JP4758616B2 - リニアイメージセンサ - Google Patents
リニアイメージセンサ Download PDFInfo
- Publication number
- JP4758616B2 JP4758616B2 JP2004117962A JP2004117962A JP4758616B2 JP 4758616 B2 JP4758616 B2 JP 4758616B2 JP 2004117962 A JP2004117962 A JP 2004117962A JP 2004117962 A JP2004117962 A JP 2004117962A JP 4758616 B2 JP4758616 B2 JP 4758616B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- shutter
- linear image
- image sensor
- light receiving
- gate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 10
- 230000006870 function Effects 0.000 description 9
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 9
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 8
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 6
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 4
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000003491 array Methods 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 206010063602 Exposure to noise Diseases 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/50—Control of the SSIS exposure
- H04N25/53—Control of the integration time
- H04N25/533—Control of the integration time by using differing integration times for different sensor regions
- H04N25/534—Control of the integration time by using differing integration times for different sensor regions depending on the spectral component
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14601—Structural or functional details thereof
- H01L27/1462—Coatings
- H01L27/14621—Colour filter arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/148—Charge coupled imagers
- H01L27/14825—Linear CCD imagers
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/701—Line sensors
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Facsimile Heads (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Description
以下図面を用いて本発明の実施の形態1に関するリニアイメージセンサについて詳細に説明する。図1は、実施の形態1の1列のリニアイメージセンサ100の上面図を示す。図2は、図1におけるリニアイメージセンサ100のA-A’線の断面図を示す。図3は、図1に示すリニアイメージセンサ100を図面上下方向に3列並列に配置し、カラーリニアイメージセンサとした構成の上面図を示す。図3から分かるように、このカラーリニアイメージセンサは同一構成のリニアイメージセンサ100が並列に並べられた構成となっている。
シャッターゲート3bに供給されるシャッター信号φSTbと読み出しゲート2bに供給される読み出し信号φTGbが共にLOWレベルのとき(図5のt1b期間)、GREENの信号電荷が蓄積される。同様にRED、BLUEに相当するリニアイメージセンサ100a、100cでもパルスφSTcとパルスφTGc、パルスφSTaとφTGaが共にLOWレベルのとき(図2のt1cおよびt1a期間)BLUE、REDの信号電荷が蓄積される。
読み出し信号φTGbがLOWレベルのままで、シャッター信号φSTbがHIGHレベルのとき(図2のt2b期間)、受光素子1bとシャッタードレイン4bが導通状態となる。よって受光素子1b内の信号電荷Qbがシャッタードレイン4bに排出され、受光素子部1bの電荷はゼロになる。なおこのとき、図1で左から奇数番目の受光素子に蓄積された電荷は、図1の下側のシャッタードレインに電荷を排出する。図1で左から偶数番目の受光素子に蓄積された電荷は図1の上側のシャッタードレインに電荷を排出する。(図1の矢印を参照)
そして、シャッター信号φSTbがLOWレベルの状態で、読み出し信号φTGbがHIGHレベルになると(図5のt4b期間)GREENの信号電荷Qbが読み出しゲート2bを経由してリニアイメージセンサ100bの第2の電荷転送部5bbに送られる。なおこのとき、図1で左から奇数番目の受光素子に蓄積された電荷は、図1の上側の電荷転送部5abに信号電荷を転送する。その後、第2の電荷転送部5bbから第2の出力回路6bbを通って外部に出力される。この出力される信号は図5にVsigBで示されている。同様に、シャッター信号φSTaとφSTcがLOWレベルで、読み出し信号φTGaとφTGcがHIGHレベルになると、BLUEとREDの信号電荷Qa、Qcがそれぞれの電荷転送部から出力回路を介して出力される。
C=10600×12×(M+1) ビット ・・・(1)
となる。ここでMは2つの受光素子列のライン間距離を走査回数で表したものである。
ライン間距離=20+8+2+10=40μm
となる。
ライン間距離=20+4+4+10+4+2+10=54μm
となる。
ライン間距離=20+16+2+10=48μm
となる。
YA= M × Y …(2)
となる。ここでMは2つの受光素子列のライン間距離を走査回数で表したものである。
