CN219799550U - 一种用于电路板的自动测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于电路板的自动测试装置，包括：用于对电路板进行测试的探针机构；设于探针机构上方的升降流线机构，包括用于对电路板进行输送的流线组件以及用于当电路板被输送到预设位置时降低流线组件以将电路板放置在探针机构上的升降组件；设于升降流线机构上方的下压机构，用于对探针机构上的电路板进行下压，以使电路板与探针机构充分接触。本实用新型具有自动上下料功能，自动测试效率高，无需人工做重复性工作，降低了工人的劳动强度，节约了电路板的测试时间，提高了产线的生产效率，且提高了测试的成功率。

Description

一种用于电路板的自动测试装置

技术领域

本实用新型涉及电路板自动测试技术领域，尤其涉及一种用于电路板的自动测试装置。

背景技术

目前，电路板制造行业使用ICT(In-circuit Test)电测治具设备作业操作，需要手工上料和手工下压治具，上下治具的ICT电测对位都是要通过人工的调整，这样生产效率低，人工频繁对位放产品导致工人劳动强度大，人为因素引起的漏测或误测会令不合格产品增多，且流向下一道工艺，影响整线的生产。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题在于，针对上述背景技术中提及的相关技术存在的至少一个缺陷：电路板人工测试效率低，提供一种用于电路板的自动测试装置。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：构造了一种用于电路板的自动测试装置，包括：

用于对电路板进行测试的探针机构；

设于所述探针机构上方的升降流线机构，包括用于对电路板进行输送的流线组件以及用于当电路板被输送到预设位置时降低所述流线组件以将电路板放置在所述探针机构上的升降组件；

设于所述升降流线机构上方的下压机构，用于对所述探针机构上的电路板进行下压，以使电路板与所述探针机构充分接触。

优选地，在本实用新型所述的用于电路板的自动测试装置中，所述探针机构包括探针支撑件以及设于所述探针支撑件上的探针板。

优选地，在本实用新型所述的用于电路板的自动测试装置中，所述探针板包括与电路板的测试孔位相对应的多根探针。

优选地，在本实用新型所述的用于电路板的自动测试装置中，所述探针板还包括用于对下压的所述下压机构进行定位的至少一定位孔。

优选地，在本实用新型所述的用于电路板的自动测试装置中，所述探针板还包括用于对下降的电路板进行定位的至少一第一定位件。

优选地，在本实用新型所述的用于电路板的自动测试装置中，所述升降组件包括第一升降驱动件和导向件；

所述第一升降驱动件和所述导向件连接在所述流线组件的下方，所述第一升降驱动件在所述导向件的导引下，带动所述流线组件上下运动以实现电路板的升降动作。

优选地，在本实用新型所述的用于电路板的自动测试装置中，所述流线组件包括平行且相对的第一流线件和第二流线件。

优选地，在本实用新型所述的用于电路板的自动测试装置中，所述第一流线件和所述第二流线件分别包括支撑件、设于所述支撑件一侧的流线和设于所述支撑件上用于驱动所述流线传动的流线驱动件。

优选地，在本实用新型所述的用于电路板的自动测试装置中，所述用于电路板的自动测试装置还包括宽度调节机构；

所述第一流线件和所述第二流线件设于所述宽度调节机构上，所述宽度调节机构用于驱动所述第一流线件靠近或远离所述第二流线件，以调节所述第一流线件和所述第二流线件之间的宽度。

优选地，在本实用新型所述的用于电路板的自动测试装置中，所述宽度调节机构包括固定件、第一流线连接件、第二流线连接件和宽度调节组件；

两所述第一流线连接件和两所述第二流线连接件分别相对的设于两所述固定件上；

所述第一流线连接件与所述第一流线件相连接，所述第二流线连接件与所述第二流线件相连接；

所述宽度调节组件设于所述固定件上，用于同步驱动两所述第一流线连接件在所述固定件上滑动式的靠近或远离所述第二流线连接件，以带动所述第一流线件靠近或远离所述第二流线件。

