JP4984376B2 - 固体撮像装置 - Google Patents
固体撮像装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4984376B2 JP4984376B2 JP2004119724A JP2004119724A JP4984376B2 JP 4984376 B2 JP4984376 B2 JP 4984376B2 JP 2004119724 A JP2004119724 A JP 2004119724A JP 2004119724 A JP2004119724 A JP 2004119724A JP 4984376 B2 JP4984376 B2 JP 4984376B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- well
- type
- semiconductor substrate
- pixel array
- pixel
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
Description
さらに、前記第2のウェルが2つ存在し、当該2つの第2のウェル同士を電気的に分離する第4のウェルを備える。
前記第1のウェルは、前記半導体基板よりも不純物濃度が低い第1導電型または第2導電型のエピタキシャル層を積んで形成され、前記第4のウェルは、第1導電型で、かつ、前記エピタキシャル層の不純物濃度よりも高い。
さらに、前記第1のウェル、前記第2のウェルおよび前記第4のウェルは、前記半導体基板上に積層され、前記エピタキシャル層の表面からその内部にわたって形成されている。
さらに、前記エピタキシャル層が第2導電型である場合、前記第1のウェルおよび前記第4のウェルは前記半導体基板に達するように形成される。
第4のウェルが2つの第2のウェル同士を電気的に分離する構成とすることによって、第2のウェルが半導体基板よりも不純物濃度が低いエピタキシャル層を積んで形成されている場合でも、第2のウェル同士の電気的な分離を確実に図ることができる。
図2は、実施例1に係るウェル構造を示す断面図である。本実施例1では、半導体基板19として例えばP型基板19Aが用いられている。このP型基板19Aの表層部には、画素アレイ部12を形成するためのPウェル21が形成されている。Pウェル21は、P型基板19Aと同じ導電型であることから、当該基板19Aに対して電気的に接続された状態にある。Pウェル21上には、画素11を構成するフォトダイオード(PD)111や、転送トランジスタ、リセットトランジスタ、増幅トランジスタなどの画素トランジスタ112が形成されている。
図3は、実施例2に係るウェル構造を示す断面図であり、図中、図2と同等部分には同一符号を付して示している。本実施例2では、半導体基板19として例えばP+ 型基板19Bが用いられている。このP+ 型基板19B上に、P- 型エピタキシャル層を積んだウェハ31が設けられている。そして、ウェハ31の一部が画素アレイ部用のPウェル32として用いられる。このPウェル32において、フォトダイオード111では、Pウェル形成のためのイオン打ち込みを行わない構造となっている。Pウェル32は、P+ 型基板19Bと同じ導電型であることから、当該基板19Bに対して電気的に接続された状態にある。
Claims (1)
- 第1導電型の半導体基板上に当該半導体基板と電気的に接続された状態で形成され、かつ、光電変換素子を含む画素が配置されてなる画素アレイ部が形成された第1導電型の第1のウェルと、
前記半導体基板上に形成された第2導電型の第2のウェルと、
前記第2のウェル内に前記半導体基板と電気的に分離された状態で形成され、かつ、前記画素アレイ部の周辺回路部の少なくとも一部が形成された第1導電型の第3のウェルと、
2つ存在する前記第2のウェル同士を電気的に分離する第4のウェルと、を備え、
前記第1のウェルは、前記半導体基板よりも不純物濃度が低い第1導電型または第2導電型のエピタキシャル層を積んで形成され、
前記第4のウェルは、第1導電型で、かつ、前記エピタキシャル層の不純物濃度よりも高く、
前記第1のウェル、前記第2のウェルおよび前記第4のウェルは、前記半導体基板上に積層され、前記エピタキシャル層の表面からその内部にわたって形成され、
前記エピタキシャル層が第2導電型である場合、前記第1のウェルおよび前記第4のウェルは前記半導体基板に達するように形成される
固体撮像装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004119724A JP4984376B2 (ja) | 2004-04-15 | 2004-04-15 | 固体撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004119724A JP4984376B2 (ja) | 2004-04-15 | 2004-04-15 | 固体撮像装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005303154A JP2005303154A (ja) | 2005-10-27 |
JP4984376B2 true JP4984376B2 (ja) | 2012-07-25 |
Family
ID=35334267
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004119724A Expired - Fee Related JP4984376B2 (ja) | 2004-04-15 | 2004-04-15 | 固体撮像装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4984376B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4655898B2 (ja) | 2005-11-15 | 2011-03-23 | 日本ビクター株式会社 | 固体撮像装置 |
JP5135772B2 (ja) * | 2005-11-18 | 2013-02-06 | 株式会社Jvcケンウッド | 固体撮像装置 |
JP4857773B2 (ja) * | 2006-01-16 | 2012-01-18 | 株式会社ニコン | 固体撮像素子及びその製造方法 |
JP6355311B2 (ja) | 2013-10-07 | 2018-07-11 | キヤノン株式会社 | 固体撮像装置、その製造方法及び撮像システム |
JP2018139328A (ja) * | 2018-06-05 | 2018-09-06 | キヤノン株式会社 | 固体撮像装置および撮像システム |
