特徴とする請求項15に記載のマルチポートメモリ素子。
- 前記テスト入/出力制御手段が、
前記第1入/出力制御手段からバイパスされて入力される前記テスト信号をデコードして、内部コマンド信号を生成し、前記テスト信号を伝送するコマンドデコーダと、
前記内部コマンド信号に応答して、前記コマンドデコーダから入力される前記テスト信号を前記第2入/出力制御手段に出力するデマルチプレクサと、
前記内部コマンド信号に応答して、前記第2入/出力制御手段から入力される前記出力データ信号を出力するマルチプレクサと、
前記コマンドデコーダの制御信号に応答して、前記マルチプレクサから入力される前記出力データ信号を前記テストパッドに出力する第4バッファと
を備えることを特徴とする請求項11に記載のマルチポートメモリ素子。 - 前記第4バッファが、トライステートバッファからなることを特徴とする請求項17に記載のマルチポートメモリ素子。
- 前記グローバルデータバスが、
前記テスト信号入/出力伝送手段から前記テスト信号と前記入力データ信号とを受信する第1グローバルデータバスと、
前記テスト入/出力制御手段に前記出力データ信号を出力する第2グローバルデータバスと
からなることを特徴とする請求項10〜18のいずれか1項に記載のマルチポートメモリ素子。
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