JP4804727B2 - 光走査型共焦点顕微鏡 - Google Patents

光走査型共焦点顕微鏡 Download PDF

Info

Publication number
JP4804727B2
JP4804727B2 JP2004186348A JP2004186348A JP4804727B2 JP 4804727 B2 JP4804727 B2 JP 4804727B2 JP 2004186348 A JP2004186348 A JP 2004186348A JP 2004186348 A JP2004186348 A JP 2004186348A JP 4804727 B2 JP4804727 B2 JP 4804727B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
fluorescence
wavelength band
wavelength
detection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2004186348A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006010944A5 (ja
JP2006010944A (ja
Inventor
純一 北川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Corp filed Critical Olympus Corp
Priority to JP2004186348A priority Critical patent/JP4804727B2/ja
Priority to US11/154,968 priority patent/US7365842B2/en
Publication of JP2006010944A publication Critical patent/JP2006010944A/ja
Publication of JP2006010944A5 publication Critical patent/JP2006010944A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4804727B2 publication Critical patent/JP4804727B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • G01N21/6456Spatial resolved fluorescence measurements; Imaging
    • G01N21/6458Fluorescence microscopy

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Description

本発明は、励起光を走査しながら試料に照射し、試料からでてくる蛍光を検出する光走査型共焦点顕微鏡に関する。
近年、蛍光試薬の発展に伴い、レーザー走査型共焦点顕微鏡(CLSM)の高機能化が進んできている。従来のフィルターを用いた蛍光検出に加え、試料から発生した蛍光を分光して検出する手法が登場してきた。この蛍光分光検出によって、試薬ごとの固有の蛍光スペクトルをより詳細に分析・定量化できるようになってきている。また、波長特性に大きなクロストークをもつ複数の蛍光試薬を組み合わせた試料で蛍光観察されるようになり、それら個々の蛍光を分離して観察する要望がでてきている。
米国特許出願公開2002/0020819A1号は、レーザー光によって励起された試薬が発する蛍光を分光して検出する装置を開示している。この装置では、具体的には、試料から発生した蛍光を回折格子からなる分散素子を用いて分光し、分光された蛍光をマルチチャンネル検出器によって検出している。ここで使用されるマルチチャンネル検出器は物理的に切り離された複数の検出チャンネルを備えており、分散された蛍光は個々のチャンネルに空間的に配分され、それぞれの波長領域に分離されて検出される。このため、チャンネル一つが最小波長帯幅となる。蛍光の分光プロファイルは電気的に各チャンネルの検出位置を識別するか検出位置を移動させることによって取得することができる。
特表2002−122787号公報は、蛍光を分光して検出する別の装置を開示している。この装置では、プリズムからなる分散素子によって分散された蛍光に対して、スリットの開口幅によって決まる波長帯の蛍光を検出することができる。さらに、光路上の少なくとも一つの光学部品を回転や摺動させることにより、波長帯(の中心波長)を変化させることができる。これにより、分光プロファイルを取得することができる。
米国特許第5,192,980号は、蛍光を分光して検出する別の装置を開示している。この装置では、回折格子からなる分散素子によって蛍光を分散させ、検出器の前に配置された一つのピンホールによって共焦点効果を得るとともに波長選択を行なう。特表2002−122787号公報と同様に分散素子を回転させることによって所望の領域内でピンホールにより波長選択を行なう。ピンホールの大きさによって極めて狭い波長幅を選択でき、高精度な分光検出を行なうことができる。
米国特許出願公開2002/0020819A1号 特表2002−122787号公報 米国特許第5,192,980号
米国特許出願公開2002/0020819A1号の装置では、回折格子を用いて分散された蛍光はマルチチャンネル検出器で検出されるため、蛍光がもつ波長成分が空間的に配置された個々のチャンネルでそれぞれに配分される。このため、チャンネル一つ一つの物理的な大きさが受けもつ波長帯幅を意味し、システム全体の最小波長分解能に相当する。このため、蛍光プロファイルを取得する際に波長帯幅を自由に可変できないという制限を受ける。また、元来微弱な蛍光をさらに分散させて測光するが、マルチチャンネル検出器の個々のチャンネルは検出感度がそれほど高くない。このため、高感度でダイナミックレンジ広く分光検出を行なうことは難しい。
