JP4568239B2 - 光電変換素子アレイ及び固体撮像装置 - Google Patents

光電変換素子アレイ及び固体撮像装置 Download PDF

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本発明は、列状に配置形成される光電変換素子に関する。
イメージスキャナ、カメラ、或いはFAXなどのセンサ部には光を電荷に変換する光電変換素子が多用されている。光電変換素子には、一般的にフォトダイオードが用いられる。光電変換素子は、例えば、シリコン基板からなる半導体基板表面に、所定の解像度や感度に対応するように形状を変化及び最適化させ、多数配置形成される。
近年、イメージスキャナなどの分野では、従来の単一の解像度での画像データ処理から高解像度乃至低解像度での画像データ処理対応要求が増加している。高解像度乃至低解像度に対応する光電変換素子は、一般的に解像度にあわせて同一ピッチで列状に配置形成される(例えば、特許文献1参照。)。
高解像度要求から、解像度が、例えば、12bit(4096階調)になった場合、光電変換素子列の数が4096個と増大し光電変換素子のピッチが狭くなり、高解像度に対応する光電変換素子と低解像度に対応する光電変換素子の間で飽和電荷出力比に差が発生し、画素電位が異なるという問題点がある。
同一画素電位にするために、高解像度に対応する光電変換素子としてのフォトダイオードを低解像度に対応する光電変換素子としてのフォトダイオードよりも深く形成すると製造工程が増加するという問題点がある。更に、フォトダイオードの接合深さが深くなり、画素電位が深くなると白キズ等のバルク欠陥の影響を受ける可能性がある。
特開2002−165064号公報(頁10、図1)
本発明は、高解像度乃至低解像度において、飽和電荷出力比を一定にできる光電変換素子アレイ及び固体撮像装置を提供することにある。
上記目的を達成するために、本発明の一態様の光電変換素子アレイは、スペースβで互いに離間され、電荷読み出し方向に対して垂直方向にピッチαで列状に配置形成される矩形状の第1の光電変換素子と、前記第1の光電変換素子と同一幅で、並列して設けられる矩形状のm個(ただし、mは2以上の整数)のフィンガー部と、電荷読み出し方向側に設けられ、幅がスペースβで、前記フィンガー部間を連結する(m−1)個の連結部とを有し、スペースβで互いに離間され、電荷読み出し方向に対して垂直方向にピッチmαで列状に配置形成される第2の光電変換素子とを具備することを特徴とする。
更に、上記目的を達成するために、本発明の一態様の固体撮像装置は、矩形状の第1の光電変換素子がスペースβで互いに離間され、電荷読み出し方向に対して垂直方向にピッチαで列状に配置形成される第1の光電変換素子アレイと、前記第1の光電変換素子の電荷読み出し方向側に隣接配置され、前記第1の光電変換素子から出力される信号電荷を転送する第1のシフトゲートと、前記第1のシフトゲートの信号電荷転送側に隣接配置され、前記第1のシフトゲートから転送される信号電荷を転送する第1のCCDシフトレジスタと、前記第1のCCDシフトレジスタから転送される信号電荷を画素ごとに読み出す第1のアンプとを有する第1のセンサ部と、前記第1の光電変換素子と同一幅で、並列して設けられる矩形状のm個(ただし、mは2以上の整数)のフィンガー部、及び電荷読み出し方向側に設けられ、幅がスペースβで、前記フィンガー部間を連結する(m−1)個の連結部から構成される第2の光電変換素子が、スペースβで互いに離間され、電荷読み出し方向に対して垂直方向にピッチmαで列状に配置形成される第2の光電変換素子アレイと、前記第2の光電変換素子の電荷読み出し方向側に隣接配置され、前記第2の光電変換素子から出力される信号電荷を転送する第2のシフトゲートと、前記第2のシフトゲートの信号電荷転送側に隣接配置され、前記第2のシフトゲートから転送される信号電荷を転送する第2のCCDシフトレジスタと、前記第2のCCDシフトレジスタから転送される信号電荷を画素ごとに読み出す第2のアンプとを有する第2のセンサ部とを具備することを特徴とする。
本発明によれば、高解像度乃至低解像度において、飽和電荷出力比を一定にできる光電変換素子アレイ及び固体撮像装置を提供することができる。
