JPH09288147A - テストボード着脱装置 - Google Patents

テストボード着脱装置

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Publication number
JPH09288147A
JPH09288147A JP8126424A JP12642496A JPH09288147A JP H09288147 A JPH09288147 A JP H09288147A JP 8126424 A JP8126424 A JP 8126424A JP 12642496 A JP12642496 A JP 12642496A JP H09288147 A JPH09288147 A JP H09288147A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test board
test
rail
fixed
test head
Prior art date
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Pending
Application number
JP8126424A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Ota
宏 太田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ando Electric Co Ltd
Original Assignee
Ando Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Ando Electric Co Ltd filed Critical Ando Electric Co Ltd
Priority to JP8126424A priority Critical patent/JPH09288147A/ja
Publication of JPH09288147A publication Critical patent/JPH09288147A/ja
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  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 テストヘッドは固定しておいてテストボード
のみを移動させることにより、テストボードの着脱動作
を簡易・迅速に行う。 【解決手段】 テストボード着脱装置は、固定レール1
6と昇降レール14と雌コネクタ11を備える。固定レ
ール16は、テストヘッド1に固定され、雄コネクタ2
1を実装したテストボード2を挿入、又は取り外す。昇
降レール14は、固定レール16と隣接して直列に設け
られ、テストボード2を戴置して昇降し、最上位置に到
達したときに、軌道面14aが前記固定レール16の軌
道面16aと同一平面上に位置する。雌コネクタ11
は、テストヘッド1に実装され、レバー11aが一括移
動すると接触子が開閉し、昇降レール14に戴置された
テストボード2の雄コネクタ21に対して結合状態、又
は分離状態となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明はテストボード着脱
装置、特に特定品種のICソケットを備えたテストボー
ドをテストヘッドに対して着脱可能にしたテストボード
着脱装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、ICテスタは、ピンエレクトロ
ニクス回路等の測定回路を内蔵したテストヘッドと、テ
ストヘッドに接続するテストボードを備えている。
【0003】前記テストボードの表面には、ICソケッ
トが実装されていて、このICソケットに、試験対象で
あるICが装着されるようになっている。
【0004】ところが、多品種のICを試験する場合に
は、そのICに合った特定品種のICソケットを実装し
たテストボードが必要となる。
【0005】このため、テストボードは、テストヘッド
に対して着脱可能でなければならない。
【0006】従来、特定品種のICソケットを実装した
テストボードをテストヘッドに装着する場合は、次のよ
うにする。即ち、被測定デバイスであるICの自動供給
装置、例えば、水平搬送用オートハンドラから、先ず、
テストヘッドを下方に移動し、次に、そのテストヘッド
を水平に移動して、作業者の手の届くところに置く。
【0007】そして、作業者は、ある特定品種のICソ
ケットを実装したテストボードをテストヘッドに装着す
る。
【0008】これとは反対にテストボードをテストヘッ
ドから離脱させる場合にも、同様に、先ず、前記水平搬
送用オートハンドラから、テストヘッドを下方に移動
し、次に、そのテストヘッドを水平に移動して、作業者
の手の届くところに置き、最後に、ある特定品種のIC
ソケットを実装したテストボードをテストヘッドから離
脱させる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
は、特定品種のICソケットを実装したテストボードを
テストヘッドに対して着脱する場合は、テストヘッド自
体を水平に移動させなければならない。
【0010】しかし、テストヘッド自体を水平に移動さ
せることは、極めて面倒であり、手間がかかる。
【0011】この結果、多品種のICを試験する場合の
作業効率が低下する。
【0012】この発明の目的は、テストヘッドは固定し
ておいてテストボードのみを移動させることにより、テ
ストボードの着脱動作を簡易・迅速に行うことにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、この発明によれば、図1〜図7に示すように、テス
