JP4972299B2 - 電子ビーム蒸着装置、および、当該装置を用いて行う基板の表面への蒸着被膜の形成方法 - Google Patents

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本発明は、電子銃を用いて蒸着被膜を基板の表面に形成するための電子ビーム蒸着装置、および、当該装置を用いて行う基板の表面への蒸着被膜の形成方法に関する。
蒸着室に、蒸着材料を充填するためのハースと、ハースに充填した蒸着材料に電子ビームを照射するためのピアス式電子銃を備え、蒸着材料に電子ビームを照射することで蒸着材料を蒸発させてハース上方の基板の表面に蒸着被膜を形成するための電子ビーム蒸着装置は、例えば、特許文献1にも記載されているように、ガラス基板の表面にMgO被膜を形成するための装置などとして広く利用されている。
しかしながら、従来の電子ビーム蒸着装置においては、所定の期間、装置を運転した後にピアス式電子銃のメンテナンスを行い、再び装置の運転を開始した場合、メンテナンスの前後でピアス式電子銃の電子ビーム発生部におけるカソードとウェネルトとの間のギャップが微妙に異なることで、ビームの直径や発散角が変化し、この変化によってビームサイズが変化して蒸着材料の蒸発速度が影響を受け、蒸着レートがメンテナンスの前後で異なるといった現象が見られる。従って、ピアス式電子銃のメンテナンスを行う都度、蒸着レートの調整や蒸着被膜の膜厚分布の条件出しが必要となることから、メンテナンス後の装置の立ち上げには所定の時間を要している。また、電子ビーム蒸着装置においては、電子ビームを構成する熱電子が蒸着室内部の水分、残留ガス、蒸発粒子などと衝突することでイオンが発生した場合、発生したイオンはカソードに向かって逆流してカソードに衝突し、カソードにはイオンが衝突したことによる衝突孔が形成され、次第に電子ビームの発生効率が低下するという問題がある。このような問題は、特許文献1にも記載されているように、カソードに向かって逆流してくるイオンを通過させるための貫通孔をカソードに予め設けておくことでイオンがカソードに衝突することを防ぐとともに、カソードの後方にカソードを通過したイオンを衝突させるためのイオンコレクタを配置するといった手段で改善を図ることができるが、それでも、カソードへのイオンの衝突を完全に阻止することはできないことから、カソードの表面角度がイオンの衝突により徐々に変化することで、ビームの直径や発散角も次第に変化し、この変化によってビームサイズが変化して蒸着材料の蒸発速度が影響を受け、蒸着レートが次第に低下するといった現象が見られる。従って、装置の運転中に、適宜、蒸着レートの調整や蒸着被膜の膜厚分布の条件出しを行う必要であるが、このような操作を行う間は、生産を中断する必要がある。
特開2004−14226号公報
そこで本発明は、装置の運転中に、生産を中断することなく、ピアス式電子銃から発せられる電子ビームの状態をリアルタイムでモニタし、その結果を電子ビームの状態を適正なものに改善や維持するためにフィードバックすることで、優れた効率性と安定性のもとに、基板の表面に蒸着被膜を形成することができる、電子ビーム蒸着装置、および、当該装置を用いて行う基板の表面への蒸着被膜の形成方法を提供することを目的とする。
上記の点に鑑みてなされた本発明の電子ビーム蒸着装置は、請求項1記載の通り、蒸着室に、蒸着材料を充填するためのハースと、ハースに充填した蒸着材料に電子ビームを照射するためのピアス式電子銃を備え、蒸着材料に電子ビームを照射することで蒸着材料を蒸発させてハース上方の基板の表面に蒸着被膜を形成するための電子ビーム蒸着装置であって、ピアス式電子銃が、電子ビームに起因乃至由来する電子を捕捉するためのセンサを電子銃から発せられる電子ビームが蒸発材料に到達する前のビームパスの近傍に備えており、センサによって捕捉された電子に基づく電流および/または電圧を検出することで、ビーム状態をモニタするようにし、ピアス式電子銃を、センサによるビーム状態のモニタ結果を集束コイルに供給される電流にフィードバックすることで、ビームの直径を制御することができるようにし、これにより蒸着レートを制御できるようにしたことを特徴とする
また、本発明の基板の表面への蒸着被膜の形成方法は、請求項2記載の通り、請求項1記載の電子ビーム蒸着装置を用いて行うことを特徴とする。
