JP4803195B2 - 基板検査装置及び基板検査方法 - Google Patents

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Description

本発明は、基板上の部品搭載位置に部品を搭載させることができるかどうかの部品搭載前検査を行う基板検査装置及び基板検査方法に関するものである。
部品実装機は、位置決めされた基板に対して搭載ヘッドを移動させ、部品供給部より供給される部品をピックアップして基板上の部品搭載位置に搭載する。部品実装ラインにおける部品実装機の上流側(基板の流れの上流側)には基板検査装置が配置され、基板検査装置は認識カメラにより部品搭載前の基板上の部品搭載位置を認識して、その部品搭載位置に部品を搭載できるかどうかの検査(部品搭載前検査)を行う(特許文献1、2)。
基板検査装置によって部品を搭載することができないと判定された部品搭載位置(不良箇所)には部品実装機は部品搭載を行わないが、基板には不良箇所を示すマーキングがなされるため、オペレータは部品実装機から排出された基板の不良箇所を目視検査して修繕できるものは修繕することができる。そして、オペレータが不良箇所を修繕した基板を部品実装ラインに再投入し、はじめの検査(通常の基板投入時における部品搭載前検査)で不良箇所と判定された部品搭載位置が改めて部品搭載可能と判断されれば、その部品搭載位置に部品搭載がなさるので、その基板を良品として扱うことができるようになる。
特開2007−149817号公報 特開2005−5290号公報
しかしながら、実装ラインに再投入された基板には既に多くの部品が搭載されているにも拘らず、基板検査装置は基板上の全ての部品搭載位置を対象として部品搭載前検査を行うことになる。そうすると、部品が既に搭載されており、本来部品搭載前検査が不要な部品搭載位置についてまで検査が行われるので効率が悪い(ひいては実装ライン全体のスループットが低下する)という問題点があった。また、部品搭載位置に部品が搭載されると、部品搭載位置はそこに搭載された部品によって隠れてしまうことが多いため、再投入時における部品搭載前検査において、はじめの検査において設定した認識カメラの視野と同じ視野で部品搭載位置を認識しようとすると、その視野内に部品搭載位置を認識することができず、異常と判断されてシステムエラーが発生する場合があった。
そこで本発明は、基板が再投入された場合に効率よく部品搭載前検査を行うことができ、システムエラーの発生も防止することができる基板検査装置及び基板検査方法を提供することを目的とする。
請求項1に記載の基板検査装置は、位置決めされた基板に対して移動自在に設けられた認識カメラと、認識カメラにより基板上の部品搭載位置を認識させて、その部品搭載位置に部品を搭載させることができるかどうかの部品搭載前検査を行う検査実行部とを有した基板検査装置であって、検査実行部を再投入時モードに設定する再投入時モード設定部を備え、検査実行部は、再投入時モード設定部により再投入時モードが設定されていないときには、部品搭載の対象となっている全ての部品搭載位置に対して部品搭載前検査を行い、再投入時モード設定部により再投入時モードが設定されているときには、はじめに部品搭載位置を認識カメラに認識させて、その部品搭載位置に部品が搭載されているかどうかの部品有無検査を行い、その結果部品が搭載されていなかった部品搭載位置に対して部品搭載前検査を行う。
請求項2に記載の基板検査装置は、請求項1に記載の基板検査装置であって、位置決めされた基板に対して搭載ヘッドを移動させてその基板上の部品搭載位置に部品を搭載する部品実装機に備えられ、認識カメラは、搭載ヘッドとは独立して移動自在に設けられたカメラヘッドに取り付けられている。
請求項3に記載の基板検査方法は、位置決めされた基板に対して移動自在に設けられた認識カメラにより基板上の部品搭載位置を認識させて、その部品搭載位置に部品を搭載させることができるかどうかの部品搭載前検査を行う基板検査方法であって、再投入時モード設定部により再投入時モードが設定されていないときには、部品搭載の対象となっている全ての部品搭載位置に対して部品搭載前検査を行い、再投入時モードが設定されているときには、はじめに部品搭載位置を認識カメラに認識させて、その部品搭載位置に部品が搭載されているかどうかの部品有無検査を行い、その結果部品が搭載されていなかった部品搭載位置に対して部品搭載前検査を行う。
本発明では、再投入時モードが設定されていない通常の基板投入時には部品搭載の対象となっている全ての部品搭載位置に対して部品搭載前検査を行うが、再投入時モードが設定されている基板の再投入時には、はじめに部品搭載位置を認識カメラに認識させて、その部品搭載位置に部品が搭載されているかどうかの部品有無検査を行い、その結果部品が搭載されていなかった部品搭載位置に対して部品搭載前検査を行うようになっている。このため、部品が既に搭載されている部品搭載位置に対する不要な部品搭載前検査が行われることがなく、効率よく部品搭載前検査を行うことができる。
