JP4797907B2 - 移動体収納機構 - Google Patents

Description

本発明は、移動体収納機構に関し、例えばＬＳＩテストシステムにおいてテストヘッドに取り付けられるデバイスインターフェースユニットの取り付け状態を目視確認するのに好適な構造に関するものである。

ＬＳＩテストシステムには、複数種類の測定対象ＬＳＩのテストが行えるように、プローブカードとテストヘッドとを測定対象ＬＳＩに応じて設計され着脱交換できるデバイスインターフェースユニットを介して電気的に接続するように構成されたものがある。

図３はこのようなＬＳＩテストシステムにおけるデバイスインターフェースユニットの取り付け構成例図である。テストヘッド１の上面には、長方形の取付部１１が設けられている。この取付部１１の一辺１２は、測定対象ＬＳＩに適応するように設計された所定のデバイスインターフェースユニット２を水平方向に出し入れするために開放されている。この取付部１１には、所定の位置に挿入配置されたデバイスインターフェースユニット２を垂直方向に移動させる垂直移動機構が組み込まれていて、デバイスインターフェースユニット２はスイッチ３の操作に応じて上下方向に移動する。

デバイスインターフェースユニット２の上面円板部には、図示しないプローブカードに設けられているコネクタと電気的に接触接続される複数のコネクタが設けられているが、省略している。取付部１１とデバイスインターフェースユニット２の対向面には、デバイスインターフェースユニット２が下降することにより相互に嵌合接続されて電気的に接続されるとともに機械的に固着される複数のコネクタが設けられているが、図示しない。

デバイスインターフェースユニット２の内部では、測定対象ＬＳＩに応じて、プローブカードの各コネクタピンとテストヘッド１の各コネクタピンとの適切な接続関係になるように予め編集されている。これにより、測定対象ＬＳＩに応じて設計された所定のデバイスインターフェースユニット２を介在させることにより、テストヘッド１の内部接続を変更することなく、複数種類の測定対象ＬＳＩのテストが行える。

テストヘッド１の取付部１１にデバイスインターフェースユニット２を取り付けるのにあたっては、作業者が測定対象ＬＳＩに応じた所定のデバイスインターフェースユニット２を所定の位置に挿入配置し、下降用のスイッチ３を操作してデバイスインターフェースユニット２を下降させる。デバイスインターフェースユニット２の交換にあたっては、上昇用のスイッチ３を操作してデバイスインターフェースユニット２を上昇させる。

特表２００５−５２３４５７

ところで、デバイスインターフェースユニット２を下降させてコネクタ相互を嵌合接続させるのにあたっては、デバイスインターフェースユニット２とテストヘッド１の相対位置が常に正しい位置関係に保たれていなければならない。

従来の構成では、デバイスインターフェースユニット２とテストヘッド１の相対位置を機構設計値により保証していることから、これらの相対位置を確認するための特別な手段は設けていなかった。

しかし、デバイスインターフェースユニット２とテストヘッド１の外観は同色であることから、デバイスインターフェースユニット２とテストヘッド１が正しく嵌合接続されているか否かを作業者が目視確認することは困難である。このために、作業者の作業に起因するミスや機構部動作の不具合等により正しく下降せず、コネクタ相互の嵌合接続ができない不具合が発生してもそれらの発見が遅れてしまい、デバイスインターフェースユニット２やテストヘッド１の破損事故につながるおそれがある。

このような不具合は、テストヘッド１を固定体としてデバイスインターフェースユニット２を移動体とする一般的な移動体収納機構においても共通する課題である。

本発明は、このような従来の問題点に着目したものであり、その目的は、作業者が移動体と固定体の相対位置を常に容易確実に目視確認できる移動体収納機構を提供することにある。

このような課題を達成する請求項１の発明は、
固定体の上面に配置された移動体を上下方向に移動させて移動体の一部を固定体の内部に収納するように構成され、前記移動体の側面に固定体との上下方向の相対位置関係を表す識別体が設けられた移動体収納機構において、
前記固定体はＬＳＩテストシステムにおけるテストヘッドであり、前記移動体はＬＳＩテストシステムにおけるデバイスインターフェースユニットであり、前記識別体はデバイスインターフェースユニットの移動方向に沿って上下領域が異なる形態に塗り分けられて貼り付けられたラベルであり、前記移動体が前記固定体内に正常に収納されている状態では前記識別体の上部領域のみが表示されることを特徴とする。

