JP4806803B2 - 金属−セラミックス接合基板およびその製造方法 - Google Patents

金属−セラミックス接合基板およびその製造方法 Download PDF

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Description

本発明は、金属−セラミックス接合基板およびその製造方法に関し、特に、セラミックス基板に一方の面に回路用金属板が接合するとともに他方の面に放熱用金属ベース板が接合した金属−セラミックス接合基板およびその製造方法に関する。
近年、電気自動車、電車、工作機械などの大電流を制御するためのパワーモジュールの絶縁基板として、セラミックス基板に一方の面に回路用金属板が接合するとともに他方の面に平板状の放熱用金属ベース板が接合した金属−セラミックス接合基板が使用されている(例えば、特許文献1参照)。
特開2002−76551号公報(段落番号0030−0031)
しかし、従来の金属−セラミックス接合基板では、ヒートサイクルに対する信頼性が必ずしも十分ではない場合があった。
したがって、本発明は、このような従来の問題点に鑑み、ヒートサイクルに対する信頼性を向上させることができる、金属−セラミックス接合基板およびその製造方法を提供することを目的とする。
本発明者らは、上記課題を解決するために鋭意研究した結果、セラミックス基板の一方の面に金属板が接合するとともに他方の面に金属ベース部材が接合した金属−セラミックス接合基板において、セラミックス基板の少なくとも一部を金属ベース部材に埋め込むことにより、ヒートサイクルに対する信頼性を向上させることができることを見出し、本発明を完成するに至った。
すなわち、本発明による金属−セラミックス接合基板は、セラミックス基板の一方の面に金属板が接合するとともに他方の面に金属ベース部材が接合した金属−セラミックス接合基板において、セラミックス基板の少なくとも一部が金属ベース部材に埋め込まれていることを特徴とする。この金属−セラミックス接合基板において、セラミックス基板の一部が金属ベース部材に埋め込まれ、セラミックス基板が金属ベース部材と略平行に配置されているのが好ましい。あるいは、セラミックス基板の全ての部分を金属ベース部材に埋め込み、セラミックス基板を金属ベース部材と略平行に配置してもよい。
また、本発明による金属−セラミックス接合基板は、セラミックス基板の一方の面に金属板が接合するとともに他方の面に金属ベース部材が接合した金属−セラミックス接合基板において、セラミックス基板の側面の少なくとも一部が金属ベース部材に接合していることを特徴とする。この金属−セラミックス接合基板において、セラミックス基板の側面の一部が金属ベース部材に接合し、セラミックス基板が金属ベース部材と略平行に配置されているのが好ましい。あるいは、セラミックス基板の側面の全面を金属ベース部材に接合し、セラミックス基板を金属ベース部材と略平行に配置してもよい。
また、上記の金属−セラミックス接合基板において、金属板がセラミックス基板を介して金属ベース部材から所定の距離だけ離間しているのが好ましい。
また、本発明による金属−セラミックス接合基板の製造方法は、セラミックス基板の一方の面に金属板が接合するとともに他方の面に金属ベース部材が接合した金属−セラミックス接合基板の製造方法において、セラミックス基板の少なくとも一部が金属ベース部材に埋め込まれるように、あるいは、セラミックス基板の他方の面が金属ベース部材に接合するとともにセラミックス基板の側面の少なくとも一部が金属ベース部材に接合するように、セラミックス基板を金属ベース部材に接合することを特徴とする。これらの金属−セラミックス接合基板の製造方法において、金属板および金属ベース部材の少なくとも一方とセラミックス基板との間の接合が溶湯接合法によって行われるのが好ましい。
さらに、本発明によるパワーモジュールは、上記のいずれかの金属−セラミックス接合基板を用いたことを特徴とする。
本発明によれば、セラミックス基板の一方の面に金属板が接合するとともに他方の面に金属ベース部材が接合した金属−セラミックス接合基板において、セラミックス基板の少なくとも一部を金属ベース部材に埋め込むことにより、ヒートサイクルに対する信頼性を向上させることができる。
また、従来の金属−セラミックス接合基板と比べて、ヒートサイクル後の金属ベース板のクラックの発生を抑制することができるので、クラックの発生による放熱性の低下を防止することができる。
本発明による金属−セラミックス接合基板の実施の形態では、セラミックス基板の一方の面に金属板が接合するとともに他方の面に金属ベース部材が接合した金属−セラミックス接合基板において、セラミックス基板の少なくとも一部が金属ベース部材に埋め込まれている。
なお、セラミックス基板としては、AlN、Al、SiまたはSiCを主成分とするセラミックス基板を使用するのが好ましい。また、金属板としては、電気特性や熱伝導性の観点から、アルミニウム、銅またはこれらの合金からなる金属板を使用するのが好ましい。
以下、添付図面を参照して、本発明による金属−セラミックス接合基板およびその製造方法の実施の形態について詳細に説明する。
[第1の実施の形態]
図1および図2は、本発明による金属−セラミックス接合基板の第1の実施の形態を示している。図1および図2に示すように、本実施の形態の金属−セラミックス接合基板10は、略矩形の平板状のセラミックス基板12と、このセラミックス基板の一方の面に接合し、セラミックス基板12より小さい略矩形の平板状の少なくとも1枚(図1および図2では1枚のみを示す)の回路用金属板14と、セラミックス基板12の他方の面に接合した平面形状が略矩形の放熱用金属ベース板16とから構成されている。本実施の形態では、セラミックス基板12は、約半分の厚さ分だけ金属ベース板16に埋め込まれて金属ベース板16と平行に配置され、金属板14と金属ベース板16とを所定の距離だけ離間させている。
この実施の形態の金属−セラミックス接合基板10は、例えば、図3に示す鋳型20を用意し、この鋳型20の内部にセラミックス基板12を配置させ、鋳型20の内部に金属溶湯を注湯してセラミックス基板12の両面に接触させた後に冷却して固化させることにより、セラミックス基板12の一方の面に回路用金属板14を接合するとともに他方の面に放熱用金属ベース板16を接合することによって製造することができる。
図3に示すように、鋳型20は、平面形状が略矩形のカーボンまたは多孔性金属などの通気性材料からなる下側鋳型部材22と上側鋳型部材24から構成されている。下側鋳型部材22の上面の略中央部には、セラミックス基板12と略等しい平面形状および面積でセラミックス基板12の厚さの約半分の深さのセラミックス基板保持部22aとしての凹部が形成され、このセラミックス基板保持部22aの底面の略中央部には、回路用金属板14と略等しい形状および大きさの回路用金属板形成部22bとしての凹部が形成されている。上側鋳型部材24の内部には、放熱用金属ベース板16と略等しい形状および大きさの金属ベース板形成部24aが形成されている。なお、上側鋳型部材24には、金属溶湯を鋳型20内に注湯するための(図示しない)注湯口が形成されている。また、下側鋳型部材22には、金属ベース板形成部24aと回路用金属板形成部22bとの間に延びる(図示しない)注湯流路が形成され、セラミックス基板保持部22a内にセラミックス基板12を収容したときにも金属ベース板形成部24aと回路用金属板形成部22bとの間が連通するようになっている。
この鋳型20の下側鋳型部材22のセラミックス基板保持部22a内にセラミックス基板12を収容し、下側鋳型部材22の上に上側鋳型部材24を配置して固定した後、金属ベース板形成部24a内にアルミニウム溶湯などの金属溶湯を注湯し、溶湯流路を介して回路用金属板形成部22bまで金属溶湯を充填し、その後、冷却して金属溶湯を固化させることにより、図1および図2に示す金属−セラミックス接合基板10が得られる。
[第2の実施の形態]
図4は、本発明による金属−セラミックス接合基板の第2の実施の形態を示している。図4に示すように、本実施の形態の金属−セラミックス接合基板110は、略矩形の平板状のセラミックス基板112と、このセラミックス基板の一方の面に接合し、セラミックス基板112より小さい略矩形の平板状の少なくとも1枚(図4では1枚のみを示す)の回路用金属板114と、セラミックス基板112の他方の面に接合した平面形状が略矩形の放熱用金属ベース板116とから構成されている。本実施の形態では、セラミックス基板112は、全ての厚さ分だけ金属ベース板116に埋め込まれて金属ベース板116と平行に配置され、金属板114と金属ベース板116とを所定の距離だけ離間させている。また、セラミックス基板112の金属板114側の面と金属ベース板116の金属板114側の露出面が同一の高さになっている。
この実施の形態の金属−セラミックス接合基板110は、例えば、図5に示す鋳型120を用意し、この鋳型120の内部にセラミックス基板112を配置させ、鋳型120の内部に金属溶湯を注湯してセラミックス基板112の両面に接触させた後に冷却して固化させることにより、セラミックス基板112の一方の面に回路用金属板114を接合するとともに他方の面に放熱用金属ベース板116を接合することによって製造することができる。