また、基板の再投入時における部品有無検査は、認識カメラの視野を部品の有無を検査するのに適した視野(部品搭載位置に部品が搭載されていることを前提とした視野)で行うことになるため、部品が搭載位置に搭載されていない場合には部品搭載位置が認識される(その後部品搭載位置の良否を判定するのに適した視野に切り換えれば部品搭載位置の良否判定を行うことができる)一方、部品搭載位置に部品が搭載されている場合にはその部品が認識されることになるので異常と判断されることはなく、システムエラーが発生するようなこともない。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。図1は本発明の一実施の形態における基板検査装置付き部品実装機の斜視図、図2は本発明の一実施の形態における基板検査装置付き部品実装機の平面図、図3は本発明の一実施の形態における基板検査装置付き部品実装機の制御系統を示すブロック図、図4は本発明の一実施の形態における基板検査装置付き部品実装機により部品実装がなされる基板の一例の平面図、図5及び図6は本発明の一実施の形態における基板検査装置付き部品実装機が実行する部品実装手順の流れを示すフローチャートである。
図1及び図2において、基板検査装置付き部品実装機1はスクリーン印刷機、部品実装機、検査機及びリフロー炉等から成る実装ラインを構成するひとつの装置(部品実装機)として機能するものである。
この基板検査装置付き部品実装機1(以下、単に部品実装機1と称する)は、カバー部材2の内部の基台3上に基板Bを一定の水平方向(X軸方向)に搬送し、かつ位置決めを行う基板搬送部としての搬送コンベア4を備えており、搬送コンベア4の上方には搬送コンベア4による基板Bの搬送方向(X軸方向)と水平に直交する方向(Y軸方向)に延びたY軸テーブル5が設けられている。Y軸テーブル5には2つのY軸スライダ6がY軸テーブル5に沿って(すなわちY軸方向に)移動自在に設けられており、各Y軸スライダ6にはX軸方向に延びたX軸テーブル7の一端が取り付けられている。各X軸テーブル7にはX軸テーブル7に沿って(すなわちX軸方向に)移動自在な移動ステージ8が設けられている。これら2つの移動ステージ8の一方には複数の吸着ノズル9を備えた搭載ヘッド10が設けられており、他方の移動ステージ8には視野を下方に向けた認識カメラ11を備えたカメラヘッド12が設けられている。
図1及び図2において、搬送コンベア4の搭載ヘッド10側の側方領域には搭載ヘッド10に部品P(図1)を供給する複数の部品供給部(例えばテープフィーダ)13がX軸方向に並んで設けられている。搭載ヘッド10には撮像面を下方に向けた基板カメラ14が設けられており、基台3上には撮像面を上方に向けた部品カメラ15が設けられている。
図3において、部品実装機1には、搬送コンベア4を駆動する搬送コンベア駆動モータ16a、各Y軸スライダ6をY軸テーブル5に沿って移動させるY軸スライダ移動機構16b、各移動ステージ8をX軸テーブル7に沿って移動させる移動ステージ移動機構16c及び各吸着ノズル9を個別に昇降及び上下軸(Z軸)回りの回転を行わせ、また各吸着ノズル9に部品Pの吸着動作を行わせるノズル駆動機構16dが備えられている。
これら搬送コンベア駆動モータ16a、Y軸スライダ移動機構16b、移動ステージ移動機構16c及びノズル駆動機構16dは部品実装機1に備えられた制御装置17(図3)によって作動制御がなされ、搬送コンベア4による基板Bの搬送及び位置決めや、搭載ヘッド10及びカメラヘッド12の移動制御並びに各吸着ノズル9の昇降制御等が行われる。ここで、認識カメラ11(カメラヘッド12)は搭載ヘッド10とは独立して移動させることができ、搭載ヘッド10と同様、搬送コンベア4に位置決めされた基板Bに対して移動自在となっている。
認識カメラ11、基板カメラ14及び部品カメラ15は制御装置17によってその作動制御がなされ、認識カメラ11、基板カメラ14及び部品カメラ15からの撮像結果は制御装置17に入力される(図3)。また、制御装置17に繋がる記憶部18には、各部品供給部13に収容されている部品Pの種類や、各部品Pの基板B上での搭載位置(部品搭載位置L。図4参照)及び各部品Pの基板Bへの搭載順序等のデータを含む種々のデータが記憶されている。
図1及び図2において、カバー部材2にはディスプレイ19及び入力部20を備えた操作パネル21が設けられており、この部品実装機1のオペレータはディスプレイ19に表示される画像を見ながら入力部20から所要の入力操作を行うことができるようになっている。
また、搬送コンベア4の一端側(基板Bの流れの上流側)には、この部品実装機1から一旦搬出された基板Bが再投入されるときにオペレータによって操作される再投入スイッチ22が備えられている(図3参照)。再投入スイッチ22がオペレータによって操作されると、その操作信号は制御装置17に入力され(図3)、制御装置17の作業状態が再投入時モードに設定される。
