JPH06500652A - コイン検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 コイン検査装置 本発明は、コイン、代用硬貨または同様のものを検査あるいは識別する方法およ びその装置に関するものである。

コインで作動する装置は、商品やサービスの提供に世界中でまずまず使われるよ うになっている。３：のような装置には、遊技機、多種の商品を売る自動販売機 、ゲーム機（ポーカ−ゲーム機なとの）、および公衆電話などかある。

この中の自動販売機は、公共交通機関の切符やお菓子やビデオカセットや捧パン 等様々な商品を供給しており、先進国においては、労賃が高いこと、このような 商品を夜中でも買いたいというニーズがあるため、その傾向が顕著である。

加えて、公衆電話すなわちベイホンはさらに高度になって来ている。“テレホン カード”やクレジットカードだけでしか使えないベイホンが増える傾向にあるが 、将来のベイホンは、現在イタリアで使われているような、コインもテレホンカ ードもゲットーニ（電話用代用硬貨）も使えるモデルになりそうである。

紙幣検査装置か使われているか、紙幣（特に、破損したり使い古された紙幣）を “読む′こと固有の問題と、はとんどの国において小額の通貨は硬貨になってい るという傾向とが相俟って、前記のあらゆる応用分野でコイン検査装置が必要と されるであろう。

前記の応用分野のどれかに使われるためには、コイン検査装置は、異なる価値の 硬貨の区別、異なる国の硬貨の区別、そして、本物と偽物の区別を素早く正確に 行わなければならない。現在使われているコイン検査装置では、外国の小額硬貨 と、そのコイン検査装置か置かれている国のより高額なコインとを正確に区別で きないことがある。加えて、特にヨーロツパのような地域においては、色々な国 々から入ってくる大量の硬貨に現在のコイン検査装置では対応できない。

コイン検査装置での公知技術の一例か米国特許第３９１８５６５号明細書であり 、プログラマブル・メモリに記憶されているデータと使用されたコインのデータ とを比較するコイン選択方法とその装置か開示されている。

この米国特許第３９１１１１５６５号明細書では、コインを調べて生成される周 波数なとの信号の数値を、プログラマブル・メモリに記憶されている本物のコイ ンの受入れできる数値と比較する。

もう１つのコイン検査装置の例はオーストラリア特許出願第２４２４２／８４号 であり、コイン中に渦電流を誘起させる脈動コイルを使用することか開示されて いる。モニタ手段を使って渦電流が減衰するのをモニタし、モニタ手段の出力と 記憶している基準値とを比較することによって識別を可能にしている。

このオーストラリア特許出願第２４２４２／８４号のアプローチは必要以上に複 雑で、適切な迅速さで識別を行うことができないであろうと考える。

本発明の目的は、改良されたコイン検査装置を提供することにある。

本発明は、次のステップを含むコイン識別方法を提供するものである。

コインの少なくとも一部がその間に位置付けられるようにした検出コイルを単一 のパルスで励磁するステップ、 前記パルスの減衰電圧波形から該コインの識別定義を与える情報を抽出するステ ップ。

また、本発明は、次のステップを含むコイン検査方法を提供するものである。

コインの少なくとも一部が励磁の際にその間に位置付けられるようにした検出コ イルを励磁するステップ、 予め定められた時間後前記コイルを消磁するステップ、電圧振幅制限逆起電力波 形または電圧減衰波形の第１の位置と第２の位置を前記コイル間において反転し 増幅するステップ、前記コイルの消磁と前記第１の波形部分か第１の基準電圧と 交わる時点との間の時間から第」のシステムクロック計数値を得るステップ、前 記コイルの消磁と前記第２の波形部分か第２の基準電圧と交わる時点との間の時 間から第２のシステムクロック計数値を得るステップ、前記コイルの消磁と前記 第２の波形部分だ第３の基準電圧と交わる時点との間の時間から第３のシステム クロック計数値を得るステップ、前記第４の数値、前記、１１ｃ２の数値、およ び前記第３の数値を、それぞれ第１の範囲の記憶された数値、第２の範囲の記憶 された数値、および第３の記憶された数値とそれぞれ比較するステップ、および 、 前記第１の数値、前記第２の数値、および前記第３の数値か、それぞれ前記第１ の範囲、前記第２のｆ！Ｗ、および前記第３の範囲内にあれば前記コインの受入 を表す信号を発生するステップ。

