JP4635895B2 - テストシステム - Google Patents

Description

本発明は、有機ＥＬドライバを試験するテストシステムに関し、試験環境を容易に構築できるテストシステムに関するものである。

近年、有機ＥＬ（Electro Luminescence）を発光素子として用いたディスプレイが提案されている。この有機ＥＬは、ダイオード機能を有し、電流が与えられることで発光する。このため、従来の液晶駆動ドライバで用いられた電圧出力と異なり、有機ＥＬドライバは電流出力が用いられることになった。このような有機ＥＬドライバをＩＣテスタで試験する場合、Ｉ／Ｖ変換を用い、有機ＥＬドライバの電流出力を、ＩＣテスタが試験を行える電圧に変換している。このような装置は、例えば下記特許文献１等に記載されている。

特開２００４−２９４０９３号公報

このような装置を図２に示し説明する。図２において、ＤＵＴ１は、有機ＥＬドライバで、複数の電流出力ピンから多階調の電流出力を行う。測定回路２は、ＤＵＴ１の電流出力ピンごとに設けられ、例えばパフォーマンスボードと呼ばれるプリント基板に搭載され、ＤＵＴ１の電流出力ピンと電気的に接続する。測定回路２は、スイッチＳＷ１，ＳＷ２、抵抗Ｒ０からなる。スイッチＳＷ１は、可動接点ａがＤＵＴ１の電流出力ピンに電気的に接続される。スイッチＳＷ１，ＳＷ２は、固定接点ｂ，ｃ同士が電気的に接続される。抵抗Ｒ０は、一端がスイッチＳＷ１，ＳＷ２の固定接点ｃに電気的に接続される。

ＬＣＤピンエレ部３は、測定回路２ごとに設けられ、試験ピンが測定回路２に接続され、リレーＲＬ１〜ＲＬ３、Ａ／Ｄ変換器３１、電圧発生部３２、電流発生部３３等からなり、液晶ディスプレイを駆動する液晶駆動ドライバの試験が行える。リレーＲＬ１は、一端が測定回路２のスイッチＳＷ２の可動接点ａに接続される。Ａ／Ｄ変換器３１は、入力端がリレーＲＬ１の他端に接続される。リレーＲＬ２は、一端がリレーＲＬ１の他端に接続される。電圧発生部３２は、例えばアクティブロード等で、出力端がリレーＲＬ２の他端に接続される。リレーＲＬ３は、一端がリレーＲＬ１の他端に接続される。電流発生部３３は、出力端がリレーＲＬ３の他端に接続される。電圧発生器４は、フォース線Ｆ、センス線Ｓが複数の測定回路２の抵抗Ｒの他端に接続される。ＬＣＤピンエレ部３、電圧発生器４は、ＩＣテスタに設けられる。

このような装置の動作を説明する。ＤＵＴ１が測定回路２に電気的に接続され、コンタクト試験を行う場合、スイッチＳＷ１，ＳＷ２の可動接点ａを固定接点ｂに接続し、リレーＲＬ１，ＲＬ３をオンとし、リレーＲＬ２をオフとする。そして、電流発生部３３が電流を出力し、Ａ／Ｄ変換器３１で電圧を測定する。この測定結果により、図示しない演算部がＤＵＴ１に接続できているかどうか確認する。

次に、電圧試験を行う場合、スイッチＳＷ１，ＳＷ２の可動接点ａを固定接点ｂに接続し、リレーＲＬ１をオンとし、リレーＲＬ２，ＲＬ３をオフとする。そして、図示しない信号発生部からの入力信号により、電圧モードとなり、ＤＵＴ１が電流出出力ピンから電圧出力を行い、Ａ／Ｄ変換器３１が電圧を測定することにより、ＤＵＴ１の電圧試験を行っている。

そして、電流試験を行う場合、スイッチＳＷ１，ＳＷ２の可動接点ａを固定接点ｃに接続し、リレーＲＬ１をオン状態とし、リレーＲＬ２，ＲＬ３をオフとする。電圧発生器４が、センス線Ｓにより電圧を測定しながら、フォース線Ｆより、抵抗Ｒ０に対して、所望の電圧を与える。そして、図示しない信号発生部からの入力信号により、ＤＵＴ１が多階調電流出力を行い、ＤＵＴ１が出力する電流を抵抗Ｒ０により電圧に変換して、Ａ／Ｄ変換器３１が電圧を測定する。電圧試験、電流試験の測定結果により、図示しない演算部がＤＵＴ１の良否の判定を行う。ここで、電圧発生部３２は、試験に用いられていないが、液晶駆動ドライバの試験時に用いられる。