次に、図5のフローチャートを用いて部品実装機1により部品Pを基板Bに搭載する部品実装手順の流れについて説明する。ここで示す部品実装機1による部品実装手順の流れは、本発明の一実施の形態における基板検査方法の実行手順を含んだものとなっている。
部品実装機1による部品実装において、制御装置17は先ず、搬送コンベア4を駆動して上流側の装置から投入(移送)された基板Bを部品実装機1内に搬入し(図5におけるステップST1)、その基板Bを所定位置に位置決めする(ステップST2)。このステップST2では、制御装置17は、搭載ヘッド10を基板Bの上方に移動させ、搭載ヘッド10に設けられた基板カメラ14に基板Bの位置決めマーク(図示せず)の認識(撮像)を行わせて、基板Bの基準位置からの位置ずれを求める。
制御装置17は、ステップST2が終了したら、部品搭載前検査プロセス(ステップST3〜ステップST9)を行う。この部品搭載前検査プロセス(ステップST3〜ステップST9)では、制御装置17は先ず、現在再投入時モードが設定されているかどうかの判断を行う(ステップST3)。制御装置17は、ステップST3において、現在再投入時モードが設定されていないことを検知したときにはステップST4に進んで部品搭載前検査工程(ステップST4〜ステップST6)を行う。この部品搭載前検査工程(ステップST4〜ステップST6)では、制御装置17は、基板B上の部品搭載位置Lの上方にカメラヘッド12を(すなわち認識カメラ11を)移動させて、その部品搭載位置Lの認識を行った後(ステップST4)、その部品搭載位置Lに部品Pを搭載することが可能であるかどうかの判定(良否判定)を行い(ステップST5)、その判定結果を記憶部18に記憶する(ステップST6)。そして、この部品搭載前検査工程(ステップST4〜ステップST6)の後の判断ステップ(ステップST7)で、検査対象となっている全ての部品搭載位置Lについての検査が終了したかどうかの判断を行い、その結果、検査対象となっている全ての部品搭載位置Lについての検査が終了していなかったときにはステップST3に戻ってまだ検査を行っていない部品搭載位置Lについての検査を行い、検査対象となっている全ての部品搭載位置Lについての検査が終了していたときにはこの部品搭載前検査プロセスを終了する。
制御装置17は、ステップST4における認識では、認識カメラ11の視野を部品搭載位置Lの良否を判定するのに適した視野(部品搭載位置Lに部品Pが搭載されていないのを前提とした視野)に設定して行う。また、ステップST5における良否判定では、具体的には、基板B上の部品搭載位置Lが汚損されていなかどうか、或いは、搭載しようとしている部品Pがシールド部品である場合に、そのシールド部品によって覆われる部品(このシールド部品によって覆われる部品は、この部品実装機1の上流側に配置された他の部品実装機によって基板B上に実装される)が基板B上の所定の位置に正常に搭載されているかどうか等の判定を行う。
一方、制御装置17は、ステップST3において、現在再投入時モードが設定されていることを検知したときには部品有無検査工程(ステップST8及びステップST9)に進むが、このように部品有無検査工程(ステップST8及びステップST9)に進むのは基板Bを再投入した場合である(後述)。
制御装置17は、部品搭載前検査プロセス(ステップST3〜ステップST9)が終了したら、次の部品搭載プロセス(ステップST10〜ステップST13)を行う。部品搭載プロセス(ステップST10〜ステップST13)は、直前の部品搭載前検査プロセス(ステップST3〜ステップST9)の良否判定ステップ(ステップST5)で良好判定を行った全ての部品搭載位置Lへ部品Pを搭載するプロセスである。
この部品搭載プロセス(ステップST10〜ステップST13)では、制御装置17は、搭載ヘッド10を移動させて、部品供給部13の部品供給口13a(図2)に供給される部品Pを搭載ヘッド10の吸着ノズル9にピックアップ(吸着)させた後(ステップST10)、その搭載ヘッド10を部品カメラ15の直上に移動させ、部品カメラ15に部品Pの認識(撮像)を行わせて、部品Pの吸着ノズル9に対する位置ずれを求めたうえで(ステップST11)、その部品Pを部品搭載位置Lに搭載する(ステップST12)という一連の部品搭載工程(ステップST10〜ステップST12)を、ステップST12の後の判断ステップ(ステップST13)で、部品搭載対象となっている(部品搭載前検査プロセスの良否判定ステップで良好判定を行った)全ての部品搭載位置Lについての部品搭載工程(ステップST10〜ステップST12)が終了したことを検知するまで継続する。