以下、図面を参照して実施の形態2について説明する。図6は実施の形態2を示す上面図である。実施の形態2の特徴は、実施の形態1に詳述した図1に示されるリニアイメージセンサ100と受光素子列の一方側に第1、第2の電荷転送部を並列に設ける構造のリニアイメージセンサ700との配置を工夫することにより、各受光素子間のライン間距離を小さくしている点にある。
ライン間距離=10+8+4+4+2+10=38μm
となる。
2 読み出しゲート
3 シャッターゲート
4 シャッタードレイン
5a、5b 電荷転送部
6a、6b 出力回路
100 リニアイメージセンサ
110a、110b ゲート・シャッター列
700 リニアイメージセンサ
Claims (3)
- 読み出しゲートおよびシャッター構造部が交互に複数配置された第1のゲート・シャッター列と、前記第1のゲート・シャッター列とは異なる順番で前記読み出しゲートおよび前記シャッター構造部が交互に配置された第2のゲート・シャッター列と、前記第1および第2のゲート・シャッター列の間に配置され、複数の受光素子が列状に配置された受光素子列と、前記第1のゲート・シャッター列の前記読み出しゲートを介して読み出された信号電荷を転送する第1の電荷転送部と、前記第2のゲート・シャッター列の前記読み出しゲートを介して読み出された信号電荷を転送する第2の電荷転送部とを有する第1のリニアイメージセンサと、
複数の受光素子が列状に配置された受光素子列と、前記受光素子列の一方側に並列に配置された第3の電荷転送部および第4の電荷転送部と、前記受光素子列の他方側の前記第1のリニアイメージセンサ側にシャッター構造部を有する第2のリニアイメージセンサとを有するカラーリニアイメージセンサ。 - 前記カラーリニアイメージセンサは、複数の受光素子が列状に配置された受光素子列と、前記受光素子列の一方側に並列に配置された第5の電荷転送部および第6の電荷転送部と、前記受光素子列の他方側の前記第1のリニアイメージセンサ側にシャッター構造部を有する第3のリニアイメージセンサを有することを特徴とする請求項1記載のカラーリニアイメージセンサ。
- 前記第1のリニアイメージセンサのシャッター構造部は第1のシャッター信号に応じて制御され、前記第2のリニアイメージセンサのシャッター構造部は第2のシャッター信号に応じて制御され、前記第3のリニアイメージセンサのシャッター構造部は第3のシャッター信号に応じて制御されることを特徴とする請求項2記載のカラーリニアイメージセンサ。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004117962A JP4758616B2 (ja) | 2004-04-13 | 2004-04-13 | リニアイメージセンサ |
US11/094,230 US7436450B2 (en) | 2004-04-13 | 2005-03-31 | Linear image sensor |
TW094111551A TWI258859B (en) | 2004-04-13 | 2005-04-12 | Linear image sensor |
CNB2005100649855A CN100413083C (zh) | 2004-04-13 | 2005-04-13 | 线性图像传感器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004117962A JP4758616B2 (ja) | 2004-04-13 | 2004-04-13 | リニアイメージセンサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005303059A JP2005303059A (ja) | 2005-10-27 |
JP4758616B2 true JP4758616B2 (ja) | 2011-08-31 |
Family
ID=35060150
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004117962A Expired - Fee Related JP4758616B2 (ja) | 2004-04-13 | 2004-04-13 | リニアイメージセンサ |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7436450B2 (ja) |
JP (1) | JP4758616B2 (ja) |
CN (1) | CN100413083C (ja) |
TW (1) | TWI258859B (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8106988B2 (en) | 2007-09-06 | 2012-01-31 | Renesas Electronics Corporation | Solid imaging device |
JP5178364B2 (ja) * | 2007-09-06 | 2013-04-10 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 固体撮像素子、及び固体撮像装置 |
JP7159090B2 (ja) * | 2019-03-20 | 2022-10-24 | 株式会社東芝 | 固体撮像装置及び固体撮像装置の制御方法 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5432089A (en) * | 1977-08-15 | 1979-03-09 | Matsushita Electronics Corp | Solid syate pickup device |
DE2813254C2 (de) * | 1978-03-28 | 1979-12-06 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Eindimensionaler CCD-Sensor mit Überlaufvorrichtung |
JPS5586273A (en) * | 1978-12-22 | 1980-06-28 | Fujitsu Ltd | Solid-state pickup unit |
JPS5634275A (en) * | 1979-08-28 | 1981-04-06 | Fujitsu Ltd | Photo line sensor |
JPS60120557A (ja) * | 1983-12-02 | 1985-06-28 | Oki Electric Ind Co Ltd | アンチブル−ミング構造を有する固体撮像装置 |
JP3257802B2 (ja) * | 1991-05-30 | 2002-02-18 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置及び固体撮像素子の駆動方法 |
EP0663763B1 (en) * | 1993-12-20 | 2001-02-14 | Eastman Kodak Company | CCD image sensor having reduced photodiode-to-photodiode crosstalk |