有機ＥＬドライバは、近年発展してきたもので、液晶駆動ドライバと異なり、まだ、最適な試験仕様が決まっておらず、試験仕様が変わりやすい。このため、パフォーマンスボード上の測定回路２の仕様、スイッチＳＷ１，ＳＷ２に用いられる半導体リレーのリーク、抵抗Ｒ０の抵抗値も変更しなくてはならない。この結果、試験仕様の変更に伴い、測定回路２が搭載されるパフォーマンスボード等を作り直さなければならない。

そこで、本発明の目的は、試験環境を容易に構築できるテストシステムを実現することにある。

このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
有機ＥＬドライバを、プリント基板を介して、ＩＣテスタにより試験するテストシステムにおいて、
前記プリント基板に設けられ、前記有機ＥＬドライバの電流出力ピンごとに設けられ、この電流出力ピンに一端が電気的に接続される抵抗と、
前記ＩＣテスタに設けられ、前記抵抗のそれぞれに対して、抵抗の一端に試験ピンを電気的に接続し、電圧を測定し、液晶駆動ドライバの多階調電圧出力ピンの試験が行える第１の液晶駆動ドライバ試験部と、
前記ＩＣテスタに設けられ、前記抵抗のそれぞれに対して、抵抗の他端に試験ピンを電気的に接続し、電圧試験を行う場合、前記プリント基板との接続をオフまたはハイインピーダンスとし、電流試験を行う場合、抵抗に電圧を与え、液晶駆動ドライバの多階調電圧出力ピンの試験が行える第２の液晶駆動ドライバ試験部と
を備えたことを特徴とするテストシステム。
請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明であって、
第１、第２の液晶駆動ドライバ試験部は、
試験ピンと一端を電気的に接続し、オン、オフを行う第１のスイッチと、
この第１のスイッチの他端と電気的に接続するＡ／Ｄ変換器と、
前記第１のスイッチの他端と一端を電気的に接続し、オン、オフを行う第２のスイッチと、
この第２のスイッチと電気的に接続し、電圧発生が行える電圧発生部と
を有することを特徴とするものである。
請求項３記載の発明は、請求項１または２記載の発明であって、
有機ＥＬドライバ接続前に、第１または第２の液晶駆動ドライバ試験部の電圧出力を、抵抗を介して、第２または第１の液晶駆動ドライバ試験部に出力し、少なくとも第２または第１の液晶駆動ドライバ試験部で測定を行った結果により、第１、第２の液晶駆動ドライバ試験部間の抵抗値を求める演算部を設けたことを特徴とするものである。
請求項４記載の発明は、請求項１〜３のいずれかに記載の発明であって、
第１、第２の液晶駆動ドライバ試験部は、抵抗のそれぞれに対して、個別に設けられることを特徴とするものである。

本発明によれば、第２の液晶駆動ドライバ試験部により、抵抗に電圧を与え、有機ＥＬドライバの電流出力を第１の液晶駆動ドライバ試験部で電圧測定を行うので、抵抗を設けるだけで、有機ＥＬドライバが出力する電流値を求めることができる。抵抗を設けるだけなので、試験仕様が変更されても、迅速に対応することができ、試験環境を容易に構築できる。また、抵抗だけなので、抵抗を搭載するスペースを少なくすることができ、Ｉ／Ｖ変換のための抵抗を多数設けることができ、有機ＥＬドライバの多ピン化、有機ＥＬドライバの多数同時試験が行える。

請求項３によれば、第１または第２の液晶駆動ドライバ試験部の電圧出力、第２または第１の液晶駆動ドライバ試験部の電圧測定により、演算部が第１、第２の液晶駆動ドライバ試験部の経路間の抵抗値を容易に求めることができ、有機ＥＬドライバの正確な電流値を求め、有機ＥＬドライバの正確な良否の判定を行うことができる。

以下本発明を、図面を用いて詳細に説明する。図１は本発明の一実施例を示した構成図である。ここで、図２と同一のものは同一符号を付し説明を省略する。

図１において、抵抗Ｒは、パフォーマンスボードに、ＤＵＴ１の電流出力ピンごとに設けられ、この電流出力ピンに一端が電気的に接続される。ＬＣＤピンエレ部３ａ，３ｂは液晶駆動ドライバ試験部で、図２に示す装置のＬＣＤピンエレ部３と同様に、それぞれリレーＲＬ１ａ〜ＲＬ３ａ，ＲＬ１ｂ〜ＲＬ３ｂ、Ａ／Ｄ変換器３１ａ，３１ｂ、電圧発生部３２ａ，３２ｂ、電流発生部３３ａ，３３ｂ等を有する。そして、複数のＬＣＤピンエレ部３ａ，３ｂは、ＩＣテスタに設けられ、抵抗Ｒの一端、他端のそれぞれに対して、個別に設けられ、試験ピンを電気的に接続し、液晶駆動ドライバの多階調電圧出力ピンの試験が行える。演算部５は、ＬＣＤピンエレ部３ａ，３ｂのＡ／Ｄ変換器３１ａ，３１ｂの出力を入力し、演算を行う。

このような装置の動作を以下に説明する。まず、ＤＵＴ１に電気的に接続する前に、ＬＣＤピンエレ部３ａ，３ｂのリレーＲＬ１ａ，ＲＬ１ｂ，ＲＬ２ｂをオンにし、リレーＲＬ２ａ，ＲＬ３ａ，ＲＬ３ｂをオフにする。そして、ＬＣＤピンエレ部３ｂの電圧発生部３２ｂが抵抗Ｒを介してＬＣＤピンエレ部３ａに出力する。Ａ／Ｄ変換器３１ａ，３１ｂが、電圧値を測定し、演算部５に出力する。演算部５は、Ａ／Ｄ変換器３１ａ，３１ｂの測定結果により、経路上の抵抗も含めて、抵抗Ｒの抵抗値を求める。

ＤＵＴ１が抵抗Ｒに電気的に接続され、コンタクト試験を行う場合、リレーＲＬ１ａ，ＲＬ３ａをオンとし、リレーＲＬ２ａ，ＲＬ１ｂ〜ＲＬ３ｂをオフとする。そして、電流発生部３３ａが電流を出力し、Ａ／Ｄ変換器３１ａで電圧を測定する。この測定結果により、演算部５がＤＵＴ１に接続できているかどうか確認する。

次に、電圧試験を行う場合、ＬＣＤピンエレ部３ａのリレーＲＬ１ａをオンとし、ＬＣＤピンエレ部３ａのリレーＲＬ２ａ，ＲＬ３ａ、ＬＣＤピンエレ部３ｂのリレーＲＬ１ｂ〜ＲＬ３ｂをオフとする。そして、図示しない信号発生部から入力信号により、ＤＵＴ１が電圧モードとなり、ＤＵＴ１が電圧出力ピンから電圧出力を行い、ＬＣＤピンエレ部３ａのＡ／Ｄ変換器３１ａが電圧を測定する。演算部５が、Ａ／Ｄ変換器３１ａの出力により電圧試験の良否の判定を行う。

そして、電流試験を行う場合、ＬＣＤピンエレ部３ａのリレーＲＬ１ａ、ＬＣＤピンエレ部３ｂのリレーＲＬ１ｂ，ＲＬ２ｂをオンとし、ＬＣＤピンエレ部３ａのリレーＲＬ２ａ，ＲＬ３ａ、ＬＣＤピンエレ部３ｂのリレーＲＬ３ｂをオフの状態とする。電圧発生部３２ｂが、抵抗Ｒに対して、所望の電圧を与える。そして、図示しない信号発生部からの入力信号により、ＤＵＴ１が出力する多階調電流が、抵抗Ｒ、リレーＲＬ１ｂ，ＲＬ２ｂを介して電圧発生部３２ｂに流れ、Ａ／Ｄ変換器３１ａがリレーＲＬ１ａを介して抵抗Ｒの一端の電圧を測定する。演算部５が、電圧発生部３２ｂの電圧値とＡ／Ｄ変換器３１ａの出力と上記で求めた抵抗Ｒの抵抗値とにより、ＤＵＴ１の電流値（＝（（Ａ／Ｄ変換器３１ａの出力値）−（電圧発生部３２ｂの電圧値））／（抵抗Ｒの抵抗値））を求め、電流試験の良否の判定を行う。