請求項２の発明は、請求項１記載の移動体収納機構において、
前記ラベルは上下領域が色違いで塗り分けられていることを特徴とする。

これらにより、作業者が移動体と固定体の相対位置を常に容易確実に目視確認できる移動体収納機構を実現できる。

以下、本発明について、図面を用いて説明する。図１は本発明の一実施例を示す構成図であり、図３と共通する部分には同一の符号を付けている。移動体であるデバイスインターフェースユニット２の左右側面には、上下２色（例えば上部４１は緑、下部４２は赤）に塗り分けられたラベル４が貼り付けられている。貼り付けられるラベル４の長さは、不具合発生時の固定体であるテストヘッド１に対するデバイスインターフェースユニット２の傾きを作業者が目視確認（検出）できるように例えばデバイスインターフェースユニット２の長手方向の２/３程度とする。そして、デバイスインターフェースユニット２の左右側面における上下方向の貼付位置は、テストヘッド１との正常嵌合時に、ラベル４下部の赤色部分４２が目視位置から確認できない位置とする。

図２は図１の動作説明図である。（ａ）は固定体であるテストヘッド１の上面取付部１１に移動体であるデバイスインターフェースユニット２を挿入配置してデバイスインターフェースユニット２を下降させる前の状態を示している。

（ｂ）と（ｃ）は下降用のスイッチ３を操作してデバイスインターフェースユニット２を下降させた状態を示している。（ｂ）はデバイスインターフェースユニット２とテストヘッド１が正しく嵌合接続されている状態であり、ラベル４下部の赤色部分４２がテストヘッド１内部に収まって目視位置からは見えず、ラベル４上部の緑色部分４１のみが目視できる。

これに対し（ｃ）はデバイスインターフェースユニット２とテストヘッド１が正しく嵌合接続されていない状態である。デバイスインターフェースユニット２がテストヘッド１に対して傾斜取り付けられていることにより、ラベル４下部の赤色部分４２がテストヘッド１内部に収まらなくなり、ラベル４上部の緑色部分４１とともにデバイスインターフェースユニット２のテストヘッド１に対する傾斜の大きさに応じてラベル４下部の赤色部分４２も目視できている。

これにより、作業者はテストヘッド１とデバイスインターフェースユニット２との相対位置および正常/異常動作を目視確認できる。常にデバイスインターフェースユニット２の状態を確認しながら作業を行うことができることから、デバイスインターフェースユニット２を下降させている状態で不具合が発生するとすぐに確認して下降動作を停止させることができ、デバイスインターフェースユニット２やテストヘッド１の破損を軽減できるとともにこれらの破損に起因する２次被害の発生を防止できる。

識別体として上記実施例のような貼り付け可能なラベルを用いることにより、移動体の一部が固定体の内部に引込み収納される構造であれば、形状、寸法、材料を問わず、またＬＳＩテストシステムにおけるデバイスインターフェースユニット２のテストヘッド１への収納に限らず、各種移動体収納機構における移動体収納の目視確認に有効である。

また識別体として貼り付け可能なラベルを用いることにより、後からの追加作業が容易であり、既存設備への対応も容易に行うことができる。

以上説明したように、本発明によれば、ＬＳＩテストシステムにおけるデバイスインターフェースユニット２のテストヘッド１内部への収納をはじめとする各種移動体収納機構における移動体収納の目視確認に好適であり、移動体収納機構の破損を防止できる。

本発明の一実施例を示す構成図である。 図１の動作説明図である。 従来の構成図である。

符号の説明

１ 固定体（テストヘッド）
１１ 取付部
１２ 開放辺
２ 移動体（デバイスインターフェースユニット）
３ スイッチ
４ 識別体（ラベル）
４１ 上部
４２ 上部

Claims (2)

1. 固定体の上面に配置された移動体を上下方向に移動させて移動体の一部を固定体の内部に収納するように構成され、前記移動体の側面に固定体との上下方向の相対位置関係を表す識別体が設けられた移動体収納機構において、
   前記固定体はＬＳＩテストシステムにおけるテストヘッドであり、前記移動体はＬＳＩテストシステムにおけるデバイスインターフェースユニットであり、前記識別体はデバイスインターフェースユニットの移動方向に沿って上下領域が異なる形態に塗り分けられて貼り付けられたラベルであり、前記移動体が前記固定体内に正常に収納されている状態では前記識別体の上部領域のみが表示されることを特徴とする移動体収納機構。
2. 前記ラベルは上下領域が色違いで塗り分けられていることを特徴とする請求項１記載の移動体収納機構。

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