JP4933703B2 - メダル通過検出装置およびその装置が用いられたスロットマシン - Google Patents

メダル通過検出装置およびその装置が用いられたスロットマシン Download PDF

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Description

【0001】
【産業上の利用分野】
この発明は、遊技用のメダルがメダル通路を通過したかどうかを検出するのに用いられるメダル通過検出装置と、そのメダル通過検出装置が用いられたスロットマシンとに関する。
【0002】
【従来の技術】
典型的なスロットマシンでは、ゲーム実行の都度、メダル投入口に1〜3枚のメダルを投入するようになっている。また、近年のスロットマシンでは、ゲームの実行に先立ち、メダル投入口へ多数枚のメダルを投入してメダルを貯留しておき、押釦操作で貯留メダルを使用して、ゲームを実行することが可能となっている。
【0003】
メダル投入口はメダルセレクタに連通し、メダルセレクタのメダル通路には、2個の光電センサが所定の距離だけ離して設置されている。前記メダル通路をメダルが通過するとき、図10(1)に示すように、まず、上流側の光電センサの光路がメダルにより遮断された後に開放されるので、その出力がオンからオフへ、さらにオフからオンへ切り換わる。次に、下流側の光電センサの光路がメダルにより遮断された後に開放されるので、その出力がオンからオフへ、さらにオフからオンへ切り換わる。この順序で2個の光電センサの出力が変化したとき、1枚のメダルが適正に投入されかつメダル通路を通過したものと判断される。
【0004】
これに対して、糸吊りメダルをメダル投入口へ投入して往復操作するような不正行為が行われた場合、図10(2)に示すように、メダルを引き戻すとき、下流側の光電センサの出力が変化した後、上流側の光電センサの出力が変化するため、メダルの投入時とは逆の順序で2個の光電センサの出力が変化することになり、不正なメダル投入操作が行われたものと判断される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
上記した構成のメダル検出装置によると、糸吊りメダルによる不正行為は防止できるが、長い板状体などのメダル以外の器具をメダル通路へ挿入して巧みに往復操作するような不正行為には対応できない。この不正行為は、メダル通路の通路幅より小幅の板状体をメダル投入口よりメダル通路へ挿入し、2個の光電センサの光路を板状体により順次遮断した後に開放して、まず上流側の光電センサの出力を、次いで下流側の光電センサの出力を、それぞれ変化させた後、2個の光電センサの光路を遮断しないように板状体を引き戻すものである。
【0006】
この発明は、上記問題に着目してなされたもので、糸吊りメダルが用いられた不正行為も板状体のような器具が用いられた不正行為も確実に防止できるメダル通過検出装置およびその装置が用いられたスロットマシンを提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
この発明によるメダル通過検出装置は、メダル通路に個別に設けられた少なくとも2個のメダル検知用の近接センサと、各近接センサの出力に基づいてメダル通路を遊技用のメダルが通過したかどうかを判断する制御部とを備えたものであり、各近接センサは、メダル通路の幅方向に連続するメダル検知領域を有し、前記制御部は、近接センサによりメダルの直径に相応する領域幅にわたってメダルが検知されたとき、近接センサの位置をメダルが通過したと判断するようにしている。
【0009】
「メダル通路の幅方向に連続するメダル検知領域を有する近接センサ」として、例えば、多数の光電変換素子を一次元的に並べたCCDラインセンサを有する近接センサを用いるが、そのような光学方式の近接センサに代えて、磁気センサのような電磁方式の近接センサなどを用いることも可能である。なお、近接センサは、メダル通路に2個設置すればよいが、3個以上設置してもよい。
「制御部」は、プログラムされたコンピュータによって実現されるが、これに限らず、専用のハードウェア回路によって実現することも可能である。
【0012】
この発明によるメダル通過検出装置において、メダル通路の近接センサの設置位置をメダルが通過するとき、近接センサは、メダルの直径に相応する領域幅にわたってメダルを検知する。これに対して、メダルの直径より小さな幅の板状体がメダル通路へ挿入されたとき、近接センサは、板状体の幅に相応する領域幅にわたって板状体を検知するが、メダルの直径に相応する領域幅にわたってメダルを検知しないから、前記板状体が用いられた不正行為を確実に防止し得る。なお、メダル通路が狭くて屈曲しているような場合は、メダルの直径より小さな幅の板状体が挿入されることのみを想定すればよく、幅の広い板状体が挿入されることを想定する必要はない。
【0013】
また、メダルがメダル通路を通過するとき、上流側の近接センサがメダルの検知動作を行った後、下流側の近接センサがメダルの検知動作を行うが、糸吊りメダルの場合は、メダルがメダル通路を引き戻されるとき、下流側の近接センサがメダルの検知動作を行った後、上流側の近接センサがメダルの検知動作を行うので、糸吊りメダルが用いられた不正行為を検出しかつ防止し得る。
【0015】
この発明のメダル通過検出装置が用いられたこの発明によるスロットマシンは、メダル投入口に連通するメダル通路に個別に設けられた少なくとも2個のメダル検知用の近接センサと、各近接センサの出力に基づいてメダル通路を遊技用のメダルが通過したかどうかを判断してメダル投入口へのメダルの投入枚数を計数する制御部とを備えたものであり、各近接センサは、メダル通路の幅方向に連続するメダル検知領域を有し、前記制御部は、近接センサによりメダルの直径に相応する領域幅にわたってメダルが検知されたとき、近接センサの位置をメダルが通過したと判断するようにしている。
【0016】
【発明の実施の形態】
図1および図2は、この発明が実施されたスロットマシンのメダルセレクタ1を示す。なお、図2は、前面プレート4が取り除かれた状態の正面図である。
このメダルセレクタ1は、スロットマシンの前面のメダル投入口10よりメダルMが投入されたとき、そのメダルMの通過を検出してメダル投入枚数を計数するためのものである。投入されたメダルMは、メダル払出機のホッパーや補助ホッパーへ取り込まれたり、メダル受け皿へ返却されたりする。
同図中、矢印aはメダル払出機のホッパーへ向かう経路、矢印bはメダル払出機の補助ホッパーへ向かう経路、矢印cはメダル受け皿へ向かう経路であり、図示していないが、通路切替機構の動作により3個の経路a〜cのいずれかへメダルMが導かれるようになっている。
【0017】
図示例のメダルセレクタ1は、ガイドレール2を一体に備える背面プレート3と、この背面プレート3の前面にメダルMの厚みに応じた間隔を隔てて対向配備される前面プレート4とを備えている。背面プレート3と前面プレート4との間には、前記ガイドレール2をメダルMの転動面とするメダル通路5が形成されており、このメダル通路5の途中にメダル通過検出装置6が設置されている。
なお、この実施例では、メダル通路5でのメダル詰まりなどを容易に解消し得るように、前面プレート4はその上端部が背面プレート3に枢支されて開閉可能となっている。
【0018】
前記メダル通過検出装置6は、メダル通路5をメダルMが通過したことを検出するためのもので、ケース体20の内部に2個の近接センサ30A,30Bが組み込まれて成る。ケース体20はメダル通路5と連通しかつケース体20を貫通するメダル通路21を備えており、このメダル通路21沿いに上流側の第1の近接センサ30Aと下流側の第2の近接センサ30Bとが所定の距離だけ離して配置されている。
【0019】
ケース体20は、図3に示すように、一対のケース半体22,23の上端部をヒンジ機構24により枢着して開閉可能な構造としたものである。各ケース半体22,23の対向する面には、各ケース半体22,23を閉じたときに前記メダル通路21を形成する凹溝25,26が形成されている。前記メダル通路21の上下方向の通路幅d1および奥行き方向の通路幅d2は、メダルMが円滑に通過するように、それぞれメダルMの直径および厚みよりわずかに大きく設定してある。
【0020】
各近接センサ30A,30Bは、一方のケース半体22に組み込まれる投光部31と、他方のケース半体23に組み込まれる受光部32とをそれぞれ含んでいる。
投光部31は、図4に示すように、プリント基板33上に実装されたLEDアレイを光源34としたものである。この光源34の光はスリット板35により帯状の検出光に形成されてメダル通路21に導かれる。このメダル通路21の通路幅d1の全域をメダル検知領域となすため、前記検出光の帯幅をメダル通路21の通路幅d1に対応させている。
【0021】
受光部32は、前記光源34からの検出光を通過させるスリット板36と、このスリット板36を通過した検出光を集光する集光レンズ37と、集光レンズ37を通った検出光を受光するCCDラインセンサ38とを有する。CCDラインセンサ38はプリント基板39上に実装され、メダル通路21を挟んで投光部31と対向する。
メダルMがメダル通路21を通過するとき、各近接センサ30A,30Bの設置位置において、光源34からの検出光を遮るので、CCDラインセンサ38はメダルMの影を検出し、明暗信号を後述する信号処理回路39へ出力する。
【0022】
図5は、メダルの通過検出とメダル枚数の計数とに関わるスロットマシンの電気的な構成を示すもので、マイクロコンピュータより成る制御部50と2個の近接センサ30A,30Bとで構成されている。
制御部50は、制御、演算の主体であるCPU51と、プログラムが格納されるROM52と、データの読み書きに用いられるRAM53とを含む。CPU50は、ROM52のプログラムを実行し、RAM53に対するデータの読み書きを行いつつ、メダルの通過検出とメダルの計数とに関わる制御、具体的には、各近接センサ30A,30Bの出力に基づいてメダル通路21をメダルが通過したかどうかを判断して、メダル投入口10へのメダルの投入枚数を計数する。
【0023】
各近接センサ30A,30Bは、光源34、CCDラインセンサ38、および信号処理回路39を含んでいる。各近接センサ30A,30Bの信号処理回路39は、図6に示すように、クロック発生回路40、ゲート回路41、カウンタ42、最大値検出回路43、比較回路44などで構成されている。
【0024】
前記ゲート回路41は、CCDラインセンサ38が1スキャン毎に出力する明暗信号(図7(1)参照)をゲート開閉信号として入力し、ゲートの開放期間にクロック信号発生回路40が発生したクロック信号(図7(2)参照)を通過させるものである。図7(3)は、ゲート回路41のゲート出力を示しており、このゲート出力のパルス数はカウンタ42により計数される。カウンタ42の計数出力は最大値検出回路43と比較回路44とに出力される。
【0025】
最大値検出回路43は、前記計数出力の最大値を検出するもので、近接センサ30A,30Bの位置をメダルが通過したときは、そのメダルの直径が計数出力の最大値として検出される。一方、近接センサ30A,30Bの位置へ板状体が挿入されたときは、その板状体の最大幅が計数出力の最大値として検出される。最大値検出回路43で得られた計数出力の最大値はCPU51に取り込まれる。
【0026】
CPU51は、最大値検出回路43より取り込んだ前記計数出力の最大値とRAM53に記憶された所定の判定基準値とを比較することにより、近接センサ30A,30Bの位置をメダルが通過したかどうかを判断する。もし、前記計数出力の最大値が判定基準値に達していれば、近接センサ30A,30Bの位置をメダルが通過したと判断される。もし、前記計数出力の最大値が判定基準値より小さければ、近近接センサ30A,30Bの位置をメダルの直径より小幅のメダル以外の物体が通過したと判断される。メダル通路21にメダルの直径より小さな板状体しか挿入できないような場合は、前記計数出力の最大値をもってメダルの通過と板状体の挿入とを区別して判別できる。
【0027】
前記比較回路44は、前記カウンタ42の計数出力を所定の基準値THと比較し、基準値TH以上であれば、比較出力が「H」レベルとなり、一方、計数出力が基準値THより小さければ、比較出力が「L」のレベルとなる。
【0028】
図8は、第1、第2の各近接センサ30A,30Bについて、カウンタ42の計数出力と比較回路44の比較出力とを示す。各近接センサ30A,30Bの位置をメダルが通過したとき、前記カウンタ42の計数出力は基準値TH以上となるから、各近接センサ30A,30Bの比較回路44からは矩形状の検知信号p1,p2が得られる。
【0029】
各近接センサ30A,30Bの位置に幅が小さい板状体が挿入されたとき、前記カウンタ42の計数出力は、図中、一点鎖線aで示すように、基準値THより小さいから、各近接センサ30A,30Bの比較回路44の比較出力は立ち上がらず、検知信号p1,p2は得られない。従って、板状体の挿入をもってメダルが通過したものと誤認識されることはない。
【0030】
各近接センサ30A,30Bの位置にメダルの直径とほぼ同じの幅が大きい板状体が挿入されかつ引き抜かれたときは、前記カウンタ42の計数出力は、図中、一点鎖線bで示すように、基準値TH以上となるから、各近接センサ30A,30Bの比較回路44からは矩形状の検知信号q1,q2が得られる。メダルの場合は、第1の近接センサ30Aの検知信号p1が時刻t1で立ち下がった後、第2の近接センサ30Bの検知信号p2が時刻t2で立ち下がるのに対し、板状体の場合は、第2の近接センサ30Bの検知信号q2が時刻t3で立ち下がった後、第1の近接センサ30Aの検知信号q1が時刻t4で立ち下がるので、メダルの通過と板状体の挿入とを区別して認識できる。
【0031】
各近接センサ30A,30Bの位置を糸吊りメダルが通過した後に引き戻されたときは、メダルが引き戻されるとき、第2の近接センサ30Bから検知信号s2が得られた後、第1の近接センサ30Aから検知信号s1が得られるので、メダルの通過と糸吊りメダルの通過(逆行)とを区別して認識できる。
なお、メダルの通過と板状体の挿入とを区別して認識するのに、上記した方法以外に、検知信号p1のパルス幅Dと検知信号q1のパルス幅Lとを比較するなどの方法も用いることができる。
【0032】
上記した実施例では、メダル通路21の2箇所に近接センサ30a,30bをそれぞれ1個ずつ設置してメダルの通過とそれ以外の物体の通過とを監視しているが、図9に示すように、メダル通路21の2箇所に2個ずつの近接センサ30A11,30A2および30B1,30B2を設置するようにしてもよい。
また、各近接センサ30A,30Bのメダル検知領域は、上記実施例のように、メダル通路21に対して直交する方向に設定してもよいが、図9に一点鎖線で示すように、角度を持たせて設定してもよい。
【0033】
【発明の効果】
この発明によれば、糸吊りメダルが用いられた不正行為も板状体のような器具が用いられた不正行為も確実に防止できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例であるスロットマシンのメダルセレクタを示す正面図である。
【図2】前面プレートが取り除かれた状態のメダルセレクタの正面図である。
【図3】メダル通過検出装置の側面図である。
【図4】投光部および受光部の構成を示す側面図である。
【図5】スロットマシンの電気的な構成を示すブロック図である。
【図6】信号処理回路の構成を示すブロック図である。
【図7】信号処理回路の動作を示すタイムチャートである。
【図8】信号処理回路の動作を示すタイムチャートである。
【図9】近接センサの他の設置例を示す説明図である。
【図10】従来のメダル通過検出装置の動作を示すタイムチャートである。
【符号の説明】
1 メダルセレクタ
21 メダル通路
30A,30B 近接センサ
50 制御部
51 CPU

Claims (2)

  1. メダル通路に個別に設けられた少なくとも2個のメダル検知用の近接センサと、各近接センサの出力に基づいてメダル通路を遊技用のメダルが通過したかどうかを判断する制御部とを備えたメダル通過検出装置において、各近接センサは、メダル通路の幅方向に連続するメダル検知領域を有し、前記制御部は、近接センサによりメダルの直径に相応する領域幅にわたってメダルが検知されたとき、近接センサの位置をメダルが通過したと判断するようにしたメダル通過検出装置。
  2. メダル投入口に連通するメダル通路に個別に設けられた少なくとも2個のメダル検知用の近接センサと、各近接センサの出力に基づいてメダル通路を遊技用のメダルが通過したかどうかを判断してメダル投入口へのメダルの投入枚数を計数する制御部とを備えたスロットマシンにおいて、各近接センサは、メダル通路の幅方向に連続するメダル検知領域を有し、前記制御部は、近接センサによりメダルの直径に相応する領域幅にわたってメダルが検知されたとき、近接センサの位置をメダルが通過したと判断するようにしたスロットマシン
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