図5に示すように、鋳型120は、平面形状が略矩形のカーボンまたは多孔性金属などの通気性材料からなる下側鋳型部材122と上側鋳型部材124から構成されている。下側鋳型部材122の上面の略中央部には、回路用金属板114と略等しい形状および大きさの回路用金属板形成部122bとしての凹部が形成され、この回路用金属板形成部122bの上にセラミックス基板112が配置されるようになっている。また、上側鋳型部材124の内部には、セラミックス基板112が埋め込まれる放熱用金属ベース板116と略等しい形状および大きさの金属ベース板形成部124aが形成されている。なお、上側鋳型部材124には、金属溶湯を鋳型120内に注湯するための(図示しない)注湯口が形成されている。また、下側鋳型部材122には、金属ベース板形成部124aと回路用金属板形成部122bとの間に延びる(図示しない)注湯流路が形成され、回路用金属板形成部122bの上にセラミックス基板112が配置されたときにも金属ベース板形成部124aと回路用金属板形成部122bとの間が連通するようになっている。
なお、下側鋳型部材122の上面のセラミックス基板112の各側面に対応する部分に、セラミックス基板112の位置決め用の(図示しない)微小の突起またはリブを設け、これらの突起またはリブに囲まれた領域内にセラミックス基板112を配置するのが好ましい。また、これらの突起またはリブは、ヒートサイクル後にクラックが発生し易いセラミックス基板112の角部が放熱用金属ベース板116で覆われるように、セラミックス基板112の角部に対応する部分を除いた各側面の略中央に対応する部分に設けるのが好ましい。
この鋳型120の下側鋳型部材22の回路用金属板形成部122bの上の所定の位置にセラミックス基板112を配置させ、下側鋳型部材122の上に上側鋳型部材124を配置して固定した後、金属ベース板形成部124a内にアルミニウム溶湯などの金属溶湯を注湯し、溶湯流路を介して回路用金属板形成部122bまで金属溶湯を充填し、その後、冷却して金属溶湯を固化させることにより、図4に示す金属−セラミックス接合基板110が得られる。
このようにして製造した第1または第2の実施の形態の金属−セラミックス接合基板は、回路用金属板に回路パターンを形成した後、パワーモジュール用のセラミックス回路基板や、半導体実装用のセラミックス回路基板として使用することができる。例えば、このようにして製造された金属−セラミックス接合回路基板を用いて、Siチップなどの半導体チップの半田付け、アルミワイヤのボンディングなどによる配線、プラスチックパッケージの接着などのアセンブリ工程を経て、ヒートサイクルに対する信頼性の高いパワーモジュールを得ることができる。
なお、上記の第1および第2の実施の形態では、金属−セラミックス接合基板を溶湯法によって製造する場合について説明したが、本発明による金属−セラミックス接合基板は、ろう接法や直接接合法などの他の方法によって製造してもよい。
また、上記の第1および第2の実施の形態では、放熱用金属ベース板の形状が略平板状であり、そのセラミックス基板と反対側の面(裏面)が平面状であったが、本発明による金属−セラミックス接合基板では、裏面にフィンが形成されたフィン付ベース板や内部に水冷用の水路が設けられた水冷ベース板などを放熱用金属ベース板として使用してもよい。このような金属ベース板を使用しても、上記の第1および第2の実施の形態と同様の効果が得られる。また、上記の第1および第2の実施の形態では、回路用金属板が1枚の場合について図示して説明したが、回路用金属板が複数の場合でも同様の効果が得られる。
また、上記の第1および第2の実施の形態では、放熱用金属ベース板の金属板側の面のセラミックス基板のまわりの部分が平面であったが、本発明による金属−セラミックス接合基板では、図6〜図9に示すように、放熱用金属ベース板がセラミックス基板の周囲を取り囲んでセラミックス基板の側面の一部または全部に接合するように、放熱用金属ベース板の金属板側の面に滑らかな隆起部または階段状の隆起部を設けてもよい。このように、セラミックス基板の側面の少なくとも一部が放熱用金属ベース板に接合していれば、上記の第1および第2の実施の形態と同様の効果が得られる。なお、図6〜図9において、参照符号210、310、410および510は金属−セラミックス接合基板、参照符号212、312、412および512はセラミックス基板、参照符号214、314、414および514は回路用金属板、参照符号216、316、416および516は放熱用金属ベース板を示す。
[実施例1]
第1の実施の形態の金属−セラミックス接合基板の製造方法と同様の方法により、36mm×40mm×0.635mmの窒化アルミニウム基板の一方の面に厚さ0.4mmの3枚のアルミニウム板を接合するとともに、窒化アルミニウム基板が0.3mm程度の厚さ分だけアルミニウムベース板に埋め込まれるように、窒化アルミニウム基板の他方の面に厚さ5mmでのアルミニウムベース板を接合し、第1の実施の形態の金属−セラミックス接合基板と同様の形状の金属−セラミックス接合基板を得た。この金属−セラミックス接合基板に対して、20℃×10分→−40℃×30分→20℃×10分→125℃×30分を1サイクルとするヒートサイクルを3000回行った後に、窒化アルミニウム基板の下側のアルミニウムベース板に亀裂が確認されず、同様のヒートサイクルを5000回行った後にも亀裂が確認されなかった。
[実施例2]
第2の実施の形態の金属−セラミックス接合基板の製造方法と同様の方法により、36mm×40mm×0.635mmの窒化アルミニウム基板の窒化アルミニウム基板の一方の面に厚さ0.4mmの3枚のアルミニウム板を接合するとともに、窒化アルミニウム基板が全ての厚さ分だけアルミニウムベース板に埋め込まれるように、窒化アルミニウム基板の他方の面に厚さ5mmでのアルミニウムベース板を接合し、第2の実施の形態の金属−セラミックス接合基板と同様の形状の金属−セラミックス接合基板を得た。この金属−セラミックス接合基板に対して、実施例1と同様のヒートサイクルを3000回行った後に、窒化アルミニウム基板の下側のアルミニウムベース板に亀裂が確認されず、同様のヒートサイクルを5000回行った後にも亀裂が確認されなかった。
[比較例]
図10に示すように、第1および第2の実施の形態と同様に溶湯法によって、36mm×40mm×0.635mmの窒化アルミニウム基板612の一方の面に厚さ0.4mmの3枚(図5では1枚のみを示す)のアルミニウム板614を接合するとともに、他方の面に厚さ5mmのアルミニウムベース板616を接合し、金属−セラミックス接合基板610を得た。この金属−セラミックス接合基板に対して、実施例1と同様のヒートサイクルを3000回行った後に、窒化アルミニウム基板の下側のアルミニウムベース板に長さ3mmの亀裂が生じた。
本発明による金属−セラミックス接合基板の第1の実施の形態の平面図である。 図1の金属−セラミックス接合基板のII−II線断面図である。 図1の金属−セラミックス接合基板を製造するために使用する鋳型の断面図である。 本発明による金属−セラミックス接合基板の第2の実施の形態の断面図である。 図4の金属−セラミックス接合基板を製造するために使用する鋳型の断面図である。 本発明による金属−セラミックス接合基板の第1の実施の形態の変形例の断面図である。 本発明による金属−セラミックス接合基板の第1の実施の形態の他の変形例の断面図である。 本発明による金属−セラミックス接合基板の第2の実施の形態の変形例の断面図である。 本発明による金属−セラミックス接合基板の第2の実施の形態の他の変形例の断面図である。 比較例で製造した金属−セラミックス接合基板の断面図である。
符号の説明
10、110、210、310、410、510、610 金属−セラミックス接合基板
12、112、212、312、412、512 セラミックス基板
14、114、214、314、414、514 回路用金属板
16、116、216、316、416、516 放熱用金属ベース板
20、120 鋳型
22、122 下側鋳型部材
22a セラミックス基板保持部
22b、122b 回路用金属板形成部
24、124 上側鋳型部材
24a、124a 金属ベース板形成部
612 窒化アルミニウム基板
614 アルミニウム板
616 アルミニウムベース板

Claims (1)

  1. 内部にセラミックス基板を配置した鋳型内に金属溶湯を注湯してセラミックス基板の両面に接触させた後に冷却して固化させることにより、セラミックス基板の一方の面に金属板が直接接合するとともに他方の面に放熱用金属ベース部材が直接接合した金属−セラミックス接合基板を製造する方法において、セラミックス基板の一方の面が放熱用金属ベース部材と接触せず且つ他方の面が放熱用金属ベース部材に直接接合するとともにセラミックス基板の側面の少なくとも一部が放熱用金属ベース部材に直接接合するように、セラミックス基板を放熱用金属ベース部材に直接接合することを特徴とする、金属−セラミックス接合基板の製造方法。
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