JP4509940B2 - 照明された試料の波長依存特性把握のための方法および装置 - Google Patents
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Description
それと共に、作用物質を検査するための蛍光検出に基づく方法(ハイ・スループット・スクリーニング)も含まれる。
LSMは大きく分けて次の4モジュールから成っている:光源、走査モジュール、検出ユニット、顕微鏡。これらのモジュールは以下により詳しく説明する。それに加え、DE19702753A1も参考になる。
両装置とも検出領域の迅速な切替は限定的にしか可能でない。それは、放射領域の設定がダイクロイックフィルタおよび絞りの機械的作動に依拠しているからである。
その他の主要態様は従属請求項の対象とする。
各ROIは、使用されるそれぞれの色素の放射特性に変化が現われるため特徴的な蛍光重心を有している。従って、それぞれのROIは特徴的な色素重心の位置によって区別し、明確に分離することができる。
その他の優位点として、オペレータが任意の個別チャネルをスイッチオフにすることもできる。このことは、特に複数励起レーザ光線の1つを遮断するという場合には有意である。
蛍光相関分光法において当方法を適用した場合、単一総合チャネルの自動相関関係および/または複数総合チャネル間の相互相関関係を求めることができる。
両方の装置を以下に詳細に記述する。総合信号および位置信号をデジタルで計算するための装置が図8に示されている。この場合、多チャネルPMTの陽極に流れる電流は、それぞれ第1増幅器A(電流/電圧変換器として接続されている)によって電圧に変換され、増幅される。電圧は積分器Iに導かれ、そこで当該時間(たとえば画素上滞留時間)だけ信号が積分される。
積分された信号が比較器閾値より小さい場合、当該個別チャネル内では蛍光信号は測定されていないか、または測定された信号があまりにも小さくなりすぎる。このような場合は、個別チャネルの信号加工は続行すべきでない。なぜなら、当チャネルが総信号に関与しているのは雑音成分だけとなるからである。比較器はこのような場合、Regを通じてスイッチSを操作し、個別チャネルは実測されている画素に対して遮断される。すなわち比較器とスイッチとの組み合わせによって、実測像ポイントにとって重要なスペクトル領域が自動的に選択される。
それは、(A)における増幅の変更、(I)における積分時間の変更、積分器の前の付加オフセット入力および・または光子計数装置によって計数される光子によるデジタルな影響の付与である。3方法はすべて任意相互に組み合わせることもできる。
上記の両装置では、個別チャネル信号の検出には主として積分器スイッチングが使用された。また、光子計数も個別チャネル内で制限を受けることなく行うことができる。しかし、図8に示された装置は、画像追加加工のために、総合信号のほかに完全なスペクトル情報さえ提供できるという長所を持っている。本発明はそれゆえ両装置の組合せをも含んでいる。
PO 結像レンズ系
PH 絞り(ピンホール)
DI 角分散素子
DE ライン検出器
S 放射信号
S1,S2 結像鏡
G 線形格子
I 積分器
A 増幅器
K 比較器
SV 加算増幅器
V コンピュータの制御線
SR スイッチ・レジスタ
MPX デマルチプレクサ
Claims (83)
- 照射試料が持つ波長依存性の特徴的な特性量、主として蛍光および/またはルミネセンスおよび/またはりん光および/または酵素で活性化した光線放射および/または酵素で活性化した蛍光についての、放射および/または吸収に関する特性量の把握用画像形成光学システムを作動させるための方法であって、
試料の画像点情報が検出側での位置分解に基づき波長別にスペクトル成分へ分割され、それぞれのスペクトル成分毎に少なくとも1回の合算を行ない、
色素に対応した複数の励起波長で試料が照射され、試料の画像点情報を色素のスペクトルのヒストグラムで表示することにより合算領域が選択され、選択された合算領域におけるスペクトル成分は、励起波長のスペクトル成分をマスクしつつ合計される、
レーザ走査型顕微鏡作動のための方法。 - 異なった試料領域間での走査過程内で少なくとも1つの照射波長および/または照射強度の切替が行なわれ、また、異なった各試料領域および/または異なった各照射波長、照射強度毎にスペクトル成分の少なくとも1部について合算が行なわれる、請求項1に記載の走査システム作動のための方法。
- 合算された領域の画像表示を伴う、請求項2に記載の方法。
- 複数の部分合計を出して加算する、請求項3項に記載の方法。
- 複数のスペクトル成分を検査対象として、スペクトルの重心構成法と組み合わされることを特徴とする、請求項4に記載の方法。
- 部分合計または個別成分の商または差などの数学的関係およびその関係の画像表示を伴う、請求項5に記載の方法。
- 照射試料が持つ波長依存性の特徴的な特性量、主として蛍光および/またはルミネセンスおよび/またはりん光および/または酵素で活性化した光線放射および/または酵素で活性化した蛍光についての、放射および/または吸収に関する特性量の光学的把握のための請求項1乃至6のいずれか1項に記載の方法において、
放射光線を分散素子でスペクトル分割し、放射光線および/または吸収光線の少なくとも1つの総合信号を位置分解によって検出し、電子的に測定する、放射および/または吸収に関する特性量の光学的把握のための方法。 - 様々な色素の検査のために、および/または複数色素の同時使用における画像局部の色素組成の測定のために、および/または色素の結合している局部周辺の条件に依存する放射スペクトル局部シフトの測定のために、および/またはイオン濃度測定用放射色素の測定のために、
スペクトル分割された放射光線の総合信号の測定を行なう、
請求項7に記載の方法。 - 様々な色素の検査のために、および/または複数色素の同時使用における画像局部の色素組成の測定のために、および/または色素の結合している局部周辺の条件に依存する吸収スペクトル局部シフトの測定のために、および/またはイオン濃度測定用放射色素の測定のために、
スペクトル拡大反射、後方散乱したおよび/または透過したフルオロクローム励起光線の総合信号の測定を行なう、請求項7又は8に記載の方法。 - 励起パラメータに依存して、走査過程で総合信号の組成変更(マルチトラッキング)ができる、請求項7乃至9のいずれか1項に記載の方法。
- それぞれの走査位置に依存して、走査過程で総合信号の組成変更(ROIトラッキング)ができる、請求項7乃至10のいずれか1項に記載の方法。
- 試料の放射光線を分散素子で分割し、少なくとも1方向において位置分割により検出を行なう、請求項7乃至11のいずれか1項に記載の方法。
- 蛍光光線の分割を行なう、請求項7乃至12のいずれか1項に記載の方法。
- 吸収測定のため、試料で反射、後方散乱した光線および/または試料を透過した光線を分散素子で分割し、少なくとも1方向において位置分割により検出を行なう、請求項7乃至13のいずれか1項に記載の方法。
- 検出チャネルの信号を変換してデジタルで読み出しさせ、総和計算をコンピュータによりデジタルで行なう、請求項7乃至14のいずれか1項に記載された方法。
- アナログデータの加工による総和計算を、加算増幅器と組み合わせたデマルチプレクサにより行なう、請求項7乃至15のいずれか1項に記載された方法。
- 検出チャネルの信号が入力信号の非直線性歪みによって影響される、請求項7乃至16のいずれか1項に記載された方法。
- 積分パラメータに影響を与える、請求項7乃至15のいずれか1項に記載された方法。
- 増幅器の特性線に影響を与える、請求項7乃至15のいずれか1項に記載された方法。
- 総合信号を画像形成のために使用する、請求項7乃至19のいずれか1項に記載された方法。
- カラーコード化された蛍光画像を形成する、請求項7乃至20のいずれか1項に記載された方法。
- ルックアップ・データによって様々な色素の表示および/または形成画像の展開表示を行なう、請求項7乃至21のいずれか1項に記載された方法。
- 検出チャネル内の比較器を通じて測定信号と基準信号との比較を行ない、基準信号以下および/または基準信号超過の場合には検出チャネルの作動内容を変更する、請求項7乃至22のいずれか1項に記載された方法。
- それぞれの検出チャネルの遮断および/または無応答化を行なう、請求項7乃至23のいずれか1項に記載された方法。
- それによってスペクトル領域の分析対象幅を狭隘化させる、請求項7乃至24のいずれか1項に記載された方法。