本発明によれば、装置の運転中に、生産を中断することなく、ピアス式電子銃から発せられる電子ビームの状態をリアルタイムでモニタし、その結果を電子ビームの状態を適正なものに改善や維持するためにフィードバックすることで、優れた効率性と安定性のもとに、基板の表面に蒸着被膜を形成することができる、電子ビーム蒸着装置、および、当該装置を用いて行う基板の表面への蒸着被膜の形成方法が提供される。
図1は、本発明の電子ビーム蒸着装置が備えるピアス式電子銃の電子ビーム発生部の一実施形態の概略構成図である。電子ビーム発生部は、フィラメント1、カソード2、ウェネルト3、アノード4を基本としてなる。通常、フィラメント1は通電により2500K程度にまで加熱される。フィラメント1とカソード2との間には600〜1500Vの電圧が印加されており、フィラメント1から発生した熱電子はカソード2の表面を電子衝撃する。カソード2はフィラメント1からの電子衝撃により2500K程度にまで加熱され、表面から熱電子を発生させる。カソード2とアノード4との間には20kV程度の電圧が印加されており、カソード2の表面から発生した熱電子はアノード4の方向に加速されて電子ビームXが構成され、蒸発材料の蒸発ポイントなどに照射される。また、ウェネルト3はカソード2の表面から発生した熱電子をウェネルト3とアノード4との間に形成された電位勾配によってアノード4の方向に集束させる働きを担っている。
前述の通り、電子ビームXを構成する熱電子が蒸着室内部の水分、残留ガス、蒸発粒子などと衝突するとイオンYが発生し、このイオンYはカソード2に向かって逆流してくる。そこで、カソード2にはカソード2に向かって逆流してきたイオンYを通過させるための貫通孔Aが設けられている。そして、カソード2の後方にはカソード2を通過したイオンYを衝突させるためのイオンコレクタ5が配置され、イオンコレクタ5にはカソード2を通過したイオンYおよびイオンコレクタ5へのイオンYの衝突によりスパッタされたイオンコレクタ成分を捕集するための捕集孔Bが設けられている。これにより、カソード2に向かって逆流してきたイオンYおよびイオンコレクタ5へのイオンYの衝突によりスパッタされたイオンコレクタ成分はイオンコレクタ5に設けられた捕集孔Bの孔内に捕集される。
このピアス式電子銃には、電子ビームXに起因乃至由来する電子を捕捉するための、複数のSUS製の薄型リングからなるセンサ6’が、電子銃のビーム発生部分と蒸着室の雰囲気との分離や圧力を調整するためのフローレジスタ7に電気的に絶縁して設置されている。ここで、電子ビームに起因乃至由来する電子とは、電子ビームから漏れ出た電子や電子ビームを構成する熱電子が周囲の残留ガスなどと衝突することでイオンとともに発生する二次電子などの少なくとも一部を意味する。そして、センサ6’によって捕捉された電子に基づく電圧を、電圧検出手段6で検出することで、電子ビームXの状態をリアルタイムでモニタすることができる。このようにして行われたセンサ6’によるビーム状態のモニタ結果は、電子ビームXを集束させるための集束コイル8に供給される電流にフィードバックする。これにより、例えば、検出された電圧が所定値よりも大きいので(これは電子ビームXに起因乃至由来する電子量が所定量よりも多いことを意味する)、集束コイル8に供給される電流を増加させてビームの直径を絞るといったような、ビーム状態に応じたビームの直径の制御が可能になる。なお、センサ6’を構成する材料は、SUSの他、Cu,Al,Tiなどの導電性材料であってもよい。また、その形状は、薄型リングの他、所定の厚みを有するリングや円筒状であってもよい。
電子ビームXに起因乃至由来する電子を捕捉するためのセンサ6’を設置する箇所は、フローレジスタ7に限定される訳ではなく、ビームパスの近傍であればどのような箇所であってもよい。但し、センサ6’によるビーム状態のモニタ結果を集束コイル8に供給される電流にフィードバックする場合には、センサ6’は集束コイル8の後段側に設置する必要があるが、センサ6’を集束コイル8の前段側に設置すれば、集束コイル8のフィードフォワード機構を構成することもできる。また、センサ6’は、捕捉された電子に基づく電流を検出するものであってもよい。モニタ回路にはバイアス機構やコンデンサやコイルなどを設置することもできる。