优选地，在本实用新型所述的用于电路板的自动测试装置中，所述宽度调节组件包括宽度调节驱动件、传动件、滑动导向件和同步件；

两所述滑动导向件分别沿所述第一流线连接件靠近或远离所述第二流线连接件的方向设于两所述固定件上；

两所述传动件分别设于两所述固定件上，且两所述传动件之间通过所述同步件相连接传动；

所述宽度调节驱动件设于其中一所述固定件上，可带动其中一所述传动件转动，并通过所述同步件带动另一所述传动件同步转动；

两所述第一流线连接件分别设于两所述传动件上，所述传动件可带动所述第一流线连接件在所述滑动导向件上靠近或远离所述第二流线连接件。

优选地，在本实用新型所述的用于电路板的自动测试装置中，所述用于电路板的自动测试装置还包括用于阻挡所述流线组件上输送到位进行测试的电路板的到位阻挡机构。

优选地，在本实用新型所述的用于电路板的自动测试装置中，所述用于电路板的自动测试装置还包括用于阻挡所述流线组件上等待进行测试的电路板的缓冲阻挡机构。

优选地，在本实用新型所述的用于电路板的自动测试装置中，所述下压机构包括支撑组件、第二升降驱动件和下压组件；

所述第二升降驱动件设于所述支撑组件上，所述第二升降驱动件与所述下压组件相连接，用于驱动所述下压组件上下移动，所述下压组件与所述探针机构相对应。

优选地，在本实用新型所述的用于电路板的自动测试装置中，所述下压组件包括连接板组和下压件；

所述连接板组与所述第二升降驱动件相连接，多个所述下压件设于所述连接板组上，所述下压件用于与电路板的结构承载区进行接触。

优选地，在本实用新型所述的用于电路板的自动测试装置中，所述下压组件还包括设于所述连接板组上的用于对电路板进行标记的至少一记号件。

优选地，在本实用新型所述的用于电路板的自动测试装置中，所述下压组件还包括设于所述连接板组上的用于对所述探针机构进行定位的至少一第二定位件。

优选地，在本实用新型所述的用于电路板的自动测试装置中，所述用于电路板的自动测试装置还包括固定机构；

所述探针机构、所述升降流线机构、所述下压机构和所述宽度调节机构设于所述固定机构的顶部。

优选地，在本实用新型所述的用于电路板的自动测试装置中，所述用于电路板的自动测试装置还包括设于所述固定机构底部的支撑机构。

通过实施本实用新型，具有以下有益效果：

本实用新型公开了一种用于电路板的自动测试装置，具有自动上下料功能，当电路板被输送到预设位置时降低流线组件以将电路板放置在探针机构上进行自动测试，测试效率高，无需人工做重复性工作，降低了工人的劳动强度，节约了电路板的测试时间，提高了产线的生产效率，且通过下压机构的下压，使电路板与探针机构充分接触，从而提高测试的成功率。

附图说明

下面将结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明，附图中：

图1是本实用新型用于电路板的自动测试装置的结构示意图一；

图2是本实用新型用于电路板的自动测试装置的结构示意图二；

图3是图1或图2的侧视图；

图4是本实用新型探针机构的结构示意图；

图5是图4中探针板的结构示意图；

图6是本实用新型升降组件的结构示意图；

图7是本实用新型流线组件和宽度调节机构的结构示意图；

图8是本实用新型下压机构的结构示意图；

图9是图8的侧视图。

具体实施方式

为了对本实用新型的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图详细说明本实用新型的具体实施方式。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本实用新型中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“设于”、“位于”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是化学连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

如图1、图2、图3、图6和图7所示，本实用新型的一个实施例公开了一种用于电路板的自动测试装置，例如电路板为PCB多连板或PCBA多连板，包括：

用于对电路板进行测试的探针机构1；

设于探针机构1上方的升降流线机构2，包括用于对电路板进行输送的流线组件21以及用于当电路板被输送到预设位置时降低流线组件21以将电路板放置在探针机构1上的升降组件22；

设于升降流线机构2上方的下压机构3，用于对探针机构1上的电路板进行下压，以使电路板与探针机构1充分接触，提高ICT测试的成功率，完成ICT测试的电路板流向下一工序。

具体地，如图4和图5所示，探针机构1包括探针支撑件11以及设于探针支撑件11上的探针板12，电路板7放置在探针板12上。而探针板12包括与电路板7的测试孔位相对应的多根探针121。例如，探针支撑件11为探针支撑板。

为了保证下压机构3的下压组件33换型后，下压机构3与探针机构1上下对齐，探针板12还包括用于对下压的下压机构3进行定位的至少一定位孔122，具体与下压机构3的下压组件33中的第二定位件334相配合，如图8和图9所示。

当电路板落在探针机构1上时，可能会存在较大的误差间隙，为了校正位置误差，进行精准定位，提高ICT测试的成功率，探针板12还包括用于对下降的电路板进行定位的至少一第一定位件123，例如为圆锥形状的定位针。

本实施例中，如图6所示，升降组件22包括第一升降驱动件221和导向件222。第一升降驱动件221和导向件222连接在流线组件21的下方，具体第一升降驱动件221设于固定机构5上，导向件222与宽度调节机构4的固定件41相连接。第一升降驱动件221在导向件222的导引下，带动流线组件21上下运动以实现电路板的升降动作。例如，第一升降驱动件221为升降气缸，导向件222为导向柱。

本实施例中，如图7所示，流线组件21包括平行且相对的第一流线件211a和第二流线件211b。第一流线件211a和第二流线件211b分别包括支撑件2111、设于支撑件2111一侧的流线2112和设于支撑件2111上用于驱动流线2112传动的流线驱动件2113。第一流线件211a和第二流线件211b中相对的流线2112构成完整的传送线。例如，支撑件2111为支撑导轨，流线2112为传送皮带，流线驱动件2113为驱动电机，PCBA多连板承载在传送皮带上，驱动电机旋转带动传送皮带输送，完成PCBA多连板的自动上下料动作。

本实施例中，如图1和图7所示，用于电路板的自动测试装置还包括宽度调节机构4。第一流线件211a和第二流线件211b设于宽度调节机构4上，宽度调节机构4用于驱动第一流线件211a靠近或远离第二流线件211b，以调节第一流线件211a和第二流线件211b之间的宽度，可适用于多种不能规格的电路板。

具体地，宽度调节机构4包括固定件41、第一流线连接件42、第二流线连接件43和宽度调节组件44。两第一流线连接件42和两第二流线连接件43分别相对的设于两固定件41上。第一流线连接件42与第一流线件211a相连接，即与第一流线件211a的支撑件2111相连接，第二流线连接件43与第二流线件211b相连接，即与第二流线件211b的支撑件2111相连接。宽度调节组件44设于固定件41上，用于同步驱动两第一流线连接件42在固定件41上滑动式的靠近或远离第二流线连接件43，以带动第一流线件211a靠近或远离第二流线件211b。

其中，宽度调节组件44包括宽度调节驱动件441、传动件442、滑动导向件443和同步件444。两滑动导向件443分别沿第一流线连接件42靠近或远离第二流线连接件43的方向设于两固定件41上，两传动件442分别设于两固定件41上，且两传动件442之间通过同步件444相连接传动。宽度调节驱动件441设于其中一固定件41上，可带动其中一传动件442转动，并通过同步件444带动另一传动件442同步转动。两第一流线连接件42分别设于两传动件442上，传动件442可带动第一流线连接件42在滑动导向件443上靠近或远离第二流线连接件43。

例如，固定件41为固定板，第一流线连接件42为滑块，第二流线连接件43为连接座，宽度调节驱动件441为驱动电机，传动件442为丝杆，宽度调节驱动件441旋转可以带动丝杆旋转，第一流线连接件42内有丝杠螺母，进而第一流线连接件42可沿着滑动导向件443移动，滑动导向件443为滑轨，同步件444为同步带。

本实施例中，如图7所示，用于电路板的自动测试装置还包括用于阻挡流线组件21上输送到位进行测试的电路板的到位阻挡机构8。当电路板在传送线上传送到位进行测试时，被到位阻挡机构8挡住，且传送线停止传送，随后第一升降驱动件221下降，电路板落到探针机构1正上方。当测试完成后，第一升降驱动件221升起，电路板被抬升，传送线重新传动，到位阻挡机构8放行，测试好的电路板流向下一个工位。

且，用于电路板的自动测试装置还包括用于阻挡流线组件21上等待进行测试的电路板的缓冲阻挡机构9。当电路板在传送线上等待进行测试时，被缓冲阻挡机构9挡住，阻挡前方来料，防止多张电路板流入测试范围内，造成电路板压坏等情况的发生，同时，等待在缓冲位的电路板能在当前测试完成后，迅速补给，缩短测试的等待时间。

具体地，到位阻挡机构8和缓冲阻挡机构9设于第一流线件211a或第二流线件211b上，到位阻挡机构8和缓冲阻挡机构9分别包括设于支撑件2111上的阻挡驱动件和与阻挡驱动件相连接的阻挡臂，例如阻挡驱动件为驱动电机。

本实施例中，如图8和9所示，下压机构3包括支撑组件31、第二升降驱动件32和下压组件33。第二升降驱动件32设于支撑组件31上，第二升降驱动件32与下压组件33相连接，用于驱动下压组件33上下移动，下压组件33与探针机构1相对应。例如，支撑组件31为支撑框架，第二升降驱动件32为升降气缸。

其中，下压组件33包括连接板组331和下压件332。连接板组331与第二升降驱动件32相连接，多个下压件332设于连接板组331上，下压件332用于与电路板的结构承载区进行接触，可减少测试过程中探针121反作用力对电路板造成的开裂损伤等问题。例如，下压件332为下压柱。

为了将已经做过ICT测试的电路板和未做ICT测试的电路板进行区分，方便检查标记，下压组件33还包括设于连接板组331上的用于对电路板进行标记的至少一记号件333，例如为记号笔。

为了令下压机构3与探针机构1上下对齐，下压组件33还包括设于连接板组331上的用于对探针机构1进行定位的至少一第二定位件334，例如为定位柱。

在一些实施例中，下压机构3还包括安装板34和换型气缸35。安装板34的一侧与第二升降驱动件32相连接，安装板34的另一侧与连接板组331相连接，换型气缸35设于安装板34上，可快速解除连接板组331和连接板组331的连接，从而快速更换下压组件33，减少换型时间。

本实施例中，如图1所示，用于电路板的自动测试装置还包括固定机构5。探针机构1、升降流线机构2、下压机构3和宽度调节机构4设于固定机构5的顶部。具体地，探针机构1的探针支撑件11、升降组件22的第一升降驱动件221、宽度调节机构4的固定件41和下压机构3的支撑组件31分别设于固定机构5的顶部，例如固定机构5为固定板。

本实施例中，用于电路板的自动测试装置还包括设于固定机构5底部的支撑机构6，例如支撑框架。

通过实施本实用新型，具有以下有益效果：

本实用新型公开了一种用于电路板的自动测试装置，具有自动上下料功能，当电路板被输送到预设位置时降低流线组件以将电路板放置在探针机构上进行自动测试，测试效率高，无需人工做重复性工作，降低了工人的劳动强度，节约了电路板的测试时间，提高了产线的生产效率，且通过下压机构的下压，使电路板与探针机构充分接触，从而提高测试的成功率。

可以理解的，以上实施例仅表达了本实用新型的部分实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制；应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，可以对上述实施例或技术特点进行自由组合，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围，即“在一些实施例”所描述的实施例可与上下任一实施例进行自由组合；因此，凡跟本实用新型权利要求范围所做的等同变换与修饰，均应属于本实用新型权利要求的涵盖范围。

Claims (19)

1.一种用于电路板的自动测试装置，其特征在于，包括：

用于对电路板进行测试的探针机构(1)；

设于所述探针机构(1)上方的升降流线机构(2)，包括用于对电路板进行输送的流线组件(21)以及用于当电路板被输送到预设位置时降低所述流线组件(21)以将电路板放置在所述探针机构(1)上的升降组件(22)；

设于所述升降流线机构(2)上方的下压机构(3)，用于对所述探针机构(1)上的电路板进行下压，以使电路板与所述探针机构(1)充分接触。

2.根据权利要求1所述的用于电路板的自动测试装置，其特征在于，所述探针机构(1)包括探针支撑件(11)以及设于所述探针支撑件(11)上的探针板(12)。

3.根据权利要求2所述的用于电路板的自动测试装置，其特征在于，所述探针板(12)包括与电路板的测试孔位相对应的多根探针(121)。

4.根据权利要求2所述的用于电路板的自动测试装置，其特征在于，所述探针板(12)还包括用于对下压的所述下压机构(3)进行定位的至少一定位孔(122)。

5.根据权利要求2所述的用于电路板的自动测试装置，其特征在于，所述探针板(12)还包括用于对下降的电路板进行定位的至少一第一定位件(123)。

6.根据权利要求1所述的用于电路板的自动测试装置，其特征在于，所述升降组件(22)包括第一升降驱动件(221)和导向件(222)；

所述第一升降驱动件(221)和所述导向件(222)连接在所述流线组件(21)的下方，所述第一升降驱动件(221)在所述导向件(222)的导引下，带动所述流线组件(21)上下运动以实现电路板的升降动作。

7.根据权利要求1所述的用于电路板的自动测试装置，其特征在于，所述流线组件(21)包括平行且相对的第一流线件(211a)和第二流线件(211b)。

8.根据权利要求7所述的用于电路板的自动测试装置，其特征在于，所述第一流线件(211a)和所述第二流线件(211b)分别包括支撑件(2111)、设于所述支撑件(2111)一侧的流线(2112)和设于所述支撑件(2111)上用于驱动所述流线(2112)传动的流线驱动件(2113)。