この部品搭載プロセス(ステップST10〜ステップST13)によって、部品搭載前検査プロセス(ステップST3〜ステップST9)の良否判定ステップ(ステップST5)で良好判定を行った全ての部品搭載位置Lに部品Pが搭載されることになるが、これは、部品搭載前検査プロセス(ステップST3〜ステップST9)のステップST5で不良判定がなされた部品搭載位置L(不良箇所)については部品搭載前検査プロセス(ステップST3〜ステップST9)がスキップされて、その部品搭載位置Lには部品Pが搭載されないことを意味する。
制御装置17は、上記部品搭載工程(ステップST10〜ステップST12)では、ステップST2で求めた基板Bの基準位置からの位置ずれと、ステップST11で求めた部品Pの吸着ノズル9に対する位置ずれが補正されるようにする。
部品搭載プロセス(ステップST10〜ステップST13)が終了したら、次の部品搭載後検査プロセス(ステップST14〜ステップST17)を行う。部品搭載後検査プロセス(ステップST14〜ステップST17)は、上述の部品搭載プロセス(ステップST10〜ステップST13)で部品Pが搭載された全ての部品搭載位置L(すなわち部品搭載後の基板B上の部品搭載位置L)を検査対象として認識カメラ11によって認識し、その部品搭載位置Lに部品Pが正しく搭載されているかどうかの検査を行うプロセスである。
この部品搭載後検査プロセス(ステップST14〜ステップST17)では、制御装置17は、部品搭載プロセス(ステップST10〜ステップST13)で部品搭載がなされた基板B上の部品搭載位置Lの上方にカメラヘッド12を(すなわち認識カメラ11を)移動させて、その部品搭載位置Lの認識を行った後(ステップST14)、その部品搭載位置Lに部品Pが正しく搭載されているかどうかの判定(良否判定)を行い(ステップST15)、その判定結果を記憶部18に記憶する(ステップST16)という一連の部品搭載後検査工程(ステップST14〜ステップST16)を、ステップST16の後の判断ステップ(ステップST17)で、検査対象となっている全ての部品搭載位置Lについての部品搭載後検査工程(ステップST14〜ステップST16)が終了したことを検知するまで継続する。
制御装置17は、ステップST14における認識では、認識カメラ11の視野を部品Pの有無を検査するのに適した視野(部品搭載位置Lに部品Pが搭載されているのを前提とした視野。通常、部品搭載位置Lに部品Pが搭載されていないのを前提とした視野よりも広い)に設定して行うことも可能である。
部品搭載後検査プロセス(ステップST14〜ステップST17)が終了したら、制御装置17は次のステップST18に進む。
ステップST18では、制御装置17は、搬送コンベア4上の基板Bに対して良否判定を行う。ここでは部品搭載前検査プロセス(ステップST3〜ステップST9)で不良箇所が認められた(従って部品搭載プロセスで部品Pが搭載されなかった)基板B及び部品搭載後検査プロセス(ステップST14〜ステップST17)で不良箇所が認められた基板Bを不良基板と判定し、部品搭載前検査プロセス(ステップST3〜ステップST9)及び部品搭載後検査プロセス(ステップST14〜ステップST17)のいずれにおいても不良箇所が認められなかった基板Bを良好基板と判定する。なお、このステップST14〜ステップST17の工程を実行するかどうかは任意であり、必ずしも実行しなくてもよい。また、特定の部品Pについてだけ行うようにしてもよい。
制御装置17は、ステップST18が終了したら、不良基板と判定した基板Bに対して所要の処理(不良基板処理)を行う(ステップST19)。このステップST19における不良基板処理には、不良基板に対し、その不良箇所をオペレータが特定して目視検査できるようなマーキングを施す処理が含まれる。
制御装置17はこのステップST19が終了したら、搬送コンベア4により基板Bを部品実装機1の下流側の装置に排出する(図1及び図2中に示す矢印A。ステップST20)。これにより部品実装機1による一連の部品実装工程が終了する。
ここで、ステップST20において部品実装機1から基板Bが搬出された後、その基板Bに付されたマークからその基板Bが不良基板であること及びその不良箇所を認識したオペレータがその基板Bを取り上げて不良箇所を修繕したときは、オペレータはその基板Bを部品実装機1に再投入することができる。基板Bの再投入は、オペレータがその基板Bを搬送コンベア4の上流側に投入することによって行うが、オペレータはその基板Bの再投入の際、再投入スイッチ22を操作して制御装置17の作業状態を再投入時モードに設定する。
基板Bが搬送コンベア4に投入されると、制御装置17は前述の部品実装工程をステップST1から実行するが、部品搭載前検査プロセス(ステップST3〜ステップST9)のステップST3において、現在再投入時モードが設定された状態であると判断するので、部品有無検査工程(ステップST8及びステップST9)に進む。