- 検出チャネルの信号をそれぞれ少なくとも1つの積分器の接続によって発生させる、請求項7乃至25のいずれか1項に記載された方法。
- 検出チャネルの信号を光子計数および続いてのデジタル/アナログ変換によって発生させる、請求項7乃至23のいずれか1項に記載された方法。
- 光子計数を時間の関数で行なう、請求項7乃至27のいずれか1項に記載された方法。
- 単一および/または複数の光子蛍光を、および/または錯綜光子によって励起された蛍光を把握するための、請求項7乃至25のいずれか1項に記載された方法。
- 試料が、好ましくは微量滴定プレートであって、作用物質の検査において照射と検出が平行になされる、顕微鏡内における、請求項7乃至26のいずれか1項に記載された方法。
- 走査型近接場顕微鏡での検出のための、請求項7乃至27のいずれか1項に記載された方法。
- 蛍光と相関させた分光器における単一光子および/または多光子の色素蛍光検出のための、請求項7乃至28のいずれか1項に記載された方法。
- 共焦点型検出による、請求項7乃至29のいずれか1項に記載された方法。
- 走査装置による、請求項7乃至30のいずれか1項に記載された方法。
- 照射においてX/Yスキャナを用いる、請求項7乃至31のいずれか1項に記載された方法。
- X/Y走査テーブルによる、請求項7乃至32のいずれか1項に記載された方法。
- 非共焦点型検出による、請求項7乃至32及び34−36のいずれか1項に記載された方法。
- 走査装置による、請求項35乃至37のいずれか1項に記載された方法。
- デスキャン検出による、請求項7乃至38のいずれか1項に記載された方法。
- ブライトフィールド結像による、請求項7乃至38のいずれか1項に記載された方法。
- 点結像による、請求項7乃至40のいずれか1項に記載された方法。
- ノンデスキャン検出による、請求項7乃至38、40及び41のいずれか1項に記載された方法。
- ブライトフィールド結像による、請求項41または42に記載された方法。
- 非走査、共焦点または非共焦点での検出および点結像またはブライトフィールド結像による、請求項41乃至43のいずれか1項に記載された方法。
- X/Y走査テーブルによる、請求項41乃至43のいずれか1項に記載された方法。
- 照射試料が持つ波長依存性の特徴的な特性量、主として蛍光および/またはルミネセンスおよび/またはりん光および/または酵素で活性化した光線放射および/または酵素で活性化した蛍光についての、放射および/または吸収に関する特性量の光学的把握のための装置において、放射光線をスペクトル分割する分散素子を備え、該装置は、放射光線を位置分解検出し、放射光線および/または吸収光線の少なくとも1つの総合信号を電子的に測定し、
前記装置は、色素に対応した複数の励起波長で試料を照射し、試料の画像点情報を色素のスペクトルのヒストグラムで表示することにより合算領域を選択し、選択された合算領域におけるスペクトル成分を、励起波長のスペクトル成分をマスクしつつ合計する、照射試料が持つ波長依存性の特徴的な特性量の光学的把握のための装置。 - 様々な色素の検査のために、および/または複数色素の同時使用における画像局部の色素組成の測定のために、および/または色素の結合している局部周辺の条件に依存する放射スペクトル局部シフトの測定のために、および/またはイオン濃度測定用放射色素の測定のために、
スペクトル分割された放射光線の総合信号の測定が行われる、請求項46に記載の装置。 - 様々な色素の検査のために、および/または複数色素の同時使用における画像局部の色素組成の測定のために、および/または色素の結合している局部周辺の条件に依存する吸収スペクトル局部シフトの測定のために、および/またはイオン濃度測定用放射色素の測定のために、
スペクトル拡大反射したまたは透過したフルオロクローム励起光線の総合信号の測定を行なう、請求項46または47に記載の装置。 - 走査過程で総合信号の組成変更(マルチトラッキング)ができる、請求項46乃至48のいずれか1項に記載の装置。
- 走査過程で総合信号の組成変更(ROIトラッキング)ができる、請求項46乃至48のいずれか1項に記載の装置。
- 試料の放射光線を分散素子で分割し、少なくとも1方向において位置分割により検出を行なう、蛍光光線の分割を行なう、請求項46乃至50のいずれか1項に記載の装置。
- 吸収測定のため、試料で反射した光線または試料を透過した光線を分散素子で分割し、少なくとも1方向において位置分割により検出を行なう、請求項46乃至51のいずれか1項に記載の装置。
- 検出チャネルの信号を変換してデジタルで読み出しさせ、総和計算をコンピュータによりデジタルで行なう、請求項46乃至52のいずれか1項に記載された装置。
- アナログデータの加工による総和計算を、加算増幅器と組合せたデマルチプレクサにより行なう、請求項53に記載された装置。
- 検出チャネルの信号が入力信号の非直線性歪みによって影響される、請求項53または54に記載された装置。
- 積分パラメータに影響を与える、請求項53乃至55のいずれか1項に記載された装置。
- 増幅器の特性線に影響を与える、請求項53乃至56のいずれか1項に記載された装置。
- 総合信号を画像形成のために使用する、請求項46乃至57のいずれか1項に記載された装置。
- カラーコード化された蛍光画像を形成する、請求項46乃至58のいずれか1項に記載された装置。
- ルックアップ・データによって様々な色素の表示および/または形成画像の展開表示を行なう、請求項46乃至59のいずれか1項に記載された装置。
- 検出チャネル内の比較器を通じて測定信号と基準信号との比較を行ない、基準信号以下および/または基準信号超過の場合には検出チャネルの作動内容を変更する、請求項46乃至60のいずれか1項に記載された装置。
- それぞれの検出チャネルの遮断および/または無応答化を行なう、請求項46乃至61のいずれか1項に記載された装置。
- それによってスペクトル領域の分析対象幅を狭隘化させる、請求項46乃至62のいずれか1項に記載された装置。
- 検出チャネルの信号をそれぞれ少なくとも1つの積分器の接続によって発生させる、請求項46乃至63のいずれか1項に記載された装置。
- 検出チャネルの信号を光子計数および続いてのデジタル/アナログ変換によって発生させる、請求項46乃至64のいずれか1項に記載された装置。
- 光子計数を時間の関数で行なう、請求項46乃至65のいずれか1項に記載された装置。
- 単一および/または複数の光子蛍光を、および/または錯綜光子によって励起された蛍光を把握するための、請求項46乃至66のいずれか1項に記載された装置。
- 試料が、好ましくは微量滴定プレートであって、作用物質の検査において照射と検出が平行になされる、顕微鏡内における、請求項46乃至67のいずれか1項に記載された方法
- 走査型近接場顕微鏡での検出のための、請求項46乃至68のいずれか1項に記載された装置。
- 蛍光と相関させた分光器における単一光子および/または多光子の色素蛍光検出のための、請求項46乃至69のいずれか1項に記載された装置。
- 共焦点型検出による、請求項46乃至70のいずれか1項に記載された装置。
- 1基の走査装置を持つ、請求項46乃至71のいずれか1項に記載された装置。
- 照射においてX/Yスキャナを用いる、請求項46乃至72のいずれか1項に記載された装置。
- 1基のX/Y走査テーブルを持つ、請求項46乃至73のいずれか1項に記載された装置。
- 非共焦点型検出器を持つ、請求項46乃至74のいずれか1項に記載された装置。
- 1基の走査装置を持つ、請求項46乃至75のいずれか1項に記載された装置。
- デスキャン検出を行なう、請求項46乃至76のいずれか1項に記載された装置。
- ブライトフィールド結像を行なう、請求項46乃至77のいずれか1項に記載された装置。
- 点結像を行なう、請求項46乃至78のいずれか1項に記載された装置。
- ノンデスキャン検出を行なう、請求項46乃至76、78、及び79のいずれか1項に記載された装置。
- ブライトフィールド結像を行なう、請求項79または80に記載された装置。
- 非走査、共焦点または非共焦点での検出および点結像またはブライトフィールド結像を行なう、請求項46乃至81のいずれか1項に記載された装置。
- 1基のX/Y走査テーブルを持つ、請求項75乃至82のいずれか1項に記載された装置。
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