JP4805966B2 - 座標入出力装置の試験方法 - Google Patents
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Description
図11は従来例1の説明図であり、A図は座標入力装置、B図は電気的ブロック図である。図11において、1は座標入力装置、2は座標一検査領域、3は治具プレート、4は第1表示部、5は第2表示部、6は入力キー、7はCPU、8はタブレット、9はROM、10はRAM、11はEEPROM、12はI/F部(インタフェース部)、13はパソコンを示す。
図12は従来例2の説明図(その1)であり、A図はスキャン軌跡とサンプリング位置との関係を示す図、B図はサンプリングの基準点の位置を示す図、C図は精度計算に係る原理を示す図である。また、図13は従来例2の説明図(その2)であり、A図はスキャン軌跡を示す図、B図は座標のズレの発生箇所が目立たない例を示す図、C図は座標のズレの表示例を示す図、D図はB図の部分領域の再スキャンによる座標のズレの拡大表示例を示す図である。以下、図12、図13に基づいて従来例2を説明する。
この結果に基づいてタブレットの良否の判定を行なっていた。
ところで、座標ズレが小さいとき或いは座標ズレの状態の詳細を検査するときには、上述した例だけでは困難である。そこで、前述の全体スキャンの後に、座標ズレの確認された箇所を、より細かいピッチ及び遅いスキャン速度で再スキャンし、画面上に拡大表示することで、判定を容易に行う事ができる。
(a) :入力デバイスの入力方向に依存する座標検出の異常(ズレ、取りこぼし等)を指摘することを可能とする技術である。
前記構成に基づく本発明の作用を図1に基づいて説明する。以下に説明する試験は、装置本体内のCPU19がメモリに格納されているテストプログラム12を実行することで行う試験である。
(b) :前記(2) の座標入出力装置の試験方法では、入力デバイス3Aにより座標入力中か否かを判定し、入力中であれば、現座標を獲得し、現座標を獲得した場合、前回獲得した座標値から前記現座標の座標値との座標値増減に基づき、入力デバイス3Aの移動スピードを算出し、入力デバイス3Aの移動スピードによる表示属性の設定を行い、算出された入力デバイス3Aの移動スピードに応じて、入力デバイス3Aの移動の軌跡を、表示属性を変えて画面(表示画面2)上に表示し、現座標を次回の線画開始の座標として記憶手段(記憶部15A)に保持し、記憶手段(記憶部15A)から座標が獲得できなかった旨の情報を初期化する手順と、設定した入力デバイス3Aの監視サイクルが全て終了するまで、監視サイクル毎に試験を行ない、全ての監視サイクルの試験が終了したら、この試験を終了する。
図2は装置例の外観図であり、A図は装置例1、B図は装置例2、C図は装置例3である。本発明で適用する装置としては図2に示した各装置例がある。
図3は座標入出力装置の構成説明図であり、A図は平面図、B図はA図のX−Y線断面図である。
タブレットの試験の概要は、次の通りである。
試験例1では、座標検出ができなかった装置異常部分を捕らえ、表示属性の設定を意図的に変化させることで、試験者に的確に指示し、装置の良否判定精度を高める。
試験例2では、入力デバイスの移動スピードと、検出座標値に着目し、入力デバイス移動スピードの違いによる座標検出の異常を的確に捕らえる。また、試験器具(自動で入力デバイスを移動させる器具)不在の場合、試験者操作による試験となるが、この時、入力スピードはまちまちである。本発明では、入力スピードの違いなど、試験手順の不均一をスピードによる表示属性変更(例えば、表示の色を変える)などの手段を用い、均等化することも可能ならしめる。
試験例3では、試験中、検出した座標を複数に分割した領域に位置情報として保存しつつ検出済み(試験済み)領域として表示し、また、検出座標密度(検出された座標点が多いか少ないか)によってその表示属性を変えて表示することで、試験漏れの部分を明確にすることが可能であり、試験漏れを防ぐことにつながるものである。
試験例4では、試験中座標検出した結果を、例えば、RAM17又はハードディスク装置(HDD15)へ格納して保存する。そして、試験終了時に、検出座標分布を入力デバイスの移動スピードの違い、入力方向などに基づき集計処理して表示する機能を有することで、多角的に分析することを可能ならしめる。
試験例5では、試験機にマスタとなる試験制御用マスタコンピュータを介在させることにより、プログラム的にエラー情報を収集し、エラー頻度の高い領域を明示的に表示する。そのため、リアルタイムなエラー発生状況を提供できる。
図4はテストプログラムによるタブレットの処理フローチャート(その1)、図5はテストプログラムによるタブレットの処理フローチャート(その2)である。以下、図4、5に基づいて、テストプログラムによるタブレットの処理を説明する。なお、図4、5において、S1〜S17は各処理ステップを示す。
以下に説明する処理は、試験対象となる座標入出力装置をWindows (登録商標)環境下において実現している。また、以下に説明する試験は、メモリ内のテストプログラム12をCPU19が実行することで実現する。
(1) :試験例1の説明
図6は試験処理中状態の説明図であり、A図は表示例1、B図は表示例2である。
図7は座標検出処理の説明図である。以下、図7により前記例1の補足説明を行う。図7において、52はタイマで設定した間隔毎に呼び出される処理(図4のS2、S3、S5の処理に対応する)、この時、入力デバイスからの位置座標を獲得している(図7の符号40を参照)。この結果、座標獲得に成功した場合(48、49)は、FLAG1の状態(42)はOFFの状態なので表示色は黒色とし、座標44、45間を描画する。
図8は座標獲得処理の説明図である。以下、図8を参照しながら試験例2を説明する。
図9は表示属性を変えて表示した例である。図9において、61に示す通り、先ず予め画面を複数の領域に分割しておく。前記図4、5の処理において、S5で現座標を獲得するが、この獲得した座標が前記領域のどの部分にあたるかをチェックする。該当する領域に対し、領域毎に用意したカウンタをインクリメントする。座標密度により表示属性を変えて画面上に表示する(62)。
図10は他の例の試験方法の説明図である。以下、図10に基づいて、他の例の試験方法を説明する。
2 表示画面
3 手書き入力ペン
3A 入力デバイス
8 保護フィルム
9 表示回路
10 検出回路
11 入力電極面
12 テストプログラム
13 座標検出部
14 制御部
15 ハードディスク装置(HDD)
15A 記憶部
16 OS(オペレーティングシステム)
17 RAM
17A 記憶部
18 グラフィックコントローラ
19 CPU(中央演算処理装置)
Claims (2)
- 画面上の位置を指定して入力する入力デバイスと、
前記入力デバイスで指定された位置の座標を検出する座標検出部とを有する座標入出力装置の試験方法において、
前記入力デバイスにより座標入力中か否かを判定し、入力中であれば、現座標を獲得する手順と、
前記現座標を獲得した場合、前回獲得した座標値から前記現座標の座標値との座標値増減に基づき、前記入力デバイスの移動スピードを算出する手順と、
前記入力デバイスの移動スピードによる表示属性の設定を行う手順と、
前記座標検出部の異常を検出する試験の処理中に、前記入力デバイスの移動スピードによって、前記表示属性を変えて前記入力デバイスの移動の軌跡を前記画面上に表示する手順とを有する
ことを特徴とする座標入出力装置の試験方法。 - 画面上の位置を指定して入力する入力デバイスと、
前記入力デバイスで指定された位置の座標を検出する座標検出部とを有する座標入出力装置の試験方法において、
前記入力デバイスにより座標入力中か否かを判定し、入力中であれば、現座標を獲得する手順と、
前記現座標を獲得した場合、前回獲得した座標値から前記現座標の座標値との座標値増減に基づき、前記入力デバイスの移動スピードを算出する手順と、
前記入力デバイスの移動スピードによる表示属性の設定を行う手順と、
前記算出された入力デバイスの移動スピードに応じて、入力デバイスの移動の軌跡を、前記表示属性を変えて画面上に表示し、現座標を次回の線画開始の座標として記憶手段に保持し、前記記憶手段から座標が獲得できなかった旨の情報を初期化する手順と、
前記設定した入力デバイスの監視サイクルが全て終了するまで、監視サイクル毎に前記手順による試験を行ない、全ての監視サイクルの試験が終了したら、この試験を終了する手順と、を有する
ことを特徴とする座標入出力装置の試験方法。
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