JP4771059B2 - 走査装置及びその製作方法 - Google Patents

走査装置及びその製作方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4771059B2
JP4771059B2 JP2005235894A JP2005235894A JP4771059B2 JP 4771059 B2 JP4771059 B2 JP 4771059B2 JP 2005235894 A JP2005235894 A JP 2005235894A JP 2005235894 A JP2005235894 A JP 2005235894A JP 4771059 B2 JP4771059 B2 JP 4771059B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mirror
support frame
scanning device
disposed
scanning
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2005235894A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006079078A (ja
Inventor
イ ヤン‐ジョー
ジ チャン‐ヒョン
キム セォン‐ヒョク
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
LG Electronics Inc
Original Assignee
LG Electronics Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from KR1020040065152A external-priority patent/KR100636348B1/ko
Priority claimed from KR1020040067176A external-priority patent/KR100619696B1/ko
Application filed by LG Electronics Inc filed Critical LG Electronics Inc
Publication of JP2006079078A publication Critical patent/JP2006079078A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4771059B2 publication Critical patent/JP4771059B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81BMICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
    • B81B3/00Devices comprising flexible or deformable elements, e.g. comprising elastic tongues or membranes
    • B81B3/0064Constitution or structural means for improving or controlling the physical properties of a device
    • B81B3/0067Mechanical properties
    • B81B3/007For controlling stiffness, e.g. ribs
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/08Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
    • G02B26/0816Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements
    • G02B26/0833Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements the reflecting element being a micromechanical device, e.g. a MEMS mirror, DMD
    • G02B26/0841Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements the reflecting element being a micromechanical device, e.g. a MEMS mirror, DMD the reflecting element being moved or deformed by electrostatic means
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81BMICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
    • B81B2201/00Specific applications of microelectromechanical systems
    • B81B2201/04Optical MEMS
    • B81B2201/042Micromirrors, not used as optical switches
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81BMICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
    • B81B2203/00Basic microelectromechanical structures
    • B81B2203/01Suspended structures, i.e. structures allowing a movement
    • B81B2203/0109Bridges

Description

本発明は、画像のような情報を光を利用して読み出すことができる走査装置及びその製作方法に関し、特に、構造的安定性及びそれによる光学的性能が向上するように構成されたマイクロミラーが備えられた走査装置及びその製作方法に関する。
近年、各種情報の伝達媒介体として光を利用する多様な情報伝達技術が発展している。光源からのビームを情報が記録された媒体に投入し、読み出そうとする情報を走査する技術も、光を利用する情報伝達技術分野において重要な技術の1つである。
前記ビーム走査技術は、多様な装置に応用されるが、その応用例としては、バーコードスキャナ、レーザー走査方式を用いることにより解像度が高くて色再現性に優れた投写型ディスプレイシステム、HMD(Head Mounted Display)システム、及びレーザープリンタなどを挙げることができる。
このようなビーム走査技術において、その技術が適用される応用例によって多様な走査速度及び走査範囲が性能の重要な因子となるが、特に、高い空間分解能が要求されるシステムにおいては、入射するビームの角変位を大きくすると共に、走査速度を向上させ得る走査ミラー装置が必要である。
従来の走査ミラー装置の一例として、回転するモータにポリゴン状のミラーが回転自在に装着されて数kHzの走査速度を向上させ得るポリゴンミラー装置がある。このようなポリゴンミラー装置は、光源から出射した入力光が複数のレンズからなる光学系を経て前記ポリゴンミラーにより前記ポリゴンミラーの回転方向に反射されるように構成される。
しかしながら、従来のポリゴンミラーを使用する走査装置においては、モータの回転速度に限界があるため、モータの回転速度に依存するポリゴンミラーの回転角速度にも限界が生じ、よって、走査速度の増加が困難であるという問題があった。
また、モータに走査ミラーが装着される構造により、全体システムのサイズが大きくなるという問題、モータの駆動に使用される電力の低減が困難であるという問題、モータの回転による機械的な摩擦騒音の問題、及び複雑な構造により生産コストが増加するという問題があった。
従って、最近、双方向走査が可能であり、全体システムのサイズが小さく、数十kHzに達する走査速度を実現し得るMEMS技術又は一般的なマイクロマシニング技術を用いて製作されるマイクロミラーが備えられた走査装置が多く開発されている。このような走査装置は、マイクロミラーがその両側に形成されたトーションビームを軸として、正逆に所定角度だけ回動することによって、反射光の経路が変更される。
しかしながら、このようなマイクロミラーが備えられた走査装置においては、マイクロミラーがその面積に比べて非常に薄く構成されるため、マイクロミラーが数十kHzの高速度で駆動されると、マイクロミラーのフラッタ(flutter)、いわゆる動的変形(dynamic deflection)現象が発生する。よって、マイクロミラーの反射面の形状及び反射光の特性が歪むという問題があった。
本発明は、このような従来技術の問題点を解決するためになされたもので、マイクロミラーの構造的安定性を向上させて、マイクロミラーの動的変形(フラッタ)を防止し、走査角度を大きくし、走査速度を向上させ得る走査装置を提供することを目的とする。
このような目的を達成するために、本発明による走査装置は、中心空間部及び該中心空間部の両側に配置された側空間部を有する基板と、前記中心空間部に配置され、支持フレームを有するミラー部であって、前記支持フレームは前記ミラー部の動的変形を防止するように前記ミラー部に形成されて前記ミラー部を支持するものである前記ミラー部と、前記ミラー部を前記基板に支持して前記ミラー部の回動軸となるように、両側の前記側空間部のそれぞれに配置される一対の弾性回転支持要素と、前記側空間部に備えられ、前記ミラー部が回動するように前記弾性回転支持要素を駆動する駆動部と、を含み、前記駆動部は、前記側空間部で前記弾性回転支持要素を中心に前記弾性回転支持要素の両側にそれぞれ配置され、前記弾性回転支持要素に隣接する前記ミラー部の端部から延長形成される可動電極と、静電気力により前記可動電極と相互作用するように前記側空間部で前記各可動電極に隣接して配置され、前記基板の一部分から延長形成される固定電極とを含み、前記支持フレームは、前記支持フレームの質量を減らすために前記支持フレームに形成された複数の凹部を有し、前記ミラー部の前記回動軸から両端部に行くに従って厚さが次第に減少するように形成されることを特徴とする。
本発明による走査装置においては、ミラー部の一面に支持フレームが形成されているため、ミラー部が回動軸を中心に回動するときに動的変形現象が発生することなく、安定した駆動が可能になると共に、ミラー部の回動角度を精密に調節し得るという効果がある。
また、支持フレームがミラー部の回動軸を中心に両側に対称になるように形成され、ミラー部の両端部に行くに従って質量が減るように形成されるため、回動時の慣性モーメントを減らすことができ、ミラー部の構造的安定性を達成することができると共に、ミラー部の作動の敏感度及びそれによる光学的性能を向上し得るという効果がある。
