JP4701049B2 - 端子接触素子及び端子台試験治具 - Google Patents

Description

本発明は、例えば端子台の耐電圧試験のために使用する端子接触素子及び端子台試験治具に関する。

制御盤等に設けられた端子台に対して耐電圧試験（端子台試験）を実施するために、この端子台が有する複数の外部接続用端子（金属製端子）を連続して接続する接点パス用クリップ等の耐電圧試験用治具（端子台試験治具）が知られている（例えば、特許文献１参照。）。例えば制御盤では、端子台の外部接続用端子と、この制御盤内の機器とが電線で接続されている。耐電圧試験とは、例えば、外部接続用端子を通じて定格値より高い（接地から所定電位の）交流電圧を一定時間印加して、制御盤の内部の電線及び機器と接地との間の絶縁耐力を試験するものである。接点パス用クリップとは、外部接続用端子に対し着脱可能な金属製の試験接触子たる端子接触素子がリード線の両端に設けられたものである。端子接触素子が例えば鰐口式のクリップの場合、端子台における２つの外部接続用端子の締付ネジ（金属製螺子）の頭部に２つのクリップをそれぞれ挟み付けることにより、端子接触素子と外部接続用端子とが電気的に接続され、よって外部接続用端子どうしが短絡されることになる。

また、端子台における複数の外部接続用端子を同時に短絡する耐電圧試験用治具が知られている（例えば、特許文献２及び特許文献３参照。）。

特許文献２に開示された耐電圧試験用治具は、端子台における複数の外部接続用端子の配列ピッチに対応して複数の弾性を有する端子接触素子が配列された金属製の短絡板である。短絡板における複数の端子接触素子は予め短絡されているため、この短絡板を端子台に取り付けることにより、各端子接触素子が該当の外部接続用端子に圧接されて、複数の外部接続用端子どうしが一度に短絡される。

特許文献３に開示された耐電圧試験用治具は、端子台における複数の外部接続用端子の配列ピッチに対応するように複数の端子接触素子を案内するアタッチメントと、予め短絡された複数の端子接触素子により構成されるアダプタと、を有するものである。端子台にアタッチメントを取り付け、このアタッチメントにアダプタを取り付けることにより、複数の外部接続用端子どうしが一度に短絡される。
特開２００３−３６９０５号公報 特開２００４−２７３１８９号公報 特開平６−２８３２２４号公報

しかしながら、前述した特許文献１に開示された耐電圧試験用治具を用いた耐電圧試験では、端子接触素子たる鰐口式のクリップを端子台の外部接続用端子の締付ネジの頭部にそれぞれ挟み付ける作業が必須となるため、外部接続用端子の数が多いほど、作業者により大きな負担をかける虞がある。また、挟み付けが不完全な場合、端子接触素子と外部接続用端子との導通が不良となる虞がある。これでは、耐電圧試験の作業が困難である上に、この試験自体が不確実なものとなる虞がある。

一方、前述した特許文献２及び特許文献３に開示された耐電圧試験用治具は、外部接続用端子の配列が統一された端子台に対して繰り返し使用するためのものであるため、配列が異なる端子台に共通の治具とはなり得ないという問題がある。また、耐電圧試験用治具において複数の端子接触素子どうしは予め短絡されているため、複数の端子接触素子における端部どうしの導通の有無に基づいて、全ての端子接触素子と外部接続用端子との導通の良否を判定することができないという問題もある。つまり、試験対象となる端子台が制限される上に、試験自体も不確実なものとなる虞がある。

本発明はかかる課題に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、様々な端子台に対して端子台試験を容易且つ確実に実施することにある。

前記課題を解決するための発明は、一方の面が端子台の各金属製端子の表面と接触する一対の磁石片と、一端が前記一対の磁石片の前記一方の面とは反対側の面と接続され、他端が導電線と接続可能な導電性の一対の支持棒と、前記一対の磁石片を前記一対の支持棒の長手方向に沿って分離する絶縁性の分離板と、前記一対の磁石片の前記一方の面が突出又は待避する第1開口と、前記導電線を導出する第２開口と、を有し、前記一対の磁石片の前記一方の面が前記第１開口から出入りするように、前記一対の磁石片及び前記一対の支持棒を、前記長手方向及び当該長手方向と交差する方向を所定範囲で遊動可能に保持する絶縁性のカバーと、を備えてなる端子接触素子である。

この端子接触素子の一方の面が金属製端子の表面と接触していない場合、例えば、分離板により分離された一対の磁石片のそれぞれと支持棒を介して接続された２つの導電線の間には導通はない。一方、この端子接触素子の一方の面が金属製端子の表面と接触している場合、上記２つの導電線は、金属製端子を介して導通し得る。よって、この端子接触素子を用いれば、金属製端子との接触の良否を、この端子接触素子の第２開口から導出される２つの導電線の導通の有無により判別できる。この接触の良否は、１つの端子接触素子を用いて、１つの金属製端子に対して判別できるため、例えば端子台に対する複数の金属製端子の配列等によらない。また、一対の磁石片及び一対の支持棒がカバー内を所定範囲で遊動可能なため、金属製端子の表面に対し、その形状に応じて確実に接触し吸着できる。つまり、金属製端子に接触し吸着するための当該金属製端子の表面の形状に対する制約が小さい。以上から、本発明の端子接触素子は、端子台における金属製端子の配列及び形状の何れに対しても汎用的なものとなる。