さらに、本発明は、１つのタイプのコインの基準値を記憶するコイン検査装置に おいて、次のステップを含むプログラミング方法を提供するものである。

第１のｐＩ類の第１のコインの少なくとも一部がその間に位置付けられるように した検出コイルを単一のパルスで励磁するステップ、パルス減衰の逆起電力から 、前記第１のコインの識別定義となる第１の数値セットとしての情報を抽出する ステップ、前記第１の数値セットを記憶するステップ、第１の種類の第２のコイ ンについて前記第１ステツプおよび前記第２ステツプを繰り返し、前記第１の数 値セットとともに前記各ステップにより発生された第２の数値セットを記憶し、 数値［囲セットを発生するステップ、予め定められた個数の第１のコインについ て前記ステップを繰り返すステップ、および、 前記第１の種類の全てのコインについて得られた記憶された数値ｆｆｉ囲セット を、１つまたはそれ以上の前記範囲の一端または両端において拡大し、または拡 大することなく、前記第１の種類のコインを表す１つの数値範囲セットとして規 定するステップ。

また、本発明は、次のものを具備するコイン検査装置を提供するものである。

基準軌道、 前記軌道のいずれか一方の側に位置する検出コイル、フィンの少なくとも一部か 前記コイル間に存在することを検出する検出手段、 前記コイルを励磁し、消磁する手段、 消磁後のコインの識別定義を導き出す手段。

さらに、本発明は、コイン検査装置のコイン軌道を提供するものである。コイン 軌道は使用中垂直に対しである角度をなす側壁と垂直に対してまたある角度をな すベースから部分的に構成されており、ベースと側壁の一側壁は９０度以上１８ ０度以下の角度をなしており、該軌道においてここを通過するコインはほぼ同様 の傾きになる。

本明細書中において、コインという用語は、偽のコイン、“私情貨幣″および代 用硬貨をも包含するものとする。

以下、本発明の実施例を次の添付図面を参照しながら詳細に説明する。

第１図は、本発明によるコイン検査装置本体の実施例を示す正面図、第２図は、 第１図のコイン検査装置の平面図、８３図は、第１図のコイン検査装置の下面図 、第４図は、第１図のコイン検査装置本体の付属要素を示す正面図、第５図は、 第４図のＶ−Ｖ線断面図、 第６図は、第１図の本体要素の正面図、第７図は、第６図の■−■線断面図、 第８図は、第７図の部分拡大図、 第９図は、第６図のＩＸ−ＩＸ線断面図、第１θ図は、第１図のＸ−ＸＪＩＬ断 面図、第１１図は、コイン検査／識別装置の実施例回路の部分回務図、第１２図 は、第１図〜第１θ図の７１−ドウエアおよび／または第１１図の回路を使用し た、コインにパルスを印加した後の硬貨を示す波形、第１３図は、第１１図の回 路を変移素子で第１２図の波形を制限した波形、第１４図は、第１３図の波形を 部分的に拡大して明確にした図、第１５図は、第１４図の波形のある部分を反転 し増幅した図、第１６図は、第１４図の波形の別の部分を反転し増幅した図、で ある。

まず、好ましい実施例であるハードウェアに関する１１図〜第１Ｏ図を参照する 。

好ましいコイン検査装置は、特定の装置に内蔵されるユニットであって、とのよ うな装置であれ、その装置に投入されたコインは、検査装置中のコイン転勤軌道 を通り、受入れされたものはある１つの出口から、また、受入れられないものは もう１つの出口から出てきて、適切な信号か次の動作のために特定の装置に送ら れる。

第１図〜第３図に示すように、好ましい実施例のコイン検査装置ｌＯは、本体を 有し、この本体は、１８で示すようにヒンジ結合された２つの本体部分１４（本 体）と１６（付属本体）とを具備している。

付属本体１６には、印刷配線板組立体９８かあり、第５図の２８にその１つを示 しているネジ等でカバー１００か付属本体１６に締結されている。

本体部分１４は、印−１配線板組立体１０２をその中に具備し、第５図の１０６ にその１つを示しているネジ等でカバー１０４が本体部分１４に締結されている 。

印刷配線板組立体９８，１０２には、検査装置１０を動作させ、監視し、制御す る全ての電気・電子部品を組込むことができる。

本体カバー１０４は、好ましくは、本体１４部分の溝１０８，１１０に留めるこ とができ、また、前記のように１０６のようなネジによって締結することができ る。

自動販売機などの装置に検査装置ＩＯを締結するために、その装置のブラケット （図示しない）に検査装置１０をビン１１２，１１６．１１８で取り付けること ができる。

はぼ立方形の本体１２の上面図（第２図）にコイン投入口２０、下面図（第３図 ）に受入口２２と排出口２４が示されている。

第４図、第５図、および第６図、特に第５図を参照すると、コイン軌道２６がコ イン投入口２０から伸びている。コイン軌道の輻Ｗは、検査装置ｌＯに投入され るはずのコインの厚さに一致する最大限の寸法に選定されている。オーストラリ アで使われる好ましい例では、幅Ｗは３．５皿である。それは、オーストラリア コインで最も厚い２ドルコインが３Ｉｌ１１１であるからである。