WO2021131840A1 (ja) * | 2019-12-24 | 2021-07-01 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 半導体素子 |
CN115356545B (zh) * | 2022-08-10 | 2023-04-11 | 中国科学院近代物理研究所 | 一种用于带电粒子探测的新型像素单元结构及其使用方法 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH061826B2 (ja) * | 1984-10-01 | 1994-01-05 | オリンパス光学工業株式会社 | 固体撮像装置 |
JPH05347386A (ja) * | 1992-02-21 | 1993-12-27 | Sony Corp | 半導体装置 |
JPH0758212A (ja) * | 1993-08-19 | 1995-03-03 | Sony Corp | Cmos集積回路 |
JP3527094B2 (ja) * | 1998-04-03 | 2004-05-17 | Necエレクトロニクス株式会社 | アクティブ型xyアドレス方式固体撮像装置 |
JP3434740B2 (ja) * | 1999-06-30 | 2003-08-11 | Necエレクトロニクス株式会社 | 固体撮像装置 |
JP2002043557A (ja) * | 2000-07-21 | 2002-02-08 | Mitsubishi Electric Corp | 固体撮像素子を有する半導体装置およびその製造方法 |
KR100494030B1 (ko) * | 2002-01-10 | 2005-06-10 | 매그나칩 반도체 유한회사 | 이미지센서 및 그 제조 방법 |
-
2004
- 2004-04-15 JP JP2004119724A patent/JP4984376B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2005303154A (ja) | 2005-10-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20210351213A1 (en) | Solid-state imaging device and method for manufacturing solid-state imaging device, and electronic device | |
JP5564909B2 (ja) | 固体撮像装置とその製造方法、及び電子機器 | |
USRE45891E1 (en) | Solid state imaging device | |
JP6084922B2 (ja) | 固体撮像装置 | |
JP7162251B2 (ja) | 撮像装置 | |
JP2007095917A (ja) | 固体撮像装置 | |
CN100565890C (zh) | 摄像装置 | |
JP4940607B2 (ja) | 固体撮像装置およびその製造方法、並びにカメラ | |
JP6123866B2 (ja) | 固体撮像装置、及び電子機器 | |
JP4844032B2 (ja) | 撮像装置 | |
JP2011124451A (ja) | 固体撮像装置およびカメラ | |
TW201316503A (zh) | 固體攝像元件及電子機器 | |
US9343496B2 (en) | Solid-state imaging device, production method thereof and camera | |
JP4923596B2 (ja) | 固体撮像装置 | |
JP4984376B2 (ja) | 固体撮像装置 | |
JP2006032681A (ja) | 半導体装置および物理情報取得装置並びに半導体装置の駆動方法 | |
JP2017152481A (ja) | 画素ユニット、及び撮像素子 | |
US9406816B2 (en) | Solid-state imaging apparatus, method of manufacturing solid-state imaging apparatus and electronic device | |
JP2007073544A (ja) | 固体撮像装置およびその製造方法 | |
JP6497541B2 (ja) | 撮像装置 | |
JP5842903B2 (ja) | 固体撮像装置、及び電子機器 | |
JP2007088309A (ja) | 固体撮像装置 | |
JP2009026892A (ja) | 固体撮像素子 | |
JP2008098255A (ja) | 固体撮像装置 | |
JP2013118273A (ja) | 増幅回路および製造方法、撮像素子、並びに電子機器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070306 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20091007 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20091015 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100106 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110308 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110502 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110614 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110914 |
|
A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20110921 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111108 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120105 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120403 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120416 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150511 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |