JPS6213173Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6213173Y2 JPS6213173Y2 JP17674679U JP17674679U JPS6213173Y2 JP S6213173 Y2 JPS6213173 Y2 JP S6213173Y2 JP 17674679 U JP17674679 U JP 17674679U JP 17674679 U JP17674679 U JP 17674679U JP S6213173 Y2 JPS6213173 Y2 JP S6213173Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coin
- gate plate
- rolling
- coins
- passage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- 238000005096 rolling process Methods 0.000 claims description 14
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 230000005672 electromagnetic field Effects 0.000 description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Coins (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
本考案は、投入された硬貨の厚さを電子的に測
定する自動販売機等の硬貨選別装置に関する。
定する自動販売機等の硬貨選別装置に関する。
(ロ) 従来の技術
かかる硬貨選別装置としては、特開昭48−
14397公報に示されている技術がある。これは磁
束が硬貨の深部にまで浸透しないような比較的高
い周波数にて電磁界を形成し、硬貨を電磁界に置
いたときの電磁コイルと硬貨面までの距離に依存
する電磁界への影響度を検出することで、この硬
貨の厚さを測定するものである。
14397公報に示されている技術がある。これは磁
束が硬貨の深部にまで浸透しないような比較的高
い周波数にて電磁界を形成し、硬貨を電磁界に置
いたときの電磁コイルと硬貨面までの距離に依存
する電磁界への影響度を検出することで、この硬
貨の厚さを測定するものである。
(ハ) 考案が解決しようとする問題点
しかしてこのような硬貨選別装置は、硬貨投入
口に連通する硬貨通路に電磁コイルを配置してお
り、従来の機構式硬貨選別装置にみられる硬貨の
チエツクゲートは存在しない。したがつて投入さ
れた硬貨は転動状態を規制されることなくある程
度自由な状態で硬貨通路を転動することになる
が、硬貨の材質はともかく厚さを測定する場合に
転動状態のバラツキは測定精度の低下をもたら
す。なんとなれば電磁コイルと硬貨面までの距離
が一定しないと厚さの測定に狂いを生じるのであ
る。
口に連通する硬貨通路に電磁コイルを配置してお
り、従来の機構式硬貨選別装置にみられる硬貨の
チエツクゲートは存在しない。したがつて投入さ
れた硬貨は転動状態を規制されることなくある程
度自由な状態で硬貨通路を転動することになる
が、硬貨の材質はともかく厚さを測定する場合に
転動状態のバラツキは測定精度の低下をもたら
す。なんとなれば電磁コイルと硬貨面までの距離
が一定しないと厚さの測定に狂いを生じるのであ
る。
上記点より本考案は、硬貨の厚み測定において
転動状態による狂いを防止した硬貨選別装置を提
供するものである。
転動状態による狂いを防止した硬貨選別装置を提
供するものである。
(ニ) 問題点を解決するための手段
実施例の図面から本考案の構成を述べると、一
組の側壁1,2とこれらに介在する硬貨レール3
とから成る硬貨通路4は一側に傾斜させて、硬貨
は一方の側壁に当接しながら転動するようになつ
ている。そして硬貨が当接しない方の側壁には孔
部5を設けて、孔部5には一端を回動自在に枢支
したゲート板6を嵌合させゲート板6はソレノイ
ド8の作用により、孔部5に合致して硬貨通路4
を開放している状態と硬貨通路4に進出してこれ
を斜方向に遮閉している状態とに切換えられる。
更に硬貨通路4にあつて、ゲート板6の下方には
硬貨検知器9を配置している。ゲート板6が硬貨
通路4に進出して硬貨の転動を阻止しており、こ
の状態でソレノイド8に動作反転信号を与えられ
ると、ゲート板6は孔部5に合致する状態に退出
し、阻止されていた硬貨は再び硬貨通路4を転動
する。そして動作反転信号の出力時点から硬貨検
知器9が硬貨を検知するまでの時間を測定装置2
0にて測定し、この時間が順当であるかによつて
硬貨を選別する。
組の側壁1,2とこれらに介在する硬貨レール3
とから成る硬貨通路4は一側に傾斜させて、硬貨
は一方の側壁に当接しながら転動するようになつ
ている。そして硬貨が当接しない方の側壁には孔
部5を設けて、孔部5には一端を回動自在に枢支
したゲート板6を嵌合させゲート板6はソレノイ
ド8の作用により、孔部5に合致して硬貨通路4
を開放している状態と硬貨通路4に進出してこれ
を斜方向に遮閉している状態とに切換えられる。
更に硬貨通路4にあつて、ゲート板6の下方には
硬貨検知器9を配置している。ゲート板6が硬貨
通路4に進出して硬貨の転動を阻止しており、こ
の状態でソレノイド8に動作反転信号を与えられ
ると、ゲート板6は孔部5に合致する状態に退出
し、阻止されていた硬貨は再び硬貨通路4を転動
する。そして動作反転信号の出力時点から硬貨検
知器9が硬貨を検知するまでの時間を測定装置2
0にて測定し、この時間が順当であるかによつて
硬貨を選別する。
(ホ) 作用
ゲート板6は硬貨通路4を斜方向に横断して遮
閉するために、硬貨はその厚さに応じた位置で停
止することになる。したがつてゲート板6を開放
したときに、硬貨が硬貨検知器9まで移動する距
離はその厚さに依存しており、移動時間を測定す
ることで厚さを識別できる。
閉するために、硬貨はその厚さに応じた位置で停
止することになる。したがつてゲート板6を開放
したときに、硬貨が硬貨検知器9まで移動する距
離はその厚さに依存しており、移動時間を測定す
ることで厚さを識別できる。
(ヘ) 実施例
第1図は本考案に依る硬貨選別装置の要部正面
図、第2図は上断面図である。図に於いて、硬貨
通路4は一組の側壁1,2とその間に介在する硬
貨レール3とから構成されており、側壁1,2は
一方向に傾斜しているために硬貨投入口10より
投入された硬貨は側壁1に当接しながら硬貨通路
4を転動する。しかしながら上述したように硬貨
投入口10より勢いよく投入された硬貨は側壁1
と当接することなく転動することもあり、また硬
貨レール3上をバウンドしながら転動することも
ある。そして側壁2には孔部5が穿設されると共
に、孔部5と略合致するゲート板6が一端側を枢
支11されて配置されている。またゲート板6の
他端側には作動レバー7が装着されており、作動
レバー7の出没に応じてゲート板6は回動する。
したがつてソレノイド8の駆動により作動レバー
7が退出すると、ゲート板6は硬貨通路4を斜め
方向に遮閉して硬貨の転動を阻止し、ソレノイド
8の駆動が停止して作動レバー7が突出すると、
ゲート板6は孔部5と略合致して硬貨阻止状態が
解除される。また硬貨検知器9は、硬貨の通過を
検出すると検出信号を出力するもので発光素子9
Aと受光素子9Bとから構成されている。そして
硬貨選別センサー12は発振磁界を形成して、通
過する硬貨の材質に基づく位相差を測定する。
尚、硬貨選別センサー12は本考案と直接係りを
持たないが、本考案による硬貨の厚み検査と併用
すると硬貨を材質及び厚みの面で検査でき、選別
精度の優れた硬貨選別装置が提供される。また本
例では、硬貨選別センサー12が硬貨の通過によ
り検査出力が発生したときに硬貨の投入を検出し
て、厚さ測定の動作を開始するように構成されて
いる。
図、第2図は上断面図である。図に於いて、硬貨
通路4は一組の側壁1,2とその間に介在する硬
貨レール3とから構成されており、側壁1,2は
一方向に傾斜しているために硬貨投入口10より
投入された硬貨は側壁1に当接しながら硬貨通路
4を転動する。しかしながら上述したように硬貨
投入口10より勢いよく投入された硬貨は側壁1
と当接することなく転動することもあり、また硬
貨レール3上をバウンドしながら転動することも
ある。そして側壁2には孔部5が穿設されると共
に、孔部5と略合致するゲート板6が一端側を枢
支11されて配置されている。またゲート板6の
他端側には作動レバー7が装着されており、作動
レバー7の出没に応じてゲート板6は回動する。
したがつてソレノイド8の駆動により作動レバー
7が退出すると、ゲート板6は硬貨通路4を斜め
方向に遮閉して硬貨の転動を阻止し、ソレノイド
8の駆動が停止して作動レバー7が突出すると、
ゲート板6は孔部5と略合致して硬貨阻止状態が
解除される。また硬貨検知器9は、硬貨の通過を
検出すると検出信号を出力するもので発光素子9
Aと受光素子9Bとから構成されている。そして
硬貨選別センサー12は発振磁界を形成して、通
過する硬貨の材質に基づく位相差を測定する。
尚、硬貨選別センサー12は本考案と直接係りを
持たないが、本考案による硬貨の厚み検査と併用
すると硬貨を材質及び厚みの面で検査でき、選別
精度の優れた硬貨選別装置が提供される。また本
例では、硬貨選別センサー12が硬貨の通過によ
り検査出力が発生したときに硬貨の投入を検出し
て、厚さ測定の動作を開始するように構成されて
いる。
上記構成に依る動作を説明すると、先ず待機状
態でソレノイド8は非動作状態にあつてゲート板
6は孔部5に略合致している。そして硬貨が投入
されて硬貨選別センサー12に検査出力が得られ
ると(硬貨が偽貨であつても何らかの出力は発生
する)、ソレノイド8が駆動してゲート板6は硬
貨通路4を斜めに遮閉する。したがつて硬貨はそ
の厚みに応じて所定位置で停止し、即ち厚みの小
さい実線で示す硬貨13は厚みの大きい波線で示
す硬貨14よりも硬貨検知器9に近い位置で停止
することになる。然る後ソレノイド8の駆動が停
止されゲート板6による阻止が解除されると、硬
貨は再び転動を開始するが、阻止解除後から硬貨
が硬貨検知器9により検出されるまでの時間は、
硬貨の停止位置に応じて異なる。そして停止位置
は前述した通り硬貨の厚みに起因するものである
からこの時間を測定することで厚みが検出され
る。
態でソレノイド8は非動作状態にあつてゲート板
6は孔部5に略合致している。そして硬貨が投入
されて硬貨選別センサー12に検査出力が得られ
ると(硬貨が偽貨であつても何らかの出力は発生
する)、ソレノイド8が駆動してゲート板6は硬
貨通路4を斜めに遮閉する。したがつて硬貨はそ
の厚みに応じて所定位置で停止し、即ち厚みの小
さい実線で示す硬貨13は厚みの大きい波線で示
す硬貨14よりも硬貨検知器9に近い位置で停止
することになる。然る後ソレノイド8の駆動が停
止されゲート板6による阻止が解除されると、硬
貨は再び転動を開始するが、阻止解除後から硬貨
が硬貨検知器9により検出されるまでの時間は、
硬貨の停止位置に応じて異なる。そして停止位置
は前述した通り硬貨の厚みに起因するものである
からこの時間を測定することで厚みが検出され
る。
第3図は、硬貨が阻止を解除されてから硬貨検
知器9に検出されるまでの時間を測定する測定装
置20の実施例を示している。フリツプフロツプ
回路15は、ソレノイドへの動作反転信号、即ち
この例では駆動停止信号によりセツトすると、Q
出力端より高レベルの信号をANDゲート16に
出力し、カウンタ17はクロツクパルス発生器1
8よりANDゲート16を介して順次導入するク
ロツクパルスを計数する。そして硬貨検知器9よ
りの検出信号にてフリツプフロツプ回路15がリ
セツトされて、ANDゲート16はクロツクパル
スの出力を停止し、カウンタ17の計数値が硬貨
阻止解除後から硬貨検知器9に検出されるまでの
時間に相当する値であり、この計数値に基づき硬
貨の厚みが判定される。しかしてカウンタ17は
次の投入硬貨に基づき発生するソレノイド駆動停
止信号によりリセツトされる。
知器9に検出されるまでの時間を測定する測定装
置20の実施例を示している。フリツプフロツプ
回路15は、ソレノイドへの動作反転信号、即ち
この例では駆動停止信号によりセツトすると、Q
出力端より高レベルの信号をANDゲート16に
出力し、カウンタ17はクロツクパルス発生器1
8よりANDゲート16を介して順次導入するク
ロツクパルスを計数する。そして硬貨検知器9よ
りの検出信号にてフリツプフロツプ回路15がリ
セツトされて、ANDゲート16はクロツクパル
スの出力を停止し、カウンタ17の計数値が硬貨
阻止解除後から硬貨検知器9に検出されるまでの
時間に相当する値であり、この計数値に基づき硬
貨の厚みが判定される。しかしてカウンタ17は
次の投入硬貨に基づき発生するソレノイド駆動停
止信号によりリセツトされる。
このようにして硬貨の厚みが検査されると、こ
の検査結果と硬貨選別センサー12による測定出
力に基づく材質の検査結果に応じて、正貨ゲート
19は開閉され硬貨は振分けられる。
の検査結果と硬貨選別センサー12による測定出
力に基づく材質の検査結果に応じて、正貨ゲート
19は開閉され硬貨は振分けられる。
(ト) 考案の効果
以上詳述した本考案に依ると、硬貨が種々の形
態で転動してきてもゲート板にて一旦転動を阻止
させて夫々の厚みに応じた適正位置に停止させる
ために、硬貨の転動状態に係わらず精度良く硬貨
の厚みを測定することができる。しかも転動時間
を測定することで硬貨の厚みを検査するため、電
子回路処理による硬貨選別装置に簡単に適用でき
一段と装置の選別精度を上げることができる。
態で転動してきてもゲート板にて一旦転動を阻止
させて夫々の厚みに応じた適正位置に停止させる
ために、硬貨の転動状態に係わらず精度良く硬貨
の厚みを測定することができる。しかも転動時間
を測定することで硬貨の厚みを検査するため、電
子回路処理による硬貨選別装置に簡単に適用でき
一段と装置の選別精度を上げることができる。
第1図は本考案に依る硬貨選別装置の要部正面
図、第2図は上断面図、第3図は測定装置の一具
体例を示す。 1,2……側壁、3……硬貨レール、4……硬
貨通路、5……孔部、6……ゲート板、7……作
動レバー、8……ソレノイド、9……硬貨検知
器、20……測定装置。
図、第2図は上断面図、第3図は測定装置の一具
体例を示す。 1,2……側壁、3……硬貨レール、4……硬
貨通路、5……孔部、6……ゲート板、7……作
動レバー、8……ソレノイド、9……硬貨検知
器、20……測定装置。
Claims (1)
- 一組の側壁と該側壁に介在する硬貨レールとか
ら成る硬貨通路を一側に傾斜させて、一方の前記
側壁に当接しながら前記硬貨通路を転動する硬貨
を選別する装置に於いて、硬貨が当接しない側の
他方の前記側壁に穿設した孔部と、該孔部と略合
致して一端側を前記他方の側壁に枢支したゲート
板と、該ゲート板の他端側に装着されて前記硬貨
通路を横断する方向に出没する作動レバーと、該
作動レバーの出没動作を制御して、前記ゲート板
を前記孔部と略合致する状態或いは前記硬貨通路
を斜方向に遮閉して硬貨の転動を阻止する状態に
するソレノイドと、前記ゲート板より硬貨の転動
方向に沿つて下方に配置した硬貨検知器と、前記
ゲート板が硬貨の転動を阻止する状態にあるとき
前記ソレノイドに動作反転信号が与えられてか
ら、前記硬貨検知器が前記ゲート板による転動の
阻止が解除された硬貨を検出するまでの時間を測
定する測定装置とから成り、該測定装置による測
定値に基づき硬貨を選別することを特徴とした硬
貨選別装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17674679U JPS6213173Y2 (ja) | 1979-12-19 | 1979-12-19 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17674679U JPS6213173Y2 (ja) | 1979-12-19 | 1979-12-19 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5692272U JPS5692272U (ja) | 1981-07-22 |
JPS6213173Y2 true JPS6213173Y2 (ja) | 1987-04-04 |
Family
ID=29687362
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17674679U Expired JPS6213173Y2 (ja) | 1979-12-19 | 1979-12-19 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6213173Y2 (ja) |
-
1979
- 1979-12-19 JP JP17674679U patent/JPS6213173Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5692272U (ja) | 1981-07-22 |
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