9.根据权利要求7所述的用于电路板的自动测试装置，其特征在于，所述用于电路板的自动测试装置还包括宽度调节机构(4)；

所述第一流线件(211a)和所述第二流线件(211b)设于所述宽度调节机构(4)上，所述宽度调节机构(4)用于驱动所述第一流线件(211a)靠近或远离所述第二流线件(211b)，以调节所述第一流线件(211a)和所述第二流线件(211b)之间的宽度。

10.根据权利要求9所述的用于电路板的自动测试装置，其特征在于，所述宽度调节机构(4)包括固定件(41)、第一流线连接件(42)、第二流线连接件(43)和宽度调节组件(44)；

两所述第一流线连接件(42)和两所述第二流线连接件(43)分别相对的设于两所述固定件(41)上；

所述第一流线连接件(42)与所述第一流线件(211a)相连接，所述第二流线连接件(43)与所述第二流线件(211b)相连接；

所述宽度调节组件(44)设于所述固定件(41)上，用于同步驱动两所述第一流线连接件(42)在所述固定件(41)上滑动式的靠近或远离所述第二流线连接件(43)，以带动所述第一流线件(211a)靠近或远离所述第二流线件(211b)。

11.根据权利要求10所述的用于电路板的自动测试装置，其特征在于，所述宽度调节组件(44)包括宽度调节驱动件(441)、传动件(442)、滑动导向件(443)和同步件(444)；

两所述滑动导向件(443)分别沿所述第一流线连接件(42)靠近或远离所述第二流线连接件(43)的方向设于两所述固定件(41)上；

两所述传动件(442)分别设于两所述固定件(41)上，且两所述传动件(442)之间通过所述同步件(444)相连接传动；

所述宽度调节驱动件(441)设于其中一所述固定件(41)上，可带动其中一所述传动件(442)转动，并通过所述同步件(444)带动另一所述传动件(442)同步转动；

两所述第一流线连接件(42)分别设于两所述传动件(442)上，所述传动件(442)可带动所述第一流线连接件(42)在所述滑动导向件(443)上靠近或远离所述第二流线连接件(43)。

12.根据权利要求1所述的用于电路板的自动测试装置，其特征在于，所述用于电路板的自动测试装置还包括用于阻挡所述流线组件(21)上输送到位进行测试的电路板的到位阻挡机构(8)。

13.根据权利要求1所述的用于电路板的自动测试装置，其特征在于，所述用于电路板的自动测试装置还包括用于阻挡所述流线组件(21)上等待进行测试的电路板的缓冲阻挡机构(9)。

14.根据权利要求1所述的用于电路板的自动测试装置，其特征在于，所述下压机构(3)包括支撑组件(31)、第二升降驱动件(32)和下压组件(33)；

所述第二升降驱动件(32)设于所述支撑组件(31)上，所述第二升降驱动件(32)与所述下压组件(33)相连接，用于驱动所述下压组件(33)上下移动，所述下压组件(33)与所述探针机构(1)相对应。

15.根据权利要求14所述的用于电路板的自动测试装置，其特征在于，所述下压组件(33)包括连接板组(331)和下压件(332)；

所述连接板组(331)与所述第二升降驱动件(32)相连接，多个所述下压件(332)设于所述连接板组(331)上，所述下压件(332)用于与电路板的结构承载区进行接触。

16.根据权利要求15所述的用于电路板的自动测试装置，其特征在于，所述下压组件(33)还包括设于所述连接板组(331)上的用于对电路板进行标记的至少一记号件(333)。

17.根据权利要求15所述的用于电路板的自动测试装置，其特征在于，所述下压组件(33)还包括设于所述连接板组(331)上的用于对所述探针机构(1)进行定位的至少一第二定位件(334)。

18.根据权利要求9所述的用于电路板的自动测试装置，其特征在于，所述用于电路板的自动测试装置还包括固定机构(5)；

所述探针机构(1)、所述升降流线机构(2)、所述下压机构(3)和所述宽度调节机构(4)设于所述固定机构(5)的顶部。

19.根据权利要求18所述的用于电路板的自动测试装置，其特征在于，所述用于电路板的自动测试装置还包括设于所述固定机构(5)底部的支撑机构(6)。