第１の光センサ−２８がコイン軌道２６の入口近傍にあって、コイン軌道の第１ 部分３０は下方に傾き（第４図、第５図）、垂直に対して角度が付けである（第 ５図）。

従来の検査装置では、転がりながら検知器の所を通るコインを軌道あるいは溝の 片方の壁に向けようとしていた。

そのような公知技術として、イギリス特許第２１８２４７７号がある。この特許 の第２図にコインの“溝″　ｌＯか示されている。コイン１１はこの溝の壁に向 くようにされ（第２図の左側の壁）、溝の壁は溝の底に対して鋭角になっている 。問題の壁と底は両方とも垂直に対しである角度が付けられている。

イギリス特許第２１８２４７７号の第２図のような配置の考え方によると、こう することによって重力でコインは問題の壁に対してそれ自身で平らになる。

それは、壁かコインに落ちる側にあり、また、コイン１１の下側か図示の位置に 向かって底を動いて行くので、重力でそのように平らになるのである。

実際には、その配置ではしばしばうまく行かないことかある。コインは溝をゴロ ゴロ転がり、イギリス特許２１８２４７７号の第２図に示されている部分（コイ ル１２．１３の間）は、その溝をコインか次々と通過すると再現性かなくなって しまう。

一方、第５図に示すように、本発明の好ましい実施例のコイン軌道３０のベース ３２は、側壁３６に対して公知例のそれと反対の向きを持っている。そのコイン が検出領域３８を通って行くとき、ＸまたはＹのように側壁３６に接触している 。コイン（例えば、第５図に示す小さいコインＸ）か出口２０へ落ちて行くとき 、コインは部分３０の方へ倒れる。重力によって、コインは部分３０の斜面を転 がり落ちる。このとき、コイン周囲の下部はベース３２の横の傾きに沿って滑り 落ちる。コインの下部周縁部分はベース３２と点接触しており、ベース３２の下 端と側壁３４の下端の間にある。このようになっているので、コインはまた重力 によって第５図に示す位置に倒れる。このとき、上部周縁はコイン軌道２６の側 壁３６と点接触している。

第５図の配置において、コインがコイン軌道２６の領域３８を次々と通過すると き、それぞれのコインは周縁部と側壁３６の間と、周縁部とベース３２の間で改 接触するような向きを取る。この向きは従来技術の向きよりも安定していていて 、従って、コインが領域３８を次々通過しても再現性がより高い。

径の大きいコインＹは、コインＸの倒れ角度とやや異なる角度になるが、実質的 には全てのコインについて同じである。このことは正確に検出を行うのに作用で あるということか判っている。前述した従来技術のコイン帖、道では、検出（後 述）する領域３８において、コインが異なるとその領域をコインが通過するとき ゴロゴロぐらぐらすることになり、また、濡れていたりへたべたしていたりする と向きが違ってしまい、結果的に、正確に識別する能力が低下してしまう。本実 施例では、各コインは領域３８を“点接触”で、そして側壁３６に対して実質的 に同じ倒れ角で、コイル４０．４２に関連づけられて（後述）領域３８を通過す るので、識別におけるこのような問題は最小限になる。

領域３８におけるコイン軌道２６のそれぞれの側面に、１組の誘導（ポット）コ イル４０．４２か設けられている。コイル４０．４２は、検出回路（例えば、第 １１図の回路のようなもの）に接続されており、単一の誘導磁場を形成している 。これらのコイル４０．４２は、従来からある通常のスイッチング回路（図示し ない）によってコイン１個を検出するごとに発生する単一のパルスで励磁される 。

コイル４０．４２は、好ましくは接着剤で、各々、本体部分１４．１６に物理的 に結合されている。コイル４０．４２は、コイン軌道２６の平面にほぼ平行で、 できるだけ近付けてコイン軌道の幅Ｗはど離しであるのが第５図から判る。

検出領域３８の端部のコイル４０．４２のすぐ近傍に、一対の光センサ−４４， ４６（第４図、第６図、第７図）かある。

第７図には、また、排出レバー４８も示されている。この排出レバーを押し下げ て、コイン軌道２６で詰まってしまったコインを開放する。

第８図にさらに詳しく図示されているように、本体部分１４のベースには、コイ ン受入／拒絶Ｉｆｆ構５０かある。

機構５０は、素早く動作する手段であって、受入、すなわち検出されたコインを 「受入」軌道に移動させ、拒絶フィンか受入軌道に入って行かないように素早く 動作する。拒絶コインは、ｒ拒絶」軌道の方に向きを変えられる。

