JP4962794B2 - コネクタ装置および半導体試験システム - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 34
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 60
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 21
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 1
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Description
開口部に、途中部分が小径部で端部が大径部として形成された断面形状段付きの柱状体として形成されたガイドブロックを中心にして対称になる位置関係で直線上に配置された2個のコネクタを単位とする第1のコネクタが位置するように、複数のプリント基板が収納されたプリント基板収納部と、
この第1のコネクタに嵌合するように直線上に設けられた2個のコネクタを単位とする複数の第2のコネクタが前後左右上下の各方向に揺動可能なフローティング構造で取り付けられ、これら第2のコネクタの前記ガイドブロック側に位置する端面には、前記ガイドブロックの端部を挟持する係合溝が形成されたコネクタ収納部、
とで構成されたことを特徴とするコネクタ装置である。
前記プリント基板収納部は複数のピンエレクトロニクスカードを収納するテストヘッドであり、前記コネクタ収納部はプローバに設けられたプローブカードを電気的に接続するためにテストヘッドに設けられる変換ボックスであることを特徴とする半導体試験システムである。
20 回動機構
11 ピンエレクトロニクスカード
12、41 コネクタ
13 嵌合部
17 ガイドブロック
30 プローバ
40 変換ボックス
44 溝
42、43 ネジ
46、47 ネジ穴
48、49 係合溝
50 ウェハ
Claims (2)
- 開口部に、途中部分が小径部で端部が大径部として形成された断面形状段付きの柱状体として形成されたガイドブロックを中心にして対称になる位置関係で直線上に配置された2個のコネクタを単位とする第1のコネクタが位置するように、複数のプリント基板が収納されたプリント基板収納部と、
この第1のコネクタに嵌合するように直線上に設けられた2個のコネクタを単位とする複数の第2のコネクタが前後左右上下の各方向に揺動可能なフローティング構造で取り付けられ、これら第2のコネクタの前記ガイドブロック側に位置する端面には、前記ガイドブロックの端部を挟持する係合溝が形成されたコネクタ収納部、
とで構成されたことを特徴とするコネクタ装置。 - 前記プリント基板収納部は複数のピンエレクトロニクスカードを収納するテストヘッドであり、前記コネクタ収納部はプローバに設けられたプローブカードを電気的に接続するためにテストヘッドに設けられる変換ボックスであることを特徴とする半導体試験システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008035967A JP4962794B2 (ja) | 2008-02-18 | 2008-02-18 | コネクタ装置および半導体試験システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008035967A JP4962794B2 (ja) | 2008-02-18 | 2008-02-18 | コネクタ装置および半導体試験システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2009193917A JP2009193917A (ja) | 2009-08-27 |
JP4962794B2 true JP4962794B2 (ja) | 2012-06-27 |
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ID=41075743
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2008035967A Active JP4962794B2 (ja) | 2008-02-18 | 2008-02-18 | コネクタ装置および半導体試験システム |
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Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4962794B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018079214A1 (ja) | 2016-10-25 | 2018-05-03 | オリンパス株式会社 | 内視鏡プロセッサ、内視鏡及び内視鏡システム |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09288147A (ja) * | 1996-04-23 | 1997-11-04 | Ando Electric Co Ltd | テストボード着脱装置 |
JP2859207B2 (ja) * | 1996-05-21 | 1999-02-17 | 埼玉日本電気株式会社 | コネクタ取付構造 |
JP2005321238A (ja) * | 2004-05-07 | 2005-11-17 | Yokogawa Electric Corp | 半導体試験装置のdutインターフェース |
JP2007116085A (ja) * | 2006-04-25 | 2007-05-10 | Advantest Corp | 電子部品試験装置 |
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2008
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2009193917A (ja) | 2009-08-27 |
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