JP4769509B2 - 半導体装置 - Google Patents
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A predictive reliability model for PMOS bias temperature degradation Mahapatra, S.†† Alam, M.A.†† Electron Devices Meeting, 2002. IEDM '02. Digest. International Publication Date:†2002 On page(s): 505-508
また、前記第1の半導体集積回路が、トライステートバッファに構成されている。
図1ないし図5を参照して、本発明の実施の形態1の半導体装置を説明する。
図1および図6ないし図8を参照して、本発明の実施の形態2の半導体装置を説明する。
図1および図9を参照して、本発明の実施の形態3の半導体装置を説明する。
図10ないし図13を参照して、本発明の実施の形態4の半導体装置を説明する。
図14を参照して、本発明の実施の形態5の半導体装置を説明する。
図15を参照して、本発明の実施の形態6の半導体装置を説明する。
11 第1の半導体集積回路
11a 基板電位生成回路
11b トライステートバッファ
11c ダイナミック回路
12 第2の半導体集積回路
12a 特性モニタ回路
12b プルアップ回路
12c キーパー回路
13 パルス発生回路
14 接続回路
14a サンプルホールド回路
21 定電流源
22 比較器
31 差動回路
32 出力バッファ回路
BN 基板出力ポート
Claims (5)
- 所定の機能を有して所要の出力信号を出力する第1の半導体集積回路と、
タイミングをずらした複数のゲート信号に応じて互いに独立に導通状態・非導通状態が切り替わる複数のMOS素子を有して、前記複数のMOS素子が前記第1の半導体集積回路の出力または入力に対して並列接続された第2の半導体集積回路と、
を備え、
前記第2の半導体集積回路が、プルアップ回路に構成されている半導体装置。 - 前記第1の半導体集積回路が、トライステートバッファに構成されている請求項1に記載の半導体装置。
- 前記第2の半導体集積回路における前記複数のMOS素子に対して、タイミングをずらした複数のゲート信号を生成出力するパルス発生回路を、さらに備えた請求項1に記載の半導体装置。
- 前記複数のゲート信号は、同一の周波数で異なる位相を持つ信号であって、かつその合計電圧が単位時間当たりほぼ一定である請求項1に記載の半導体装置。
- 前記複数のゲート信号は、遷移確率が互いに等しい請求項1に記載の半導体装置。
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