よって、従来のマイクロミラーが備えられた走査装置に比べて、構造的に安定しており、走査速度を向上させ走査範囲を広くすることができる。つまり、高性能走査システムの多様な応用が可能になる。
以下、本発明による走査装置及びその製作方法の好ましい実施形態を添付の図面を参照して説明する。
図1〜図5は、本発明による走査装置を示す。
図示のように、本発明による走査装置は、反射光の方向を調節できるように回動軸を中心に回動自在に基板に形成されたミラー部110(マイクロミラー部ともいう)と、ミラー部110の動的変形を防止するようにミラー部110の一面に形成されてミラー部110を支持する支持フレーム111と、前記基板に備えられてミラー部110を駆動させる駆動部とを含む。ここで、ミラー部110は、ミクロン単位の微細構造物である。
以下、本発明による走査装置の構成をより詳しく説明する。
前記基板は、上部基板100及び下部基板200が上下に積層するように結合されて構成される。上部基板100は、その内部の中心部にマイクロミラー部110を回動自在に設けることができるように第1中心空間部101が貫通形成され、マイクロミラー部110の両端部には、マイクロミラー部110を上部基板100に支持する1対の回動付勢部140(弾性回転支持要素、トーションビームともいう)が形成される。
マイクロミラー部110は、このようにその両端部が1対の回動付勢部140を介して上部基板100に連結されて、回動付勢部140を回動軸として正逆に所定角度だけ回動する。
ここで、マイクロミラー部110を上部基板100に連結する回動付勢部140としては、図示のトーションビームだけでなく、カンチレバー又は変形された多様な弾性構造物を適用することができる。
下部基板200は、電気的に分離された2つの電極固定部230で構成され、その中心部には、マイクロミラー部110の反射面115に入射する入射光と反射される反射光が通過する第2中心空間部201が、上部基板100の第1中心空間部101と対応するように貫通形成されている。即ち、マイクロミラー部110は、第1中心空間部101及び第2中心空間部201の内部に配置されて所定角度だけ回動自在になっている。
前記駆動部は、上部基板100に備えられた可動櫛形電極120と、下部基板200に備えられて静電気力により可動櫛形電極120と相互作用する固定櫛形電極220とから構成される。
また、上部基板100の内部両側には、トーションビーム140の軸方向に沿って第1中心空間部101と連通する第1側空間部102が貫通形成され、可動櫛形電極120は、トーションビーム140の左右側に配置されるようにマイクロミラー部110の両側から延長形成され、第1側空間部102でトーションビーム140を軸にマイクロミラー部110と共に所定角度だけ回動自在に構成される。
また、下部基板200の内部両側には、第1側空間部102と対応するように、第2中心空間部201と連通するように第2側空間部202が貫通形成され、固定櫛形電極220は、第2側空間部202の内側面に、トーションビーム140の軸方向に沿って可動櫛形電極120と交互に形成される。即ち、固定櫛形電極220は、2つの電極固定部230にそれぞれ形成されるため電気的に分離される。また、可動櫛形電極120及び固定櫛形電極220は、図示のように、前記基板の高さ方向に所定距離だけ離隔するように形成してもよく、所定部分が重なるように形成してもよい。
また、本実施形態では、マイクロミラー部110の駆動のための可動櫛形電極120及び固定櫛形電極220が、マイクロミラー部110を中心に両側にそれぞれ1対ずつ形成された構造を示しているが、設計によって、マイクロミラー部110の一側のみに形成することもできる。
一方、上部基板100及び下部基板200に外部の電源が接続されることによって、可動櫛形電極120及び固定櫛形電極220に電圧が印加される。ここで、上部基板100と下部基板200の間には、上部基板100と下部基板200との電気的な絶縁のために絶縁層210が形成される。
以下、マイクロミラー部110及びこれに形成された支持フレーム111について説明する。
支持フレーム111は、マイクロミラー部110の一面に、マイクロミラー部110の回動軸を中心に左右に鋸歯状を有し、複数の三角形状の突出部112と複数の三角形状の空間部113とが交互に周期的に形成されて構成され、その厚さは、支持フレーム111の面積と比較して非常に薄く形成される。また、支持フレーム111は、マイクロミラー部110が正確な角度で回動するように、マイクロミラー部110の回動軸を中心に左右に対称の構造を有しなければならない。さらに、支持フレーム111は、マイクロミラー部110が回動軸を中心に回動するときに発生する慣性モーメントを減少させるために、マイクロミラー部110の回動軸からその両端部に行くに従って質量が減るように構成される。
また、マイクロミラー部110の他面(第2中心空間部201に向く面)には、入力光を反射させるように、反射層115が均一な厚さの薄膜状に形成される。ここで、マイクロミラー部110の面積が支持フレーム111の面積より大きく形成されるため、マイクロミラー部110の反射層115が形成された面の面積は支持フレーム111の面積より大きくなるので、反射効率が向上する。
また、各突出部112には、支持フレーム111の質量を減らすために、複数の凹部114が形成される。このような凹部114は、設計によって、多様な形状に形成することができるが、六角形状に形成されて全体的にハニカム状をなすことが構造的安定性の面で好ましい。
ここで、各凹部114の全体体積は、支持フレーム111の体積と比較して大き過ぎないようにすることが、支持フレーム111の強度及びそれによるマイクロミラー部110の構造的安定性を向上させるために好ましい。なお、支持フレーム111の空隙率は、走査装置の設計によって変形可能である。
一方、支持フレーム111は、前述したような形状に限定されず、多様に変形することができる。
図8〜図11は、マイクロミラー部に形成される支持フレームの変形例を示し、説明の便宜のために、マイクロミラー部及び支持フレームは、前述の実施形態と同一の符号を付する。
図8に示す支持フレーム111は、マイクロミラー部110の一面に、上面が菱形の六面体状に形成される。ここで、支持フレーム111の対角の2頂点がトーションビーム140と接するように形成される。これは、マイクロミラー部110の回動軸を中心にその両端部に行くに従って質量が減る支持フレーム111の構造を得るためである。
また、図9に示す支持フレーム111は、図8に示す支持フレーム111の形状において、4側面が支持フレーム111の中心に対して湾曲線状に形成されたもので、支持フレーム111の質量を減らすことができる。
また、図10に示す支持フレーム111は、図1〜図5に示す支持フレーム111の形状において複数の凹部114が形成されていないものであり、図11に示すように、図1〜図5に示す支持フレーム111の形状に形成され、かつ、マイクロミラー部110の回動軸から両端部に行くに従って支持フレーム111の厚さが次第に減少するように形成することもできる。
このような支持フレーム111の形状の他にも、マイクロミラー部110の構造的安定性を向上させると共に、回動の慣性モーメント及び質量を減らすことができれば、いかなる形状でも可能である。
以下、このように構成された本発明による走査装置を、半導体の一貫生産工程及び微細加工技術、いわゆるMEMS技術により製作する方法について説明する。
図12〜図18は、本発明による走査装置の製作方法を各段階別に示している。図においては、便宜上、素子1つの製作について示しているが、実際の製作過程では、MEMS技術を利用してウェハレベルで複数の走査装置が同時に多量に製作される。
まず、図12に示すように、シリコン材質の下部基板200の上面及び下面に、後のエッチング工程でエッチングマスクとして使用される第1、第2及び第3エッチングマスク301、302、303をそれぞれ形成してパターニングする。ここで、第2エッチングマスク302は、下部基板200の材質であるシリコンとのエッチング選択比も高く、第1及び第3エッチングマスク301、303とのエッチング選択比も高い。さらに、第1エッチングマスク301は、後のウェハ接合工程に適した物質でなければならない。第1、第2及び第3エッチングマスク301、302、303としては、感光剤、金属、又はシリコン酸化物やシリコン窒化物のような絶縁物質からなる薄膜が使用される。
その後、図13に示すように、反応性イオンエッチング(Reactive Ion Etch;RIE)又はシリコンディープエッチング(silicon deep RIE)技術のような異方性形状の加工技術により、第1及び第2エッチングマスク301、302の2層が形成された下部基板200の上面を所定深さだけエッチングする。次に、第2エッチングマスク302を除去する。
その後、図14に示すように、前記エッチング工程が行われた下部基板200の上面に上部基板100を接合する。ここで、上部基板100には、後にマイクロミラー部110及びトーションビーム140のような構造物が形成されるため、上部基板100は、所定厚さに加工しなければならない。また、上部基板100は、所定厚さを有するように加工した後に接合することもでき、接合後に所定厚さに加工することもできる。このような上部基板100と下部基板200との接合は、融接(fusion bonding)、陽極接合(anodic bonding)、共晶接合(eutectic bonding)、及びフリット接合(frit bonding)のような既に知られている様々な接合工程、又は接着剤を使用した接合工程など、多様な方法により行うことができる。