また、磁石片の一方の面が絶縁性のカバーの第1開口から突出することにより、端子接触素子は金属製端子に接触して吸着し易くなるとともに、金属製端子及び磁石片は確実に導通する。

更に、金属製端子に接触している端子接触素子において、例えば導電線に対して外部から引っ張り応力が作用して一対の磁石片及び一対の支持棒が傾いたとしても、前述した遊動作用のために、カバーは傾き難い。このため、端子接触素子が金属製端子の表面から剥離するといった現象が起き難い。また、もしカバーが傾いたとしても、前述した遊動作用のために、一対の磁石片及び一対の支持棒は傾き難く、よって剥離の現象は起き難い。

以上から、端子台に対して例えば耐電圧試験等の端子台試験を実施する場合、例えば本発明の端子接触素子を導電線を介して複数接続して用いれば、この試験対象としての端子台を特に制限することがない上に、容易且つ確実に試験を実施できる。

また、かかる端子接触素子において、前記分離板は、前記カバーと一体であることとしてもよい。
例えば分離板をカバーと一体で形成することにより端子接触素子の製造コストを節減できる。

また、かかる端子接触素子において、前記分離板は、前記一対の磁石片及び前記一対の支持棒を前記長手方向に沿って分離することが好ましい。
例えば一対の支持棒が分離板により分離されることにより、磁石片のみならず、支持棒どうしの短絡を防止できる。これにより、端子台試験を確実に実施できる。

また、かかる端子接触素子において、前記分離板は、前記カバーとは別体であり且つ前記一対の磁石片の間に固着される、こととしてもよい。
もし一対の磁石片の分離板と対向する面が異極どうしの場合、一対の磁石片の間には分離板を介して相互に吸着力が作用するため、カバーと別体の分離板を一対の磁石片と固着して一体の構成とすることにより、一対の磁石片及び一対の支持棒はカバー内を所定範囲で遊動可能となる。また、分離板がカバーと別体であれば、例えばカバーを分離板と一体成型する場合に比べてその構造が簡単になるため、製造コストを節減できる。

また、かかる端子接触素子において、前記金属製端子の表面は、凸曲面の形状を有し、前記一対の磁石片の前記一方の面は、前記金属製端子の表面と接触可能な凹曲面の形状を有する、ことが好ましい。
これにより、金属製端子の表面と一対の磁石片の一方の面がより大きな接触面積で接触する。よって、金属製端子に対して磁石片はより確実に導通する。

また、かかる端子接触素子において、前記金属製端子は、前記端子台に螺着される金属製螺子の頭部であることが好ましい。
これにより、端子台に対して端子接触素子はより確実に導通する。

また、かかる端子接触素子において、前記一対の磁石片の前記一方の面は、異極どうしであり、前記一対の磁石片の前記一方の面は、他の前記端子接触素子における前記一対の磁石片の前記一方の面の異極どうしと接触可能な形状を有する、こととしてもよい。
例えばこの端子接触素子が導電線を介して複数接続された端子台試験治具を複数準備しておけば、これらの端子台試験治具を適宜接続して所望の規模の端子台試験治具を生成できる。これにより、金属製端子の数が異なる様々な端子台に対して、端子接触素子を余すところなく端子台試験を実施できる。

また、かかる端子接触素子において、前記一対の磁石片の前記一方の面が、他の前記端子接触素子における前記一対の磁石片の前記一方の面の異極どうしと接触した場合、前記カバーの前記第１開口は、前記他の端子接触素子における前記カバーの前記第1開口と接触可能である、ことが好ましい。
カバーに対する磁石片の前述した遊動作用により、例えば２つのカバーの第1開口どうしを接触させることができる。これにより、磁石片どうしの接触部を外部から絶縁できるため、端子台試験を安全に実施できる。

また、かかる端子接触素子において、前記第1開口を塞ぐ着脱可能な絶縁キャップ、を備えたこととしてもよい。
例えば、想定される金属製端子の最大数の端子接触素子を備えた端子台試験治具とともにこの絶縁キャップを準備しておけば、使用しない端子接触素子の第1開口に絶縁キャップを装着することにより、金属製端子の数が異なる様々な端子台に対応できる。また、この絶縁キャップを使用することにより、端子台試験を安全に実施できる。

また、かかる端子接触素子において、前記絶縁キャップは、前記第１開口を塞ぐ場合、前記一対の磁石片の前記一方の面と接触する金属片を有することとしてもよい。
これにより、端子接触素子の第1開口に対して絶縁キャップを装着し易くなる。