JP3450413B2 (ja) * | 1994-03-29 | 2003-09-22 | 株式会社東芝 | 固体撮像装置 |
JPH09147110A (ja) * | 1995-11-21 | 1997-06-06 | Fujitsu Denso Ltd | 指紋照合方法 |
JPH09205520A (ja) | 1995-11-21 | 1997-08-05 | Sony Corp | 3ラインリニアセンサ |
JPH09162381A (ja) * | 1995-12-05 | 1997-06-20 | Sony Corp | リニアセンサ |
JP3637707B2 (ja) * | 1996-12-10 | 2005-04-13 | ソニー株式会社 | 固体撮像素子及びその駆動方法 |
JP3141940B2 (ja) * | 1998-05-08 | 2001-03-07 | 日本電気株式会社 | カラーリニアイメージセンサ |
JP4665276B2 (ja) * | 1999-11-08 | 2011-04-06 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置及びその駆動方法 |
JP2003060843A (ja) * | 2001-08-20 | 2003-02-28 | Sony Corp | リニアイメージセンサー |
-
2004
- 2004-04-13 JP JP2004117962A patent/JP4758616B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2005
- 2005-03-31 US US11/094,230 patent/US7436450B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2005-04-12 TW TW094111551A patent/TWI258859B/zh not_active IP Right Cessation
- 2005-04-13 CN CNB2005100649855A patent/CN100413083C/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN100413083C (zh) | 2008-08-20 |
TWI258859B (en) | 2006-07-21 |
US7436450B2 (en) | 2008-10-14 |
JP2005303059A (ja) | 2005-10-27 |
TW200603396A (en) | 2006-01-16 |
CN1684270A (zh) | 2005-10-19 |
US20050225663A1 (en) | 2005-10-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6894812B1 (en) | Photosensor assembly with shared structures | |
JP4455435B2 (ja) | 固体撮像装置及び同固体撮像装置を用いたカメラ | |
KR101497715B1 (ko) | 고체 촬상 장치 및 카메라 | |
US20050225655A1 (en) | Solid-state color image pickup apparatus with a wide dynamic range, and digital camera on which the solid-state image pickup apparatus is mounted | |
US20060231739A1 (en) | Pattern layout of CMOS image sensor | |
EP1331670A2 (en) | Solid state image pickup device with two photosensitive fields per one pixel | |
US6541805B1 (en) | Solid-state image pickup device | |
US7196303B2 (en) | CCD image sensor | |
US20070045669A1 (en) | Image sensor | |
US7436450B2 (en) | Linear image sensor | |
JPH09321938A (ja) | カラーリニアイメージセンサおよびその駆動方法 | |
JP4587642B2 (ja) | リニアイメージセンサ | |
JP4637033B2 (ja) | 出力2分岐型固体撮像素子及び撮像装置 | |
JP4759444B2 (ja) | Ccd型固体撮像素子の駆動方法、固体撮像装置 | |
JP2013070180A (ja) | 固体撮像素子および固体撮像装置 | |
JP5655783B2 (ja) | 画像読取装置 | |
JP2001244448A (ja) | リニアイメージセンサおよびその使用方法 | |
JP2004214363A (ja) | 固体撮像素子及びデジタルカメラ | |
JPH08279608A (ja) | 電荷転送素子及び電荷転送素子の駆動方法 | |
JPH09205520A (ja) | 3ラインリニアセンサ | |
JP4568239B2 (ja) | 光電変換素子アレイ及び固体撮像装置 | |
JP3367852B2 (ja) | 固体撮像装置 | |
JPH06268923A (ja) | 固体撮像装置の駆動方法 | |
JP2002289828A (ja) | カラー撮像装置 | |
JP2770367B2 (ja) | 固体撮像素子の駆動方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070308 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100215 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100316 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100428 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110412 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110511 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110531 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110603 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140610 Year of fee payment: 3 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |