JP4883297B2 - アリールスルホン酸化合物及び電子受容性物質としての利用 - Google Patents
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Description
また、ケンブリッジ大によって高分子発光材料を用いた有機EL(以下、PLEDと略す)素子が見出され(非特許文献2:ネイチャー(Nature)、英国、1990年、第347巻、p.539−541)、近年の高分子有機EL素子の特性は、従来のOLED素子に引けを取らないレベルにまで向上している。
一方、PLED素子では、ポリアニリン系材料(非特許文献4:ネイチャー(Nature)、英国、1992年、第357巻、p.477−479、アプライド・フィジックス・レターズ(Applied Physics Letters)、米国、1994年、64巻、p.1245−1247)や、ポリチオフェン系材料(非特許文献5:アプライド・フィジックス・レターズ(Applied Physics Letters)、米国、1998年、72巻、p.2660−2662)を、正孔輸送層(バッファ層)として用いることで、OLED素子と同様の効果が得られることが報告されている。
しかし、OLED素子における一般的な正孔注入材料であるCuPCは凹凸が激しく、他の有機層に微量混入することによって大きく特性を低下させるなどの欠点がある。
また、現在、PLED素子に用いられているポリアニリン系材料、ポリチオフェン系材料は、素子劣化を促進する可能性のある水を溶剤として含むこと、溶剤の選択肢が限られること、材料の凝集や低溶解性によって均一な成膜ができる塗布法が限られることなどの問題点を含んでいる。
さらに、溶解性の高い低分子オリゴアニリン系材料を含む有機溶剤系の電荷輸送性ワニスを用いた場合にも、使用可能な電子受容性ドーパントの種類が限られる、電子受容性ドーパントの耐熱性及び非晶性が低い等の問題が生じる場合がある。低分子量の電荷輸送性物質及び電荷受容性ドーパント物質を含む電荷輸送性ワニス、特に結晶性物質を含むワニスにおいては、一般に高い平坦性を示す成膜が難しい場合がある。
さらに、当該化合物を、結晶性の電荷輸送性ホスト物質と組み合わせて使用しても、得られる電荷輸送性薄膜は高い非晶性を示すことを見出した。
[1] 式(1)で表されることを特徴とするアリールスルホン酸化合物。
Aは、ナフタレン環又はアントラセン環を表し、
Bは、2〜4価のパーフルオロビフェニル基を表し、
nは、Aに結合するスルホン酸基数を表し、1≦n≦4を満たす整数であり、
qは、BとXとの結合数を示し、2〜4を満たす整数である。〕
[2] 前記Aがナフタレン環を表す[1]のアリールスルホン酸化合物。
[3] [1]又は[2]のアリールスルホン酸化合物からなる電子受容性物質。
[4] [3]の電子受容性物質、電荷輸送性物質、及び溶剤を含む電荷輸送性ワニス。
[5] [3]の電子受容性物質、及び電荷輸送性物質を含む電荷輸送性薄膜。
[6] [5]の電荷輸送性薄膜を有する有機エレクトロルミネッセンス素子。
また、本発明のアリールスルホン酸化合物を含んで形成された薄膜を、正孔注入層又は正孔輸送層として使用することで、有機EL素子の駆動電圧を低下させ、発光の電流効率を向上させることができる上、均一な発光面を得ることができる。
さらに、本発明のアリールスルホン酸化合物は、従来使用されている水溶液系の電荷輸送性ワニスとは異なり、有機溶剤のみで使用することができ、EL素子内への水分混入による素子劣化を防ぐこともできる。
本発明のアリールスルホン酸化合物を電荷受容性ドーパント物質として含む有機溶剤系の電荷輸送性ワニスは、コンデンサ電極保護膜、帯電防止膜、イオン伝導膜、太陽電池用途及び燃料電池等への応用も可能である。
式(1)又は式(2)で表されるアリールスルホン酸化合物において、Aは、X及びn個の(SO3H)基以外の置換基を有していてもよいナフタレン環又はアントラセン環を表す。
ここで、X及び(SO3H)基以外の置換基の具体例としては、水酸基、アミノ基、シラノール基、チオール基、カルボキシル基、スルホン酸基、リン酸基、リン酸エステル基、エステル基、チオエステル基、アミド基、ニトロ基、一価炭化水素基、オルガノオキシ基、オルガノアミノ基、オルガノシリル基、オルガノチオ基、アシル基、スルホン基、ハロゲン原子等が挙げられるが、これらに限定されるものではない。
オルガノアミノ基の具体例としては、メチルアミノ基、エチルアミノ基、プロピルアミノ基、ブチルアミノ基、ペンチルアミノ基、ヘキシルアミノ基、ヘプチルアミノ基、オクチルアミノ基、ノニルアミノ基、デシルアミノ基、ラウリルアミノ基等のアルキルアミノ基;ジメチルアミノ基、ジエチルアミノ基、ジプロピルアミノ基、ジブチルアミノ基、ジペンチルアミノ基、ジヘキシルアミノ基、ジヘプチルアミノ基、ジオクチルアミノ基、ジノニルアミノ基、ジデシルアミノ基等のジアルキルアミノ基;シクロヘキシルアミノ基等のジシクロアルキルアミノ基;モルホリノ基などが挙げられる。
オルガノチオ基の具体例としては、メチルチオ基、エチルチオ基、プロピルチオ基、ブチルチオ基、ペンチルチオ基、ヘキシルチオ基、ヘプチルチオ基、オクチルチオ基、ノニルチオ基、デシルチオ基、ラウリルチオ基などのアルキルチオ基が挙げられる。
上記一価炭化水素基、オルガノオキシ基、オルガノアミノ基、オルガノアミノ基、オルガノシリル基、オルガノチオ基及びアシル基などにおける炭素数は、特に限定されるものではないが、一般に炭素数1〜20、好ましくは1〜8である。
上述の各置換基の中でも、フッ素、スルホン酸基、置換もしくは非置換のオルガノオキシ基、アルキル基、オルガノシリル基がより好ましい。
なお、非置換とは水素原子が結合していることを意味する。また、以上の置換基において、置換基同士が連結されて環状である部分を含んでいてもよい。
Bは、非置換もしくは置換の炭化水素基、1,3,5−トリアジン基、又は非置換もしくは置換の下記式(3)もしくは(4)で示される基を表す。
qは、BとXとの結合数を示し、1≦qを満たす整数であれば特に限定はないが、2≦qであることが好ましい。
rは、繰り返し単位の数を示し、1≦rを満たす整数であれば特に限定はないが、2≦rであることが好ましい。
すなわち、下記アリールスルホン酸化合物(5)又は(6)のXH基に対し、上述のBを与える(架橋)試薬を作用させて得ることができる。反応の方法は、特に限定されるものではなく、例えば、一般的な求核置換反応を用いることができる。
また、ハロゲン原子、水酸基、アミノ基、アルデヒド基、カルボキシル基、エステル基、アルコキシ基等の置換基を2個以上含む炭化水素化合物等を用いると、当該化合物が架橋試薬として作用するため、架橋構造を有する化合物とすることもできる。q個以上の反応性置換基(架橋部)を有する試薬を用いて、式(5)の化合物をq量化する際、試薬の使用量は、式(5)の化合物に対して1/q倍モルが好適である。
反応温度は、通常、−50℃から使用する溶媒の沸点まで可能であるが、0〜140℃の範囲が好ましい。反応時間は、通常、0.1〜100時間である。
反応終了後、反応溶媒の留去、陽イオン交換樹脂によるスルホン酸塩のプロトン化、メタノール等の溶媒による抽出操作、再沈殿操作等により、精製することができる。
本発明の式(1)で表されるアリールスルホン酸化合物は、さらに架橋基を有する化合物により架橋させ、式(7)で表されるアリールスルホン酸化合物としてもよい。
本発明の電荷輸送性ワニスにおいて、これらの物質は、溶剤によって完全に溶解していてもよく、均一に分散していてもよい。
また、電荷輸送性とは、導電性と同義であり、本発明においては正孔輸送性と同義である。電荷輸送性ワニスは、そのもの自体に電荷輸送性があってもよく、ワニスから得られる固体膜に電荷輸送性があってもよい。
置換基の具体例としては、それぞれ独立して水素、水酸基、ハロゲン基、アミノ基、シラノール基、チオール基、カルボキシル基、スルホン酸基、リン酸基、リン酸エステル基、エステル基、チオエステル基、アミド基、ニトロ基、一価炭化水素基、オルガノオキシ基、オルガノアミノ基、オルガノシリル基、オルガノチオ基、アシル基、スルホン基等が挙げられ、これらの官能基は、さらにいずれかの官能基で置換されていてもよい。
オルガノチオ基の具体例としては、メチルチオ基、エチルチオ基、プロピルチオ基、ブチルチオ基、ペンチルチオ基、ヘキシルチオ基、ヘプチルチオ基、オクチルチオ基、ノニルチオ基、デシルチオ基、ラウリルチオ基などのアルキルチオ基等が挙げられる。
アシル基の具体例としては、ホルミル基、アセチル基、プロピオニル基、ブチリル基、イソブチリル基、バレリル基、イソバレリル基、ベンゾイル基等が挙げられる。
好ましい置換基として、フッ素、スルホン酸基、置換もしくは非置換のオルガノオキシ基、アルキル基、オルガノシリル基が挙げられる。なお、共役単位が連結して形成される共役鎖は、環状である部分を含んでいてもよい。
さらに、R4が水素原子、かつ、R6がフェニル基である場合、すなわち、式(13)のオリゴアニリン誘導体の両末端がフェニル基で封止されていることが好ましい。
これらの電荷輸送物質は1種類のみを使用してもよく、また2種類以上の物質を組み合わせて使用してもよい。
高溶解性溶剤としては、特に限定されるものではなく、例えば、水、メタノール、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン、N,N’−ジメチルイミダゾリジノン、ジメチルスルホキシド、クロロホルム、トルエン、メタノール等が挙げられる。
高粘度有機溶剤としては、特に限定されるものではなく、例えば、シクロヘキサノール、エチレングリコール、エチレングリコールジクリシジルエーテル、1,3−オクチレングリコール、ジエチレングリコール、ジプロピレングリコール、トリエチレングリコール、トリプロピレングリコール、1,3−ブタンジオール、1,4−ブタンジオール、プロピレングリコール、へキシレングリコール等が挙げられる。
このような溶剤としては、特に限定されるものではなく、例えば、ブチルセロソルブ、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジプロピレングリコールモノメチルエーテル、エチルカルビトール、ジアセトンアルコール、γ−ブチロラクトン、乳酸エチル等が挙げられる。
ワニスの塗布方法としては、特に限定されるものではないが、ディップ法、スピンコート法、スプレー法、インクジェット法、転写印刷法、ロールコート法、刷毛塗り等が挙げられ、いずれにおいても均一な成膜が可能である。
焼成温度は、溶剤を蒸発させることができれば特に限定されないが、40〜250℃で行うのが好ましい。より高い均一成膜性を発現させるため、また基材上で反応を進行させるために、2段階以上の温度変化をつけても良い。
使用する電極基板は、洗剤、アルコール、純水等による液体洗浄を行って予め浄化しておき、陽極基板では、使用直前にオゾン処理、酸素−プラズマ処理等の表面処理を行うことが好ましい。ただし陽極材料が有機物を主成分とする場合、表面処理は行わなくともよい。
すなわち、陽極基板に対して当該正孔輸送性ワニスを用いて上記の膜作製方法により、電極上に正孔輸送性薄膜を作製する。これを真空蒸着装置内に導入し、正孔輸送層、発光層、電子輸送層、電子注入層、陰極金属を順次蒸着してOLED素子とする。この際、発光領域をコントロールするために任意の層間にキャリアブロック層を設けてもよい。
正孔輸送層を形成する材料としては、(トリフェニルアミン)ダイマー誘導体(TPD)、(α−ナフチルジフェニルアミン)ダイマー(α−NPD)、[(トリフェニルアミン)ダイマー]スピロダイマー(Spiro−TAD)等のトリアリールアミン類、4,4’,4”−トリス[3−メチルフェニル(フェニル)アミノ]トリフェニルアミン(m−MTDATA)、4,4’,4”−トリス[1−ナフチル(フェニル)アミノ]トリフェニルアミン(1−TNATA)等のスターバーストアミン類、5,5”−ビス−{4−[ビス(4−メチルフェニル)アミノ]フェニル}−2,2’:5’,2”ターチオフェン(BMA−3T)等のオリゴチオフェン類を挙げることができる。
発光層を形成する材料としては、トリス(8−キノリノラート)アルミニウム(III)(Alq3)、ビス(8−キノリノラート)亜鉛(II)(Znq2)、ビス(2−メチル−8−キノリノラート)(p−フェニルフェノラート)アルミニウム(III)(BAlq)、4,4’−ビス(2,2−ジフェニルビニル)ビフェニル(DPVBi)等が挙げられる。なお、電子輸送材料又は正孔輸送材料と、発光性ドーパントとを共蒸着することによって発光層を形成してもよい。
発光性ドーパントとしては、キナクリドン、ルブレン、クマリン540、4−(ジシアノメチレン)−2−メチル−6−(p−ジメチルアミノスチリル)−4H−ピラン(DCM)、トリス(2−フェニルピリジン)イリジウム(III)(Ir(ppy)3)、(1,10−フェナントロリン)−トリス(4,4,4−トリフルオロ−1−(2−チエニル)−ブタン−1,3−ジオナート)ユーロピウム(III)(Eu(TTA)3phen)等が挙げられる。
キャリアブロック層を形成する材料としては、PBD、TAZ、及びBCPが挙げられる。
陰極材料としては、アルミニウム、マグネシウム−銀合金、アルミニウム−リチウム合金、リチウム、ナトリウム、カリウム、セシウム等が挙げられる。
陰極基板上に当該電子輸送性ワニスを用いて電子輸送性薄膜を作製し、これを真空蒸着装置内に導入し、上記と同様の材料を用いて電子輸送層、発光層、正孔輸送層、正孔注入層を形成した後、陽極材料をスパッタリング等の方法により成膜してOLED素子とする。
上記OLED素子作製において、正孔輸送層、発光層、電子輸送層、電子注入層の真空蒸着操作を行う代わりに、発光性電荷輸送性高分子層を形成することにより、本発明の電荷輸送性ワニスによって形成される電荷輸送性薄膜を含むPLED素子を作製することができる。
具体的には、陽極基板に対して当該正孔輸送性ワニスを上記の方法により塗布して電極上に正孔輸送性薄膜を作製し、その上部に発光性電荷輸送性高分子層を形成し、さらに、陰極電極を蒸着してPLED素子とする。
あるいは、陰極基板に対して当該電子輸送性ワニスを用い、上記の方法により電極上に電子輸送性薄膜を作製し、その上部に発光性電荷輸送性高分子層を形成し、さらに陽極電極をスパッタリング、蒸着、スピンコート等で作製してPLED素子とする。
発光性電荷輸送性高分子層の形成法としては、発光性電荷輸送性高分子材料、又はこれに発光性ドーパントを加えた材料に対して溶剤を加え、溶解又は均一に分散させ、正孔輸送性薄膜を形成した電極基板に塗布した後に、溶剤の蒸発により成膜する方法が挙げられる。
発光性電荷輸送性高分子材料としては、ポリ(9,9−ジアルキルフルオレン)(PDAF)等のポリフルオレン誘導体、ポリ(2−メトキシ−5−(2’−エチルヘキソキシ)−1,4−フェニレンビニレン)(MEH−PPV)等のポリフェニレンビニレン誘導体、ポリ(3−アルキルチオフェン)(PAT)などのポリチオフェン誘導体、ポリビニルカルバゾール(PVCz)等を挙げることができる。
塗布方法としては、特に限定されるものではないが、ディップ法、スピンコート法、転写印刷法、ロールコート法、刷毛塗り等が挙げられる。塗布は、窒素、アルゴン等の不活性ガス下で行うことが望ましい。
溶剤の蒸発法としては不活性ガス下又は真空中で、オーブン又はホットプレートで加熱する方法を挙げることができる。
[実施例1]
下記反応式(14)に従い、ナフタレンジスルホン酸化合物オリゴマー1(以下、NSO−1と略す)を合成した。
室温まで放冷後、水を加えて反応を停止させ、減圧下、濃縮乾固した。残渣にメタノール5mlを加え、得られた懸濁液をジエチルエーテル100mlに攪拌しながら加えた。室温で1時間攪拌後、析出した固体を濾取し、濾物にメタノール50mlを加え超音波で懸濁させた。不溶の固体を濾過によって除去し、濾液を減圧下濃縮乾固した。残渣に純水3mlを加え溶解し、陽イオン交換樹脂ダウエックス650C(Hタイプ)約2mlを加えて10分間攪拌した後に濾過し、濾液を陽イオン交換樹脂ダウエックス650C(Hタイプ約40ml、留出溶媒:アセトニトリル−水(1:10))を用いたカラムクロマトグラフィーにより精製した。
この黄色粉末をMALDI−TOF−MSにより分析した結果、NSO−1由来と考えられるメインピークが検出された。
MS (MALDI-TOF-MS-): m/z 901 (M-H)-
下記反応式(15)に従い、ナフタレンジスルホン酸化合物オリゴマー2(以下、NSO−2と略す)を合成した。
室温まで放冷後、水を加えて反応を停止させ、減圧下、濃縮乾固した。残渣にメタノール5mlを加え、得られた懸濁液をジエチルエーテル100mlに攪拌しながら加えた。室温で1時間攪拌後、析出した固体を濾取し、濾物にメタノール25mlを加え超音波で懸濁させた。不溶の固体を濾過によって除去し、濾液を減圧下濃縮乾固した。残渣にメタノール−水(1:2)12mlを加え溶解し、陽イオン交換樹脂ダウエックス650C(Hタイプ)約2mlを加え10分間攪拌した後に濾過し、濾液を陽イオン交換樹脂ダウエックス650C(Hタイプ約40ml、留出溶媒:メタノール−水(1:2))を用いたカラムクロマトグラフィーにより精製した。
この黄色粉末をMALDI−TOF−MSにより分析した結果、NSO−2由来と考えられるメインピークが検出された。
MS (MALDI-TOF-MS-): m/z 901 (M-H)-
すなわち、p−フェニレンジアミン12.977gを、トルエン2リットルに溶解し、これに脱水縮合剤であるテトラ−n−ブトキシチタン245.05gを加え、70℃で30分間溶解した。その後、p−ヒドロキシジフェニルアミン53.346gを添加し、窒素雰囲気下、反応温度100℃で24時間反応させた。反応終了後、反応液を濾過し、濾物をトルエン、エーテルで順次洗浄した後乾燥して銀色結晶を得た。得られた結晶に対して25質量部のジオキサン、0.2当量のヒドラジン一水和物を加え、反応系内を窒素置換した後、加熱還流して結晶を溶解した。得られた溶液に、トルエンを結晶に対して25質量部加えて溶液を懸濁し、加熱還流後、さらにジオキサンを10質量部加えて加熱還流して溶解し、得られた溶液を熱時濾過した。
濾液から析出した固体を再結晶し、窒素雰囲気下、トルエン−ジオキサン(1:1)、エーテルで順次洗浄した後濾取し、得られた結晶を減圧下、60℃で10時間乾燥した。同様の再結晶操作をもう一度繰り返して白色結晶39.60gを得た(収率75%)。
[実施例3]
実施例1で得られたNSO−1 102mgと、合成例1で得られたPTA 50mgとの混合物に、窒素雰囲気下でN,N−ジメチルホルムアミド(以下DMFと略す)1.70mlを加えて溶解し、さらに、窒素雰囲気下でエチレングリコール0.49ml及びシクロヘキサノール2.77mlを順次加えて室温で攪拌し、緑色透明のワニスを得た。
実施例2で得られたNSO−2 102mgと、合成例1で得られたPTA 50mgとの混合物に、窒素雰囲気下でN,N−ジメチルホルムアミド(以下DMFと略す)1.70mlを加えて溶解し、さらに、窒素雰囲気下でエチレングリコール0.49ml及びシクロヘキサノール2.77mlを順次加えて室温で攪拌し、緑色透明のワニスを得た。
実施例3,4に記載の方法によって得られた各ワニスを、ITO基板上にスピンコートで塗布した後、ホットプレート上で焼成して正孔輸送性薄膜を形成した後、真空蒸着装置内に導入し、α−NPD、Alq3、LiF、Alを順次蒸着した。膜厚は、それぞれ35nm、50nm、0.5nm、100nmとし、それぞれ8×10-4Pa以下の圧力となってから蒸着操作を行った。蒸着レートは、α−NPD及びAlq3では0.35〜0.40nm/s、LiFでは0.015〜0.025nm/s、Alでは0.2〜0.4nm/sとした。蒸着操作間の移動操作は真空中で行った。
ITOガラス基板を40分間オゾン洗浄した後、真空蒸着装置内に導入し、実施例5に記載の方法と同条件で、α−NPD、Alq3、LiF、Alを順次蒸着した。
(+)−10−カンファスルホン酸206mgと、合成例1で得られたPTA100mgとの混合物に、DMAc1.87mlを、窒素雰囲気下で加えて溶解し、さらにシクロヘキサノール5.53mlを加えて室温で攪拌し、緑色透明のワニスを得た。
得られたワニスを用い、実施例5に記載の方法によって電荷輸送性薄膜を得た。得られた電荷輸送性薄膜は非晶質固体であった。さらに、実施例5に記載の方法によりOLED素子を作製した。
PTA1.000g(2.260mmol)に対し、5−スルホサリチル酸二水和物(以下、5−SSAと略す)2.298g(9.039mmol)、及びN,N−ジメチルアセトアミド(DMAc)17.50gを窒素雰囲気下で加えて溶解し、得られた溶液にシクロヘキサノール(c−HexOH、粘度:68mPa・s(20℃))52.50gを加えて撹拌し、ワニスを調製した(固形分濃度4.2質量%)。
得られたワニスをスピンコート法により40分間オゾン洗浄を行ったITOガラス基板上に塗布した後、空気中180℃で2時間焼成し、均一な薄膜を得た。
これを真空蒸着装置内に導入し、α−NPD、Alq3、LiF、Alを順次蒸着した。膜厚は、それぞれ40nm、60nm、0.5nm、100nmとし、それぞれ8×10-4Pa以下の圧力となってから蒸着操作を行った。蒸着レートはLiFを除いて0.3〜0.4nm/sとし、LiFについては0.02〜0.04nm/sとした。なお、蒸着操作間の移動操作は真空中で行った。得られたOLED素子の特性を表2に示す。
なお、膜厚、Ip値及び導電率、EL特性、並びに粘度は、下記装置により測定した。
[1]膜厚
表面形状測定装置(DEKTAK3ST、日本真空技術社製)により測定した。
[2]Ip値
光電子分光装置(AC−2、理研計器(株)製)により測定した。
[3]EL測定システム:発光量子効率測定装置(EL1003、プレサイスゲージ製)
[4]電圧計(電圧発生源):プログラマブル直流電圧/電流源(R6145、アドバンテスト製)
[5]電流計:デジタルマルチメータ(R6581D、アドバンテスト製)
[6]輝度計:LS−110(ミノルタ製)
[7]粘度計:E型粘度計(ELD−50、東京計器社製)、測定温度:20℃
Claims (6)
- 前記Aがナフタレン環を表す請求項1記載のアリールスルホン酸化合物。
- 請求項1又は2記載のアリールスルホン酸化合物からなる電子受容性物質。
- 請求項3記載の電子受容性物質、電荷輸送性物質、及び溶剤を含む電荷輸送性ワニス。
- 請求項3記載の電子受容性物質、及び電荷輸送性物質を含む電荷輸送性薄膜。
- 請求項5記載の電荷輸送性薄膜を有する有機エレクトロルミネッセンス素子。
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