JP4959414B2 - 画像処理装置、方法及びプログラム - Google Patents
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- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims abstract description 31
- 238000000034 method Methods 0.000 title description 28
- 230000006870 function Effects 0.000 claims abstract description 69
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 44
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 170
- 238000003672 processing method Methods 0.000 claims description 4
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims description 3
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 67
- 230000008569 process Effects 0.000 description 17
- 230000008859 change Effects 0.000 description 14
- 239000010408 film Substances 0.000 description 11
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 9
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 9
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 9
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 9
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 9
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 8
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 8
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 7
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 4
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 4
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 3
- 229910005866 GeSe Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 2
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 2
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000002601 radiography Methods 0.000 description 2
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 2
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- -1 Co. Chemical class 0.000 description 1
- 229910005936 Ge—Sb Inorganic materials 0.000 description 1
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910008814 WSi2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 229910002056 binary alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- CETPSERCERDGAM-UHFFFAOYSA-N ceric oxide Chemical compound O=[Ce]=O CETPSERCERDGAM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000422 cerium(IV) oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003702 image correction Methods 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 239000005300 metallic glass Substances 0.000 description 1
- 229910052961 molybdenite Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- CWQXQMHSOZUFJS-UHFFFAOYSA-N molybdenum disulfide Chemical compound S=[Mo]=S CWQXQMHSOZUFJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052982 molybdenum disulfide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000001454 recorded image Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910052959 stibnite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 1
- YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O--].[Zn++].[In+3] YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
- A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4208—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector
- A61B6/4233—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector using matrix detectors
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- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/62—Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels
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- H04N5/30—Transforming light or analogous information into electric information
- H04N5/32—Transforming X-rays
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- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Surgery (AREA)
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Description
また、請求項1又は請求項2記載の発明において、リーク電流推定式としては、単位領域jにおけるリーク電流発生時点からの経過時間、又は、放射線画像検出器の電荷読出開始時点からの経過時間を変数とする、単一の指数関数から成るリーク電流推定式を用いることができ、この場合、補正手段は、より詳しくは、例えば請求項3に記載したように、単位領域jにおけるリーク電流発生時点からの経過時間、又は、放射線画像検出器の電荷読出開始時点からの経過時間を変数とする、単一の指数関数から成るリーク電流推定式として、
Ij=Aj・exp(−αt)
(但し、tは単位領域jにおけるリーク電流発生時点からの経過時間、又は、放射線画像検出器の電荷読出開始時点からの経過時間、Ajは主に単位領域jの電荷量に依存する係数、αは定数)を用いて、単位領域j(j=1,2,…)におけるリーク電流Ijを各々推定するように構成することができる。これにより、単位領域j(j=1,2,…)におけるリーク電流Ijを各々精度良く推定することができる。
Ij=ΣAjk・exp(−αkt)
(但し、tは単位領域jにおけるリーク電流発生時点からの経過時間、又は、放射線画像検出器の電荷読出開始時点からの経過時間、Ajkは主に単位領域jの電荷量に依存するk個の係数、αkはk個の定数)を用いて、単位領域j(j=1,2,…)におけるリーク電流Ijを各々推定するように構成することができる。この場合も単位領域j(j=1,2,…)におけるリーク電流Ijを各々精度良く推定することができる。
Ij=Aj・exp(−αy)
(但し、yは電荷読出対象の単位領域を所定方向に沿って走査して電荷の読み出しを行った場合の対象単位領域の所定方向に沿った位置、Ajは主に単位領域jの電荷量に依存する係数、αは定数)を用いて、単位領域j(j=1,2,…)におけるリーク電流Ijを各々推定するように構成することができる。この場合も単位領域j(j=1,2,…)におけるリーク電流Ijを各々精度良く推定することができる。
Ij=ΣAjk・exp(−αky)
(但し、yは電荷読出対象の単位領域を所定方向に沿って走査して電荷の読み出しを行った場合の対象単位領域の所定方向に沿った位置、Ajkは主に単位領域jの電荷量に依存するk個の係数、αkはk個の定数)を用いて、単位領域j(j=1,2,…)におけるリーク電流Ijを各々推定するように構成することができる。この場合も単位領域j(j=1,2,…)におけるリーク電流Ijを各々精度良く推定することができる。
Q'(xi,yi)←Q'(xi,yi)+Aexp(−αt) …(1)
なお、上記の(1)式において、tは放射線画像検出器20への高電圧の印加が停止されてから対象単位領域の電荷が読み出される迄の経過時間、Aは参照単位領域から読み出した電荷量(参照単位領域の値Q(x,y))に依存する係数、αは時定数である。(1)式の右辺第2項は参照単位領域におけるリーク電流を表し、本発明に係るリーク電流推定式(より詳しくは請求項3に記載のリーク電流推定式)に対応している。また、図1にも示すように、本実施形態ではリーク電流が読出電流と逆向きの電流である(電荷読み出し時の読出電流がリーク電流分だけ小さくなる)ことから、リーク電流推定式として、(1)式の右辺第2項を右辺第1項に加算する数式を用いているが、リーク電流が読出電流と同じ向きであれば、リーク電流推定式として、(1)式の右辺第2項を右辺第1項から減算する数式を用いればよい。リーク電流補正用データには、上記の(1)式と、時定数αと、参照単位領域の値Q(x,y)の値が各値のときの係数Aの値が対応付けて登録されたLUT(ルックアップテーブル)が含まれている。
20 放射線画像検出器
28 記録用光導電層
30 蓄電部
32 読取用光導電層
