JP4815349B2 - 蛍光相関分光装置 - Google Patents
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Description
[第1の実施の形態]
図1は、本発明の第1の実施の形態に係る蛍光測光装置の構成を示す図である。
第1の実施の形態では、試料を励起させるレーザーの他に、試料を照準するためのレーザーとして半導体レーザー303を設けている。そして、これらのレーザー光を合成して1本のシングルモードファイバを用いて照射光学系に導いている。従って、照準位置と測定位置とを一致させることができ、データの信頼性を高めることができる。
第2の実施の形態では、倒立型顕微鏡100と光モジュール200との構成が第1の実施の形態と異なっている。従って、第1の実施の形態と同一の部位には同一の符号を付してその詳細の説明を省略する。
第2の実施の形態では、光モジュール200は光源/検出モジュール300からの光導光部が実装されていないので、第1の実施の形態の構成よりも小型に製作することができる。
第3の実施の形態では、一台のレーザーで照準用と測定用の機能を共用して最小のモジュール構成としている点が第1の実施の形態と異なっている。従って、第1の実施の形態と同一の部位には同一の符号を付してその詳細の説明を省略する。
第3の実施の形態では、ビームスプリッタ206を固定配置するなどにより、駆動部を設けていない。したがって信頼性が高くかつ安価な蛍光測光装置を提供することができる。
第4の実施の形態では、共焦点レーザー顕微鏡を用いて構成している点が第1の実施の形態と異なっている。従って、第1の実施の形態と同一の部位には同一の符号を付してその詳細の説明を省略する。
第4の実施の形態によれば、共焦点レーザー顕微鏡を用いた蛍光測光において、照準位置と測定位置とを一致させ、データの信頼性を高めることができる。
Claims (3)
- 光源と、
対物レンズを介して前記光源からの光を試料上に集光して照射する光照射手段と、
試料から発する蛍光を検出する光検出器と、
を少なくとも具備する蛍光相関分光装置において、
試料像を得るための照明手段と、
前記試料と前記光照射手段により集光する光スポット位置との相対的な位置を調整する位置調整手段と、
前記試料像と試料上に集光する前記光照射手段からの光スポット像との両方を同時に3次元で撮像する撮像手段と、
前記対物レンズから前記光検出器までの光路上に設けられ、
試料像を形成する光と、前記試料を透過又は反射又は散乱する前記光源からの光との両方を少なくとも部分的に反射して前記撮像手段に向けられる反射手段と、
を具備し、
前記撮像手段は、前記試料像と前記試料上に集光する前記光照射手段からの光スポット像との両方を3次元像に構築する3次元画像構築手段を備えたことを特徴とする蛍光相関分光装置。 - 前記反射手段は、切り替え手段によって光路に対して挿脱可能であり、前記反射手段が光路から外れたときに試料からの蛍光を前記光検出器に導くように配置されることを特徴とする請求項1に記載の蛍光相関分光装置。
- 前記撮像手段は、共焦点レーザー顕微鏡モジュールであることを特徴とする請求項1に記載の蛍光相関分光装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006528525A JP4815349B2 (ja) | 2004-06-24 | 2005-06-20 | 蛍光相関分光装置 |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004186352 | 2004-06-24 | ||
JP2004186352 | 2004-06-24 | ||
JP2006528525A JP4815349B2 (ja) | 2004-06-24 | 2005-06-20 | 蛍光相関分光装置 |
PCT/JP2005/011292 WO2006001259A1 (ja) | 2004-06-24 | 2005-06-20 | 蛍光測光装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2006001259A1 JPWO2006001259A1 (ja) | 2008-04-17 |
JP4815349B2 true JP4815349B2 (ja) | 2011-11-16 |
Family
ID=35781737
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006528525A Expired - Fee Related JP4815349B2 (ja) | 2004-06-24 | 2005-06-20 | 蛍光相関分光装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7324200B2 (ja) |
EP (1) | EP1760454A4 (ja) |
JP (1) | JP4815349B2 (ja) |
WO (1) | WO2006001259A1 (ja) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007333800A (ja) * | 2006-06-12 | 2007-12-27 | Nikon Corp | 顕微鏡照明装置とこれを有する顕微鏡装置 |
EP2038651B1 (en) * | 2006-06-29 | 2017-03-29 | Koninklijke Philips N.V. | An in vitro method of detecting and/or diagnosing cancer using uv light based dna image cytometry |
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AU2009318141B2 (en) | 2008-11-18 | 2014-05-22 | Stryker Corporation | Endoscopic LED light source having a feedback control system |
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US8664589B2 (en) * | 2011-12-29 | 2014-03-04 | Electro Scientific Industries, Inc | Spectroscopy data display systems and methods |
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US6914720B2 (en) * | 2003-03-27 | 2005-07-05 | Riken | Time resolved fluorescence microscope |
-
2005
- 2005-06-20 EP EP05750917A patent/EP1760454A4/en not_active Withdrawn
- 2005-06-20 WO PCT/JP2005/011292 patent/WO2006001259A1/ja not_active Application Discontinuation
- 2005-06-20 JP JP2006528525A patent/JP4815349B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-12-22 US US11/644,730 patent/US7324200B2/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1760454A1 (en) | 2007-03-07 |
US20070097369A1 (en) | 2007-05-03 |
WO2006001259A1 (ja) | 2006-01-05 |
EP1760454A4 (en) | 2008-09-03 |
US7324200B2 (en) | 2008-01-29 |
JPWO2006001259A1 (ja) | 2008-04-17 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080421 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140902 Year of fee payment: 3 |
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S531 | Written request for registration of change of domicile |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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