特表2002−122787号公報の装置では、実際に分光プロファイルをどのように取得するかについて詳細に記載されていない。ここではスリット幅を狭くして検出波長帯幅を小さくすることによって高精度な検出を行なうことができるが、元来極めて微弱な蛍光を分散させて測光するため、検出器に非常に高い感度が求められるという難点がある。
米国特許第5,192,980号の装置では、回転可能な回折格子からなる分散素子によって蛍光を分光し、分光された蛍光をピンホールを介して検出している。ピンホールの大きさは、共焦点効果と波長分解能の両方に同時に寄与するため、自由に変えることはできない。このため、蛍光の分光プロファイル検出のような微弱測光には利用できない。
本発明は、このような実状を考慮して成されたものであり、その目的は、蛍光の分光検出を十分な光強度で行なえる光走査型共焦点顕微鏡を提供することである。
本発明の光走査型共焦点顕微鏡は、励起光ビームを射出するための光源部と、前記光源部からの励起光ビームを走査するための走査光学系と、励起光ビームを試料に照射するための対物レンズと、試料に照射される励起光と励起光照射に起因して試料から生じる検出光(蛍光と反射光を含む)とを分離するための分離光学素子と、共焦点効果を得るための共焦点検出部と、検出光を分光検出するための分光検出装置と、前記分光検出装置によって得られた蛍光スペクトル情報から蛍光の種類ごとのスペクトル成分に対応した蛍光スペクトル情報を分離演算する蛍光分離演算処理部を備えており、前記分光検出装置は、検出光を分光するための分光器と、前記分光器によって分光された光から任意の幅の波長帯の光を抽出するための光抽出部と、前記光抽出部によって抽出された光を検出するための検出器と、前記光抽出部によって抽出される光の波長帯を一定の送り量ずつシフトさせることで波長掃引を行なう波長帯移動部とを有している。波長帯移動部による波長帯のシフト量が前記光抽出部によって抽出される光の波長帯の幅よりも小さい。
本発明によれば、蛍光の分光検出を十分な光強度で行なえる光走査型共焦点顕微鏡が提供される。
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態について説明する。
[第一実施形態]
図1は、本発明の第一実施形態によるレーザー走査型共焦点顕微鏡の構成を概略的に示している。
本実施形態のレーザー走査型共焦点顕微鏡100は、励起光ビームを射出するための光源部110と、光源部110からの励起光ビームを走査するための走査光学系130と、励起光ビームを試料Sに照射するための対物レンズ140と、試料Sに照射される励起光と励起光照射に起因して試料Sから生じる検出光(蛍光と反射光を含む)とを分離するための分離光学素子であるダイクロイックミラー120と、共焦点効果を得るための共焦点検出部150と、検出光を分光検出するための分光検出装置160とを備えている。
光源部110は、励起光を発するレーザー光源111と、レーザー光源111から発せられた励起光を伝達する光ファイバー112と、光ファイバー112によって伝達された励起光を励起光ビームとして射出する射出部113とを有している。
走査光学系130は、ガルバノミラーや音響光学素子などの光ビームを走査する公知の走査素子を用いて構成される。
共焦点検出部150は、ダイクロイックミラー120と分光検出装置160の間の光路上に位置している。共焦点検出部150は、例えば、二枚の凸レンズ151と153とそれらの間に配置されたピンホール152とを有している。ピンホール152は、走査光学系130と対物レンズ140による励起光の焦点(収束点)に対して、対物レンズ140と走査光学系130と凸レンズ151とを介して共焦点の位置に配置されている。これにより、共焦点検出部150は、ダイクロイックミラー120によって分離された検出光から、光軸に沿った特定の高さ位置にある試料面(試料中の面)からの検出光を選択的に取り出す。
分光検出装置160は、検出光を波長ごとに異なる方向に偏向させる分散素子161と、分散素子161を光軸に直交する軸周りに回転させる回転デバイス162と、分散素子161によって分光された検出光を収束させるための収束レンズ163と、開口幅を変更可能な機械的な可変開口であるスリット164と、スリット164によって抽出された光を検出するための検出器165とを有している。
スリット164は、分散素子161によって分光された光から任意の幅の波長帯の光を抽出するための光抽出部として機能する。スリット164は、スリット幅すなわち開口を規定している二枚の遮光板164aと164bを有している。二枚の遮光板164aと164bは共に、光軸に垂直な方向に移動可能であり、抽出する光の波長帯の上限と下限を定める。つまりスリット164は、抽出する光の波長帯の幅を自由に変更することができる。
また、分散素子161は、検出光を分光するための分光器として機能する。分散素子161は、これに限らないが、例えば回折格子で構成される。この場合、検出光は波長に対応した回折角で回折されるによって分光される。分散素子161は、回折格子に限定されるものではなく、分光機能をもつ任意の光学素子、例えばプリズムで構成されてもよい。この場合、検出光は波長に対応した屈折角で屈折されるによって分光される。図1は分散素子161が回折格子で構成された例を示している。分散素子161がプリズムで構成された場合には、回折と屈折の違いから、収束レンズ163とスリット164と検出器165の配置を図1と異ならせる必要があるが、そのほかは本実施形態の構成をそのまま適用できる。
回転デバイス162は、スリット164によって抽出される光の波長帯を移動させる波長帯移動部として機能する。より詳しくは、回転デバイス162は、分散素子161を回転させることにより、スリット164を通過し得る光の波長帯の代表波長(例えば中心波長または下限波長または上限波長)を一定のシフト量で移動させる。回転デバイス162は、これに限らないが、例えばガルバノメーターやステッピングモーターで構成される。
検出器165は、これに限らないが、好ましくは高感度の検出器、例えばフォトマルチプライヤーで構成される。
