JP4894554B2 - 光半導体封止用樹脂組成物及び光半導体装置 - Google Patents
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Description
エポキシ樹脂として、オルトクレゾールノボラック型エポキシ樹脂である住友化学(株)製「XL−3」及びブロム化エポキシ樹脂である住友化学(株)製「ESB400T」を用いた。
上記原材料を下記[表1]に示す配合量(質量部)で配合し、これをミキサーで均一にドライブレンドした後、ニーダーで溶融混練し、次にこの混練物を冷却・固化した後、この固化物を粉砕することによって、光半導体封止用樹脂組成物を封止材料として調製した。
有機染料100mg(実施例5にあっては「Kayaset YellowA-G」50mg、「RED 339」50mg)を秤量し、これをエポキシ樹脂:「XL−3」50gと硬化剤:「PSM6200」50gのそれぞれと混合し、これらを150℃のオイルバスにて溶解させた後、さらに1時間ディスパーを用いて攪拌混合を行うことによって、溶解混合物を得た。次に150℃のホットプレート上でスライドグラスを加温し、この上に上記の溶解混合物をガラス棒で適量滴下し、カバーガラスをセットした。そして光学顕微鏡(CCD)にて、不溶解成分の有無を確認した。エポキシ樹脂と硬化剤の両方とも相溶して不溶解成分が生じなかったものを[◎]とし、エポキシ樹脂又は硬化剤の一方と相溶して不溶解成分が生じず、他方と相溶しないで不溶解成分が生じたものを[○]とし、エポキシ樹脂と硬化剤の両方とも相溶しないで不溶解成分が生じたものを[×]として、相溶性を判定した。結果を下記[表1]に示す。
金型温度175℃、キュア時間120秒の成形条件で、光半導体封止用樹脂組成物を金型を用いてトランスファー成形した後、175℃で6時間ポストキュアすることによって、50mmφ×0.3mmtの寸法の円盤状のテストピースを作製した。
図1に示すような2チャンネル型の反射型フォトカプラー(パッケージ形状:8ピンDIP)を次のようにしてそれぞれ50個製造した。すなわち、LED4(GaAs素子)とフォトダイオード5を対向させてリードフレーム7に2組実装し、各組のLED4とフォトダイオード5をシリコン6で一体にドーム状にオーバーコートした後、これらを光半導体封止用樹脂組成物1でトランスファー成形して封止することによって、AとBの2チャンネルからなる評価用反射型フォトカプラーを製造した。狭ギャップ9の厚みは0.3mmである。
金型温度175℃、キュア時間120秒の成形条件で、光半導体封止用樹脂組成物を金型を用いてトランスファー成形した後、175℃で6時間ポストキュアすることによって、4mm×10mm×80mmの寸法のテストピースを作製した。
金型温度175℃、キュア時間120秒の成形条件で、光半導体封止用樹脂組成物を金型を用いてトランスファー成形した後、175℃で6時間ポストキュアすることによって、評価用パッケージ(チップ)として18SOPをそれぞれ10個製造した。この評価用パッケージに125℃で16時間ベーク処理を施した後、85℃/85%RH/96時間の条件で吸湿前処理を施し、さらにピーク温度260℃でのIRリフロー処理を3回施した。
金型温度175℃、キュア時間120秒の成形条件で、光半導体封止用樹脂組成物を金型を用いてトランスファー成形した後、175℃で6時間ポストキュアすることによって、評価用パッケージとして16DIPをそれぞれ10個製造した。各16DIPには、回路幅3μmのアルミニウム配線を施したテスト用素子が実装されている。この評価用パッケージに85℃/85%RH/25V/1000時間の条件で高温高湿バイアステストを実施した。そして、電気的なオープン不良がないものを[○]とし、オープン不良があるものを[×]として、耐湿信頼性を評価した。なお、下記[表1]に示す結果は、10個の評価用パッケージについての平均的な評価である。
2 光半導体装置
3 光半導体素子
Claims (3)
- エポキシ樹脂、硬化剤、シリカ粉末、二酸化チタン、有機染料を含有する光半導体封止用樹脂組成物であって、前記二酸化チタンの含有量が前記光半導体封止用樹脂組成物全量に対して15〜30質量%であると共に、前記有機染料の吸光度の最大吸収波長が300〜750nmであることを特徴とする光半導体封止用樹脂組成物。
- 前記有機染料の吸光度の最大吸収波長が400〜600nmであることを特徴とする請求項1に記載の光半導体封止用樹脂組成物。
- 請求項1又は2に記載の光半導体封止用樹脂組成物を用いて光半導体素子を封止して成ることを特徴とする光半導体装置。
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