また、前記課題を解決するための発明は、前記端子接触素子を複数備え、隣接する前記端子接触素子における隣接する前記支持棒どうし前記導電線を介して接続してなる端子台試験治具である。
この端子台試験治具によれば、金属製端子の配列及び形状が様々な端子台に対して端子台試験を容易且つ確実に実施できる。

また、かかる端子台試験治具において、前記複数の端子接触素子における両端の前記支持棒は、前記導電線と接続されずに開放されてなることとしてもよい。
この端子台試験治具には、例えば前記の両端の支持棒に一端が接続され他端が開放された導電線等がないため、端子台試験の安全性がより向上する。

様々な端子台に対して端子台試験を容易且つ確実に実施できる。

＝＝＝端子接触素子＝＝＝
図１〜図４を参照しつつ本実施の形態の耐電圧試験用治具における端子接触素子１００、１００’について説明する。図１は、第１の実施の形態の端子接触素子１００の分解斜視図である。図２は、第１の実施の形態の端子接触素子１００の組立斜視図である。図３（ａ）は、第１の実施の形態の端子接触素子１００のＺ軸方向に沿った部分断面図である。図３（ｂ）は、第２の実施の形態の端子接触素子１００’のＺ軸方向に沿った部分断面図である。図４は、第１の実施の形態の端子接触素子１００の後述する締付ネジ５１に対する接続状態を説明するための部分断面図である。尚、図１〜図４では同じ部材には同一の番号を付してある。

＜＜＜第１の実施の形態＞＞＞
図１及び図２に例示されるように、本実施の形態の端子接触素子１００は、試験対象である端子台に対して端子板を固定する締付ネジ（金属製端子、金属製螺子）の頭部に対する接触面ＳＡ、ＳＢとして、永久磁石である一対の金属製の磁石片１０ａ、１０ｂを備えたものである。この磁石片１０ａ、１０ｂには、これらと導通するように金属製の支持棒２０ａ、２０ｂの一方の端部がそれぞれ固設されている。この支持棒２０ａ、２０ｂの他方の端部には、耐電圧試験用治具のリード線（導電線）３０がそれぞれ接続されている。カバー４０は、一対の磁石片１０ａ、１０ｂを、分離板４２を介して分離した状態で収納保持する絶縁部材である。

尚、本実施の形態では、端子台における端子板の締付ネジの頭部は、磁性体（つまり永久磁石と吸着可能）且つ導電体であり、締付対象の端子板と導通しているものとする。また、金属製端子は、締付ネジに限定されるものではなく、例えば端子板の平坦な表面の一部であってもよいし、端子板の表面上で突起している部分であってもよい。

本実施の形態の磁石片１０ａ、１０ｂは、それぞれ半円柱形状又は半円板形状をなす一対の金属製の永久磁石であり、この永久磁石は、カバー４０に収納された状態で分離板４２を挟んで対向する形状をなしている。本実施の形態では、磁石片１０ａ、１０ｂにおける＋Ｚ側の面には、支持棒２０ａ、２０ｂの雄ねじ（不図示）が噛合するための雌ねじ（不図示）が形成されている。また、本実施の形態では、接触面ＳＡ、ＳＢは、凸面形状（例えば半球面形状）をなす締付ネジの頭部に対して、相補的な凹面形状をなすものである。これにより、接触面ＳＡ、ＳＢは、締付ネジの頭部に対して、隙間なく吸着し得る。

本実施の形態の支持棒２０ａ、２０ｂは、主として、Ｚ軸方向（長手方向）に延在する棒部２１ａ、２１ｂと、磁石片１０ａ、１０ｂのカバー４０に対する−Ｚ側への変位限界を与える突起部２２ａ、２２ｂと、を有する金属部材である。本実施の形態では、突起部２２ａ、２２ｂは、棒部２１ａ、２１ｂに対して一体であってもよいし、別体であってもよい。別体の場合、棒部２１ａ、２１ｂに導通性があれば、突起部２２ａ、２２ｂは特に金属製である必要はない。また、本実施の形態では、支持棒２０ａ、２０ｂにおける−Ｚ側の端部には、前述した雄ねじ（不図示）が形成されている。

尚、本実施の形態の支持棒２０ａ、２０ｂを磁石片１０ａ、１０ｂに固設する場合、前述した雄ねじ及び雌ねじの噛合に限定されるものではなく、例えば溶接でもよい。或いは、磁石片１０ａ（１０ｂ）及び支持棒２０ａ（２０ｂ）は、一体の永久磁石でもよい。また、或いは、磁石片１０ａ（１０ｂ）及び支持棒２０ａ（２０ｂ）は、一体の導電体であるとともに、接触面ＳＡ（ＳＢ）の部分が局所的に永久磁石になっていてもよい。

本実施の形態のカバー４０は、主として、磁石片１０ａ、１０ｂを囲繞する一対の半筒状体４１と、直方形状をなす前述した一対の分離板４２と、磁石片１０ａ、１０ｂ及び突起部２２ａ、２２ｂを隔てる一対の隔壁４３と、を有する絶縁部材である。本実施の形態では、半筒状体４１、分離板４２、及び隔壁４３は一体成型された例えば合成樹脂であり、図１に例示される断面Ｓにおいて相互に当接することにより、図２に例示される円筒形状をなすカバー４０を形成するようになっている。このように一体成型することにより、製造コストを節減できる。本実施の形態の隔壁４３には、前述した支持棒２０ａ、２０ｂをＺ軸方向に変位可能（遊動可能）に保持するための孔部４４ａ、４４ｂが設けられている。本実施の形態では、この孔部４４ａ、４４ｂは、磁石片１０ａ、１０ｂ及び突起部２２ａ、２２ｂの輪郭よりも小さく、棒部２１ａ、２１ｂの断面の輪郭よりも大きい。

尚、図１に例示されるように、本実施の形態のカバー４０は、２本のリード線３０を分けるための仕切り４５を更に有するものである。この仕切り４５は、分離板４２がＺ軸方向に延長されたものとみなすことができる。この分離板４２及び仕切り４５により、磁石片１０ａ、１０ｂのみならず、支持棒２０ａ、２０ｂどうしの短絡を防止できる。また、本実施の形態では、半筒状体４１、分離板４２、隔壁４３、及び仕切り４５は一体成型に限定されるものではなく、それぞれ別体であってもよい。更に、図２に例示されるように、本実施の形態では、カバー４０の＋Ｚ側（第２開口）には、１本又は２本のリード線３０を案内する例えば樹脂製のガイド４６が設けられている。

図３（ａ）に例示されるように、本実施の形態の端子接触素子１００では、カバー４０に対して、磁石片１０ａ及び支持棒２０ａと、磁石片１０ｂ及び支持棒２０ｂとがＺ軸方向に距離ｄだけ独立して変位可能となっている。この距離ｄは、例えば突起部２２ａと隔壁４３とが当接した状態における、磁石片１０ａの＋Ｚ側と、隔壁４３の−Ｚ側との間の距離を意味する。

また、同図に例示されるように、本実施の形態の端子接触素子１００では、例えば磁石片１０ａと、分離板４２及び半筒状体４１との間には隙間がある上に、例えば棒部２１ａと、隔壁の孔部４４ａとの間にも隙間があるため、磁石片１０ａ及び支持棒２０ａと、磁石片１０ｂ及び支持棒２０ｂとがＸＹ面内で上記隙間分だけ独立して変位可能となっている。

以上から、本実施の形態の端子接触素子１００の永久磁石の接触面ＳＡ及び接触面ＳＢは、端子台における端子板の締付ネジの頭部に対して、ＸＹＺ全ての方向に独立に変位可能となる。但し、この変位は、前述した距離ｄ及び隙間に応じた範囲（所定範囲）で可能である。そこで、例えば、接触面ＳＡ、ＳＢが締付ネジの頭部に吸着し固定された状態で、カバー４０がＺ軸に対して傾くことも可能となる（図３（ａ）の白抜きの矢印）。

具体例として、図４に例示されるように、端子接触素子１００が後述する締付ネジ５１の頭部の表面ＳＣに対して、カバー４０の長手方向と締付ネジ５１の長手方向とが平行となるように接続した状態から、カバー４０の長手方向が締付ネジ５１の長手方向に対して傾いて接続した状態に変化した場合について考える。これは、後述するように、耐電圧試験の際にリード線３０が引っ張られて、その応力がカバー４０の長手方向とは交差する方向に作用した場合等に生じる現象である。

図４（ａ）の例示は、端子接触素子１００における、磁石片１０ａ及び棒部２１ａと、磁石片１０ｂ及び棒部２１ｂとが、カバー４０に対して前述した距離ｄだけ独立して変位可能なことによる利点を説明するものである。即ち、締付ネジ５１に対してカバー４０が傾いた側の棒部２１ａが、反対側の棒部２１ｂよりも図中の矢印の向きに相対的に突出することにより、磁石片１０ａ及び磁石片１０ｂの両方が、締付ネジ５１の頭部の表面ＳＣに一部分で接触した状態を保持できる。

或いは、前述した隙間が十分にあれば、図４（ｂ）に例示されるように、磁石片１０ａ及び棒部２１ａ並びに磁石片１０ｂ及び棒部２１ｂの長手方向と、締付ネジ５１の長手方向とを平行に保持したままで、カバー４０の長手方向のみが図中の矢印の向きに傾いた状態を実現できる。この場合は、磁石片１０ａ及び磁石片１０ｂの接触面ＳＡ及びＳＢと、締付ネジ５１の頭部の表面ＳＣとの接触面積は、図４（ａ）の場合よりも大きくなり得る。

以上の構成により、接触面ＳＡ及び接触面ＳＢが表面ＳＣから完全に剥離し難くなるため、耐電圧試験を確実に実施できる。

＜＜＜第２の実施の形態＞＞＞
前述した第１の実施の形態では、接触面ＳＡ、ＳＢはその全ての部分が凹面形状をなすものであったが、図３（ｂ）に例示される接触面ＳＡ’、ＳＢ’のように一部凹面形状をなす方が好ましい。具体的には、同図に例示されるように、端子接触素子１００’の永久磁石の接触面ＳＡ’は、最も−Ｚ側に突出した部分ＳＡ２はＸＹ面に平行な平面形状をなす一方、これ以外の部分ＳＡ１は凹面形状をなすものである。後述するように、一方の端子接触素子１００’の接触面ＳＡ’と、他方の端子接触素子１００’の接触面ＳＢ’とが、永久磁石の異極どうしとして相互に吸着される場合、この突出部分ＳＡ２及びＳＢ２が接触面となり得る。但し、突出部分ＳＡ２、ＳＢ２は、ＸＹ面に平行な平面形状に限定されるものではない。要するに、一方の端子接触素子１００’のＳＡ２と、他方の端子接触素子１００’のＳＢ２とが確実に導通するような形状であればよく、例えば凸面形状であってもよい。

尚、前述した第１の実施の形態及び第２の実施の形態では、接触面ＳＡ、ＳＡ’、ＳＢ、ＳＢ’は、少なくとも一部が凹面形状をなすものであったが、これに限定されるものではなく、例えば平面形状であってもよい。要するに、端子台における端子板の締付ネジの頭部と相補的な形状をなすものであれば、如何なる形状であってもよい。

また、前述した実施の形態では、端子接触素子１００、１００’は円柱形状をなし、これにともない磁石片１０ａ、１０ｂ、１０ａ’、１０ｂ’及びカバー４０も円柱形状又は円板形状及び円筒形状をなすものであったが、これに限定されるものではなく、例えば楕円柱形状や多角柱形状等であってもよい。

＝＝＝端子台試験治具＝＝＝
図５〜図７を参照しつつ、複数の前述した第２の実施の形態の端子接触素子１００’を、複数のリード線３０により接続してなる本実施の形態の耐電圧試験用治具１０００、１００１、１００２について説明する。図５は、本実施の形態の端子台５０及び耐電圧試験用治具１０００の接続状態を説明するための斜視図である。図６は、図５の接続状態におけるＡ−Ｂ断面を−Ｘ側から見た断面図である。図７は、本実施の形態の端子台５０及び耐電圧試験用治具１００１、１００２の接続状態を説明するための平面図である。尚、図５〜図７では、図１〜図４とともに、同じ部材には同一の番号を付してある。

図５及び図６に例示されるように、本実施の形態の端子台５０は、例えば、Ｙ軸方向に延在する絶縁隔壁５０Ｃを境に＋Ｘ側及び−Ｘ側に延在する複数の金属製の端子板（金属製端子）５２が、絶縁盤５０Ｂに対して、締付ネジ（金属製端子、金属製螺子）５１により固定されたものである。前述したように、締付ネジ５１の頭部は、磁性体（つまり永久磁石と吸着可能）且つ導電体であり、締付対象の端子板５２と導通しているものとする。複数の締付ネジ５１は、更に複数の絶縁隔壁５３により隔離されている。

図５に例示されるように、本実施の形態では、例えば７つの前述した第２の実施の形態の端子接触素子１００’が、例えば６つの前述したリード線３０により連続的に接続されて耐電圧試験用治具（端子台試験治具）１０００が構成されている。

具体的には、耐電圧試験用治具１０００の一方の端部にあたる端子接触素子１０１に対しては、支持棒２０ｂのみにリード線３１２が接続されており、このリード線３１２は、隣接する端子接触素子１０２の支持棒２０ａに接続されている。同様に、耐電圧試験用治具１０００の他方の端部にあたる端子接触素子１０７に対しては、支持棒２０ａのみにリード線３６７が接続されており、このリード線３６７は、隣接する端子接触素子１０６の支持棒２０ｂに接続されている。端子接触素子１０１、１０７における開放された支持棒２０ａ、２０ｂからはリード線が出ていないため、安全性が確保されている。端子接触素子１０２、１０３、１０４、１０５、１０６については、図６に例示されるように、隣接する支持棒２０ａ、２０ｂどうしがリード線３２３、３３４、３４５、３５６により接続されている。このように本実施の形態の耐電圧試験用治具１０００を用いれば、図５に例示される全ての端子板５２に対して、試験用電源６０からの電圧が印加可能となる。

本実施の形態の耐電圧試験は、例えば、これらの端子板５２を通じて定格値より高い（接地から所定電位の）交流電圧を一定時間印加して、例えば端子板５２と接続されている、制御盤（不図示）の内部の電線（不図示）及び機器（不図示）と、接地との間の絶縁耐力を試験するものである。

図６に例示されるように、例えば端子接触素子１０３における永久磁石の接触面ＳＡ’及び接触面ＳＢ’は、端子板５２と導通する締付ネジ５１の頭部の表面ＳＣに対し略隙間なく吸着されている。しかも、前述したように、例えば端子接触素子１０３には、表面ＳＣに対して接触面ＳＡ’及び接触面ＳＢ’が吸着し固定されたままで、カバー４０がＺ軸から傾くという自由度がある（図６の白抜きの矢印）。よって、耐電圧試験の際に、もしリード線３２３、３３４に引っ張り応力が作用しても、カバー４０と、接触面ＳＡ’及び接触面ＳＢ’とが表面ＳＣに対してともに傾く現象が発生し難くなる。このため、表面ＳＣと接触面ＳＡ’及び接触面ＳＢ’との吸着力は低下し難くなる。

本実施の形態では、例えば端子接触素子１０３が締付ネジ５１と接触していない場合、２つのリード線３２３、３３４の間には導通はない。一方、端子接触素子１０３が締付ネジ５１と接触している場合、２つのリード線３２３、３３４は締付ネジ５１を介して導通し得る。よって、この端子接触素子１０３を用いれば、締付ネジ５１即ち端子板５２との接触の良否を、２つのリード線３２３、３３４の導通の有無により判別できる。

また、本実施の形態では、前述した接触の良否は、１つの端子接触素子１０３を用いて、１つの端子板５２に対して判別できるため、端子台５０の種類に応じて端子板５２及び締付ネジ５１の配列が異なっても、この判別に支障はない。また、接触面ＳＡ’、ＳＢ’がカバー４０内を変位可能なため、締付ネジ５１の表面ＳＣに対し、その形状に応じて確実に接触し吸着できる。つまり、締付ネジ５１に接触し吸着するための当該締付ネジ５１の表面ＳＣの形状に対する制約が小さい。以上から、本実施の形態の端子接触素子１０３は、端子台５０における締付ネジ５１の配列及び形状の何れに対しても汎用的なものとなる。

更に、本実施の形態では、接触面ＳＡ’、ＳＢ’がカバー４０の−Ｚ側（第1開口）から突出することにより、例えば端子接触素子１０３は締付ネジ５１に接触して吸着し易くなるとともに、端子板５２及び例えばリード線３２３、３３４は確実に導通する。

以上から、このような端子接触素子１０１〜１０７を備えて構成される耐電圧試験用治具１０００によれば、この試験対象としての端子台５０を特に制限することがない上に、容易且つ確実に試験を実施できる。

前述した第２の実施の形態の端子接触素子１００’における２つの磁石片１０ａ’、１０ｂ’は、接触面どうしが同極の永久磁石又は異極の永久磁石の何れで構成されていてもよい。特に、接触面どうしが異極の永久磁石で構成される場合、例えば２つの端子接触素子１０５、１０６（図７）を、２つの耐電圧試験用治具１００１、１００２における一方の端部とすれば、これら端部どうしを接続して、より長い耐電圧試験用治具とすることができる。尚、これに限定されるものではなく、上記のような接触面どうしが異極の永久磁石により磁石片１０ａ’、１０ｂ’が構成される端子接触素子は、耐電圧試験用治具を構成する全ての端子接触素子に使用されてもよい。

図７の挿入図に例示されるように、端子接触素子１０１、１０２、１０３、１０４、１０５を備えた耐電圧試験用治具１００１における端部の端子接触素子１０５と、端子接触素子１０６、１０７、１０８、１０９、１１０、１１１を備えた耐電圧試験用治具１００２における端部の端子接触素子１０６とは、それぞれの磁石片１０ａ’、１０ｂ’を相互に逆向きに対向させて吸着している。同図の例示では、磁石片１０ａ’ の接触面ＳＡ’が永久磁石のＮ極であり、磁石片１０ｂ’ の接触面ＳＢ’が永久磁石のＳ極である。これにより、耐電圧試験用治具１００１のリード線３４５と、耐電圧試験用治具１００２のリード線３６７とは、接触面ＳＡ２、ＳＢ２の吸着面を介して導通していることになる。

図７に例示されるように、上記接続された１つの耐電圧試験用治具を用いて、端子台５０における全ての端子板５２に対して、試験用電源６０からの電圧が印加可能となる。このように、比較的少数の端子接触素子から構成される一方、端部で相互に接続可能な耐電圧試験用治具を複数準備しておけば、耐電圧試験を実施すべき端子板５２の数が異なる様々な端子台５０に対して対応可能となる。

また、前述したように、接触面ＳＡ２、ＳＢ２のそれぞれに対して、２つのカバー４０はＺ軸方向に変位できるため、この２つのカバー４０により磁石片１０ａ’、１０ｂ’を外部から完全に覆い隠すことができる（図７の挿入図）。つまり、磁石片１０ａ’、１０ｂ’が外部から完全に絶縁されることになり、耐電圧試験を安全に実施できる。

