JP4936948B2 - 複合材料及びその製造方法 - Google Patents
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Description
実施例1では、酸化イットリウム(Y2O3)と酸化ジルコニウム(ZrO2)をそれぞれ95mol%及び5mol%の比率で混合した後、混合粉末を1600℃の焼成温度で4時間焼成することにより、実施例1の複合材料を得た。
実施例2では、Y2O3とZrO2の比率をそれぞれ90mol%及び10mol%とした以外は実施例1と同じ処理を行うことにより、実施例2の複合材料を得た。
実施例3では、Y2O3とZrO2の比率をそれぞれ80mol%及び20mol%とした以外は実施例1と同じ処理を行うことにより、実施例3の複合材料を得た。
実施例4では、Y2O3とZrO2の比率をそれぞれ70mol%及び30mol%とした以外は実施例1と同じ処理を行うことにより、実施例4の複合材料を得た。
実施例5では、Y2O3とZrO2の比率をそれぞれ60mol%及び40mol%とした以外は実施例1と同じ処理を行うことにより、実施例5の複合材料を得た。
実施例6では、Y2O3とZrO2の比率を同じにした以外は実施例1と同じ処理を行うことにより、実施例6の複合材料を得た。
実施例7では、Y2O3とZrO2の比率をそれぞれ40mol%及び60mol%とした以外は実施例1と同じ処理を行うことにより、実施例7の複合材料を得た。
実施例8では、焼成工程後の降温時に1400℃に4時間保持した以外は実施例1と同じ処理を行うことにより、実施例8の複合材料を得た。
実施例9では、焼成工程後の降温時に1400℃に4時間保持した以外は実施例2と同じ処理を行うことにより、実施例9の複合材料を得た。
実施例10では、焼成工程後の降温時に1500℃に4時間保持した以外は実施例3と同じ処理を行うことにより、実施例10の複合材料を得た。
実施例11では、焼成工程後の降温時に1400℃に4時間保持した以外は実施例3と同じ処理を行うことにより、実施例11の複合材料を得た。
実施例12では、焼成工程後の降温時に1500℃に4時間保持した以外は実施例4と同じ処理を行うことにより、実施例12の複合材料を得た。
実施例13では、焼成工程後の降温時に1400℃に4時間保持した以外は実施例4と同じ処理を行うことにより、実施例13の複合材料を得た。
実施例14では、焼成工程後の降温時に1500℃に4時間保持した以外は実施例5と同じ処理を行うことにより、実施例14の複合材料を得た。
実施例15では、焼成工程後の降温時に1400℃に4時間保持した以外は実施例5と同じ処理を行うことにより、実施例15の複合材料を得た。
実施例16では、焼成工程後の降温時に1500℃に4時間保持した以外は実施例6と同じ処理を行うことにより、実施例16の複合材料を得た。
実施例17では、焼成工程後の降温時に1400℃に4時間保持した以外は実施例6と同じ処理を行うことにより、実施例17の複合材料を得た。
実施例18では、焼成工程後の降温時に1300℃に4時間保持した以外は実施例6と同じ処理を行うことにより、実施例18の複合材料を得た。
実施例19では、焼成工程後の降温時に1500℃に4時間保持した以外は実施例7と同じ処理を行うことにより、実施例19の複合材料を得た。
実施例20では、焼成工程後の降温時に1400℃に4時間保持した以外は実施例7と同じ処理を行うことにより、実施例20の複合材料を得た。
実施例21では、焼成工程後の降温時に1300℃に4時間保持した以外は実施例7と同じ処理を行うことにより、実施例21の複合材料を得た。
比較例1では、Y2O3粉末を1600℃の焼成温度で4時間焼成することにより、比較1の材料を得た。
比較例2では、Y2O3とZrO2の比率をそれぞれ99mol%及び1mol%とした以外は実施例1と同じ処理を行うことにより、比較例2の複合材料を得た。
比較例3では、焼成工程後、1400℃に4時間保持した以外は比較例2と同じ処理を行うことにより、比較例3の複合材料を得た。
比較例4では、Y2O3とZrO2の比率をそれぞれ30mol%及び70mol%とした以外は実施例1と同じ処理を行うことにより、比較例4の複合材料を得た。
比較例5では、焼成工程後、1500℃に4時間保持した以外は比較例4と同じ処理を行うことにより、比較例5の複合材料を得た。
比較例6では、焼成工程後の降温時に1400℃に4時間保持した以外は比較例4と同じ処理を行うことにより、比較例6の複合材料を得た。
比較例7では、焼成工程後の降温時に1300℃に4時間保持した以外は比較例4と同じ処理を行うことにより、比較例7の複合材料を得た。
X線回折装置(回転対陰極型X線回折装置(理学電機製RINT),CuKα線源,50kV,300mA,2θ=10〜70°)を利用して実施例1〜21及び比較例1〜7の各材料から得られたX線回折パターンから結晶相を同定し、さらにSEM−EDXにより結晶粒子内の組成を分析した結果、焼成後にアニール処理を行った実施例1〜21の各材料は、Y2O3にZrO2が固溶したY2O3固溶体と、ZrO2にY2O3が固溶したZrO2固溶体とを主結晶相として含むことが知見された。
実施例1〜21及び比較例1〜7の各材料について3点曲げ試験を行うことにより3点曲げ強度を評価した。評価結果を表1に示す。この結果、焼成後の降温時にアニール処理を行った実施例8〜21の各材料の3点曲げ強度はいずれも250MPa以上であることが明らかになった。
実施例1〜21及び比較例1〜7の各材料についてJIS_R_1607にしたがってIF法により破壊靱性を評価した。評価結果を表1に示す。この結果、焼成後にアニール処理を行った実施例8〜21の各材料の破壊靱性はいずれも1.3MPa√m以上であることが明らかになった。
実施例1〜21及び比較例1〜7の各材料について耐食試験装置を用いてプラズマ耐食試験を行った。具体的には、ガスはNF3,O2,Arを使用し、ICPを用いて800Wでプラズマを発生させ、発生したプラズマをバイアス300Wで被試験片に照射した。そして、段差計により測定したマスク面と暴露面の段を試験時間で割ることにより各材料のエッチングレートを算出した。算出結果を表1に示す。Y2O3に対してZrO2の含有量が大きくなるに従い、エッチングレートは単調に大きくなり、プラズマ耐食性が低下する傾向を示した。しかしながら、比較例1のY2O3が100mol%に比べ、実施例20のY2O3とZrO2の比率をそれぞれ40mol%及び60molの場合でも、エッチングレートの増加は約3割程度であった。
Claims (7)
- 半導体製造装置用部材に使用される複合材料であって、酸化イットリウム(Y2O3)に酸化ジルコニウム(ZrO2)が固溶した酸化イットリウム固溶体と、酸化ジルコニウムに酸化イットリウムが固溶した酸化ジルコニウム固溶体とを主結晶相として含み、酸化イットリウム固溶体の一部の結晶粒内に粒径1μm以下の酸化ジルコニウム固溶体の結晶粒が分散混入していることを特徴とする複合材料。
- 請求項1に記載の複合材料において、酸化イットリウムに対する酸化ジルコニウムの含有率が5〜60mol%の範囲内にあることを特徴とする複合材料。
- 請求項1又は請求項2に記載の複合材料において、酸化ジルコニウム固溶体の平均結晶粒径が酸化イットリウム固溶体の平均結晶粒径より大きいことを特徴とする複合材料。
- 請求項1乃至請求項3のうち、いずれか1項に記載の複合材料において、3点曲げ強度が250MPa以上であることを特徴とする複合材料。
- 請求項1乃至請求項4のうち、いずれか1項に記載の複合材料において、破壊靱性が1.3MPa√m以上であることを特徴とする複合材料。
- 請求項1乃至請求項5のうち、いずれか1項に記載の複合材料において、気孔率が5%以下であることを特徴とする複合材料。
- 請求項1乃至請求項6のうち、いずれか1項に記載の複合材料の製造方法において、酸化イットリウムと酸化ジルコニウムの混合粉末を1400℃以上1850℃以下の焼成温度で焼成する焼成工程と、焼成工程後の降温時に1200℃以上1500℃以下の温度に5分以上保持するアニール工程とを含むことを特徴とする複合材料の製造方法。
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