トボード着脱装置を、テストヘッド1に固定された固定
レール16と、固定レール16と隣接して直列に設けら
れた昇降レール14と、レバー11aが一括移動して接
触子が開閉する雌コネクタ11により構成した。
【0014】この構成によれば、テストボード2を固定
レール16に沿って挿入し昇降レール14に載せ、昇降
レール14を下降させることにより、テストボード2の
雄コネクタ21をテストヘッド1の雌コネクタ11と結
合させることができる。
【0015】また、テストボード2の雄コネクタ21を
テストヘッド1の雌コネクタ11と分離させた後、テス
トボード2を昇降レール14に載せたまま上昇させ、固
定レール16側へ移動させればテストボード2を取り外
すことができる。
【0016】従って、テストヘッドは固定しておいてテ
ストボードのみを移動させることにより、テストボード
の着脱動作を簡易・迅速に行うことができるようになっ
た。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、この発明を実施の形態によ
り添付図面を参照して説明する。図1は、この発明の実
施形態を示す図である。図1において、参照符号1はテ
ストヘッド、2はテストボードである。
【0018】テストヘッド1は、筐体18に、ピンエレ
クトロニクス回路等の測定回路を内蔵している。テスト
ヘッド1とは、ICテスタ本体(図示省略)と接続さ
れ、例えば、移動可能な支持脚部(図示省略)の上に載
っている。
【0019】筐体18の上面18aには、相対向する2
本のレール16が固定されている。固定レール16は、
後述する雄コネクタ21を実装したテストボード2を、
軌道面16aに沿って案内する。
【0020】固定レール16に隣接して、レール14が
直列に設けられ、レール14は、図1の矢印E、Fの方
向に昇降可能に取り付けられている。
【0021】図2に示すように、昇降レール14の底面
のほぼ中央部に、第1の駆動手段であるシリンダ15の
ピストンロッド15cが固定されている。ピストンロッ
ド15cは、筐体18の上面18aに形成された開口部
19cを貫通している。シリンダ15は、例えばエアシ
リンダであり、筐体18に内蔵されている。
【0022】また、前記昇降レール14の底面には、案
内棒15a、15bが固定されている。案内棒15a、
15bは、ピストンロッド15cを挟んで配置され、筐
体18の上面18aに形成された開口部19a、19b
を貫通している。
【0023】前述の構成により、昇降レール14は、前
記固定レール16を介して挿入されたテストボード2を
戴置した状態で昇降できる。
【0024】そして、昇降レール14は、後述する図5
に示すように、最上位置に到達したときに、その軌道面
14aが前記固定レール16の軌道面16aと同一平面
上に位置するようになっている。
【0025】相対向する昇降レール14の内側近傍に
は、ガイドピン17が例えば2本設けられ、ガイドピン
17は、後述するテストボード2の2個のガイド穴24
に対応している。
【0026】前述の構成により、昇降レール14上に戴
置されたテストボード2が、昇降時に、案内されるよう
になっている。
【0027】前記2本のガイドピン17の間には、図示
するように、複数個(例えば8個)の雌コネクタ11が
配列され、各雌コネクタ11は、レバー11aを備えて
いる。
【0028】この雌コネクタ11は、例えば、日本航空
電子工業社製のLS21コネクタであり、よく知られて
いるように、レバー11aを矢印C、Dで示される前後
方向に移動させることにより、接触子(コンタクト)が
開閉するようになっている。
【0029】レバー11aは、図3に示すように連結板
12の長溝12Cに挿入されている。連結板12は、第
2の駆動手段であるシリンダ13に連結しており、シリ
ンダ13は、例えばエアシリンダである。
【0030】また、図4に示すように、連結板12の両
側部には、ブロック19が立設している。ブロック19
は、スライドレール19aを介して、連結板12に対し
滑り結合している。
【0031】従って、前述の構成により、駆動手段13
を作動させれば、連結板12は矢印C又はD方向に移動
し、それに従ってレバー11aが一括して移動するの
で、各雌コネクタ11の接触子を同時に開閉することが
できる。
【0032】一方、テストボード2は、既述したよう
に、被測定デバイスであるICを装着するボードであっ
て、図1に示すように、シャーシ23と保持板22で構
成されている。
【0033】シャーシ23は、直方体状に形成され、シ
ャーシ23の表面23aには、プリント基板25が取り
付けられ、プリント基板25には、ICソケット26が
実装されている。
【0034】保持板22は、シャーシ23を保持し、全
体として矩形状に形成されている。
【0035】保持板22には、例えば、8個の雄コネク
タ21が設けられ、雄コネクタ21は、保持板22に形
成された窓22bを横切って下面22Cに固定されてい
る。
【0036】この雄コネクタ21は、例えば、日本航空
電子工業社製のLS11コネクタであり、前記テストヘ
ッド1に実装した雌コネクタ11(日本航空電子工業社
製のLS21コネクタ)と対になっている。
【0037】シャーシ23の表面23aに取り付けられ
たプリント基板25は、例えば8枚であり、各プリント
基板25には、2個づつのICソケット26が実装さ
れ、ICソケット26と雄コネクタ21とは、同軸線2
7により、電気的に接続されている。
【0038】また、保持板22の両側には、翼部22a
が形成されている。翼部22aをテストヘッド1に設け
られた固定レール16の軌道面16a上を滑動させ、更