図2は、本発明の電子ビーム蒸着装置の一実施形態における蒸着室の概略図である。前述したようなピアス式電子銃12から蒸着室11の内部に向けて略水平方向に発せられた電子ビーム13は、図略の偏向コイルによって偏向されて蒸発源であるハース14に充填した蒸着材料の蒸発ポイントに照射され、蒸発流15によりハース14の上方に搬送されてきた基板20の表面に蒸着被膜が形成される。本発明の電子ビーム蒸着装置によれば、装置の運転時間が100時間以上にも及ぶ生産条件であっても、優れた効率性と安定性のもとに、所定の膜厚を有する蒸着被膜を基板の表面に形成することができる。
なお、本発明の電子ビーム蒸着装置においては、電子ビームに起因乃至由来する電子を捕捉するためのセンサに加え、電子ビーム発生部におけるカソードに向かって逆流してくるイオンを捕捉するためのセンサをさらに設置し、センサによって捕捉されたイオンに基づく電流や電圧を検出することで、その検出結果を電子ビームの状態を適正なものに改善や維持するためにフィードバックして利用するようにしてもよい。
また、前述したようなピアス式電子銃やそのビーム状態のモニタ方法は、電子ビーム蒸着装置の他、電子線描画装置や露光装置などに適用することもできる。
図1に記載の電子ビーム発生部を有するピアス式電子銃を備えた電子ビーム蒸着装置を運転した場合の、電子ビームに起因乃至由来する電子を捕捉するためのセンサによって検出された電圧と集束コイル電流(Focus電流)値との相対関係を図3に、ビームの直径と集束コイル電流値との相対関係を図4に示す。また、成膜レートと集束コイル電流値との相対関係を図5に示す。図3と図4から明らかなように、センサによって検出された電圧とビームの直径との間には相関があり、センサによって検出された電圧に基づいて、ビームの直径の絞れ具合を検知できることや、ビームの直径を制御できることがわかった。そして、これにより、図5から明らかなように、蒸着レートを制御できることがわかった。
本発明は、装置の運転中に、生産を中断することなく、ピアス式電子銃から発せられる電子ビームの状態をリアルタイムでモニタし、その結果を電子ビームの状態を適正なものに改善や維持するためにフィードバックすることで、優れた効率性と安定性のもとに、基板の表面に蒸着被膜を形成することができる、電子ビーム蒸着装置、および、当該装置を用いて行う基板の表面への蒸着被膜の形成方法を提供することができる点において産業上の利用可能性を有する。
本発明の電子ビーム蒸着装置が備えるピアス式電子銃の電子ビーム発生部の一実施形態の概略構成図。 本発明の電子ビーム蒸着装置の一実施形態における蒸着室の概略図。 実施例におけるセンサによって検出された電圧と集束コイル電流値との相対関係を示すグラフ。 同、ビームの直径と集束コイル電流値との相対関係を示すグラフ。 同、成膜レートと集束コイル電流値との相対関係を示すグラフ。
符号の説明
1 フィラメント
2 カソード
3 ウェネルト
4 アノード
5 イオンコレクタ
6 電圧検出手段
6’センサ
7 フローレジスタ
8 集束コイル
9 揺動コイル
X 電子ビーム
Y 逆流イオン
A 貫通孔
B 捕集孔
11 蒸着室
12 ピアス式電子銃
13 電子ビーム
14 ハース
15 蒸発流
20 基板

Claims (2)

  1. 蒸着室に、蒸着材料を充填するためのハースと、ハースに充填した蒸着材料に電子ビームを照射するためのピアス式電子銃を備え、蒸着材料に電子ビームを照射することで蒸着材料を蒸発させてハース上方の基板の表面に蒸着被膜を形成するための電子ビーム蒸着装置であって、ピアス式電子銃が、電子ビームに起因乃至由来する電子を捕捉するためのセンサを電子銃から発せられる電子ビームが蒸発材料に到達する前のビームパスの近傍に備えており、センサによって捕捉された電子に基づく電流および/または電圧を検出することで、ビーム状態をモニタするようにし、ピアス式電子銃を、センサによるビーム状態のモニタ結果を集束コイルに供給される電流にフィードバックすることで、ビームの直径を制御することができるようにし、これにより蒸着レートを制御できるようにしたことを特徴とする蒸着装置。
  2. 請求項1記載の電子ビーム蒸着装置を用いて行うことを特徴とする基板の表面への蒸着被膜の形成方法。
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