38A,38B 透明線状電極
50 制御装置
50A 記憶部
54 ライン光源
58 高電圧電源
70 画像処理部
Claims (10)
- 照射された放射線を電荷に変換して蓄積・保持する放射線画像検出器から、所定方向に沿って前記放射線画像検出器に設けられた信号線を介し前記電荷を電流として読み出しの単位領域毎に順次読み出すことで得られた画像データに対し、任意の対象単位領域の電荷を読み出した際の読出電流に重畳されていた、前記所定方向に沿って前記対象単位領域と同一の信号線上に位置し、かつ前記対象単位領域の電荷読出時には電荷未読出状態だった単位領域j(j=1,2,…)におけるリーク電流Ijを、前記単位領域jにおけるリーク電流発生時点からの経過時間、又は、前記放射線画像検出器の電荷読出開始時点からの経過時間、又は、電荷読出対象の単位領域を前記所定方向に沿って走査して電荷の読み出しを行った場合の前記対象単位領域の前記所定方向に沿った位置を変数とする、単一の指数関数又は複数の指数関数の和から成るリーク電流推定式によって各々推定し、リーク電流の推定結果に基づいて前記画像データのうち前記対象単位領域に対応するデータを補正することを、個々の単位領域を対象として各々行う補正手段を備えた画像処理装置。
- 前記リーク電流推定式は、前記放射線画像検出器の電荷読出開始時点からの経過時間を変数とする、単一の指数関数又は複数の指数関数の和から成ることを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。
- 前記補正手段は、前記単位領域jにおけるリーク電流発生時点からの経過時間、又は、前記放射線画像検出器の電荷読出開始時点からの経過時間を変数とする、単一の指数関数から成るリーク電流推定式として、
Ij=Aj・exp(−αt)
(但し、tは前記単位領域jにおけるリーク電流発生時点からの経過時間、又は、前記放射線画像検出器の電荷読出開始時点からの経過時間、Ajは主に単位領域jの電荷量に依存する係数、αは定数)を用いて、前記単位領域j(j=1,2,…)におけるリーク電流Ijを各々推定することを特徴とする請求項1又は請求項2記載の画像処理装置。 - 前記補正手段は、前記単位領域jにおけるリーク電流発生時点からの経過時間、又は、前記放射線画像検出器の電荷読出開始時点からの経過時間を変数とする、複数の指数関数の和から成るリーク電流推定式として、
Ij=ΣAjk・exp(−αkt)
(但し、tは前記単位領域jにおけるリーク電流発生時点からの経過時間、又は、前記放射線画像検出器の電荷読出開始時点からの経過時間、Ajkは主に単位領域jの電荷量に依存するk個の係数、αkはk個の定数)を用いて、前記単位領域j(j=1,2,…)におけるリーク電流Ijを各々推定することを特徴とする請求項1又は請求項2記載の画像処理装置。 - 前記補正手段は、電荷読出対象の単位領域を前記所定方向に沿って走査して電荷の読み出しを行った場合の前記対象単位領域の前記所定方向に沿った位置を変数とする、単一の指数関数から成るリーク電流推定式として、
Ij=Aj・exp(−αy)
(但し、yは電荷読出対象の単位領域を前記所定方向に沿って走査して電荷の読み出しを行った場合の前記対象単位領域の前記所定方向に沿った位置、Ajは主に単位領域jの電荷量に依存する係数、αは定数)を用いて、前記単位領域j(j=1,2,…)におけるリーク電流Ijを各々推定することを特徴とする請求項1又は請求項2記載の画像処理装置。 - 前記補正手段は、電荷読出対象の単位領域を前記所定方向に沿って走査して電荷の読み出しを行った場合の前記対象単位領域の前記所定方向に沿った位置を変数とする、複数の指数関数の和から成るリーク電流推定式として、
Ij=ΣAjk・exp(−αky)
(但し、yは電荷読出対象の単位領域を前記所定方向に沿って走査して電荷の読み出しを行った場合の前記対象単位領域の前記所定方向に沿った位置、Ajkは主に単位領域jの電荷量に依存するk個の係数、αkはk個の定数)を用いて、前記単位領域j(j=1,2,…)におけるリーク電流Ijを各々推定することを特徴とする請求項1又は請求項2記載の画像処理装置。 - 前記補正手段は、前記単位領域j(j=1,2,…)におけるリーク電流Ijを各々推定した後に、前記単位領域j(j=1,2,…)におけるリーク電流Ijを積分又は積算することで、前記対象単位領域の電荷を読み出した際の読出電流に重畳されていた全リーク電流Iを求め、求めた全リーク電流Iに基づいて前記画像データのうち前記対象単位領域に対応するデータを補正することを特徴とする請求項1〜請求項6の何れか1項記載の画像処理装置。
- 前記放射線画像検出器は、前記信号線として、前記所定方向に交差する方向に沿って配列された複数の読出用電極が設けられ、光が照射されることで、光が照射された箇所に対応する前記単位領域に保持されている電荷量に対応する電荷が、対応する読出用電極を介し電流として出力される構成であり、
前記放射線画像検出器に保持されている電荷の読み出しは、前記放射線画像検出器への光の照射箇所を前記所定方向に沿って走査させることによって成されることを特徴とする請求項1〜請求項7の何れか1項記載の画像処理装置。 - 照射された放射線を電荷に変換して蓄積・保持する放射線画像検出器から、所定方向に沿って前記放射線画像検出器に設けられた信号線を介し前記電荷を電流として読み出しの単位領域毎に順次読み出すことで得られた画像データに対し、任意の対象単位領域の電荷を読み出した際の読出電流に重畳されていた、前記所定方向に沿って前記対象単位領域と同一の信号線上に位置し、かつ前記対象単位領域の電荷読出時には電荷未読出状態だった単位領域j(j=1,2,…)におけるリーク電流Ijを、前記単位領域jにおけるリーク電流発生時点からの経過時間、又は、前記放射線画像検出器の電荷読出開始時点からの経過時間、又は、電荷読出対象の単位領域を前記所定方向に沿って走査して電荷の読み出しを行った場合の前記対象単位領域の前記所定方向に沿った位置を変数とする、単一の指数関数又は複数の指数関数の和から成るリーク電流推定式によって各々推定し、リーク電流の推定結果に基づいて前記画像データのうち前記対象単位領域に対応するデータを補正することを、個々の単位領域を対象として各々行う画像処理方法。
