JP4709059B2 - 検査装置及び検査方法 - Google Patents
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3581—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using far infrared light; using Terahertz radiation
Description
APPLIED OPTICS/Vol.41, No.10,2002,pp.2074
line)30を介し、同じくミラー39、レンズ31を通してセンサーチップ20のテラヘルツ波検出側ギャップ部に照射される。遅延器30で遅延時間を変化させながら、アンプ35、ロックインアンプ33を介してPC(パーソナルコンピュータ)34により、伝送線路を伝搬してきたテラヘルツ波の信号変化について解析することで、センシングデータ(検体の情報)を得ることができる。
本発明の第1の実施例を図1に沿って説明する。本実施例は前記実施形態に準拠する構成を有する。
本発明による第2の実施例を図5に示す。センサーチップ20及び検体塗布装置21については実施例1と同様で、実施例2は駆動方法に特徴を持たせたものである。図5において、図1と同じ部分は、一部を除いて、図番を省略してある。
本発明による第3の実施例は、図6に示す様にコプレーナストリップ線路に適用したものである。図6において、石英基板60の上には、幅10μmで間隔が16μmの2本線のTi/Au電極から成る線路62が形成され、その表面には更に誘電体となるBCB61が形成してある。LT-GaAs薄膜65、66は実施例1と同様に転写されているが、本実施例では前記2本の線路62を跨ぐ様に線路62の上面にボンディングされている。表面に形成したBCB61には、検体が堆積されるべき領域63が形成されており、窓開けされて電極62が露出している。また、各電極62のところには、電源67、68を接続するための領域(不図示)が窓明けして形成してある。検体が堆積されるべき線路62の領域の正確な確立という点では、若干劣ることになるが、誘電体のBCB61は省略することもできる。
3、62‥伝送線路(信号線)
3、62‥導電性領域(信号線)
4‥電磁波供給手段(電極)
5‥電磁波検出手段(電極)
6、71‥コリメータ電極
7、72‥検体供給手段(キャピラリ)
9、50、69‥堆積手段(電源、変調電源)
11、12、67、68‥電磁波供給手段(電源)
13‥伝送線路(グランドプレーン)
14‥電磁波供給手段(レーザ光)
15‥電磁波検出手段(レーザ光)
16、64‥検体(検体分子)
17‥堆積手段(キャピラリ電極)
18、65‥電磁波供給手段(光伝導膜)
19、66‥電磁波検出手段(光伝導膜)
Claims (3)
- 30GHz以上30THz以下の周波数の領域に含まれる電磁波を伝播させるための伝送線路と、
前記伝送線路を伝播する電磁波の電場分布の及ぶ範囲の少なくとも一部を含む部位に配置された導電性領域と、
前記導電性領域の外部に設けられ、検体を保持し、該検体を前記伝送線路に供給するための検体供給手段と、
前記検体供給手段と前記導電性領域との間に電界を発生させる手段と、を有し、
前記検体供給手段から供給された検体を前記導電性領域に堆積するように構成される検査装置であって、
前記検体供給手段に印加する電圧に交流成分を重畳させて前記堆積のレートを変動させ、
前記伝送線路を伝播して検出される電磁波の信号の前記変動に対する同期検波により、検体の情報を取得することを特徴とする検査装置。 - 前記検体の前記導電性領域上への堆積量の時間変化に応じて、前記伝送線路を伝播して検出される電磁波の信号の変化を時間経過に対して複数取得し、
信号の変化の割合が所定値よりも小さくなったとき、前記検体の前記伝送線路への供給を停止することを特徴とする請求項1に記載の検査装置。 - 伝送線路を伝播させられた30GHz以上30THz以下の周波数の領域に含まれる電磁波を検出して、伝送線路を伝播する電磁波の電場分布の及ぶ範囲の少なくとも一部を含む部位にある導電性領域に堆積された検体の情報を取得する検査方法であって、
検体を保持して該検体を前記伝送線路に供給するための検体供給手段から検体を供給し、前記検体供給手段と前記導電性領域の間に電界を発生させて前記供給される検体を前記導電性領域に堆積させる際に、前記検体供給手段に印加する電圧に交流成分を重畳させて前記堆積のレートを変動させ、
前記伝送線路を伝播して検出される電磁波の信号の前記変動に対する同期検波により、検体の情報を取得することを特徴とする検査方法。
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