上部基板100及び下部基板200の接合工程後、図15に示すように、上部基板100に第4エッチングマスク401を形成し、後のエッチング工程により上部基板100上に可動櫛形電極120及びマイクロミラー部110の支持フレーム111を形成できるようにパターニングする。次に、パターニングされた第4エッチングマスク401上のマイクロミラー部110が形成される部分に所定面積だけ第5エッチングマスク402を形成してパターニングする。ここで、第5エッチングマスク402は、上部基板100及び下部基板200の材質であるシリコンとのエッチング選択比も、第4エッチングマスク401とのエッチング選択比も、上部基板100と下部基板200との接合面の物質とのエッチング選択比も高くなければならない。次に、第3エッチングマスク303がパターニングされた下部基板200面を所定深さだけ異方性エッチングして、第2中心空間部201及び第2側空間部202を形成する。
その後、図16に示すように、第4及び5エッチングマスク401、402がパターニングされた上部基板100面を、所定深さだけエッチングする。このとき、マイクロミラー部110が形成される部分は、第5エッチングマスク402によりマスクされてエッチングされず、可動櫛形電極120が形成される部分のみが、所定深さだけエッチングされる。そのエッチングされた深さだけマイクロミラー部110の厚さが確保される。
その後、図17に示すように、第5エッチングマスク402を除去し、第4エッチングマスク401を使用して上部基板100を所定深さだけ異方性エッチングして、マイクロミラー部110が所定厚さを有するようにすると共に、マイクロミラー部110に支持フレーム111を形成する。
その後、図18に示すように、第4エッチングマスク401を除去し、走査装置のフレームになる上部基板100及び下部基板200の外郭部分を除いた内部の接合面をエッチングして、可動櫛形電極120及びマイクロミラー部110を浮かせ、マイクロミラー部110の下面に反射層115を形成する。
上部基板100及び下部基板200は、マイクロミラー部110を駆動するための電圧の印加のために、絶縁層210により電気的に分離された構造であり、このような構造を形成するために、前述の製作方法のように2枚の基板を接合して製作することもでき、SOI(Silicon-0n-Insulator)基板を使用して製作することもできる。
以上、静電気力を駆動源とする走査装置について説明したが、設計及びその製作によって、駆動源として電磁気力を用いるような他の応用も可能である。
また、図には示していないが、前述したような構造を有する走査装置をM個の行とN個の列で複数個配列して構成することもできる。
以下、このように構成されて製作される本発明による走査装置の動作について説明する。
図6及び図7は、本発明による走査装置の動作を示す断面図である。
図示のように、前述したような本発明による走査装置の駆動のために、下部基板200の両電極固定部230を介して、固定櫛形電極220と可動櫛形電極120の間に電圧を印加する。即ち、図6に示す初期状態で、可動櫛形電極120と固定櫛形電極220の間に電位差が発生して、静電気力が発生する。このとき、トーションビーム140の回動軸を中心に両側に形成された固定櫛形電極220に電圧を順次印加すると、マイクロミラー部110が回動軸を中心に所定角度だけ正逆に回動する。よって、図7に示すように、入射光に対する反射光の方向が駆動前の方向L1から駆動後の方向L2に変調されて、走査機能が実現される。
一方、可動櫛形電極120及び固定櫛形電極220を回動軸であるトーションビーム140の一側のみに形成した場合も、電圧を印加した後に除去すると、トーションビーム140の復元力によりマイクロミラー部110が逆方向に駆動されるため、双方向駆動が実現可能である。
また、マイクロミラー部110の一面に、前述したように構成された支持フレーム111が形成されているため、マイクロミラー部110が回動軸を中心に正逆に回動するときに、マイクロミラー部110の動的変形(フラッタ)が発生することなく、構造的に安定して回動する。
本発明による走査装置を示す斜視図である。 図1の走査装置の底面を示す斜視図である。 図1の走査装置を示す分解斜視図である。 図1の走査装置を示す平面図である。 図4のV−V線断面図である。 図1のマイクロミラー部の動作を示す縦断面図である。 図1のマイクロミラー部の動作を示す縦断面図である。 本発明によるマイクロミラー部の変形例を示す斜視図である。 本発明によるマイクロミラー部の変形例を示す斜視図である。 本発明によるマイクロミラー部の変形例を示す斜視図である。 本発明によるマイクロミラー部の変形例を示す斜視図である。 図1の走査装置の製作過程を示す工程図である。 図1の走査装置の製作過程を示す工程図である。 図1の走査装置の製作過程を示す工程図である。 図1の走査装置の製作過程を示す工程図である。 図1の走査装置の製作過程を示す工程図である。 図1の走査装置の製作過程を示す工程図である。 図1の走査装置の製作過程を示す工程図である。
符号の説明
100 上部基板
101 第1中心空間部
102 第1側空間部
110 ミラー部
111 支持フレーム
112 突出部
113 空間部
114 凹部
115 反射層
120 可動櫛形電極
140 回動付勢部
200 下部基板
201 第2中心空間部
202 第2側空間部
210 絶縁層
220 固定櫛形電極
230 電極固定部

Claims (15)

  1. 中心空間部及び該中心空間部の両側に配置された側空間部を有する基板と、
    前記中心空間部に配置され、支持フレームを有するミラー部であって、前記支持フレームは前記ミラー部の動的変形を防止するように前記ミラー部に形成されて前記ミラー部を支持するものである前記ミラー部と、
    前記ミラー部を前記基板に支持して前記ミラー部の回動軸となるように、両側の前記側空間部のそれぞれに配置される一対の弾性回転支持要素と、
    前記側空間部に備えられ、前記ミラー部が回動するように前記弾性回転支持要素を駆動する駆動部と、を含み、
    前記駆動部は、前記側空間部で前記弾性回転支持要素を中心に前記弾性回転支持要素の両側にそれぞれ配置され、前記弾性回転支持要素に隣接する前記ミラー部の端部から延長形成される可動電極と、静電気力により前記可動電極と相互作用するように前記側空間部で前記各可動電極に隣接して配置され、前記基板の一部分から延長形成される固定電極とを含み、
    前記支持フレームは、前記支持フレームの質量を減らすために前記支持フレームに形成された複数の凹部を有し、前記ミラー部の前記回動軸から両端部に行くに従って厚さが次第に減少するように形成されることを特徴とする走査装置。
  2. 前記支持フレームは、前記ミラー部の前記回動軸を中心に対称になるように形成されることを特徴とする請求項1に記載の走査装置。
  3. 前記支持フレームは、前記ミラー部の前記回動軸から前記支持フレームの両端部に行くに従って質量が減ることを特徴とする請求項1に記載の走査装置。
  4. 前記複数の凹部は、前記ミラー部の回動軸を中心に対称になるように形成されることを特徴とする請求項1に記載の走査装置。
  5. 前記複数の凹部は、それぞれ六角形状に形成され、ハニカム状に集まっていることを特徴とする請求項1に記載の走査装置。
  6. 前記ミラー部の面積は、前記支持フレームの面積より大きいことを特徴とする請求項1に記載の走査装置。
  7. 前記支持フレームは、前記ミラー部の前記回動軸を中心に左右に鋸歯状を有し、複数の三角形状の突出部と複数の三角形状の空間部とが交互に周期的に形成されることを特徴とする請求項1に記載の走査装置。
  8. 前記支持フレームは、上面が菱形の六面体状に形成され、その対角の2頂点が前記ミラー部の前記回動軸に位置するように構成されることを特徴とする請求項1に記載の走査装置。
  9. 前記支持フレームの4側面が、前記支持フレームの中心に対して湾曲線状に形成されることを特徴とする請求項8に記載の走査装置。
  10. 前記弾性回転支持要素は、トーションビームであることを特徴とする請求項1に記載の走査装置。
  11. 前記可動電極及び前記固定電極は、櫛形に形成されることを特徴とする請求項1に記載の走査装置。
  12. 前記可動電極及び固定電極は、前記ミラー部を中心に前記ミラー部の両側に配置されることを特徴とする請求項1に記載の走査装置。
  13. 前記可動電極及び固定電極は、前記回動軸の両側に配置されることを特徴とする請求項1に記載の走査装置。
  14. 前記可動電極及び固定電極は、前記基板の高さ方向に所定部分が重なるように構成されることを特徴とする請求項11に記載の走査装置。
  15. 行列形に配列された複数の走査装置を含んでおり、それぞれの前記走査装置は、
    中心空間部及び該中心空間部の両側に配置された側空間部を有する基板と、
    前記中心空間部に配置され、支持フレームを有するミラー部であって、前記支持フレームは前記ミラー部の動的変形を防止するように前記ミラー部に形成されて前記ミラー部を支持するものである前記ミラー部と、
    前記ミラー部を前記基板に支持して前記ミラー部の回動軸となるように、両側の前記側空間部のそれぞれに配置される一対の弾性回転支持要素と、
    前記側空間部に備えられ、前記ミラー部が回動するように前記弾性回転支持要素を駆動する駆動部と、を含み、
    前記駆動部は、前記側空間部で前記弾性回転支持要素を中心に前記弾性回転支持要素の両側にそれぞれ配置され、前記弾性回転支持要素に隣接する前記ミラー部の端部から延長形成される可動電極と、静電気力により前記可動電極と相互作用するように前記側空間部で前記各可動電極に隣接して配置され、前記基板の一部分から延長形成される固定電極とを含み、
    前記支持フレームは、前記ミラー部の前記回動軸を中心に左右に鋸歯状を有し、複数の三角形の突出部と複数の三角形状の空間部とが交互に周期的に形成され、前記突出部は、複数の凹部を有し、前記ミラー部の前記回動軸から両端部に行くに従って厚さが次第に減少するように形成されることを特徴とする走査装置アレイ。
JP2005235894A 2004-08-18 2005-08-16 走査装置及びその製作方法 Expired - Fee Related JP4771059B2 (ja)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020040065152A KR100636348B1 (ko) 2004-08-18 2004-08-18 스캐닝 마이크로미러
KR10-2004-0065152 2004-08-18
KR10-2004-0067176 2004-08-25
KR1020040067176A KR100619696B1 (ko) 2004-08-25 2004-08-25 정전력 구동 스캐닝 마이크로 미러와 그 제조방법 및 이를 이용한 광 스캐닝 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006079078A JP2006079078A (ja) 2006-03-23
JP4771059B2 true JP4771059B2 (ja) 2011-09-14