＝＝＝第３の実施の形態＝＝＝
前述した接触面どうしが異極の永久磁石により磁石片１０ａ’、１０ｂ’が構成される第２の実施の形態の端子接触素子１０５、１０６では、この磁石片１０ａ’、１０ｂ’どうしに吸着力が発生する。

そこで、図８に例示されるように、本実施の形態の端子接触素子１００”では、分離板４２”は半筒状体４１に固定されておらず、磁石片１０ａ’（例えば接触面がＮ極）及び磁石片１０ｂ’（例えば接触面がＳ極）の間にあって例えば予め固着されている。尚、同図は、第３の実施の形態の端子接触素子１００”の分解斜視図である。また、同図では、図１〜図７における部材と同じ部材には同一の番号を付してある。

これにより、本実施の形態の端子接触素子１００”の永久磁石の接触面ＳＡ’及び接触面ＳＢ’はその相互の位置が変位することはないが、端子台５０における端子板５２の締付ネジ５１の頭部に対しては、ＸＹＺ全ての方向にともに変位可能となる。よって、例えば、接触面ＳＡ’、ＳＢ’が締付ネジ５１の頭部に吸着し固定された状態で、カバー４０”がＺ軸に対して傾くことも可能となる。また、分離板４２”がカバー４０”と別体であれば、前述したカバー４０を分離板４２と一体成型する場合に比べてその構造が簡単になるため、製造コストを節減できる。

＝＝＝第４の実施の形態＝＝＝
前述した耐電圧試験用治具１００１、１００２は、例えば比較的少数の端子接触素子から構成される一方、端部で相互に接続可能な耐電圧試験用治具であったため、これを複数準備しておけば、耐電圧試験を実施すべき端子板５２の数が異なる様々な端子台５０に対して、端子接触素子を余すところなく対応可能となる。

図９に例示されるように、本実施の形態の耐電圧試験用治具１００３は、例えば比較的多数の試験接続端子（例えば試験接続端子１００’）を備えて構成される１つの耐電圧試験用治具である。例えばこの端子接触素子の数が、端子台５０における端子板５２の締付ネジ５１の数よりも多い場合、耐電圧試験に使用されない端子接触素子（例えば端子接触素子１１２、１１３）の接触面ＳＡ’、ＳＢ’を絶縁被覆するためのキャップ（絶縁キャップ）７０、７０’が使用される。尚、図９（ａ）は、本実施の形態の端子台５０及び耐電圧試験用治具１００３の接続状態と、金属片７４を有するキャップ７０による端子接触素子１１２、１１３の被覆状態とを説明するための断面図である。図９（ｂ）は、金属片７４を有さないキャップ７０’の断面図である。また、図９では、図１〜図８における部材と同じ部材には同一の番号を付してある。

図９（ａ）に例示されるように、本実施の形態のキャップ７０は、例えば締付ネジ５１の頭部の表面ＳＣと同じ形状の表面ＳＤを有する金属片７４を内部に備えた絶縁部材である。具体的には、本実施の形態のキャップ７０は、絶縁体である本体７１と、金属片７４とを備えたものである。この本体７１には、端子接触素子１１２、１１３の絶縁被覆時にその接触面ＳＡ’、ＳＢ’と対向する被覆面７３と、同絶縁被覆時にその半筒状体４１の外周面を囲繞する側壁７２とが更に形成されている。金属片７４は、被覆面７３に対し、その表面ＳＤが＋Ｚ側を向くように設けられている。また、この金属片７４は、磁性体（つまり永久磁石と吸着可能）である。

同図に例示されるように、本実施の形態の耐電圧試験用治具１００３の端子接触素子１１２、１１３の接触面ＳＡ’、ＳＢ’と、キャップ７０の金属片７４の表面ＳＤとは略隙間なく吸着している上に、この吸着部分は側壁７２により絶縁被覆されている。これにより、耐電圧試験を安全に実施できる。

図９（ｂ）に例示されるように、主として絶縁体である本体７１からなり、前述した金属片７４を備えていないキャップ７０’を使用してもよい。この本体７１には、端子接触素子１１２、１１３を絶縁被覆する被覆面７３と、同絶縁被覆時にその半筒状体４１の外周面に密着する係止部７５を有する弾性側壁７２’とが更に形成されている。ここで、絶縁被覆していない場合には、係止部７５のなす円の内径は半筒状体４１の外径よりも小さい状態にある一方、絶縁被覆している場合には、弾性側壁７２’が外側に開くことにより、係止部７５が半筒状体４１の外周面に密着するようになっている。このキャップ７０’は、前述したキャップ７０と比べて、金属片７４がない分だけ製造コストを節減できる。

前述した実施の形態は、本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定して解釈するためのものではない。本発明は、その趣旨を逸脱することなく変更、改良されるとともに、本発明にはその等価物も含まれる。

第１の実施の形態の端子接触素子の分解斜視図である。 第１の実施の形態の端子接触素子の組立斜視図である。 （ａ）は、第１の実施の形態の端子接触素子のＺ軸方向に沿った部分断面図であり、（ｂ）は、第２の実施の形態の端子接触素子のＺ軸方向に沿った部分断面図である。 第１の実施の形態の端子接触素子の締付ネジに対する接続状態を説明するための部分断面図である。 本実施の形態の端子台及び耐電圧試験用治具の接続状態を説明するための斜視図である。 図５の接続状態におけるＡ−Ｂ断面を−Ｘ側から見た断面図である。 本実施の形態の端子台及び耐電圧試験用治具の接続状態を説明するための平面図である。 第３の実施の形態の端子接触素子の分解斜視図である。 （ａ）は、第４の実施の形態の端子台及び耐電圧試験用治具の接続状態と、金属片を有するキャップによる端子接触素子の被覆状態とを説明するための断面図であり、（ｂ）は、金属片を有さないキャップの断面図である。

符号の説明

１０ａ、１０ｂ 磁石片 １０ａ’、１０ｂ’ 磁石片
２０ａ、２０ｂ 支持棒 ２１ａ、２１ｂ 棒部
２２ａ、２２ｂ 突起部 ３０ リード線
３１２、３２３、３３４ リード線 ３４５、３５６、３６７ リード線
４０、４０” カバー ４１ 半筒状体
４２、４２” 分離板 ４３ 隔壁
４４ａ、４４ｂ 孔部 ４５ 仕切り
４６ ガイド ５０ 端子台
５０Ｂ 絶縁盤 ５０Ｃ 絶縁隔壁
５１ 締付ネジ ５２ 端子板
５３ 絶縁隔壁 ６０ 試験用電源
７０、７０’ キャップ ７１ 本体
７２、７２’ 側壁 ７３ 被覆面
７４ 金属片 ７５ 係止部
１００、１００’、１００” 端子接触素子 １０１〜１１３ 端子接触素子
１０００ 耐電圧試験用治具 １００１〜１００３ 耐電圧試験用治具

Claims (12)

1. 一方の面が端子台の各金属製端子の表面と接触する一対の磁石片と、
   一端が前記一対の磁石片の前記一方の面とは反対側の面と接続され、他端が導電線と接続可能な導電性の一対の支持棒と、
   前記一対の磁石片を前記一対の支持棒の長手方向に沿って分離する絶縁性の分離板と、
   前記一対の磁石片の前記一方の面が突出又は待避する第1開口と、前記導電線を導出する第２開口と、を有し、前記一対の磁石片の前記一方の面が前記第１開口から出入りするように、前記一対の磁石片及び前記一対の支持棒を、前記長手方向及び当該長手方向と交差する方向を所定範囲で遊動可能に保持する絶縁性のカバーと、
   を備えたことを特徴とする端子接触素子。
2. 前記分離板は、前記カバーと一体であることを特徴とする請求項１に記載の端子接触素子。
3. 前記分離板は、前記一対の磁石片及び前記一対の支持棒を前記長手方向に沿って分離することを特徴とする請求項２に記載の端子接触素子。
4. 前記分離板は、前記カバーとは別体であり且つ前記一対の磁石片の間に固着される、
   ことを特徴とする請求項１に記載の端子接触素子。
5. 前記金属製端子の表面は、凸曲面の形状を有し、
   前記一対の磁石片の前記一方の面は、前記金属製端子の表面と接触可能な凹曲面の形状を有する、ことを特徴とする請求項１に記載の端子接触素子。
6. 前記金属製端子は、前記端子台に螺着される金属製螺子の頭部であることを特徴とする請求項５に記載の端子接触素子。
7. 前記一対の磁石片の前記一方の面は、異極どうしであり、
   前記一対の磁石片の前記一方の面は、他の前記端子接触素子における前記一対の磁石片の前記一方の面の異極どうしと接触可能な形状を有する、
   ことを特徴とする請求項１、５、６の何れかに記載の端子接触素子。
8. 前記一対の磁石片の前記一方の面が、他の前記端子接触素子における前記一対の磁石片の前記一方の面の異極どうしと接触した場合、
   前記カバーの前記第１開口は、前記他の端子接触素子における前記カバーの前記第1開口と接触可能である、ことを特徴とする請求項７に記載の端子接触素子。
9. 前記第1開口を塞ぐ着脱可能な絶縁キャップ、を備えたことを特徴とする請求項１に記載の端子接触素子。
10. 前記絶縁キャップは、前記第１開口を塞ぐ場合、前記一対の磁石片の前記一方の面と接触する金属片を有することを特徴とする請求項９に記載の端子接触素子。
11. 請求項１に記載の前記端子接触素子を複数備え、
    隣接する前記端子接触素子における隣接する前記支持棒どうし前記導電線を介して接続してなることを特徴とする端子台試験治具。
12. 前記複数の端子接触素子における両端の前記支持棒は、前記導電線と接続されずに開放されてなることを特徴とする請求項１１に記載の端子台試験治具。
    
    

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