制御装置17は、部品有無検査工程(ステップST8及びステップST9)では、基板B上の部品搭載位置Lの上方にカメラヘッド12を(すなわち認識カメラ11を)移動させて、その部品搭載位置Lの認識を行い(ステップST8)、次いで、その部品搭載位置Lに部品Pが既に搭載されているかどうかの判定(部品有無判定)を行う(ステップST9)。
制御装置17は、上記ステップST8における認識では、認識カメラ11の視野を部品Pの有無を検査するのに適した視野(部品搭載位置Lに部品Pが搭載されているのを前提とした視野)に設定して行うことも可能である。
制御装置17は、ステップST9において部品Pが搭載されていないと判断した部品搭載位置Lを検査対象として記憶部18に記憶するとともに、その検査対象として記憶した部品搭載位置Lに対して前述の部品搭載前検査工程(ステップST4〜ステップST6)を行ってステップST7に進む。一方、制御装置17は、ステップST9において部品Pが搭載されていると判断した部品搭載位置Lを検査対象外として記憶部18に記憶するとともに、その検査対象外として記憶した部品搭載位置Lに対しては、部品搭載前検査工程(ステップST4〜ステップST6)をスキップしてステップST7に進む。
ステップST7では、検査対象となっている全ての部品搭載位置Lについての検査が終了するまでステップST3に戻ることになるので、再投入された基板Bの全ての部品搭載位置Lについて部品搭載前検査プロセス(ステップST3〜ステップST9)が実行されることとなり、部品Pが搭載されていない部品搭載位置Lについては、部品搭載前検査工程(ステップST4〜ステップST6)が行われる。
このように、本実施の形態における部品実装機1では、再投入時モードが設定されているときには、はじめに部品搭載位置Lを認識カメラ11に認識させて、その部品搭載位置Lに部品Pが搭載されているかどうかの部品有無検査工程(ステップST8及びステップST9)を行い、その結果部品Pが搭載されていなかった部品搭載位置Lに対して部品搭載前検査工程(ステップST4〜ステップST6)を行う。
制御装置17は、再投入された基板Bについて、全ての部品搭載位置Lを対象とした部品搭載前検査プロセス(ステップST3〜ステップST9)が終了したら、次いで、その部品搭載前検査プロセス(ステップST3〜ステップST9)の良否判定ステップ(ステップST5)で良好判定を行った部品搭載位置Lに対して前述の部品搭載プロセス(ステップST10〜ステップST13)を行う。
制御装置17は、部品搭載プロセス(ステップST10〜ステップST13)が終了したら、部品搭載後検査プロセス(ステップST14〜ステップST17)を行う。ここでは、直前の部品搭載プロセス(ステップST10〜ステップST13)で部品搭載が行われた全ての部品搭載位置L(ステップST9で検査対象として記憶部18に記憶した部品搭載位置L)を対象として部品搭載後検査工程(ステップST14〜ステップST16)を行う。なお、ここでもステップST14〜ステップST17の工程を実行するかどうかは任意である。
部品搭載後検査プロセス(ステップST14〜ステップST17)が終了したら、再投入された基板Bに対する良否判定(ステップST18)及び不良基板と判定した基板Bに対しての所要の処理(ステップST19)を行って、基板Bを排出する(ステップST20)。基板Bを排出したら、制御装置17は、それまで設定されていた再投入モードを解除する。
これまでの説明から分かるように、本実施の形態における部品実装機(基板検査装置付き部品実装機)1は、搬送コンベア4により位置決めされた基板Bに対して移動自在な認識カメラ11、認識カメラ11により基板B上の部品搭載位置Lを認識させて、その部品搭載位置Lに部品Pを搭載させることができるかどうかの部品搭載前検査(ステップST4〜ステップST6の部品搭載前検査工程)を行う検査実行部としての制御装置17及び制御装置17を再投入時モードに設定する再投入時モード設定部としての再投入スイッチ22を備えて本発明の一実施の形態における基板検査装置を構成しており、制御装置17は再投入スイッチ22の操作により再投入時モードが設定されていないときには、部品搭載の対象となっている全ての部品搭載位置Lに対して部品搭載前検査(ステップST4〜ステップST6の部品搭載前検査工程)を行い、再投入スイッチ22の操作により再投入時モードが設定されているときには、はじめに部品搭載位置Lを認識カメラに認識させて、その部品搭載位置Lに部品Pが搭載されているかどうかの部品有無検査(ステップST8及びステップST9の部品有無検査工程)を行い、その結果部品Pが搭載されていなかった部品搭載位置Lに対して部品搭載前検査(ステップST4〜ステップST6の部品搭載前検査工程)を行うようになっている。