に押し込んで昇降レール14の軌道面14a上を滑動さ
せる。そして、図6に示すように、翼部22aを昇降レ
ール14の当接面14bに突き当てれば、テストボード
2を挿入することができる。
【0039】以下、前記構成を備えたこの発明の動作を
説明する。
【0040】尚、駆動部13、15は、制御部の操作に
より動作する。
【0041】A.テストボード2を装着する場合。 (1)昇降レール14の上昇 先ず、シリンダ15を起動させると、昇降レール14が
矢印Eの方向に上昇し、図5に示すように、昇降レール
14が最上位置に到達すると、軌道面14aが固定レー
ル16の軌道面16aと同一平面上に位置する。
【0042】また、シリンダ13を起動させて、連結板
12を図面に向かって手前に移動、即ち、レバー11a
を、図5の矢印Cの方向である手前に、一括移動させる
ことにより、テストヘッド1上の雌コネクタ11の接触
子を予め開いた状態にしておく。
【0043】(2)テストボード2の挿入 次に、テストボード2の保持板22の両側に形成された
翼部22aを、図5の矢印Aで示すように、テストヘッ
ド1の両側に固定した固定レール16の軌道面16a上
を滑動させることにより、テストボード2を滑り込ませ
る。
【0044】更にテストボード2を押し込んで、図6に
示すように、保持板22の翼部22aを昇降レール14
の軌道面14a上を矢印Aの方向に滑動させることによ
り、当接面14bに突き当てる。
【0045】これにより、テストボード2は、テストヘ
ッド1に挿入される。また、このとき、テストボード2
のガイド穴24は、テストヘッド1のガイドピン17の
直上方に位置している。
【0046】(3)テストボード2の下降 テストボード2の翼部22aを、昇降レール14の当接
面14bに突き当てシリンダ15を作動させることによ
り、図7の矢印F方向に昇降レール14を下降させる。
【0047】昇降レール14が下降するに従って、昇降
レール14上に戴置されたテストボード2も、保持板2
2のガイド穴24に挿入されたガイドピン17に沿って
下降し、テストボード2の雄コネクタ21がテストヘッ
ド1の雌コネクタ11に接触したときに停止する。この
とき、昇降レール14は、図7に示すように、最下位置
に到達している。
【0048】(4)雌コネクタ11と雄コネクタ21の
結合。 昇降レール14が最下位置に到達したときにシリンダ1
3を作動させることにより、連結板12を図7の矢印D
方向となる反対方向に移動させると共に、レバー11a
を反対方向に一括移動させ、テストヘッド1上の雌コネ
クタ11の接触子を閉じ、雌コネクタ11をテストボー
ド2の雄コネクタ21に結合させる。
【0049】これにより、テストボード2は、テストヘ
ッド1に装着される。
【0050】B.テストボード2を離脱させる場合。
【0051】(1)雌コネクタ11と雄コネクタ21の
分離 先ず、図7の状態で、シリンダ13を起動させて、連結
板12を図面に向かって手前に、従って、レバー11a
を矢印Cの方向となる手前に一括移動させることによ
り、テストヘッド1上の雌コネクタ11の接触子を開放
し、雌コネクタ11をテストボード2の雄コネクタ21
から分離する。
【0052】(2)テストボード2の上昇 次に、シリンダ15を起動させると、昇降レール14が
上昇し、それと共に昇降レール14上に戴置されたテス
トボード2も、保持板22のガイド穴24に挿入された
ガイドピン17に沿って上昇する。
【0053】図6に示すように、昇降レール14が最上
位置に到達すると、軌道面14aが固定レール16の軌
道面16aと同一平面上に位置し、昇降レール14は停
止する。
【0054】(3)テストボード2の固定レール16側
への移動 昇降レール14が最上位置に到達したときには、図6に
示すように、テストボード2は、未だ昇降レール14上
に戴置されている。
【0055】昇降レール14に戴置されているテストボ
ード2を、翼部22aを昇降レール14の軌道面14a
上で矢印B方向に滑動させることにより、固定レール1
6側に移動させる。
【0056】(4)テストボード2の取り出し 図5に示すように、固定レール16側に移動したテスト
ボード2の翼部22aを、図5に示すように、軌道面1
6a上を更に外側に滑動させると、固定レール16から
外れる。
【0057】これにより、テストボード2を、テストヘ
ッド1から取り出し、離脱させることができる。
【0058】
【発明の効果】この発明によれば、テストボード着脱装
置を、雄コネクタ21を実装したテストボード2の挿入
・取り出しが可能な固定レール16と、テストボード2
を載せたまま昇降可能な昇降レール14と、レバー11
aが一括移動して接触子が開閉する雌コネクタ11によ
り構成したことにより、テストヘッドは固定しておいて
テストボードのみを移動させることが可能となり、テス
トボードの着脱動作を簡易・迅速に行うことができるよ
うになった。
【0059】
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施形態を示す全体図である。
【図2】この発明を構成する昇降レールの詳細図であ
る。
【図3】この発明を構成する雌コネクタのレバー移動機
構を示す詳細図である。
【図4】この発明を構成する雌コネクタのレバーが挿入
されている連結板を示す詳細図である。
【図5】この発明による着脱動作の第一説明図である。
【図6】この発明による着脱動作の第二説明図である。
【図7】この発明による着脱動作の第三説明図である。
【符号の説明】
1 テストヘッド 2 テストボード 11 雌コネクタ 14 昇降レール 16 固定レール 21 雄コネクタ 11a レバー 14a 昇降レール14の軌道面 16a 固定レール16の軌道面