Family

ID=36158543

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005235894A Expired - Fee Related JP4771059B2 (ja) 2004-08-18 2005-08-16 走査装置及びその製作方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7453617B2 (ja)
EP (1) EP1640781A3 (ja)
JP (1) JP4771059B2 (ja)
TW (1) TWI287393B (ja)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100644896B1 (ko) * 2005-01-19 2006-11-14 엘지전자 주식회사 전자력 구동 스캐닝 마이크로미러 및 이를 사용한광스캐닝 장치
JP2009003429A (ja) * 2007-05-18 2009-01-08 Panasonic Corp アクチュエータ
DE102007033001A1 (de) * 2007-07-16 2009-01-22 Robert Bosch Gmbh Mikromechanisches Bauelement und Verfahren zum Betrieb eines mikromechanischen Bauelements
JP5458837B2 (ja) * 2009-03-16 2014-04-02 株式会社リコー 光走査装置
JP5267370B2 (ja) 2009-07-23 2013-08-21 ブラザー工業株式会社 光スキャナ
JP6023687B2 (ja) * 2013-10-30 2016-11-09 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 光走査装置、該光走査装置を備えた画像形成装置、及び光走査装置における振動ミラー部の共振周波数の調整方法
JP6281399B2 (ja) * 2014-04-22 2018-02-21 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 光走査装置及びそれを備えた画像形成装置
DE102019210020A1 (de) * 2019-07-08 2021-01-14 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Mems-aktuator-element und mems-aktuator-array mit einer mehrzahl von mems-aktuator-elementen
DE102019216154A1 (de) * 2019-10-21 2021-04-22 Robert Bosch Gmbh Mikromechanisches Schwingungssystem
US11668925B2 (en) * 2020-03-25 2023-06-06 Compertum Microsystems Inc. MEMS micro-mirror device with stopper and method of making same