また、本実施の形態における基板検査方法は、位置決めされた基板Bに対して移動自在に設けられた認識カメラ11により基板B上の部品搭載位置Lを認識させて、その部品搭載位置Lに部品Pを搭載させることができるかどうかの部品搭載前検査を行うものであって、再投入スイッチ22の操作により再投入時モードが設定されていないときには、はじめに部品搭載の対象となっている全ての部品搭載位置Lに対して部品搭載前検査(ステップST4〜ステップST6の部品搭載前検査工程)を行い、再投入時モードが設定されているときには、部品搭載位置Lを認識カメラ11に認識させて、その部品搭載位置Lに部品Pが搭載されているかどうかの部品有無検査(ステップST8及びステップST9の部品有無検査工程)を行い、その結果部品Pが搭載されていなかった部品搭載位置Lに対して部品搭載前検査(ステップST4〜ステップST6の部品搭載前検査工程)を行うようになっている。
このように本実施の形態における基板検査装置(基板検査方法)では、再投入時モードが設定されていない通常の基板投入時には部品搭載の対象となっている全ての部品搭載位置Lに対して部品搭載前検査(ステップST4〜ステップST6の部品搭載前検査工程)を行うが、再投入時モードが設定されている基板Bの再投入時には、はじめに部品搭載位置Lを認識カメラ11に認識させて、その部品搭載位置Lに部品Pが搭載されているかどうかの部品有無検査(ステップST8及びステップST9の部品有無検査工程)を行い、その結果部品Pが搭載されていなかった部品搭載位置Lに対して部品搭載前検査(ステップST4〜ステップST6の部品搭載前検査工程)を行うようになっている。このため、部品Pが既に搭載されている部品搭載位置Lに対する不要な部品搭載前検査が行われることがなく、効率よく部品搭載前検査を行うことができる。
また、基板Bの再投入時における部品有無検査(ステップST8及びステップST9の部品有無検査工程)は、認識カメラ11の視野を部品Pの有無を検査するのに適した視野(部品搭載位置Lに部品Pが搭載されていることを前提とした視野)で行うことになるため、部品Pが部品搭載位置に搭載されていない場合には部品搭載位置Lが認識される(その後部品搭載位置Lの良否を判定するのに適した視野に切り換えれば部品搭載位置Lの良否判定を行うことができる)一方、部品搭載位置Lに部品Pが搭載されている場合にはその部品Pが認識されることになるので異常と判断されることはなく、システムエラーが発生するようなこともない。
これまで本発明の実施の形態について説明してきたが、本発明は上述の実施の形態に限定されない。例えば、上述の実施の形態では、部品有無検査工程(ステップST8及びステップST9)を全部品Pに対して行うためのループが部品搭載前検査プロセス(ステップST3〜ステップST9)のループを利用した構成となっていたが、このような構成ではなく、図6のフローチャートのように、部品搭載位置Lの認識を行った後(ステップST8a)、その部品搭載位置Lに部品Pが既に搭載されているかどうかの判定(部品有無判定)を行い(ステップST9a)、その判定結果を記憶部18に記憶する(ステップST9b)という一連の工程(ステップST8a〜ステップST9b)を、ステップST9bの後の判断ステップ(ステップST9c)で、基板B上の全ての部品搭載位置Lについての上記工程(ステップST8a〜ステップST9b)が終了したことを検知するまで継続する部品有無検査プロセス(ステップST8a〜ステップST9c)を行うようにしてもよい。この場合、次の部品搭載前検査プロセス(ステップST3〜ステップST9)では、上記部品有無検査プロセス(ステップST8a〜ステップST9c)において部品Pが搭載されていないと判定した部品搭載位置Lのみを検査対象として部品搭載前検査工程(ステップST4〜ステップST6)を行うようにすればよい。なお、図6のフローチャートにおいて、図5のフローチャートと同じ符号を付したステップの内容は、図5のフローチャートの場合と同じである。
また、上述の実施の形態では、認識カメラ11が、部品実装機1に搭載ヘッド10とは独立して移動自在に設けられたカメラヘッド12に取り付けられており、基板検査装置は部品実装機1と一体に(部品実装機1の一部として)構成されたものとなっていたが、基板検査装置は必ずしも部品実装機1と一体に構成されていなければならないわけではなく、部品実装機1とは別個の装置として部品実装機1の上流側に設置されるのであってもよい。しかし、上述の実施の形態のように、基板検査装置が部品実装機1と一体に構成されているのであれば、部品実装ラインにおける装置の台数を減らすことができるので、大幅なコストダウンを図ることができ、また、搭載前検査(ステップST4〜ステップST6)を行った後、基板Bを移送させることなく、そのまま部品Pの搭載を行うことができるので、極めて正確な部品搭載を行うことができるという利点がある。更に、上述したように、部品搭載後検査プロセス(ステップST14〜ステップST17)も行うことができるので、その分、更に部品実装ラインにおける装置の台数を減らすことができる。