以下本発明の実施例について図面を参照しながら説明する。
まず、本発明の実施例1に係る光電変換素子アレイについて、図面を参照して説明する。図1は光電変換素子アレイを示す平面図、図2は従来の光電変換素子アレイを示す平面図である。本実施例では、低解像度に対応する光電変換素子をマルチフィンガー形状にしている。
図1に示すように、光電変換素子アレイを構成する光電変換素子は、要求される解像度に合わせてその形状を変化させている。ここで、光電変換素子はシリコンフォトダイオードからなり、イメージスキャナ、カメラ、或いはFAXなどに適用されるセンサ部に配置形成される。
高解像度対応の光電変換素子アレイを構成する光電変換素子PD1a乃至PD1nは、同一矩形状で、それぞれ、横方向寸法がXa、縦方向寸法がYa、隣接する光電変換素子とのスペースがβ、ピッチがαを有し、横方向に光電変換素子列の長さLだけ繰り返し配置形成されている。ここで、光を受光し、光を電荷に変換して読み出す方向は図面の上下方向に対して下側である。
高解像度よりも比較的解像度の低い光電変換素子アレイを構成する光電変換素子PD2a乃至PD2nは、同一形状で、それぞれ、隣接する光電変換素子とのスペースがβ、横方向寸法がXa及び縦方向寸法がYaのフィンガー部FGが2本(互いに並列配置)、フィンガー部FGとの余裕がβ、電荷読み出し方向側に2本のフィンガー部FGを連結する連結部RK、ピッチが2αのマルチフィンガー形状を有し、横方向(電荷読み出し方向に対して垂直方向)に光電変換素子列の長さLだけ繰り返し配置形成されている。ここで、光を受光し、光を電荷に変換して読み出す方向は下側である。フィンガー部FGは、光電変換素子PD1a乃至PD1nと同一形状を有する。なお、連結部RKの縦方向寸法であるYRKは小さい方が好ましく、例えば、光電変換素子の上端部或いは下端部に設けられる光遮光用の金属配線に覆われる程度の寸法にするが好ましい。
高解像度よりも比較的解像度の低い光電変換素子アレイを構成するm番目の光電変換素子PDma乃至PDmnは、同一形状で、それぞれ、隣接する光電変換素子とのスペースがβ、横方向寸法がXa及び縦方向寸法がYaのフィンガー部FGがm本(互いに並列配置)、フィンガー部FGとの余裕がβ、電荷読み出し方向側にm本のフィンガー部FGをそれぞれ連結する連結部RKが(m−1)個、ピッチがmαのマルチフィンガー形状を有し、横方向(電荷読み出し方向に対して垂直方向)に光電変換素子列の長さLだけ繰り返し配置形成されている。ここで、光を受光して光を電荷に変換し、読み出す方向は図面の上下方向に対して下側である。ここで、mは3以上の整数である。
図2に示すように、従来では、光電変換素子に要求される解像度に合わせてその形状を変化させ、その形状を矩形(正方形或いは長方形)にしている。
高解像度対応の光電変換素子アレイを構成する光電変換素子PD11a乃至PD11nは、それぞれ、横方向寸法がXa、縦方向寸法がYa、隣接する光電変換素子とのスペースがβ、ピッチがαの矩形を有し、横方向(電荷読み出し方向に対して垂直方向)に光電変換素子列の長さLだけ繰り返し配置形成されている。ここで、光を受光し、光を電荷に変換して読み出す方向は図面の上下方向に対して下側である。光電変換素子PD11a乃至PD11nは、光電変換素子PD1a乃至PD1nと同一形状である。
高解像度よりも比較的解像度の低い光電変換素子アレイを構成する光電変換素子PD22a乃至PD22nは、同一形状で、それぞれ、隣接する光電変換素子とのスペースがβ、横方向寸法がXb、縦方向寸法がYa、ピッチが2αの矩形を有し、横方向(電荷読み出し方向に対して垂直方向)に光電変換素子列の長さLだけ繰り返し配置形成されている。ここで、光を受光し、光を電荷に変換して読み出す方向は図面の上下方向に対して下側である。
光電変換素子PD22a乃至PD22nの面積Sbと光電変換素子PD2a乃至PD2nの面積Saの関係は、
Sb=Sa+{β×(Ya−YRK)}・・・・・・・・・・・式(1)
で表され、光電変換素子PD22a乃至PD22nの面積Sbの方が光電変換素子PD2a乃至PD2nの面積Saよりも大きい。YRKは連結部RKの縦方向寸法である。
高解像度よりも比較的解像度の低い光電変換素子アレイを構成するm番目の光電変換素子PDmma乃至PDmmnは、同一形状で、それぞれ、隣接する光電変換素子とのスペースがβ、横方向寸法がXc、縦方向寸法がYa、ピッチがmαの矩形を有し、横方向(電荷読み出し方向に対して垂直方向)に光電変換素子列の長さLだけ繰り返し配置形成されている。ここで、光を受光し、光を電荷に変換して読み出す方向は図面の上下方向に対して下側である。ここで、mは3以上の整数である。
光電変換素子PDmma乃至PDmmnの面積Sdと光電変換素子PDma乃至PDmnの面積Scの関係は、
Sd=Sc+(m−1)×{β×(Ya−YRK)}・・・・・・・・式(2)
で表され、光電変換素子PDmma乃至PDmmnの面積Sdの方が光電変換素子PDma乃至PDmnの面積Scよりも大きい。
次に、光電変換素子の特性について図3を参照して説明する。図3は光電変換素子のピッチ寸法に対する飽和電荷出力比の関係を示す図で、図中の実線(a)は本実施例の関係を示し、破線(b)は従来の関係を示す。ここで、飽和電荷出力比とは、高解像度に対応する光電変換素子(ピッチがα)の飽和電荷出力に対する低解像度に対応する光電変換素子(ピッチがmα)の飽和電荷出力の比をいう。
図3の破線(b)に示すように、従来では、光電変換素子のピッチαが狭くなると、高解像度に対応する光電変換素子の面積に対する低解像度に対応する光電変換素子の面積の比がmよりも大きくなり、しかも光電変換素子としてのシリコンフォトダイオードの深さがナローチャネル効果により浅くなるので、低解像度に対応する光電変換素子の画素電位が浅くなる。このため、光電変換素子のピッチαが狭くなるほど飽和電荷出力比がmよりも大きくなる。
一方、図3の破線(a)に示すように、本実施例では、光電変換素子を横方向寸法がXa及び縦方向寸法がYaのフィンガー部FGを基本としたシングル或いはマルチフィンガー構造にしているので、高解像度に対応する光電変換素子の面積に対する低解像度に対応する光電変換素子の面積の比がほぼ一定(m)である。このため、飽和電荷出力比は光電変換素子のピッチαの大きさに依存せず、光電変換素子のピッチαが狭くなっても飽和電荷出力比が一定なmの値を維持できる。
上述したように、本実施例の光電変換素子では、高解像度対応の光電変換素子PD1a乃至PD1nが、それぞれ、横方向寸法Xa、縦方向寸法Ya、隣接する光電変換素子とのスペースβ、ピッチαの矩形を有し、横方向(電荷読み出し方向に対して垂直方向)に繰り返し配置形成されている。高解像度よりも比較的解像度の低いm番目の光電変換素子PDma乃至PDmnが、それぞれ、隣接する光電変換素子とのスペースβ、横方向寸法Xa及び縦方向寸法Yaのm本のフィンガー部FG(互いに並列配置)、フィンガー部FGとの余裕β、電荷読み出し方向側にm本のフィンガー部FGをそれぞれ連結する(m−1)個の連結部RK、ピッチmαを有し、横方向(電荷読み出し方向に対して垂直方向)に繰り返し配置形成されている。
このため、解像度の諧調数が増大し光電変換素子のピッチが狭くなっても、高解像度に対応する光電変換素子と低解像度に対応する光電変換素子の間で飽和電荷出力比に差が発生せず、同一画素電位にすることができる。また、同一画素電位にするために、従来、高解像度に対応する光電変換素子としてのフォトダイオードを低解像度に対応する光電変換素子としてのフォトダイオードよりも深く形成するなど製造工程を増加させているがその必要がない。更に、フォトダイオードの接合深さが深くする必要がないので、白キズ等のバルク欠陥の影響を受けにくい。
なお、本実施例では、光電変換素子にシリコンフォトダイオードを用いているが、化合物半導体系のフォトダイオードや有機物系のフォトダイオードなどを用いてもよい。また、解像度によらず光電変換素子の縦方向の寸法を一定にしているが、必ずしもこれに限定されるものではなく、解像度により適宜変更してもよい。更に、光電変換素子列の長さを一定な長さLにしているが、必ずしも長さLに限定されるものではなく、解像度により適宜変更してもよい。
次に、本発明の実施例2に係る固体撮像装置について、図面を参照して説明する。図4は光電変換素子アレイを有するCCD(Charged Coupled Device)リニアセンサを示すブロック図、図5は光電変換素子を示す平面図である。本実施例では、高解像度部、中解像度部、及び低解像度部の3種類の解像度部を設けている。
以下、実施例1と同一構成部分には、同一符号を付してその部分の説明を省略し、異なる部分のみ説明する。
図4に示すように、CCDリニアセンサ1には、R色(赤色)をセンスするR色センサ部、G色(緑色)をセンスするG色センサ部、及びB色(青色)をセンスするB色センサ部が設けられている。R色センサ部、G色センサ部、及びB色センサ部は同一構成を有するので、ここではセンサ部2として代表表示している。CCDリニアセンサは、CCDラインセンサとも呼称される。
センサ部2には、高解像度部11、中解像度部12、及び低解像度部13が設けられ、画像毎に最適解像度データを適宜選択できる構造となっている。ここで、解像度部を3種類設けているが、高解像度部及び低解像度部の2種類或いは4種類以上設けてもよい。
高解像度部11には、光電変換素子PDH1a乃至光電変換素子PDH1n、シフトゲートSG1、CCDシフトレジスタCSR1、及びアンプAMP1が設けられている。
光電変換素子PDH1a乃至光電変換素子PDH1nは、互いに水平方向に隣接配置され光電変換素子アレイを構成している。ここで、光電変換素子列の長さはLである。シフトゲートSG1は、光電変換素子PDH1a乃至光電変換素子PDH1nの電荷読み出し方向側に隣接配置され、光電変換素子PDH1a乃至光電変換素子PDH1nで光電変換され、蓄積された信号電荷をそれぞれCCDシフトレジスタCSR1に設けられているCCDへ転送する。シフトゲートは、トランスファーゲートとも呼称される。CCDシフトレジスタCSR1は、シフトゲートSG1の電荷転送側に隣接配置され、シフトゲートSG1から転送される信号電荷を入力してアンプAmp1に転送する。アンプAmp1は、CCDシフトレジスタCSR1から出力される信号電荷を画素ごとに読み出して、読み出された情報をセンサ部2外に出力する。
中解像度部12には、光電変換素子PDM1a乃至光電変換素子PDM1n、シフトゲートSG2、CCDシフトレジスタCSR2、及びアンプAMP2が設けられている。
光電変換素子PDM1a乃至光電変換素子PDM1nは、互いに水平方向に隣接配置され光電変換素子アレイを構成している。ここで、光電変換素子列の長さはLである。シフトゲートSG2は、光電変換素子PDM1a乃至光電変換素子PDM1nの電荷読み出し方向側に隣接配置され、光電変換素子PDM1a乃至光電変換素子PDM1nで光電変換され、蓄積された信号電荷をそれぞれCCDシフトレジスタCSR2に設けられているCCDへ転送する。CCDシフトレジスタCSR2は、シフトゲートSG2の電荷転送側に隣接配置され、シフトゲートSG2から転送される信号電荷を入力してアンプAmp2に転送する。アンプAmp2は、CCDシフトレジスタCSR2から出力される信号電荷を画素ごとに読み出して、読み出された情報をセンサ部2外に出力する。
低解像度部13には、光電変換素子PDL1a乃至光電変換素子PDL1n、シフトゲートSG3、CCDシフトレジスタCSR3、及びアンプAMP3が設けられている。
光電変換素子PDL1a乃至光電変換素子PDL1nは、互いに水平方向に隣接配置され光電変換素子アレイを構成している。ここで、光電変換素子列の長さはLである。シフトゲートSG3は、光電変換素子PDL1a乃至光電変換素子PDL1nの電荷読み出し側に隣接配置され、光電変換素子PDL1a乃至光電変換素子PDL1nで光電変換され、蓄積された信号電荷をそれぞれCCDシフトレジスタCSR3に設けられているCCDへ転送する。CCDシフトレジスタCSR3は、シフトゲートSG3の電荷転送側に隣接配置され、シフトゲートSG3から転送される信号電荷を入力してアンプAmp3に転送する。アンプAmp3は、CCDシフトレジスタCSR3から出力される信号電荷を画素ごとに読み出して、読み出された情報をセンサ部2外に出力する。
図5に示すように、光電変換素子PDH1a乃至光電変換素子PDH1nは、横方向寸法がα、縦方向寸法がYaの矩形を有し、それぞれ横方向寸法がXaで縦方向寸法がYaの光電変換素子PD1a乃至光電変換素子PD1nが設けられている。光電変換素子PD1a乃至光電変換素子PD1nは、それぞれスペースβで離間される。
光電変換素子PDM1a乃至光電変換素子PDM1nは、横方向寸法が2α、縦方向寸法がYaの矩形を有し、それぞれ横方向寸法が(2α―β)で縦方向寸法がYaの光電変換素子PD2a乃至光電変換素子PD2nが設けられている。光電変換素子PD2a乃至光電変換素子PD2nは、それぞれスペースβで離間されている。
光電変換素子PDL1a乃至光電変換素子PDL1nは、横方向寸法が4α、縦方向寸法がYaの矩形を有し、それぞれ横方向寸法が(4α―β)で縦方向寸法がYaの光電変換素子PD4a乃至光電変換素子PD4nが設けられている。光電変換素子PD4a乃至光電変換素子PD4nは、それぞれスペースβで離間されている。光電変換素子PD4a乃至PD4nは、同一形状で、それぞれ、隣接する光電変換素子とのスペースがβ、横方向寸法がXa及び縦方向寸法がYaのフィンガー部FGが4本(互いに並列配置)、フィンガー部FGとの余裕がβ、電荷読み出し方向側に4本のフィンガー部FGをそれぞれ連結する連結部RKが3個、ピッチが4αのマルチフィンガー形状を有し、横方向(電荷読み出し方向に対して垂直方向)に繰り返し配置形成されている。
上述したように、本実施例の固体撮像装置では、高解像度部11、中解像度部12、及び低解像度部13から構成されるセンサ部2が設けられている。高解像度部11には、光電変換素子PDH1a乃至光電変換素子PDH1n、シフトゲートSG1、CCDシフトレジスタCSR1、及びアンプAMP1が設けられている。光電変換素子PDH1a乃至光電変換素子PDH1nは、横方向寸法がα、縦方向寸法がYaの矩形を有し、それぞれ横方向寸法がXaで縦方向寸法がYaの光電変換素子PD1a乃至光電変換素子PD1nが設けられ、互いに水平方向に隣接配置され光電変換素子アレイを構成している。中解像度部12には、光電変換素子PDM1a乃至光電変換素子PDM1n、シフトゲートSG2、CCDシフトレジスタCSR2、及びアンプAMP2が設けられている。光電変換素子PDM1a乃至光電変換素子PDM1nには、それぞれ光電変換素子PD2a乃至光電変換素子PD2nが設けられ、互いに水平方向に隣接配置され光電変換素子アレイを構成している。光電変換素子PD2a乃至光電変換素子PD2nは、それぞれ、隣接する光電変換素子とのスペースβ、横方向寸法Xa及び縦方向寸法Yaの2本のフィンガー部FG、フィンガー部FGとの余裕β、電荷読み出し方向側に2本のフィンガー部FGを連結する連結部RK、ピッチ2αを有する。低解像度部13には、光電変換素子PDL1a乃至光電変換素子PDL1n、シフトゲートSG3、CCDシフトレジスタCSR3、及びアンプAMP3が設けられている。光電変換素子PDL1a乃至光電変換素子PDL1nには、それぞれ、光電変換素子PD4a乃至光電変換素子PD4nが設けられ、互いに水平方向に隣接配置され光電変換素子アレイを構成している。光電変換素子PD4a乃至光電変換素子PD4nは、それぞれ、隣接する光電変換素子とのスペースβ、横方向寸法Xa及び縦方向寸法Yaの4本のフィンガー部FG、フィンガー部FGとの余裕β、電荷読み出し方向側に4本のフィンガー部FGをそれぞれ連結する3個の連結部RK、ピッチ4αを有する。
このため、高解像度乃至低解像度に対応する光電変換素子を飽和電荷出力比に差のない、同一画素電位にすることができる。したがって、飽和電荷出力比が一定な光電変換素子アレイを有し、高解像度乃至低解像度での画質の劣化を抑制できるCCDリニアセンサを提供することができる。
なお、本実施例では、CCDリニアセンサ1のR色センサ部、G色センサ部、及びB色センサ部に、それぞれ光電変換素子アレイを適用したが、CCDリニアセンサに光電変換素子アレイを適用したW色(白色)センサ部を設けてもよい。
次に、本発明の実施例3に係る固体撮像装置について、図面を参照して説明する。図6は光電変換素子アレイを有するCMOSリニアセンサを示すブロック図である。本実施例では、高解像度部、中解像度部、及び低解像度部の3種類の解像度部を設けている。
以下、実施例1と同一構成部分には、同一符号を付してその部分の説明を省略し、異なる部分のみ説明する。
図6に示すように、R色(赤色)をセンスするR色センサ部、G色(緑色)をセンスするG色センサ部、及びB色(青色)をセンスするB色センサ部が設けられている。R色センサ部、G色センサ部、及びB色センサ部は同一構成を有するので、ここではセンサ部4として代表表示している。CMOSリニアセンサは、CMOSラインセンサとも呼称される。
センサ部4には、高解像度部21、中解像度部22、及び低解像度部23が設けられ、画像毎に最適解像度データを適宜選択できる構造となっている。ここで、解像度部を3種類設けているが、高解像度部及び低解像度部の2種類或いは4種類以上設けてもよい。
高解像度部21には、光電変換素子PDH1a乃至光電変換素子PDH1n、アンプ列部AmpR1、スイッチ列部SWR1、及びシフトレジスタSR1が設けられている。アンプ列部AmpR1は光電変換素子PDH1a乃至光電変換素子PDH1nの電荷読み出し方向側に隣接配置され、スイッチ列部SWR1はアンプ列部AmpR1の信号出力側に隣接配置され、シフトレジスタSR1はスイッチ列部SWR1の信号転送側に隣接配置される。
中解像度部22には、光電変換素子PDM1a乃至光電変換素子PDM1n、アンプ列部AmpR2、スイッチ列部SWR2、及びシフトレジスタSR2が設けられている。アンプ列部AmpR2は光電変換素子PDM1a乃至光電変換素子PDM1nの電荷読み出し方向側に隣接配置され、スイッチ列部SWR2はアンプ列部AmpR2の信号出力側に隣接配置され、シフトレジスタSR2はスイッチ列部SWR2の信号転送側に隣接配置される。
低解像度部23には、光電変換素子PDL1a乃至光電変換素子PDL1n、アンプ列部AmpR3、スイッチ列部SWR3、及びシフトレジスタSR3が設けられている。アンプ列部AmpR3は光電変換素子PDL1a乃至光電変換素子PDL1nの電荷読み出し方向側に隣接配置され、スイッチ列部SWR3はアンプ列部AmpR3の信号出力側に隣接配置され、シフトレジスタSR3はスイッチ列部SWR3の信号転送側に隣接配置される。
次に、CMOSリニアセンサの動作について図7を参照して説明する。図7は高解像度部を例にしてCMOSリニアセンサの動作を示すブロック図である。
図7に示すように、アンプ列部AmpR1は、光電変換素子PDH1a乃至光電変換素子PDH1nで光電変換され、蓄積された信号電荷をそれぞれ読み出してスイッチ列部SWR1に転送する。具体的には、信号電荷を電圧に変換し、その電圧情報をスイッチ列部SWR1に転送する。スイッチ列部SWR1は、画素情報が読み出されたときに“ON”し、その画素情報をシフトレジスタSR1に転送する。シフトレジスタSR1は、スイッチ列部SWR1から転送される画素情報をセンサ部4外に出力する。なお、中解像度部22及び低解像度部23については、高解像度部21と同様な動作をするので説明を省略する。
ここで、シフトレジスタSR1乃至3は、それぞれスイッチ列部SWR1乃至3に設けられるスイッチを1画素目からn画素目までを順次切り替えて、その画素情報を転送する。
上述したように、本実施例の固体撮像装置では、高解像度部21、中解像度部22、及び低解像度部23から構成されるセンサ部4が設けられている。高解像度部21には、光電変換素子PDH1a乃至光電変換素子PDH1n、アンプ列部AmpR1、スイッチ列部SWR1、及びシフトレジスタSR1が設けられている。光電変換素子PDH1a乃至光電変換素子PDH1nは、横方向寸法がα、縦方向寸法がYaの矩形を有し、それぞれ横方向寸法がXaで縦方向寸法がYaの光電変換素子PD1a乃至光電変換素子PD1nが設けられ、互いに水平方向に隣接配置され光電変換素子アレイを構成している。中解像度部22には、光電変換素子PDM1a乃至光電変換素子PDM1n、アンプ列部AmpR2、スイッチ列部SWR2、及びシフトレジスタSR2が設けられている。光電変換素子PDM1a乃至光電変換素子PDM1nには、それぞれ光電変換素子PD2a乃至光電変換素子PD2nが設けられ、互いに水平方向に隣接配置され光電変換素子アレイを構成している。光電変換素子PD2a乃至光電変換素子PD2nは、それぞれ、隣接する光電変換素子とのスペースβ、横方向寸法Xa及び縦方向寸法Yaの2本のフィンガー部FG、フィンガー部FGとの余裕β、電荷読み出し方向側に2本のフィンガー部FGを連結する連結部RK、ピッチ2αを有する。低解像度部23には、光電変換素子PDL1a乃至光電変換素子PDL1n、アンプ列部AmpR3、スイッチ列部SWR3、及びシフトレジスタSR3が設けられている。光電変換素子PDL1a乃至光電変換素子PDL1nには、それぞれ、光電変換素子PD4a乃至光電変換素子PD4nが設けられ、互いに水平方向に隣接配置され光電変換素子アレイを構成している。光電変換素子PD4a乃至光電変換素子PD4nは、それぞれ、隣接する光電変換素子とのスペースβ、横方向寸法Xa及び縦方向寸法Yaの4本のフィンガー部FG、フィンガー部FGとの余裕β、電荷読み出し方向側に4本のフィンガー部FGをそれぞれ連結する3個の連結部RK、ピッチ4αを有する。
このため、高解像度乃至低解像度に対応する光電変換素子を飽和電荷出力比に差のない、同一画素電位にすることができる。したがって、飽和電荷出力比が一定な光電変換素子アレイを有し、高解像度乃至低解像度での画質の劣化を抑制できるCMOSリニアセンサを提供することができる。
本発明は、上記実施例に限定されるものではなく、発明の趣旨を逸脱しない範囲で、種々、変更してもよい。
例えば、実施例では、光電変換素子のフィンガー部の形状を矩形にしているが、電荷読み出し方向から見てフィンガー部の形状を台形状にしてもよい。
本発明の実施例1に係る光電変換素子アレイを示す平面図。 本発明の実施例1に係る従来の光電変換素子アレイを示す平面図。 本発明の実施例1に係る光電変換素子のピッチ寸法に対する飽和電荷出力比の関係を示す図。 本発明の実施例2に係る光電変換素子アレイを有するCCDリニアセンサを示すブロック図。 本発明の実施例2に係る光電変換素子を示す平面図。 本発明の実施例3に係る光電変換素子アレイを有するCMOSリニアセンサを示すブロック図。 本発明の実施例3に係るCMOSリニアセンサの動作を示すブロック図。
符号の説明
1 CCDリニアセンサ
2、4 センサ部(R/G/B)
3 CMOSリニアセンサ
11、21 高解像度部
12、22 中解像度部
13、23 低解像度部
Amp1〜3、Ampa アンプ
AmpR1〜3 アンプ列部
CSR1〜3 CCDシフトレジスタ
FG フィンガー部
L 光電変換素子列の長さ
PD1a〜n、PD2a〜2n、PD4a〜n、PDma〜n、PD11a〜n、PD22a〜n、PDmma〜n、PDH1a〜n、PDM1a〜n、PDL1a〜n 光電変換素子
RK 連結部
SG1〜3 シフトゲート
SR1〜3 シフトレジスタ
SWa スイッチ
SWR1〜3 スイッチ列部
Xa、Xb、Xc 横方向寸法
α ピッチ
β スペース

Claims (5)

  1. スペースβで互いに離間され、電荷読み出し方向に対して垂直方向にピッチαで列状に配置形成される矩形状の第1の光電変換素子と、
    前記第1の光電変換素子と同一幅で、並列して設けられる矩形状のm個(ただし、mは2以上の整数)のフィンガー部と、電荷読み出し方向側に設けられ、幅がスペースβで、前記フィンガー部間を連結する(m−1)個の連結部とを有し、スペースβで互いに離間され、電荷読み出し方向に対して垂直方向にピッチmαで列状に配置形成される第2の光電変換素子と、
    を具備することを特徴とする光電変換素子アレイ。
  2. 前記第1及び第2の光電変換素子の電荷読み出し方向の寸法が同一であることを特徴とする請求項1に記載の光電変換素子アレイ。
  3. スペースβで互いに離間され、電荷読み出し方向に対して垂直方向にピッチαで列状に配置形成される台形状の第1の光電変換素子と、
    前記第1の光電変換素子と同一形状で、並列して設けられる矩形状のm個(ただし、mは2以上の整数)のフィンガー部と、電荷読み出し方向側に設けられ、前記フィンガー部間を等間隔で連結する(m−1)個の連結部とを有し、スペースβで互いに離間され、電荷読み出し方向に対して垂直方向にピッチmαで列状に配置形成される第2の光電変換素子と、
    を具備することを特徴とする光電変換素子アレイ。
  4. 矩形状の第1の光電変換素子がスペースβで互いに離間され、電荷読み出し方向に対して垂直方向にピッチαで列状に配置形成される第1の光電変換素子アレイと、前記第1の光電変換素子の電荷読み出し方向側に隣接配置され、前記第1の光電変換素子から出力される信号電荷を転送する第1のシフトゲートと、前記第1のシフトゲートの信号電荷転送側に隣接配置され、前記第1のシフトゲートから転送される信号電荷を転送する第1のCCDシフトレジスタと、前記第1のCCDシフトレジスタから転送される信号電荷を画素ごとに読み出す第1のアンプとを有する第1のセンサ部と、
    前記第1の光電変換素子と同一幅で、並列して設けられる矩形状のm個(ただし、mは2以上の整数)のフィンガー部、及び電荷読み出し方向側に設けられ、幅がスペースβで、前記フィンガー部間を連結する(m−1)個の連結部から構成される第2の光電変換素子が、スペースβで互いに離間され、電荷読み出し方向に対して垂直方向にピッチmαで列状に配置形成される第2の光電変換素子アレイと、前記第2の光電変換素子の電荷読み出し方向側に隣接配置され、前記第2の光電変換素子から出力される信号電荷を転送する第2のシフトゲートと、前記第2のシフトゲートの信号電荷転送側に隣接配置され、前記第2のシフトゲートから転送される信号電荷を転送する第2のCCDシフトレジスタと、前記第2のCCDシフトレジスタから転送される信号電荷を画素ごとに読み出す第2のアンプとを有する第2のセンサ部と、
    を具備することを特徴とする固体撮像装置。
  5. 矩形状の第1の光電変換素子がスペースβで互いに離間され、電荷読み出し方向に対して垂直方向にピッチαで列状に配置形成される第1の光電変換素子アレイと、前記第1の光電変換素子の電荷読み出し方向側に隣接配置され、前記第1の光電変換素子から出力される信号電荷を読み出す第1のアンプが列状に配置形成される第1のアンプ列部と、前記第1のアンプの信号電荷読み出し側に隣接配置され、前記第1のアンプから読み出された画素情報を転送する第1のスイッチが列状に配置形成される第1のスイッチ列部と、前記第1のスイッチの前記画素情報転送側に隣接配置され、前記第1のスイッチから転送される前記画素情報を転送及び出力する第1のシフトレジスタとを有する第1のセンサ部と、
    前記第1の光電変換素子と同一幅で、並列して設けられる矩形状のm個(ただし、mは2以上の整数)のフィンガー部、及び電荷読み出し方向側に設けられ、幅がスペースβで、前記フィンガー部間を連結する(m−1)個の連結部から構成される第2の光電変換素子が、スペースβで互いに離間され、電荷読み出し方向に対して垂直方向にピッチmαで列状に配置形成される第2の光電変換素子アレイと、前記第2の光電変換素子の電荷読み出し方向側に隣接配置され、前記第2の光電変換素子から出力される信号電荷を読み出す第2のアンプが列状に配置形成される第2のアンプ列部と、前記第2のアンプの信号電荷読み出し側に隣接配置され、前記第2のアンプから読み出された画素情報を転送する第2のスイッチが列状に配置形成される第2のスイッチ列部と、前記第2のスイッチの前記画素情報転送側に隣接配置され、前記第2のスイッチから転送される前記画素情報を転送及び出力する第2のシフトレジスタとを有する第2のセンサ部と、
    を具備することを特徴とする固体撮像装置。
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02298072A (ja) * 1989-05-12 1990-12-10 Ricoh Co Ltd 完全密着型イメージセンサ
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02298072A (ja) * 1989-05-12 1990-12-10 Ricoh Co Ltd 完全密着型イメージセンサ
JP2002165064A (ja) * 2000-11-28 2002-06-07 Nec Kyushu Ltd 撮像素子、画像入力装置及び画像データ処理方法

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