レーザー走査型共焦点顕微鏡100はさらに、分光検出装置160で得られた蛍光情報(蛍光分光画像または蛍光特性データ)から蛍光の種類ごとのスペクトル成分に対応した蛍光情報を分離演算する蛍光分離演算処理部170を備えている。
図1において、光源部110から射出された励起光ビームは、ダイクロイックミラー120によって反射され、走査光学系130と対物レンズ140を経て試料Sに照射される。試料Sは蛍光色素によって染色されており、蛍光色素は励起光の照射に対して蛍光を発する。試料Sからの検出光(通常、複数種類の蛍光と反射光を含んでいる)は、対物レンズ140と走査光学系130を通り、ダイクロイックミラー120を透過することによって励起光から分離され、共焦点検出部150に入射する。ダイクロイックミラー120を透過した検出光は、共焦点検出部150を通過することによって試料S中の特定の高さ位置にある面からの検出光だけになり、分光検出装置160に入射する。
分光検出装置160に入射する検出光は、分散素子161によって波長成分ごとに異なる方向に偏向されることにより分光される。言い換えれば、検出光は、分散素子161によって波長に従って空間的に分散される。分光された検出光は収束レンズ163に入射し、波長成分ごとに異なる位置に収束される。収束レンズ163によって収束された検出光の一部(特定の波長帯の光)はスリット164を通過して検出器165に入射する。より詳しくは、スリット164に達した検出光のうち、スリット164の開口幅(スリット幅)で決まる波長帯内の波長成分の検出光だけが選択的にスリット164を通過して検出器165によって入射する。
検出器165は、入射した光を、その光強度を反映した電気信号に変換して出力する。検出器165から出力される電気信号は蛍光分離演算処理部170に入力されて処理される。
分光検出のあいだ、スリット164は一定の開口幅(スリット幅)に固定される。スリット164の開口幅は、検出器165によって検出光が十分な強度で検出されるように、あらかじめ調整される。スリット164の開口幅は、検出器165によって検出される光の波長帯の幅を決める。言い換えれば、スリット164の開口幅は、分光検出における波長分解能を意味する。
分散素子161は、回転デバイス162により、所定の角度範囲内を一方向に一定の送り量ずつ回転される。これに伴い、スリット164を通過する光の波長帯が所定の波長領域内を一方向に一定の送り量で移動される。波長帯の移動方向は任意で、分散素子161の回転方向によって決まる。つまり、波長帯は、短波長側から長波長側へ移動されても、または長波長側から短波長側へ移動されてもよい。これにより、検出器165によって検出される光が波長掃引される。波長掃引の波長領域(掃引幅)は、回転デバイス162によって回転される分散素子161の角度範囲によって決まる。
通常、蛍光は極めて微弱であるため、分光検出のために分散素子161によって蛍光を分散させることは、蛍光の検出にとっては非常に不利である。
本実施形態は、このような事情を考慮して、分光検出において、既知の蛍光特性と検出器165の感度に応じて、十分な強度で蛍光を検出することに向けられている。
図2は、本実施形態による分光検出における、蛍光試薬の典型的な蛍光特性と、検出器によって検出される光の波長帯と、波長帯が移動される波長領域とを示している。波長領域Lは、通常は波長帯の中心波長を代表値として設定されるが、波長帯の代表値は波長帯内の任意の値でよく、図2では波長帯の下限値を基準にして設定されてもいる。
図2において、波長帯は、短波長側から長波長側へ、一定の送り量ずつ移動される。αnはn回目の送り移動後の波長帯を示し、Δαは波長帯の一回の送り移動量(波長シフト量)示している。波長帯αnの下限値はスリット164の遮光板164aの位置に対応し、波長帯αnの上限値はスリット164の遮光板164bの位置に対応している。波長帯αnの幅は、nの値に関係なく一定である。波長シフト量Δαは、分散素子161の回転の送り量に対応している。
本実施形態では、図2から分かるように、波長帯のシフト量Δαが波長帯の幅よりも小さく設定される。波長帯αnの幅を便宜的に|α|と表すと、Δα<|α|である。さらに波長帯αnの幅|α|は、スリット164の開口幅により、既知の蛍光特性と検出器165の感度に応じて、検出器165による検出が十分な強度で行なえるように設定される。
波長帯αnの幅|α|は、十分な信号強度を得るために、比較的大きい値に設定されるとよい。また波長帯αnの波長シフト量Δαは、検出精度を考慮すると、極めて小さい値に設定されるとよい。波長帯αnの幅|α|と波長シフト量Δαは、例えば、|α|=10nmに対してΔα=2nmや、|α|=50nmに対してΔα=5nmなどに設定される。|α|とΔαの値は、もちろんこれらに限定されるものではなく、Δα<|α|を満たす範囲で測定条件などを考慮して適当に設定されるとよい。
波長帯の幅|α|と波長シフト量Δαをこのように設定することにより、十分な強度で測光を行なえるとともに、波長分解能が高くなくても波長シフト量Δαに基づく蛍光強度の変化分を極めて高精度に検出することができる。これにより、図3に示されるように、精密な蛍光プロファイルを得ることができる。また、システムの特性や得られる蛍光特性に基づいて、システムまたは得られるプロファイルデータを較正してもよい。
つぎに、蛍光分離演算処理部170による分離演算処理について図4と図5を用いて説明する。
図4は、本実施形態による分光検出によって得られる二つの蛍光成分αとβを含む蛍光プロファイルと、二つの蛍光成分αとβのそれぞれの蛍光プロファイルとを示している。また、図5は、二つの蛍光成分αとβが波長軸λ方向にスタック化された蛍光分光画像γと、二つの蛍光成分αとβのそれぞれの蛍光画像を示している。
図4に上段に示される取得された蛍光プロファイルは、蛍光分離演算処理部170による分離演算によって、図4に下段に示されるα成分の蛍光プロファイルとβ成分の蛍光プロファイルとに分離される。この分離演算は、蛍光成分αとβのそれぞれについてあらかじめ既知の参照データを準備しておくことにより行なってもよいし、取得された蛍光プロファイルに二つの蛍光成分αとβが含まれていると仮定して、蛍光成分αとβのプロファイルを推定しながら繰り返し計算により近似することにより行なってもよい。これにより、分光検出された蛍光特性から、図4の下段に示されるように、個々の蛍光プロファイルαとβを抜き出すことができる。
この手法は、図5の上段に示される蛍光分光画像γに対しても同様に適用できる。具体的には、蛍光分光画像γのそれぞれの画像についてピクセルごとに図4に示される演算処理を行なうことにより、図5の下段に示される二つの蛍光成分αとβのそれぞれの蛍光画像を得ることができる。
本実施形態では、分光検出における波長分解能を意味する波長帯の幅を比較的広く設定することにより、試料からの極めて微弱な蛍光を十分な強度で検出することができる。また、波長シフト量を波長帯の幅よりも極めて小さく設定することにより、蛍光プロファイルを極めて高い精度で検出することができる。ここで検出されるプロファイルはオーバーラップ部分を含む相対的なものであるが、得られるプロファイルから蛍光特性の変化分をより詳細に取得することができる。
さらに、得られた極めて高い精度の蛍光プロファイルを蛍光分離演算処理部によって分離演算することにより、蛍光成分ごとの蛍光情報(蛍光分光画像または蛍光特性データ)を得ることができる。これにより、例えば二つの蛍光成分の蛍光ピークが接近していて両者の蛍光情報の間に大きなクロストークがある場合であっても、二つの蛍光成分のそれぞれの蛍光情報すなわち蛍光画像または蛍光特性データを適切に観察することができる。
[第二実施形態]
通常、蛍光は極めて微弱であるため、分光検出のために分散素子161によって蛍光を分散させることは、蛍光の検出にとっては非常に不利である。さらに蛍光は、励起光の照射により褪色しやすいため、励起光の照射時間が長引くと、蛍光によっては褪色してしまって正確な蛍光特性を測定できなくなるおそれがある。
本実施形態は、このような事情を考慮して、分光検出において、既知の蛍光特性と検出器165の感度に応じて、十分な強度で蛍光を検出するとともに、分光検出を比較的高速で行なうことに向けられている。
本実施形態のレーザー走査型共焦点顕微鏡の装置構成を第一実施形態とまったく同じである。
図6は、本実施形態による分光検出における、蛍光試薬の典型的な蛍光特性と、検出器によって検出される光の波長帯と、波長帯が移動される波長領域とを示している。波長領域Lは、通常は波長帯の中心波長を代表値として設定されるが、波長帯の代表値は波長帯内の任意の値でよく、図2では波長帯の下限値を基準にして設定されてもいる。
図6において、波長帯は、短波長側から長波長側へ、一定の送り量ずつ移動される。αnはn回目の送り移動後の波長帯を示し、Δαは波長帯の一回の送り移動量(波長シフト量)示している。波長帯αnの下限値はスリット164の遮光板164aの位置に対応し、波長帯αnの上限値はスリット164の遮光板164bの位置に対応している。波長帯αnの幅は、nの値に関係なく一定である。波長シフト量Δαは、分散素子161の回転の送り量に対応している。
本実施形態では、図6から分かるように、波長帯のシフト量Δαが波長帯の幅よりも大きく設定される。波長帯αnの幅を便宜的に|α|と表すと、Δα>|α|である。また波長帯αnの幅|α|は、第一実施形態と同様に、スリット164の開口幅により、既知の蛍光特性と検出器165の感度に応じて、検出器165による検出が十分な強度で行なえるように設定されている。
波長帯αnの幅|α|と波長シフト量Δαは、例えば、|α|=10nmに対してΔα=30nmや、|α|=15nmに対してΔα=50nmなどに設定される。|α|とΔαの値は、もちろんこれらに限定されるものではなく、Δα>|α|を満たす範囲で測定条件などを考慮して適当に設定されるとよい。
本実施形態は、例えば、二つの蛍光ピークがやや離れていて裾野に大きなクロストークがあるような場合に有効である。波長シフト量Δαは、そのピーク変化を検出できる程度な値に設定されるとよい。
7に黒丸で示されるように、波長シフト量Δαによって蛍光特性に対して波長軸に沿った測定点数を少なくできる。このため、分光検出を短時間すなわち高速に行なうことができる。従って、極めて褪色が早い蛍光色素に対して非常に有効である。この手法で取得できる情報は、不連続な測定点におけるものだけであるが、不連続な測定点における情報を用いて測定されていない部分(図7中の破線部分)を補完することにより、全体の蛍光プロファイルを推定することができる。
さらに、得られた蛍光プロファイルに対して、第一実施形態と同様に、蛍光分離演算処理部170による分離演算処理を適用することもできる。
本実施形態によれば、試料からの蛍光特性の概略を手軽に検出できる。さらに、第一実施形態と同様に、蛍光分離演算によって即座に個々の蛍光特性を観察することができる。
[第三実施形態]
図8は、本発明の第三実施形態によるレーザー走査型共焦点顕微鏡の構成を概略的に示している。図8において、図1に示された部材と同一の参照符号で指示された部材は同様の部材であり、その詳しい説明は省略する。本実施形態のレーザー走査型共焦点顕微鏡は、第一実施形態のレーザー走査型共焦点顕微鏡と比較して、分光検出装置だけが相違しており、そのほかの構成は同じである。
図8に示されるように、本実施形態のレーザー走査型共焦点顕微鏡300の分光検出装置360は、特定の波長帯の光を選択的に透過するバンドパスフィルター361と、バンドパスフィルター361を光軸に直交する軸周りに回転させる回転デバイス362と、バンドパスフィルター361を透過した光を検出するための検出器165とを有している。
本実施形態のレーザー走査型共焦点顕微鏡は、分光検出装置を除けば、第一実施形態のレーザー走査型共焦点顕微鏡とまったく同様に動作する。つまり、試料Sに対する励起光の照射、試料Sから発生した検出光の分光検出装置への導光、分光検出装置によって検出された情報の処理は第一実施形態と同様である。
図9は、蛍光試薬の典型的な蛍光特性(破線)とバンドパスフィルター361の透過特性(実線)とを示している。バンドパスフィルター361の透過特性は、光の入射角に対して依存性を有しており、あらかじめ想定される光の入射角に従って精密に設計されている。このため、バンドパスフィルター361に対する光の入射角が設計値からずれると、それに応じて透過特性も変化する。
図9の上段は、設計値の入射角に対するバンドパスフィルター361の透過特性を示しており、図9の下段は、設計値からずれた入射角に対するバンドパスフィルター361の透過特性を示している。
バンドパスフィルター361は、設計値の入射角に対しては、中心波長λ0で幅αの波長帯の光を透過する。バンドパスフィルター361の透過特性は、バンドパスフィルター361がもつ干渉膜によって決まる。光を透過する波長帯の中心波長λ0と幅α0は干渉膜により自在に設定できる。バンドパスフィルター361は、検出する目的の蛍光に合った幅α0の透過波長帯をもつものが準備される。透過波長帯の幅α0は、第一実施形態と第二実施形態におけるスリット164と同様な働きをする。
回転デバイス362によってバンドパスフィルター361が回転されて設計の使用状態から傾けられると、バンドパスフィルター361に対する光の入射角が設計値からずれるため、例えば、図9の下段に示されるように、中心波長λ0’で幅α’の波長帯の光を透過するようになる。つまり、バンドパスフィルター361の回転に応じて、バンドパスフィルター361の透過特性の透過波長帯の中心波長がλ0からλ0’にシフトするとともに、幅がαからα’に変化する。この透過特性の変化は入射角に対して線形に発生する。透過波長帯の中心波長の波長シフト量Δα’はバンドパスフィルター361の回転角によって決まる。
従って、回転デバイス362によってバンドパスフィルター361の回転角、言い換えれば光軸に対するバンドパスフィルター361の傾きを制御することによって、透過帯(の中心波長)を変えることができる。これにより、検出器365によって検出される光の波長を変えることができる。
つまり、回転デバイス362によってバンドパスフィルター361を所定の角度範囲内で一方向に一定の送り量ずつ回転させることにより、検出器365によって検出される光を波長掃引することができる。検出器365によって検出される光の波長帯の移動方向はバンドパスフィルター361の回転方向によって決まる。波長帯は、短波長側から長波長側へ移動されても、または長波長側から短波長側へ移動されてもよい。波長掃引の波長領域(掃引幅)は、回転デバイス362によって回転されるバンドパスフィルター361の角度範囲によって決まる。
また波長シフト量Δα’は、試料中の蛍光物質や必要な情報精度に応じて、第一実施形態または第二実施形態に従って決められるとよい。
これまでの説明から分かるように、本実施形態では、バンドパスフィルター361は、検出光を分光するための分光器と、分光器によって分光された光から任意の幅の波長帯の光を抽出するための光抽出部として機能する。回転デバイス362は、バンドパスフィルター361によって抽出される光の波長帯を移動させる波長帯移動部として機能する。回転デバイス362は、これに限らないが、例えばガルバノメーターやステッピングモーターで構成される。
本実施形態では、微弱な蛍光強度を回折格子などの分散素子によって分散させないため、損失が少なく、蛍光を非常に強い強度で検出できる。ただし、バンドパスフィルター361における入射角変化に対する透過波長帯の移動は第一実施形態と第二実施形態による波長帯の移動に比べて小さいため、波長掃引の波長領域(掃引幅)は第一実施形態と第二実施形態に比べて狭い。このため本実施形態は、比較的狭い波長領域(例えば30nm〜40nm程度、より好ましくは50nm〜60nm程度)において詳細な分光検出を行なうことに適している。
また、バンドパスフィルター361を傾けて使用すると、設計された透過特性とは若干変化するため、好ましくは、あらかじめ入射角に対するバンドパスフィルター361の透過特性を測定・算出しておき、分光検出されたデータを較正するとよい。例えば、バンドパスフィルター361の設計された入射角と傾き角に対して、透過波長帯で得られる蛍光総量の相対変化を較正用の比率データとして持っていれば、検出データを容量に較正することができる。
これまで、図面を参照しながら本発明の実施形態を述べたが、本発明は、これらの実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において様々な変形や変更が施されてもよい。
本発明の第一実施形態によるレーザー走査型共焦点顕微鏡の構成を概略的に示している。 第一実施形態による分光検出における、蛍光試薬の典型的な蛍光特性と、検出器によって検出される光の波長帯と、波長帯が移動される波長領域とを示している。 第一実施形態による分光検出によって得られた蛍光プロファイルを示している。 第一実施形態による分光検出によって得られる二つの蛍光成分αとβを含む蛍光プロファイルと、二つの蛍光成分αとβのそれぞれの蛍光プロファイルとを示している。 二つの蛍光成分αとβが波長軸λ方向にスタック化された蛍光分光画像γと、二つの蛍光成分αとβのそれぞれの蛍光画像を示している。 本発明の第二実施形態による分光検出における、蛍光試薬の典型的な蛍光特性と、検出器によって検出される光の波長帯と、波長帯が移動される波長領域とを示している。 第二実施形態による分光検出において、不連続な測定点における情報と、補完によって得られる全体の蛍光プロファイルとを示している。 本発明の第三実施形態によるレーザー走査型共焦点顕微鏡の構成を概略的に示している。 蛍光試薬の典型的な蛍光特性(破線)と図8中のバンドパスフィルターの透過特性(実線)とを示している。
符号の説明
100…レーザー走査型共焦点顕微鏡、110…光源部、111…レーザー光源、112…光ファイバー、113…射出部、120…ダイクロイックミラー、130…走査光学系、140…対物レンズ、150…共焦点検出部、151…凸レンズ、152…ピンホール、153…凸レンズ、160…分光検出装置、161…分散素子、162…回転デバイス、163…収束レンズ、164…スリット、164a…遮光板、164b…遮光板、165…検出器、170…蛍光分離演算処理部、300…レーザー走査型共焦点顕微鏡、360…分光検出装置、361…バンドパスフィルター、362…回転デバイス、365…検出器。