基板が再投入された場合に効率よく部品搭載前検査を行うことができ、システムエラーの発生も防止することができる基板検査装置及び基板検査方法を提供する。
本発明の一実施の形態における基板検査装置付き部品実装機の斜視図 本発明の一実施の形態における基板検査装置付き部品実装機の平面図 本発明の一実施の形態における基板検査装置付き部品実装機の制御系統を示すブロック図 本発明の一実施の形態における基板検査装置付き部品実装機により部品実装がなされる基板の一例の平面図 本発明の一実施の形態における基板検査装置付き部品実装機が実行する部品実装手順の流れを示すフローチャート 本発明の一実施の形態における基板検査装置付き部品実装機が実行する部品実装手順の流れを示すフローチャート
符号の説明
1 基板検査装置付き部品実装機(基板検査装置、部品実装機)
10 搭載ヘッド
11 認識カメラ
12 カメラヘッド
17 制御装置(検査実行部)
22 再投入スイッチ(再投入時モード設定部)
B 基板
L 部品搭載位置
P 部品

Claims (3)

  1. 位置決めされた基板に対して移動自在に設けられた認識カメラと、認識カメラにより基板上の部品搭載位置を認識させて、その部品搭載位置に部品を搭載させることができるかどうかの部品搭載前検査を行う検査実行部とを有した基板検査装置であって、検査実行部を再投入時モードに設定する再投入時モード設定部を備え、検査実行部は、再投入時モード設定部により再投入時モードが設定されていないときには、部品搭載の対象となっている全ての部品搭載位置に対して部品搭載前検査を行い、再投入時モード設定部により再投入時モードが設定されているときには、はじめに部品搭載位置を認識カメラに認識させて、その部品搭載位置に部品が搭載されているかどうかの部品有無検査を行い、その結果部品が搭載されていなかった部品搭載位置に対して部品搭載前検査を行うことを特徴とする基板検査装置。
  2. 位置決めされた基板に対して搭載ヘッドを移動させてその基板上の部品搭載位置に部品を搭載する部品実装機に備えられ、認識カメラは、搭載ヘッドとは独立して移動自在に設けられたカメラヘッドに取り付けられていることを特徴とする請求項1に記載の基板検査装置。
  3. 位置決めされた基板に対して移動自在に設けられた認識カメラにより基板上の部品搭載位置を認識させて、その部品搭載位置に部品を搭載させることができるかどうかの部品搭載前検査を行う基板検査方法であって、再投入時モード設定部により再投入時モードが設定されていないときには、部品搭載の対象となっている全ての部品搭載位置に対して部品搭載前検査を行い、再投入時モードが設定されているときには、はじめに部品搭載位置を認識カメラに認識させて、その部品搭載位置に部品が搭載されているかどうかの部品有無検査を行い、その結果部品が搭載されていなかった部品搭載位置に対して部品搭載前検査を行うことを特徴とする基板検査方法。
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Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5201115B2 (ja) * 2009-10-08 2013-06-05 パナソニック株式会社 部品実装システム
JP5229177B2 (ja) * 2009-10-08 2013-07-03 パナソニック株式会社 部品実装システム
US9020827B2 (en) * 2009-10-16 2015-04-28 Baxter International Inc. Peritoneal dialysis optimized using a patient hand-held scanning device
KR101178409B1 (ko) * 2011-05-18 2012-08-31 주식회사 미르기술 피시비 기판 검사장치
KR101178403B1 (ko) * 2011-05-18 2012-08-31 주식회사 미르기술 피시비 기판 검사장치
KR101178416B1 (ko) * 2011-05-20 2012-08-31 주식회사 미르기술 피시비 기판 검사장치
JP5767918B2 (ja) * 2011-09-08 2015-08-26 富士機械製造株式会社 電子部品実装機および電子部品実装方法
JP2013101017A (ja) * 2011-11-08 2013-05-23 Nidec-Read Corp 基板検査装置
JP6008633B2 (ja) * 2012-07-23 2016-10-19 富士機械製造株式会社 部品実装システム
WO2014083689A1 (ja) * 2012-11-30 2014-06-05 富士機械製造株式会社 対基板作業システム
US9726720B2 (en) * 2015-11-02 2017-08-08 Cheng Yun Technology Co., Ltd. Integrated circuit test device and integrated circuit test equipment
JP7252844B2 (ja) * 2019-07-02 2023-04-05 株式会社Fuji 対基板作業機
JP7352776B2 (ja) 2019-12-04 2023-09-29 パナソニックIpマネジメント株式会社 実装システムおよび実装方法

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02303100A (ja) * 1989-05-17 1990-12-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd 部品装着方法
US5249349A (en) * 1991-01-24 1993-10-05 Matsushita Electric Works, Ltd. Parts mounting device
US7120513B1 (en) * 1997-06-06 2006-10-10 Micron Technology, Inc. Method for using data regarding manufacturing procedures integrated circuits (ICS) have undergone, such as repairs, to select procedures the ICS will undergo, such as additional repairs
US6408090B1 (en) * 1998-09-28 2002-06-18 Siemens Production And Logistics System Aktiengesellschaft Method for position recognition of components equipped on a substrate in an automatic equipping unit
US6738506B2 (en) * 2001-04-18 2004-05-18 Multibeam Systems, Inc. Image processing system for multi-beam inspection
US7033842B2 (en) * 2002-03-25 2006-04-25 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Electronic component mounting apparatus and electronic component mounting method
JP3966189B2 (ja) * 2003-02-27 2007-08-29 オムロン株式会社 基板検査方法およびこの方法を用いた基板検査装置
JP4179060B2 (ja) 2003-06-09 2008-11-12 松下電器産業株式会社 電子部品実装システムおよび電子部品実装方法
CN100508695C (zh) * 2004-03-15 2009-07-01 欧姆龙株式会社 零部件安装基板制造方法、该基板用检查方法和检查系统
JP2007149817A (ja) 2005-11-25 2007-06-14 I-Pulse Co Ltd 実装ライン、実装ラインの管理方法および検査機
JP2007149917A (ja) * 2005-11-28 2007-06-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電界効果トランジスタおよびその製造方法
JP2007157817A (ja) * 2005-12-01 2007-06-21 I-Pulse Co Ltd 実装ライン、実装方法および実装機
US7918402B2 (en) * 2006-03-07 2011-04-05 Tension International, Inc. Item labeling, inspection and verification system for use in manufacturing, packaging, product shipment-fulfillment, distribution, or on-site operations
US7923645B1 (en) * 2007-06-20 2011-04-12 Amkor Technology, Inc. Metal etch stop fabrication method and structure
JP2009252959A (ja) * 2008-04-04 2009-10-29 Toshiba Corp パターン検査装置、パターン検査方法および半導体装置の製造方法

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