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 テストヘッド(1)に固定され、雄コネ
    クタ(21)を実装したテストボード(2)の挿入、又
    は取り出しが可能な固定レール(16)と、 固定レール(16)と隣接して直列に設けられ、テスト
    ボード(2)を戴置して昇降可能であって、最上位置に
    到達したときに、軌道面(14a)が前記固定レール
    (16)の軌道面(16a)と同一平面上に位置する昇
    降レール(14)と、 テストヘッド(1)に実装され、レバー(11a)が一
    括移動することにより接触子が開閉し、前記昇降レール
    (14)に戴置されたテストボード(2)の雄コネクタ
    (21)に対して結合状態、又は分離状態となる雌コネ
    クタ(11)を備えることを特徴とするテストボード着
    脱装置。
  2. 【請求項2】 昇降レール(14)は、第1の駆動手段
    (15)と連結し、第1の駆動手段(15)が駆動する
    ことにより、昇降レール(14)は、案内棒(15a、
    15b)により移動方向以外の運動が規制されて昇降す
    る請求項1記載のテストボード着脱装置。
  3. 【請求項3】 雌型コネクタ(11)のレバー(11
    a)は、連結板(12)を介して第2の駆動手段(1
    3)と連結し、第2の駆動手段(13)が駆動すること
    により、レバー(11a)が一括移動する請求項1記載
    のテストボード着脱装置。
JP8126424A 1996-04-23 1996-04-23 テストボード着脱装置 Pending JPH09288147A (ja)

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JP8126424A JPH09288147A (ja) 1996-04-23 1996-04-23 テストボード着脱装置

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JPH09288147A true JPH09288147A (ja) 1997-11-04

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ID=14934840

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008003073A (ja) * 2006-05-25 2008-01-10 Yokogawa Electric Corp Icテスタ及びテストボードの着脱方法
JP2009193917A (ja) * 2008-02-18 2009-08-27 Yokogawa Electric Corp コネクタ装置および半導体試験システム
JP5368580B2 (ja) * 2009-11-25 2013-12-18 株式会社アドバンテスト 基板装着装置、テストヘッド、及び電子部品試験装置
CN110187148A (zh) * 2018-11-30 2019-08-30 中航光电科技股份有限公司 多芯印制板插拔测试装置

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