機構５０は、「円滑に動くノビボット６４を支点とする受入／拒絶アーム６２を 有し、このアームは、本体部分１４にネジ等５４で締結されたＵ字状！磁石５： ２を有するソレノイドで動作する。この円滑に動くピボット６４の動く範囲はν Ｉ限されており、例えば、本体部分１４の溝にあって２つの位置の間て了−ム６ ２が素早く動くようになっている。

アーム６２は、通常はスプリング手段５８によって、第７図に示す「不合格」の 位置に保持されている。拒絶位置にあるときは、アーム６２の表面８４はコイン 軌道２Ｇのベース底部３２の続きになっている。

この機構が「受入」信号、あるいはインストラクションのようなものを受けると 、このソレノイドか励磁される。これによって、アーム６２は電磁石５２に引き 付けられる。特に、ピボット６４は、電磁石５２の下部に引き付けられ、必然的 に磁石に付いてしまう。この段階になると、電磁石５２／アーム６２の組合せに よって、磁束をさらに多く発生させることができ、これによってもっと強い電磁 力か了−ム６２に働いて、第８図の位置へさらに素早く動くようになる。第８図 に示すような配置にすると、アーム６２を非常に素早く引き付けられるというこ とか判っている。

受入コインと拒絶フィン、両方の軌道については、第１１Ｍ〜第１０図に関連付 けて説明する。第１０図に最もよく表わされている。

第９図は、検出装置ＩＯの本体１２を開放して示しており、本体部分１４．１６ は支点１８を中心にして回転して開いている。支点１８は、好ましくは本体１２ のＩｌｊ端に設けられた２本のヒンジビンであって、通常コイン軌道２６の線上 にある。

本体部分１４．１６とカバー９８，１０２は、射出成形されたプラスチックス製 とすると一層よい。さらに好ましくは、コイン軌道２６の内部もそれらの部分を 成形品で形成するとよい。このようにすると、コイン軌道２６の両方の「壁」か それぞれ一体の一部品でできる。

第９図に最もよく示されている本体の構造は、コイン軌道２６を掃除することか できるように、ヒンジ結合されている２つの本体部分１４．１６は、好ましくは スプリング手段のようなもので付勢しておいて、開いて離すことができる。検査 装置のコイン軌道は、そこを通過するコインに付着して運ばれる塵埃によって汚 れ、そして／または塞がれてくる。

さらに、本体部分１４．１６を開いて離せるというのは、装置の中で引っ掛かっ た曲がったコインや偽造コインが、拒絶軌道に落ちて行けるようにするというこ とでもある。

本体部分１４．１６に取り付けられているカバー９８，１０２は、また、電子部 品を飛沫および泥から保護する。

第１θ図のコインＺ（５０オーストラリア・セント硬貨）が投入口２ｏから検査 装置１１０に入って行っている。実用される場合、例えば自動販売機の外側から 投入口２０へ、コインＺが最初に通過しなければならないコイン軌道が延びてき ている。

フィンＺがコイル４０と４２の間の図示の位置に到達すると（コインＸ、　Ｙか その位置に図示されている第５図も参照）、コインＺの存在を光センサ−４４， ４６か検出する。

センサー４４．４６からの「コイン検出」信号がマイクロプロセッサ（図示され ていない）に送られると、マイクロプロセッサはコイル４０．４２を単一のパル スで励磁させる。この励磁、すなわちパルスによる結果を分析して（この好まし い方法については後述する）、マイクロプロセッサは機構５０へ［受入」信号を 送出したり送出しなかったりする。

［受入）信号か機構５０へ送出されると、ソレノイドか励磁されアーム６２に引 き付けられて、コインＺは矢印８６で示す［受入」軌道を通って行く。

分析の結果、コインか受入れできないなら、アーム６２は「拒絶」位置のままで 、コインＺはアーム６２の表面８４で向きを変えられ、矢印８８て示す「拒絶」 軌道に入る。

コインＺは、検査袋ｆｔｌ０を通る間中動き続けていることに留意すべきである 。コインＺか機構５０に到達するよりも前に、検査装置１１０のエレクトロニク スによる分析と判定か確実に行われて、アーム６２が引き付けられたり引き付け られなかったりする。

さらに、もう２対の光センサが設けられている。チェック光センサ９０，９２と アクセプト光センサ９４，９８である。

コインＺか受入れできるとされ、受入軌道を落ちて行くと、まず、チェック・セ ンサ９０，９２の間を通過する。チェック・センサもアクセプト・センサも前記 のマイクロプロセッサか常に監視し、検査装置内のコインの動きを確認している 。コインＺの通過軌道がチェック光センサ９４，９６をトリガする前にアクセプ ト光センサ９０，９２をトリガするような軌道であれば、コインＺは不正とみな され、警報が発せられるか、何も出力されない。これは、ごまかし検査させよう と、糸あるいはより糸などに結んでコインを検査装置から出し入れするような場 合に適用される。

フィンかさらに受入軌道を落ちて行くと、アクセプト光センサ９２に到達する。

アクセプト光センサかトリガが掛かることによってマイクロプロセッサは、フィ ンＺか装置内を間違いなく通過していると判断し、適切な出力を出す。

センサ９０，９２．９４．９６を使い、これらからの情報を処理するので、検査 装置は“ごまかし防止要素を具備することになる。

実用上は、受入軌道はコイン貯蔵室あるいは箱まで延びており、一方、拒絶軌道 は、拒絶コイン、代用硬貨、傷物あるいは偽物なとをユーザーが取り出せる場所 まで延びている。

コインか受入れできるとされると、検査装置」Ｏは、それが内蔵されている装置 にその承認したコインの価値を表す信号を送る。そして、その価値あるいは多く のコインの累積合計額は表示手段に表示することができる。

第１図〜第１０図の検査装置を使ったコイン検査／識別方法の実施例を以下に説 明する。

第」１図は、検査装置ＩＯに内蔵されている回路部の回路図である。重ねて述へ ることになるが、検査装置ｌＯは、検査装置を１ｉＩＩｉｌｌＩするマイクロプ ロセッサを有する。このマイクロプロセッサは、検査装置ＩＯをプログラムした り、再プログラムしたりするための非インテリジェント端末（例えば、キーボー ドと表示装置だけを育する）を接続してプログラムされる。

このようなプログラミングは、好ましくは、ハンドベルトの装置ｔ（図示してい ない）を使って行われる。この装置は、検査装置に接続されるようになっており 、他の種類のコインを使えるようにプログラムするだけでなく、全ての機能（コ インの価値、作動、停止）を設定する。

ハンドベルト装置は、プログラミングに使われると、主識別装置をプログラム・ モードに設定する。

第１２図〜第１６図は、第１図〜第１０図の検査装置を使った検査ステップを示 している。

プログラミング・モードのとき、最初に、検査装置を通過している軌道からある 数値を得てマイクロプロセッサに記憶させ、この数値は、使用モードにおいて引 き続いて行われる参照と比較に使われる。

好ましいプログラミング・モードでは、所定数（例えば１０個）のコインを検査 装置に通す。これらのコインは勿論間しタイプ（国、額、寸法なと）で、実際に 流通しているそのタイプの条件を代表していな１プればならない。

本発明の好ましい形式で、第１のコインか検査装置を通ると、後述する方法で３ 個の数値が生成される。

仮に、この３個の数値を５００．１２０．９８としよう。これらの数値はマイク ロプロセッサに保持される。

次のコインの数値を５０２．１１９．９８とする。これらの数値も記憶され、こ れら３つの数値それぞれについて「窓」、すなわち範囲５００〜５０２、ｌ１９ 〜１２０および９８ができる。続いて、コインを所定数まで検査装置ＩＯに投入 すると、窓は４９８〜５０２．１１９〜１２１および９７〜９９となる。

検査装置１０に基準コインを通過することによってできたそれらの窓は、そのま まにしておいて、好ましくは、自動あるいはプログラム化してその窓を例えば、 ４９５〜５０５．１１８〜１２２および９６〜ｉｏｏというように拡張すること ができる。この窓の拡張の度合いは知識、経験、および／または試行によって様 々であろうが、検査装置が本物で傷のないコインを受入れできないとすることが 非常にまれにしか起こらないことを確実にする。

「使用」モードで、コインか検査装置１０に投入され、（例えば）４９７．１１ ８および９９という数値が生成される。それらの数値は、記憶しである数値範囲 、すなわち窓と比較される。そのコインの各数値か、各々、対応する数値範囲の 中に入っていれば、そのコインは、プログラムされた数値のコインであるとして 受入れられる。

しかしながら、５４０．１２１および７５という数値のコインは、その数値全て がそれぞれの数値範囲に入っていないので、受入れてきるとはされず、拒絶され る。

それでは、本発明の実施例では、とのようにしてそれらの数値を導き出し、また 、とのように記憶しである［１１と「使用」中の比較か行われるかを以下に詳述 する。

第１２図は、コイル４０．４２か励磁され消磁されたときとうなるかを示したグ ラフである。コイル４０および４２による単一の誘導場における、時間に対する 電圧のグラフで、時間αはコイル４０．４２か励磁された時間、時間βはコイン への磁場か切られた時間である。

