JP4775492B2 - 表面検査装置 - Google Patents
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鋼板表面に波長が10.6μm以上の光を照射する光源と、
前記鋼板表面の微小凹凸疵の各点から反射された光の集束によって得られる明点に基づいて凹欠陥を、
前記鋼板表面の微小凹凸疵の各点から反射された光の発散によって得られる暗点に基づいて凸欠陥を検出する検出系とを具備し、
前記光源は、一次元方向には平行性を、もう一次元方向には拡散特性を有し、
前記検出系は、前記鋼板表面により反射された光を投影するスクリーンと、当該スクリーン上の光強度分布を測定する受光器と、前記鋼板表面により反射された光のうち、前記光源が拡散特性を有する方の一次元方向成分のみについては、被検査面の像を前記スクリーン上に結像する光学系とを具備することを特徴とする表面検査装置。
鋼板表面に波長が10.6μm以上の光を照射する光源と、
前記鋼板表面の微小凹凸疵の各点から反射された光の集束によって得られる明点に基づいて凹欠陥を、
前記鋼板表面の微小凹凸疵の各点から反射された光の発散によって得られる暗点に基づいて凸欠陥を検出する検出系とを具備し、
前記光源は、一次元方向には平行性を、もう一次元方向には拡散特性を有し、
前記検出系は、撮像素子と前記鋼板表面により反射された光を当該撮像素子上に投影する光学系とを具備し、該光学系は、前記鋼板表面により反射された光のうち、前記光源が拡散特性を有する方の一次元方向成分のみについては、被検査面の像を前記撮像素子上に結像する光学系であることを特徴とする表面検査装置。
g = {2πσ(cosθ1+cosθ2)/λ}2 ・・・(1)
g = {4πσcosθ/λ}2 ・・・(2)
tanφ(x)=dh/dx
よって、以下の(4)式のようになる。
u={cosθ+sinθtan(2φ(x))}x−L・tan(2φ(x)) ・・・(6)
u=x・cosθ−L・tan(2φ(x))
≒x・cosθ−2L・dh/dx=cosθ(x−2L/cosθ・dh/dx) ・・・(7)
u=x−2L・tan2θ・dh/dx ・・・(8)
この場合、投影された像の倍率は入射角θによらず一定であるが、入射角が大きいほど感度が高いのは同様である。
R・sinθ+δ=R・sin(θ+ε) ・・・(9)
∴ δ/R = sin(θ+ε)−sinθ
= 2・sin(ε/2)・cos(θ+ε/2) ・・・(10)
−2・sin(εmax /2)・cos(θ−εmax /2)≦δ/R ≦ 2・ sin(εmax /2)・cos(θ+ε
max /2) ・・・(11)
いま、εが十分小さいとすると、(12)および(13)式と近似することができ、(11)式は、(14)式となる。
sin(εmax /2)= εmax /2 ・・・(12)
cos(θ±εmax /2)=cosθ ・・・(13)
|δ|/R ≦ εmax・cosθ ・・・(14)
板、2はロール、3は検出ヘッド、4は光源、5はミラー、6はスクリーン、7は2次元カメラ、8は信号処理装置、9は出力装置である。
2 ロール
3 検出ヘッド
4 光源
5 ミラー
6 スクリーン
7 2次元カメラ
7’ リニアアレイセンサ
8 信号処理装置
9 出力装置
10、10’ シリンドリカルレンズ
11 ラインライトガイド
11a バンドルファイバ
12 リニアガイド
Claims (2)
- 鋼板表面の表面粗さと同等の深さの微小凹凸性疵を検出する表面検査装置において、
鋼板表面に波長が10.6μm以上の光を照射する光源と、
前記鋼板表面の微小凹凸疵の各点から反射された光の集束によって得られる明点に基づいて凹欠陥を、
前記鋼板表面の微小凹凸疵の各点から反射された光の発散によって得られる暗点に基づいて凸欠陥を検出する検出系とを具備し、
前記光源は、一次元方向には平行性を、もう一次元方向には拡散特性を有し、
前記検出系は、前記鋼板表面により反射された光を投影するスクリーンと、当該スクリーン上の光強度分布を測定する受光器と、前記鋼板表面により反射された光のうち、前記光源が拡散特性を有する方の一次元方向成分のみについては、被検査面の像を前記スクリーン上に結像する光学系とを具備することを特徴とする表面検査装置。 - 鋼板表面の表面粗さと同等の深さの微小凹凸性疵を検出する表面検査装置において、
鋼板表面に波長が10.6μm以上の光を照射する光源と、
前記鋼板表面の微小凹凸疵の各点から反射された光の集束によって得られる明点に基づいて凹欠陥を、
前記鋼板表面の微小凹凸疵の各点から反射された光の発散によって得られる暗点に基づいて凸欠陥を検出する検出系とを具備し、
前記光源は、一次元方向には平行性を、もう一次元方向には拡散特性を有し、
前記検出系は、撮像素子と前記鋼板表面により反射された光を当該撮像素子上に投影する光学系とを具備し、該光学系は、前記鋼板表面により反射された光のうち、前記光源が拡散特性を有する方の一次元方向成分のみについては、被検査面の像を前記撮像素子上に結像する光学系であることを特徴とする表面検査装置。
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JP2010001194A Expired - Fee Related JP4775492B2 (ja) | 1999-02-08 | 2010-01-06 | 表面検査装置 |
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JP2011100905A Pending JP2011174942A (ja) | 1999-02-08 | 2011-04-28 | 表面検査装置 |
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JPH0518907A (ja) * | 1991-07-08 | 1993-01-26 | Kawasaki Steel Corp | 鋼帯表面疵検査方法 |
JPH0694642A (ja) * | 1992-09-16 | 1994-04-08 | Kawasaki Steel Corp | 表面欠陥検査方法および装置 |
JPH09166519A (ja) * | 1995-12-18 | 1997-06-24 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 表面観察光学系 |
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2010
- 2010-01-06 JP JP2010001194A patent/JP4775492B2/ja not_active Expired - Fee Related
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2011
- 2011-04-28 JP JP2011100905A patent/JP2011174942A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2021255697A1 (en) | 2020-06-18 | 2021-12-23 | Rayong Engineering And Plant Service Co., Ltd. | A sensor module for detecting unevenness of a surface, an apparatus comprising the same and a method for detecting unevenness of a surface using the said sensor module |
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