- コンピュータを、
照射された放射線を電荷に変換して蓄積・保持する放射線画像検出器から、所定方向に沿って前記放射線画像検出器に設けられた信号線を介し前記電荷を電流として読み出しの単位領域毎に順次読み出すことで得られた画像データに対し、任意の対象単位領域の電荷を読み出した際の読出電流に重畳されていた、前記所定方向に沿って前記対象単位領域と同一の信号線上に位置し、かつ前記対象単位領域の電荷読出時には電荷未読出状態だった単位領域j(j=1,2,…)におけるリーク電流Ijを、前記単位領域jにおけるリーク電流発生時点からの経過時間、又は、前記放射線画像検出器の電荷読出開始時点からの経過時間、又は、電荷読出対象の単位領域を前記所定方向に沿って走査して電荷の読み出しを行った場合の前記対象単位領域の前記所定方向に沿った位置を変数とする、単一の指数関数又は複数の指数関数の和から成るリーク電流推定式によって各々推定し、リーク電流の推定結果に基づいて前記画像データのうち前記対象単位領域に対応するデータを補正することを、個々の単位領域を対象として各々行う補正手段
として機能させるための画像処理プログラム。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007129232A JP4959414B2 (ja) | 2007-05-15 | 2007-05-15 | 画像処理装置、方法及びプログラム |
US12/149,472 US8155410B2 (en) | 2007-05-15 | 2008-05-02 | Image processing device, image processing method and program storage medium |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007129232A JP4959414B2 (ja) | 2007-05-15 | 2007-05-15 | 画像処理装置、方法及びプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008288685A JP2008288685A (ja) | 2008-11-27 |
JP4959414B2 true JP4959414B2 (ja) | 2012-06-20 |
Family
ID=40027529
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007129232A Active JP4959414B2 (ja) | 2007-05-15 | 2007-05-15 | 画像処理装置、方法及びプログラム |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8155410B2 (ja) |
JP (1) | JP4959414B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4985580B2 (ja) * | 2008-08-07 | 2012-07-25 | 株式会社島津製作所 | 撮像装置 |
JP6034209B2 (ja) * | 2011-08-31 | 2016-11-30 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、放射線画像撮影装置の制御プログラム、及び放射線画像撮影装置の制御方法 |
CN108026733A (zh) * | 2015-08-06 | 2018-05-11 | 卢恰纳·E·汉利 | 悬浮式空气堡垒 |
JP6671267B2 (ja) * | 2016-09-08 | 2020-03-25 | 富士フイルム株式会社 | 画像処理装置、方法およびプログラム |
CN110933256B (zh) * | 2019-12-03 | 2022-05-03 | 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 | 图像暗场漏电流的校正方法、装置、电子终端、存储介质 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001028666A (ja) * | 1999-07-12 | 2001-01-30 | Pfu Ltd | 画像読み取り装置およびその制御方法ならびにその記録媒体 |
JP4146113B2 (ja) * | 2000-10-10 | 2008-09-03 | 株式会社東芝 | X線診断装置 |
JP4178071B2 (ja) * | 2003-04-23 | 2008-11-12 | 株式会社日立メディコ | X線画像診断装置 |
JP2006304213A (ja) | 2005-04-25 | 2006-11-02 | Shimadzu Corp | 撮像装置 |
JP5105940B2 (ja) * | 2007-04-06 | 2012-12-26 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、撮像システム、その制御方法及びプログラム |
-
2007
- 2007-05-15 JP JP2007129232A patent/JP4959414B2/ja active Active
-
2008
- 2008-05-02 US US12/149,472 patent/US8155410B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20080285836A1 (en) | 2008-11-20 |
JP2008288685A (ja) | 2008-11-27 |
US8155410B2 (en) | 2012-04-10 |
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