Claims (5)

  1. 励起光ビームを射出するための光源部と、
    前記光源部からの励起光ビームを走査するための走査光学系と、
    励起光ビームを試料に照射するための対物レンズと、
    試料に照射される励起光と励起光照射に起因して試料から生じる検出光(蛍光と反射光を含む)とを分離するための分離光学素子と、
    共焦点効果を得るための共焦点検出部と、
    検出光を分光検出するための分光検出装置と、
    前記分光検出装置によって得られた蛍光スペクトル情報から蛍光の種類ごとのスペクトル成分に対応した蛍光スペクトル情報を分離演算する蛍光分離演算処理部を備えており、
    前記分光検出装置は、検出光を分光するための分光器と、前記分光器によって分光された光から任意の幅の波長帯の光を抽出するための光抽出部と、前記光抽出部によって抽出された光を検出するための検出器と、前記光抽出部によって抽出される光の波長帯を一定の送り量ずつシフトさせることで波長掃引を行なう波長帯移動部とを有しており、
    前記波長帯移動部による波長帯のシフト量が前記光抽出部によって抽出される光の波長帯の幅よりも小さい、光走査型共焦点顕微鏡。
  2. 請求項1において、前記分光器は、検出光を波長ごとに異なる方向に偏向させる分散素子を備えている、光走査型共焦点顕微鏡。
  3. 請求項1において、前記光抽出部は、開口幅を変更可能な機械的な可変開口を備え、前記可変開口を規定している遮光板が抽出する光の波長帯の上限と下限を定める、光走査型共焦点顕微鏡。
  4. 請求項2において、前記波長帯移動部は、分散素子を光軸に直交する軸周りに回転させる回転デバイスを備えている、光走査型共焦点顕微鏡。
  5. 請求項1において、前記分光器は、特定の波長帯の光を選択的に透過するバンドパスフィルターを備え、前記波長帯移動部は、前記バンドパスフィルターを光軸に直交する軸周りに回転させる回転デバイスを備えている、光走査型共焦点顕微鏡。
JP2004186348A 2004-06-24 2004-06-24 光走査型共焦点顕微鏡 Expired - Lifetime JP4804727B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004186348A JP4804727B2 (ja) 2004-06-24 2004-06-24 光走査型共焦点顕微鏡
US11/154,968 US7365842B2 (en) 2004-06-24 2005-06-16 Light scanning type confocal microscope

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004186348A JP4804727B2 (ja) 2004-06-24 2004-06-24 光走査型共焦点顕微鏡

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2006010944A JP2006010944A (ja) 2006-01-12
JP2006010944A5 JP2006010944A5 (ja) 2007-08-30
JP4804727B2 true JP4804727B2 (ja) 2011-11-02

Family

ID=35505308

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004186348A Expired - Lifetime JP4804727B2 (ja) 2004-06-24 2004-06-24 光走査型共焦点顕微鏡

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7365842B2 (ja)
JP (1) JP4804727B2 (ja)

Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4076248B2 (ja) * 1997-09-09 2008-04-16 オリンパス株式会社 色再現装置
US8189191B2 (en) * 2005-07-26 2012-05-29 Tufts University Spectroscopic imaging microscopy
EP1980842A4 (en) * 2006-02-02 2011-01-05 Nat Univ Corp Nara Inst FLUORESCENT MICROSCOPE WITH CIRCULAR DICHROISM
US20080033677A1 (en) * 2006-06-27 2008-02-07 Applera Corporation Methods And System For Compensating For Spatial Cross-Talk
KR100790702B1 (ko) * 2006-09-08 2008-01-02 삼성전기주식회사 공초점 전기발광 분광 현미경
JP4855237B2 (ja) * 2006-12-20 2012-01-18 オリンパス株式会社 顕微鏡画像処理装置および顕微鏡画像処理プログラム
JP5043629B2 (ja) * 2007-12-17 2012-10-10 オリンパス株式会社 レーザ走査型顕微鏡及びその表面形状の測定方法
EP2175301B2 (en) 2008-10-10 2015-04-15 Carl Zeiss Microscopy GmbH Method for imaging a sample using a microscope, microscope and data storage carrier
GB201003939D0 (en) * 2010-03-09 2010-04-21 Isis Innovation Multi-spectral scanning system
JP5541972B2 (ja) 2010-06-09 2014-07-09 オリンパス株式会社 走査型共焦点顕微鏡
JP5721406B2 (ja) * 2010-11-24 2015-05-20 Hoya株式会社 走査型共焦点内視鏡システム
WO2012086632A1 (ja) * 2010-12-20 2012-06-28 ヤマハ株式会社 無線オーディオ伝送方法
US9372118B1 (en) * 2011-03-07 2016-06-21 Fluxdata, Inc. Apparatus and method for multispectral based detection
JP5787695B2 (ja) 2011-09-28 2015-09-30 株式会社トプコン 画像取得装置
JP5945400B2 (ja) 2011-11-18 2016-07-05 オリンパス株式会社 検出光学系および走査型顕微鏡
WO2013118666A1 (ja) 2012-02-06 2013-08-15 株式会社ニコン 分光器及び顕微分光システム
KR101524556B1 (ko) * 2013-04-25 2015-05-29 한국화학연구원 광대역 필터를 이용하여 빛의 파장을 선택할 수 있는 단색화 장치
CN104181089A (zh) * 2013-05-22 2014-12-03 中国石油化工股份有限公司 用于扫描岩石面孔率的设备及方法
WO2015142161A1 (en) * 2014-03-19 2015-09-24 Mimos Berhad Device for measuring fluorescent components in chemical substance and method thereof
JP5839077B2 (ja) * 2014-05-02 2016-01-06 株式会社ニコン レーザ励起蛍光顕微鏡
LU92620B1 (de) * 2014-12-19 2016-06-20 Leica Microsystems Rastermikroskop
JP6188750B2 (ja) * 2015-07-28 2017-08-30 株式会社トプコン 画像取得装置
CN109313326B (zh) * 2016-05-19 2021-09-17 株式会社尼康 显微镜
JP2017219400A (ja) * 2016-06-07 2017-12-14 オリンパス株式会社 レーザ顕微鏡
CN106568755A (zh) * 2016-11-06 2017-04-19 浙江大学 一种近红外激光扫描共聚焦显微成像系统
WO2020097485A2 (en) * 2018-11-08 2020-05-14 Seti Institute Method and system for polarimetry using static geometric polarization manipulation
CN112326585B (zh) * 2020-10-28 2021-10-22 南京农业大学 一种用于快速检测草莓白粉病的红外光谱装置及检测方法
CN112964681A (zh) * 2021-02-04 2021-06-15 上海交通大学 一种用于监测2-nbdg标记的活体循环肿瘤细胞的装置

Family Cites Families (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4084909A (en) * 1976-07-19 1978-04-18 International Business Machines Corporation Drum monochromator
US4113384A (en) * 1977-04-26 1978-09-12 Suntech, Inc. Viscosity measuring system
JPS589362B2 (ja) * 1978-03-10 1983-02-21 旭化成株式会社 赤外線多層フイルム膜厚測定方法及びその測定装置
DE3431996A1 (de) * 1984-08-31 1986-03-13 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Stromversorgung fuer strahlungsquellen von frequenz-analogen optischen sensoren
DE3617123C2 (de) * 1985-07-04 1997-03-20 Cammann Karl Verfahren zur Selektivitätsverbesserung spektrometrischer Messungen sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
US5510894A (en) * 1988-12-22 1996-04-23 Renishaw Plc Spectroscopic apparatus and methods
GB8830039D0 (en) * 1988-12-22 1989-02-15 Renishaw Plc Raman microscope
GB9014263D0 (en) * 1990-06-27 1990-08-15 Dixon Arthur E Apparatus and method for spatially- and spectrally- resolvedmeasurements
US5817462A (en) * 1995-02-21 1998-10-06 Applied Spectral Imaging Method for simultaneous detection of multiple fluorophores for in situ hybridization and multicolor chromosome painting and banding
DE69222912T2 (de) * 1991-08-29 1998-04-09 Nec Corp Lichtempfangsmodul
JP3142932B2 (ja) * 1992-01-10 2001-03-07 オリンパス光学工業株式会社 落射蛍光顕微鏡
US5886784A (en) * 1993-09-08 1999-03-23 Leica Lasertechink Gmbh Device for the selection and detection of at least two spectral regions in a beam of light
JP3526489B2 (ja) * 1995-05-25 2004-05-17 オリンパス株式会社 落射蛍光顕微鏡
US6510001B1 (en) * 1998-02-19 2003-01-21 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Optical arrangement with a spectrally selective element
DE19835068A1 (de) * 1998-08-04 2000-02-10 Zeiss Carl Jena Gmbh Mikroskop, insbesondere Laser-Scanning-Mikroskop
JP2000098244A (ja) * 1998-09-24 2000-04-07 Olympus Optical Co Ltd 蛍光顕微鏡
GB9825267D0 (en) * 1998-11-19 1999-01-13 Medical Res Council Scanning confocal optical microscope system
DE10038049A1 (de) * 2000-08-02 2002-02-14 Leica Microsystems Optische Anordnung zur Selektion und Detektion des Spektalbereichs eines Lichtstrahls
US6858852B2 (en) * 2000-08-08 2005-02-22 Carl Zeiss Jena Gmbh Method and apparatus for rapid change of fluorescence bands in the detection of dyes in fluorescence microscopy
DE10120425C2 (de) * 2001-04-26 2003-12-18 Leica Microsystems Scanmikroskop
US7253897B2 (en) * 2001-06-01 2007-08-07 Cidra Corporation Optical spectrum analyzer
JP4827335B2 (ja) * 2001-08-13 2011-11-30 オリンパス株式会社 走査型レーザ顕微鏡
DE10206979A1 (de) * 2002-02-20 2003-08-21 Leica Microsystems Verfahren zum Benutzertraining für ein Scanmikroskop, Scanmikroskop und Software zum Benutzertraining für ein Scanmikroskop
US7647092B2 (en) * 2002-04-05 2010-01-12 Massachusetts Institute Of Technology Systems and methods for spectroscopy of biological tissue
US20040073120A1 (en) * 2002-04-05 2004-04-15 Massachusetts Institute Of Technology Systems and methods for spectroscopy of biological tissue
JP2004077212A (ja) * 2002-08-13 2004-03-11 Agilent Technol Inc 光信号の波長と波形を測定する装置
JP4086182B2 (ja) * 2002-10-09 2008-05-14 オリンパス株式会社 分光器およびこれを用いた共焦点光学系、走査型光学顕微鏡
US7099003B2 (en) * 2003-05-09 2006-08-29 Delta Search Labs, Inc. Spectroscopic systems and methods
DE10339311B4 (de) * 2003-08-27 2006-04-27 Leica Microsystems Cms Gmbh System und Verfahren zur Einstellung eines Fluoreszenzspektralmesssystems zur Mikroskopie
US7102746B2 (en) * 2003-12-16 2006-09-05 New Chromex, Inc. Raman spectroscope
JP4522174B2 (ja) * 2004-07-14 2010-08-11 富士通株式会社 光測定装置

Also Published As

Publication number Publication date
US7365842B2 (en) 2008-04-29
JP2006010944A (ja) 2006-01-12
US20050286048A1 (en) 2005-12-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4804727B2 (ja) 光走査型共焦点顕微鏡
JP4509940B2 (ja) 照明された試料の波長依存特性把握のための方法および装置
US6958811B2 (en) Method for the detection of dyes in fluorescence microscopy
US6858852B2 (en) Method and apparatus for rapid change of fluorescence bands in the detection of dyes in fluorescence microscopy
US6703621B2 (en) Method for the optical acquisition of characteristic sizes of an illuminated sample
JP2007132934A (ja) 分光システム
JP2001527214A (ja) 多波長試料分析用透過格子ビーム・スプリッタを有する検出器
JP2008046132A (ja) 分光システム
JP2006138875A (ja) 照明された試料の波長に依存する特徴的な特性値を光学的に把握するための方法および装置構成
WO2006014494A2 (en) Multiple-label fluorescence imaging using excitation-emission matrices
US5973780A (en) Echelle spectroscope
JP4720146B2 (ja) 分光装置および分光システム
JP2018521304A (ja) 放射光測定器および放射光測定方法
JP4646506B2 (ja) レーザ走査型顕微鏡
JP4818262B2 (ja) 光ビームの光のスペクトルを選択検出するための光学装置
JP7370326B2 (ja) 大視野3d分光顕微鏡法
US11921274B2 (en) Method for detecting emission light, detection device and laser scanning microscope
JP2009244156A (ja) 分光装置、及び分光共焦点顕微鏡
JP4633386B2 (ja) 走査型レーザ顕微鏡及びそれを用いたデータ取得方法
JP2006276840A (ja) 顕微鏡装置、その制御装置、及びプログラム
JP2000338035A (ja) バイオチップ読取装置
CN112888975B (zh) 具有可变的上极限波长和下极限波长的用于光的带通滤光器
JP7342022B2 (ja) 物体の角度放射とスペクトル放射を同時に測定できるようにする光学装置
JP5454942B2 (ja) 分光装置とそれを用いた顕微鏡
JP2003028714A (ja) 高速分光観測装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070619

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070718

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100907

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101005

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101203

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20110315

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110614

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20110622

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110802

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110810

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 4804727

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140819

Year of fee payment: 3

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R371 Transfer withdrawn

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R371 Transfer withdrawn

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250