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63261319A (ja) * 1987-04-20 1988-10-28 Fuji Photo Film Co Ltd ミラ−振動型光偏向器
DE4224599C2 (de) * 1992-07-23 2000-09-21 Contec Ges Fuer Ind Elektronik Elektrostatische Ablenkeinheit
JPH07287184A (ja) * 1994-04-19 1995-10-31 Fuji Photo Film Co Ltd 共振型光偏向器
JP3560709B2 (ja) * 1995-11-24 2004-09-02 株式会社東芝 ガルバノミラーおよびこれを用いた光ディスク装置
US6295154B1 (en) * 1998-06-05 2001-09-25 Texas Instruments Incorporated Optical switching apparatus
JP3531554B2 (ja) * 1999-10-21 2004-05-31 松下電器産業株式会社 光学ミラーと光学スキャナーおよびレーザ加工機
JP2001264672A (ja) * 2000-03-15 2001-09-26 Olympus Optical Co Ltd 光偏光素子および光偏光素子の製造方法
JP4602542B2 (ja) * 2000-12-18 2010-12-22 オリンパス株式会社 光偏向器用のミラー揺動体
JP2002365583A (ja) * 2001-06-05 2002-12-18 Fuji Photo Optical Co Ltd 光ビーム走査装置用反射ミラー及びその製造方法
JP3740444B2 (ja) * 2001-07-11 2006-02-01 キヤノン株式会社 光偏向器、それを用いた光学機器、ねじれ揺動体
EP1275897A1 (en) 2001-07-14 2003-01-15 All-Line Inc. Night-light with changeable color light
KR100469062B1 (ko) 2002-08-13 2005-02-02 한국전자통신연구원 광통신용 주사 미세거울 및 그 제조 방법
EP1563333A1 (en) * 2002-11-22 2005-08-17 Advanced Nano Systems Mems scanning mirror with tunable natural frequency
JP4099135B2 (ja) * 2003-10-31 2008-06-11 三菱電機株式会社 反射ミラーの製造方法
US7529011B2 (en) * 2004-04-12 2009-05-05 Ricoh Company, Ltd. Deflector mirror with regions of different flexural rigidity
JP4471271B2 (ja) * 2004-04-12 2010-06-02 株式会社リコー 偏向ミラー
JP4416117B2 (ja) * 2004-04-19 2010-02-17 株式会社リコー 偏向ミラー、光走査装置及び画像形成装置

Also Published As

Publication number Publication date
US7453617B2 (en) 2008-11-18
US20060039060A1 (en) 2006-02-23
TWI287393B (en) 2007-09-21
TW200608768A (en) 2006-03-01
JP2006079078A (ja) 2006-03-23
EP1640781A3 (en) 2006-09-27
EP1640781A2 (en) 2006-03-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4771059B2 (ja) 走査装置及びその製作方法
JP4457093B2 (ja) マイクロミラーデバイス及びそのアレイ
JP3335698B2 (ja) 光方向ぎめ構造及びビーム方向ぎめ装置を作る方法
US7079299B1 (en) Staggered torsional electrostatic combdrive and method of forming same
KR100531547B1 (ko) 마이크로구조체 및 그의 제조방법
US7453182B2 (en) Micro oscillating element
US7719163B2 (en) Actuator having fixed and movable comb electrodes
JP2003131161A (ja) 光偏向器及びその製造方法、それを用いた光学機器そしてねじれ揺動体
JP5757034B2 (ja) マイクロスキャナ
JP6390508B2 (ja) 光走査装置
JP5049904B2 (ja) 可動構造体及びそれを用いた光走査ミラー
CN100380172C (zh) 电磁扫描微镜以及使用其的光学扫描装置
JP2005266566A (ja) 偏向ミラー、偏向ミラー製造方法、光書込装置及び画像形成装置
JP2002321196A (ja) マイクロ構造体、マイクロ力学量センサ、マイクロアクチュエータ、マイクロ光偏向器、光走査型ディスプレイ、及びそれらの製造方法
JP2007196376A (ja) 揺動体を含む構造体の製造方法
KR20060124079A (ko) 스캐닝 마이크로미러 및 전자력 구동 2축 스캐닝마이크로미러 디바이스
JP4285005B2 (ja) 三次元構造体およびその製造方法、並びに電子機器
JP2004341364A (ja) 振動ミラーとその製造方法、光走査モジュール、光書込装置、画像形成装置
JP2006201520A (ja) Memsミラースキャナ
JP2001311900A (ja) 光走査装置
JP3846359B2 (ja) 光デバイス
JP5353761B2 (ja) 光偏向器の製造方法
JP2006167860A (ja) アクチュエータ
JP2006340531A (ja) アクチュエータ
KR20060018683A (ko) 정전력 구동 스캐닝 마이크로미러 및 그 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080807

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100602

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100831

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100915

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101214

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110112

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110411

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110511

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110607

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140701

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4771059

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees