JP4789412B2 - プラズマ処理装置 - Google Patents
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- 大気圧もしくは大気圧近傍圧力下で、第1の電極と第2の電極の間にプロセス用ガスを導入し、被処理物に前記プロセス用ガスを上向きに吹き付けるガス供給手段と、
前記プロセス用ガスが導入された状態で、前記第1の電極又は前記第2の電極に高周波電圧を印加して、前記第1の電極と前記第2の電極の間の空間にプラズマを発生させるプラズマ発生手段と、
搬送用ガスの吹き付けと吸引を同時に行うことにより、前記被処理物を浮上させて搬送し、前記被処理物の浮上する高さを制御し、かつ、前記搬送用ガスを用いて空気の流れをつくり外気を遮断する気流制御手段と、
前記搬送用ガスを加熱する加熱手段と、を有し、
前記気流制御手段から、前記加熱手段により加熱された前記搬送用ガスを前記被処理物に吹き付けることにより、前記被処理物を加熱し、
前記プラズマ発生手段を用いて、前記被処理物の表面に薄膜を形成することを特徴とするプラズマ処理装置。 - 大気圧もしくは大気圧近傍圧力下で、第1の電極と第2の電極の間にプロセス用ガスを導入し、被処理物に前記プロセス用ガスを上向きに吹き付けるガス供給手段と、
前記プロセス用ガスが導入された状態で、前記第1の電極又は前記第2の電極に高周波電圧を印加して、前記第1の電極と前記第2の電極の間の空間にプラズマを発生させるプラズマ発生手段と、
搬送用ガスの吹き付けと吸引を同時に行うことにより、前記被処理物を浮上させて搬送し、前記被処理物の浮上する高さを制御し、かつ、前記搬送用ガスを用いて空気の流れをつくり外気を遮断する気流制御手段と、
前記搬送用ガスを加熱する加熱手段と、を有し、
前記気流制御手段から、前記加熱手段により加熱された前記搬送用ガスを前記被処理物に吹き付けることにより、前記被処理物を加熱し、
前記プラズマ発生手段を用いて、前記被処理物の表面のエッチング処理を行うことを特徴とするプラズマ処理装置。 - 大気圧もしくは大気圧近傍圧力下で、第1の電極と第2の電極の間にプロセス用ガスを導入し、被処理物に前記プロセス用ガスを上向きに吹き付けるガス供給手段と、
前記プロセス用ガスが導入された状態で、前記第1の電極又は前記第2の電極に高周波電圧を印加して、前記第1の電極と前記第2の電極の間の空間にプラズマを発生させるプラズマ発生手段と、
搬送用ガスの吹き付けと吸引を同時に行うことにより、前記被処理物を浮上させて搬送し、前記被処理物の浮上する高さを制御し、かつ、前記搬送用ガスを用いて空気の流れをつくり外気を遮断する気流制御手段と、
前記搬送用ガスを加熱する加熱手段と、を有し、
前記気流制御手段から、前記加熱手段により加熱された前記搬送用ガスを前記被処理物に吹き付けることにより、前記被処理物を加熱し、
前記プラズマ発生手段を用いて、前記被処理物の表面のアッシング処理を行うことを特徴とするプラズマ処理装置。 - 大気圧もしくは大気圧近傍圧力下で、第1の電極と第2の電極の間にプロセス用ガスを導入し、被処理物に前記プロセス用ガスを上向きに吹き付けるガス供給手段と、
前記プロセス用ガスが導入された状態で、前記第1の電極又は前記第2の電極に高周波電圧を印加して、前記第1の電極と前記第2の電極の間の空間にプラズマを発生させるプラズマ発生手段と、
搬送用ガスの吹き付けと吸引を同時に行うことにより、前記被処理物を浮上させて搬送し、前記被処理物の浮上する高さを制御し、かつ、前記搬送用ガスを用いて空気の流れをつくり外気を遮断する気流制御手段、
前記搬送用ガスを加熱する加熱手段と、を有し、
前記気流制御手段から、前記加熱手段により加熱された前記搬送用ガスを前記被処理物に吹き付けることにより、前記被処理物を加熱し、
前記プラズマ発生手段を用いて、前記第1の電極と前記第2の電極のクリーニング処理を行うことを特徴とするプラズマ処理装置。 - 請求項1において、
前記プロセス用ガスは、原料ガスと混合ガスを含み、
前記原料ガスは、SiXHYまたはSiHXClYを含み、
前記混合ガスは、水素、酸素、窒素のうちの一つと、希ガスとを含むことを特徴とするプラズマ処理装置。 - 請求項2において、
前記プロセス用ガスは、原料ガスと混合ガスを含み、
前記原料ガスは、NF3、フロロカーボン、SF6またはCOXを含み、
前記混合ガスは、水素又は酸素と、希ガスとを含むことを特徴とするプラズマ処理装置。 - 請求項3又は請求項4において、
前記プロセス用ガスは、酸素を含み、かつ、水素、フロロカーボン、NF3、H2O、CHF3のうちの一つを含むことを特徴とするプラズマ処理装置。 - 請求項1乃至請求項7のいずれか一項において、
前記搬送用ガスは、不活性ガスであることを特徴とするプラズマ処理装置。 - 請求項1乃至請求項8のいずれか一項において、
前記被処理物は、ガラス基板であることを特徴とするプラズマ処理装置。
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