JP2005157601A - 電磁波による積層状物体計数装置及び計数方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】積層状物体計数装置ないし方法では、積層状態にある物体(積層状物体)12の上下面のうち少なくともどちらか一方に対して電磁波を入射し、積層状物体12の各物体の界面での電磁波の反射で生成された電磁波を受信したり、電磁波が積層状物体12を透過して生成された透過波を受信したりして、積層状物体12の積層数を計数する。
【選択図】図2
Description
或いは前記封筒99に記録(印字)された前記封筒99に入るべきカード枚数を読み取り前記二次判定部95へ直接該当枚数を入力するかどちらか一方の手段によって入力された在中すべきカード枚数と前記一次判定部で計算されたカード枚数とを比較することで行われる。前記二次判定部95においてカード枚数が一致した場合は正常信号SS
を、不一致の場合は異常信号ESをシステム全体を制御する制御部97に送り込み、前記制御部97に正常信号SSが入力された場合は検査の継続を指示して、異常信号ESが入力された場合は該当する封筒を排除するなどの処理を行う。更にこれらの経過を順次記録部96に記録してプリントアウトすることによってカード枚数の検査の過程を把握できるため、的確な検査を行うことができる。
前記反射で生成された電磁波を受信する受信手段に加えて、更に、前記積層状物体を透過した透過波を受信する第2受信手段と、前記積層状物体に入射する前の電磁波に対する前記透過波の位相の変化量を検出し、それを基に前記積層状物体の積層数を計数する第2処理手段を有する構成にすれば、前記反射電磁波信号を基に計数された積層状物体の積層数と第2処理手段で得られた積層数とを比較することにより精度を向上させられる。
12…積層状物体
15…受信器
18…処理装置
35a…第1受信器
33…分配器
35b…第2受信器
51…伝送路
52a〜52b…伝送路の先端部
61…第1伝送路
62…第2伝送路
63a〜63b…第1伝送路の先端部
64a〜64b…第2伝送路の先端部
65…第3伝送路
66…第3伝送路の先端部
I…入射波
PA…電磁波伝搬軸
R…反射波
S…参照波
T…透過波
Claims (14)
- 積層状態にある物体(積層状物体)の上下面の一方に対して電磁波を入射する発振手段と、積層状物体の各物体の界面での前記電磁波の反射で生成された電磁波を受信する受信手段と、前記受信手段によって得られた反射電磁波信号に基づき前記積層状物体の計数を行う処理手段を有することを特徴とする積層状物体計数装置。
- 前記発振手段が電磁波パルスを発振する手段であって、前記処理手段が、前記受信手段が受信した電磁波パルスの数を計数し、それを基に前記積層状物体の積層数を計数する手段である請求項1記載の積層状物体計数装置。
- 前記発振手段が連続電磁波を発振する手段であって、前記受信手段および処理手段が、前記受信手段が受信した位相の変化を検出し、それを基に前記積層状物体の積層数を計数する手段である請求項1記載の積層状物体計数装置。
- 更に、前記電磁波が前記積層状物体を透過して生成された透過波を受信する第2受信手段と、前記積層状物体に入射する前の電磁波に対する前記透過波の位相の変化量を検出し、それを基に前記積層状物体の積層数を計数する第2処理手段を有することを特徴とする請求項1記載の積層状物体計数装置。
- 前記発振手段が電磁波パルスを発振する手段であって、前記第2受信手段が前記積層状物体を透過して生成された透過波を検出して、前記積層状物体が存在しない場合に検出される電磁波に対する前記透過波の遅延時間を検出し、それを基に前記積層状物体の積層数を計数する処理手段を有することを特徴とする請求項4記載の積層状物体計数装置。
- 積層状態にある物体(積層状物体)の上下面の一方に対して電磁波を入射する発振手段と、前記電磁波が積層状物体を透過して生成された透過波を受信する受信手段と、前記積層状物体に入射する前の電磁波に対する前記透過波の位相の変化量を検出し、それを基に前記積層状物体の積層数を計数する処理手段を有することを特徴とする積層状物体計数装置。
- 前記発振手段が電磁波パルスを発振する手段であって、前記受信手段が前記積層状物体を透過して生成された透過波を検出して、前記積層状物体が存在しない場合に検出される電磁波に対する前記透過波の遅延時間を検出し、それを基に前記積層状物体の積層数を計数する処理手段を有することを特徴とする請求項6記載の積層状物体計数装置。
- 前記発振手段から放射された電磁波を、前記積層状物体へ入射する電磁波と直接前記受信手段または第2受信手段に伝搬する電磁波に分配する分配手段を有することを特徴とする請求項4乃至7のいずれかに記載の積層状物体計数装置。
- 前記発振手段から放射された電磁波が前記受信手段または前記第2受信手段まで伝搬する伝搬経路のいずれかにおいて、電磁波を伝送するための伝送手段を有することを特徴とする請求項1乃至8のいずれかに記載の積層状物体計数装置。
- 前記発振手段または前記受信手段または前記第2受信手段または前記処理手段または前記伝送手段をそれぞれ少なくとも一つ以上備え、上下面の少なくとも一方の側から複数の箇所で計数を行うことを特徴とする請求項1乃至9のいずれかに記載の積層状物体計数装置。
- 前記発振手段により発振される電磁波は、ミリ波〜テラヘルツ波(30GHz〜100THz)の領域の成分を含む電磁波であることを特徴とする請求項1乃至10のいずれかに記載の積層状物体計数装置。
- 積層状物体の上下面の一方に対して電磁波を入射する発振工程と、積層状物体の各物体の界面での前記電磁波の反射で生成された反射波を受信する受信工程と、前記受信工程で得られた電磁波信号に基づき前記積層状物体の計数を行う処理工程を有することを特徴とする積層状物体計数方法。
- 積層状物体の上下面の一方に対して電磁波を入射する発振工程と、前記電磁波が前記積層状物体を透過して生成された透過波を受信する受信工程と、前記積層状物体に入射する前の電磁波に対する前記透過波の位相の変化量を検出し、それを基に前記積層状物体の積層数を計数する処理工程を有することを特徴とする積層状物体計数方法。
- 前記発振工程で発振される電磁波は、ミリ波〜テラヘルツ波(30GHz〜100THz)の領域の成分を含む電磁波であることを特徴とする請求項12または13記載の積層状物体計数方法。
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