第１２図の例示波形は、パルス印加、すなわちコイン励磁の時間にコイル４帆　 ４２の間にあるコインの、厚さ、直径、表面の特性および材料組成などのコイン パラメータによって決まる。

例だけのためであるが、コイル４０．４２が励磁される時間を２００マイクロ秒 とする。勿論、妥当な数値ならどのような時間（素早くコインを検査／識別する という要求に一致するなら）を使ってもよい。

第１２図に減衰波形を示す。消磁した直後に電圧スパイク６６か発生し、その後 、電圧は減衰して行き安定状態Ｑに落ち着く。電圧が固有の値（この例では５Ｖ ）に戻ったときに安定状ｔ！ＩＱになる。

第１２図の波形は、実際に第１０図の回路の点Ａにおいて発生した波形である。

点Ｂては、過渡抑圧素子（２ＤＩ　５ＡＳ）の働きで第１３図に示す波形になる 。この波形は、電圧スパイク６６を電圧上限６８にカットする過渡抑圧素子によ って制限（歪みなしに）されていることを除けば、第１２図の波形と同じである 。

第１４図は、第１３図の波形の減衰部７ｏを、明確にするために拡大したもので ある。減衰波形部７０の２つの部分、すなわちセクション７２．７４が次の処理 のために選択される。

第１５図に２つの波形を示す。破線のもの７８と実線のもの７６は、それぞれ２ つの異なるタイプのコインＸとＹを表している。例えば、波形７８は、２０オー ストラリア・セント硬貨で、波形７６は、ｌＯオーストラリア・セント硬貨であ る。

第１５図の波形は、第１４図における７０の部分７２て、第１４図の波形を反転 し増幅したものであって、第」１図の回路の位ｌｔＣでの波形である。

適切な値の基準電圧ＶＲ１か決まっており、β位置（コイル４０．４２の消磁） から波形７６とｖｏか交点までの時間が計数される。

システム・クロック計数値でその時間間隔をＣＣ１とする。

波形７６（コインＸ）のシステム・クロック計数値をＣＣ１−Ｘとする。波形７ ８（コインＹ）については、同様の時間をシステム・クロック計数値てＣＣ１− Ｙとする。

クロック計数でのＣＣＩ−ＸとＣＣＩ−Ｙの数値は、各々コインＸとＹについて 決められた前記の３つの数値の内の１つである。

第１６図に、第１４図の部分波形７０の部分７４を反転し増幅したものを示す。

波形８０（コインＸ）と（破線の）８２（コインＹ）は、例えば第５図の仮想の コインＸとＹのプロフィールを表している。

第１１１１の回路の屯りを表している第１６図では、各々の波形に対して２つの 基準電圧Ｖ１２とＶ＊３か決められ、β位置と、波形とＶｌｔとの交点の時間を 計数ＣＣ２とし、波形８０と８２に対して、各々、計数値ＣＣ２−ＸとＣＣ２− Ｙとする。

同様に、β位置から各波形とＶ。どの交点までの時間を計数ＣＣ３とすると、計 数値ＣＣ３−ＸとＣＣ３−Ｙか得られる。

かくして、コインＸについてこれか数値ＣＣＩ−Ｘ、ＣＣ２−ＸとＣＣ３−Ｘを 持っているということになる。好適な構成では、システム・クロック計数の単位 は０．５マイクロ秒である。そして、この例では、数値はクロック計数で次のよ うになる。

ＣＣＩ−Ｘ　４９７ ＣＣ２−Ｘ　１１８ ＣＣ３−Ｘ　９９ 検査装置１０のプログラミング・モードにおいて、ＣＣ１−Ｘ、ＣＣ２−Ｘおよ びＣＣ３−Ｘは、比較器Ｕｌ、ＵｓおよびＵ、が動作して生成される。それぞれ のケースで適切な基準電圧に達すると、各々に対応する比較器は「計数停止」信 号を送り、比較器Ｕ３、Ｕ！およびＵ、からの「計数停止」信号によって、それ ぞれに対応するＣＣＬＣＣ２およびＣＣ３についてクロック計数の数値か決まり 、前述のマイクロプロセッサに記憶される。

コインＸのタイプの他のコインを検査装置１０に通すことによって、記憶されて いるＣＣＩ、ＣＣ２およびＣＣ３の値は、次のような範囲、すなわち「窓」を持 つようになる。

ＣＣＩの範囲　４９５〜５０５ ＣＣ２の範囲　１１８〜１２２ ＣＣ３の範囲　９６〜１００ 続いてコインＸか検査装置ｌＯに投入されると、その値（ＣＣ１−Ｘ＝４９７、 ＣＣ２−Ｘ＝１１８、ＣＣ３−Ｘ＝９９）は、マイクロプロセッサに記憶されて いる各々の範囲と比較される。その値か各々の範囲に入っていれば、そのコイン は受入れされ、受入信号ができる。

本発明の好ましい実施例では、１２タイプの範囲をマイクロプロセッサに記憶す るか、装置および／またはソフトウェアは、比較のためにメモリに記憶すべきコ イン・タイプの範囲の数かどれだけになろうと変更可能である。

前述したように、受入信号によって検査装置ｌＯは、受入れてきるコインに受入 軌道を通過させる。９０．９２および９４なとの受入／チェック・センサか、コ インかコイン軌道を正しい方向に通過したということを指示しｔ：ら、マイクロ プロセッサは、好ましくは、検査したコインに関する、および／または検音装置 か受入れした多くのコインの累積金額に関する出力を発生させられる。

“偽コイン”を捕捉するように検査装＃ＩＯをプログラミングすることができ、 こうすると、それらか流通できないようにすることもできる。関係の偽コインの タイプに関して、その偽フィンの価値を０と登録するだけのプログラミングをそ の装置について現場ですればよいのである。すると、その偽コインは検査装置で 「受入れ」られるが、金額は全く表示されない。

本発明の実施例の検査装置ｌＯは自己補償する。コイン検査装置の正確さは、安 定した電子状態を維持することにかかっている。温度、部品の使用年数などによ る検出・増幅回路のばらつきか装置の正確さに影響する。

演算増幅器のＤＣ出力を、安定状態の時に連続して監視することによって、この 装置は自己補償手段を具備することかできる。この出力は、自動的に要求通りの 所定レベルに調整される。こうすることによって、回路内のばらつきを補償し、 その装置の正確さを維持するのである。しかしながら、この好ましい実施例では 、自己補償法の必要かないような機能を回路か持っている。

本発明の、および／または記載した実施例のコイン検査装置は、多くの改良点が あることか明らかである。

まず、単一のパルスしか加えないことで、素早い識別かできる。このことは賭は 機や料金徴収ブースなどの高速分野において特に作用である。

パルス印加後に発生する逆起電力波形の部分を分析することで、正確な識別を行 うことができる。

現場でプログラムできることて、新たな、および／または異なるコインのための プログラムか、検査装置をワークショップに返さなくてもできる。

検査装置本体は２つの基本部分に別れるので、入手しゃすく、掃除しゃすい。

コイン軌道は、検出領域をコインが続けて通過しても、コインの傾きが再現性よ く一定になるように設計されている。

補正書の翻訳文提出書（特許法第１８４条の８）平成４年１２月２８日

Claims (22)

【特許請求の範囲】
1. １．コインの少なくとも一部がその間に位置付けられるようにした検出コイルを 単一のパルスで励磁するステップと、パルス減衰の逆起電力から前記コインの識 別定義を与える情報を抽出するステップとを含んでなるコイン検査方法。
2. ２．前記コインの識別定義を基準識別定義と比較して前記コインが受入れできる ものか、受入れできないものかを判定するステップをさらに含んでなる請求項１ 記載の方法。
3. ３．前記比較のステップがマイクロプロセッサで行われる請求項２記載の方法。
4. ４．前記コインの識別定義が前記逆起電力波形の少なくとも一部から導かれる上 記いずれかの請求項に記載の方法。
5. ５．前記逆起電力波形の前記一部またはその各部が反転し増幅されるようにした 請求項４記載の方法。
6. ６．前記識別定義がある期間、またはある期間を表す数値の形を取るようにした 上記いずれかの請求項に記載の方法。
7. ７．前記数値がシステム・クロック計数値である請求項６記載の方法。
8. ８．前記期間または前記数値が、前記コイルの消磁に関して予め定められた時間 、および、前記逆起電力波形と基準電圧波形とが交わる時点間の時間に関連する 請求項６もしくは７記載の方法。
9. ９．前記予め定められた時間が前記コイルが消磁する時間である請求項８記載の 方法。
10. １０．コインの少なくとも一部が励磁の際にその間に位置付けられるようにした 検出コイルを励磁するステップと、 予め定められた時間後に前記コイルを消磁するステップと、電圧増幅制限逆起電 力波形または電圧の減衰波形の第１の位置と第２の位置を前記コイルにおいて反 転し増幅するステップと、前記コイルの消磁と前記第１の波形部分が第１の基準 電圧と交わる時点との間の時間から第１のシステム・クロック計数値を得るステ ップと、前記コイルの消磁と前記第２の波形部分が第２の基準電圧と交わる時点 との間の時間から第２のシステム・クロック計数値を得るステップと、前記コイ ルの消磁と前記第２の波形部分が第３の基準電圧と交わる時点との間の時間から 第３のシステム・クロック計数値を得るステップと、前記第１の数値、前記第２ の数値、および前記第３の数値を、第１の範囲の記憶された数値、第２の範囲の 記憶された数値、および第３の範囲の記憶された数値とそれぞれ比較するステッ プと、前記第１の数値、前記第２の数値、および前記第３の数値が、それぞれ前 記第１の範囲、前記第２の範囲、および前記第３の範囲内にあれば前記コインの 受入れを表す信号を発生するステップとを含んでなるコイン検査方法。
11. １１．ある１種のコインに対する基準電圧を記憶するためのコイン検査装置のプ ログラミング法であって、 励磁の際に第１の種類の第１のコインの少なくとも一部がその間に位置付けられ るようにした検出コイルを単一のパルスで励磁するステップと、パルス減衰の逆 起電力から、前記第１のコインの識別定義を構成する第１の数値セットとしての 情報を抽出するステップと、前記第１の数値セットを記憶するステップと、第１ の種類の第２のコインについて前記第１ステップおよび第２ステップを繰り返し 、前記第１の数値セットと共に前記各ステップにより発生された第２の数値セッ トを記憶し、数値範囲セットを発生するステップと、予め定められた個数の第１ の種類のコインについて前記各ステップを操り返すステップと、 前記第１の種類の全てのコインについて得られた記憶された数値範囲セットを、 １つまたはそれ以上の前記範囲の一端もしくは両端において拡大し、または拡大 することなく、前記第１の種類のコインを表す１つの数値範囲セットとして規定 するステップとを含んでなる前記コイン検査装置のプログラミング方法。
12. １２．前記第１の数値セット、第２の数値セット、第３の数値セット、および数 値範囲セットのそれぞれが３個の数値、もしくは３個の数値範囲を包含してなる 請求項１１記載の方法。
13. １３．前記数値をクロック計数値とする請求項１１または１２記載の方法。
14. １４．前記３個の数値範囲が前記逆起電力波形の２つの部分から得られる請求項 １２または１３記載の方法。
15. １５．基準軌道と、 前記軌道のいずれか一方の側に位置する検出コイルと、コインの少なくとも一部 が前記コイル間に存在することを検出する検出手段と、 前記コイルを励磁および消磁する手段と、励磁期間から前記コインの識別定義を 導く手段とを含んでなるコイン検査装置。
16. １６．前記識別定義が、前記検出コイルにおける電圧の一部または消磁後の減衰 波形から導かれた数値、もしくはシステム・クロック計数値のセットである請求 項１５記載のコイン検査装置。
17. １７．前記コインが複数の行き先の１つへ移動することを許可するための識別に 対して作用する受入／拒絶手段をさらに備えた請求項１５または１６記載のコイ ン検査装置。
18. １８．前記受入／拒絶手段が浮動ピボット上を旋回するアームを備え、前記アー ムが、該当する信号を受けて“受入”位置と“拒絶”位置との間を移動するよう にし、前記アームは前記各位置の１つに常時押圧されており、かつ前記アームは ソレノイド手段によって押圧手段に移動されるようにした請求項１７記載のコイ ン検査装置。
19. １９．第１の本体部分および第２の本体部分によって構成され、前記各本体部分 がヒンジ結合され、前記各本体部分の各内部がコイン軌道を形成している請求項 １５〜１８のいずれかに記載のコイン検査装置。
20. ２０．前記本体部分がばね手段によって常時互いに押圧されている請求項１９記 載のコイン検査装置。
21. ２１．前記コインの通過を検出する少なくとも２組のセンサを含む不正防止機能 を備え、前記コインが前記センサを正しい方向で通過してセンサを正しいシーケ ンスで作動させない限り、前記コインが通過すれば前記センサが不正警報音を発 し、取引処置が送信されないように監視および作動されるようにした請求項１５ 〜２０のいずれかに記載のコイン検査装置。
22. ２２．コイン検査装置のコイン軌道であって、前記コイン軌道は使用中に垂直方 向に対しある角度をなすように配置される側壁によって部分的に境界を限定され 、前記軌道は使用中に垂直方向に対してある角度をなすベースを備え、前記ベー スおよび前記側壁の１つが９０℃以上１８０℃以下の角度を形成し、この結果前 記軌道上のコインが連続して略同様の向きを取るようにした前記コイン軌道。