このように、ＬＣＤピンエレ部３ｂにより、抵抗Ｒに電圧を与え、ＤＵＴ１の電流出力をＬＣＤピンエレ部３ａで電圧測定を行うので、抵抗Ｒを設けるだけで、ＤＵＴ１が出力する電流値を求めることができる。抵抗Ｒを設けるだけなので、試験仕様が変更されても、迅速に対応することができ、試験環境を容易に構築できる。また、抵抗Ｒだけなので、パフォーマンスボードのスペースを少なくすることができ、Ｉ／Ｖ変換のための抵抗を多数設けることができ、有機ＥＬドライバの多ピン化、有機ＥＬドライバの多数同時試験が行える。

また、ＬＣＤピンエレ部３ｂの電圧出力、ＬＣＤピンエレ部３ａ，３ｂの電圧測定により、演算部６がＬＣＤピンエレ部３ａ，３ｂの経路間の抵抗値を容易に求めることができ、ＤＵＴ１の正確な電流値を求め、ＤＵＴ１の正確な良否の判定を行うことができる。

なお、本発明はこれに限定されるものではなく、抵抗値を求めるために、電圧発生部３２ｂが電圧発生を行う構成を示したが、電圧発生部３２ａが電圧発生を行う構成でもよい。

また、電圧発生部３２ａ，３２ｂは、ＬＣＤピンエレ部３ａ，３ｂに個別に設ける構成だけでなく、１つの電圧発生部が複数のＬＣＤピンエレ部をマルチプレクサで選択し、電圧発生を行う構成でもよい。同様に、Ａ／Ｄ変換器３１ａ，３１ｂは、ＬＣＤピンエレ部３ａ，３ｂに個別に設ける構成だけでなく、１つのＡ／Ｄ変換器が、複数のＬＣＤピネエレ部をマルチプレクサで選択し、電圧測定を行う構成でもよい。同様に、電流発生部３３ａ，３３ｂも、ＬＣＤピンエレ部３ａ，３ｂに個別に設ける構成だけでなく、１つの電流発生部が複数のＬＣＤピンエレ部をマルチプレクサで選択し、電流発生を行う構成でもよい。

また、パフォーマンスボードに抵抗Ｒを搭載する構成を示したが、ＩＣ（液晶駆動ドライバ）テスタとＤＵＴ１との間ならばどこに搭載する構成でもよい。

また、抵抗値を求める時に、Ａ／Ｄ変換器３１ａ，３１ｂで測定する構成を示したが、電圧発生部３２ｂの出力が既知(正確)ならば、Ａ／Ｄ変換器３１ａのみ測定を行う構成でもよい。また、電圧発生部３２ａが出力を行い、Ａ／Ｄ変換器３１ｂが測定する構成でもよい。

そして、電流試験時に、Ａ／Ｄ変換器３１ｂで測定を行い、電圧発生部３２ｂの電圧出力を所望の電圧になるように、図示しない制御部により制御する構成でもよい。

さらに、液晶駆動ドライバ試験部３ａ，３ｂは、リレーＲＬ１ａ〜ＲＬ３ａ，ＲＬ１ｂ〜ＲＬ３ｂを設けた構成を示したが、Ａ／Ｄ変換器３１ａ，３１ｂ、電圧発生部３２ａ，３２ｂ、電流発生部３３ａ，３３ｂをハイインピーダンスにする構成にすれば、リレーＲＬ１ａ〜ＲＬ３ａ，ＲＬ１ｂ〜ＲＬ３ｂを設けない構成でもよい。また、リレーＲＬ１ａ〜ＲＬ３ａ，ＲＬ１ｂ〜ＲＬ３ｂの種類に限定されるものではなく、オン、オフできるスイッチであればよい。

本発明の一実施例を示した構成図である。 従来のテストシステムの構成を示した図である。

符号の説明

１ ＤＵＴ
３ａ，３ｂ ＬＣＤピンエレ部
Ｒ 抵抗
ＲＬ１ａ，ＲＬ２ａ，ＲＬ１ｂ，ＲＬ２ｂ リレー
３１ａ，３１ｂ Ａ／Ｄ変換器
３２ａ，３２ｂ 電圧発生部
５ 演算部

Claims (4)

1. 有機ＥＬドライバを、プリント基板を介して、ＩＣテスタにより試験するテストシステムにおいて、
   前記プリント基板に設けられ、前記有機ＥＬドライバの電流出力ピンごとに設けられ、この電流出力ピンに一端が電気的に接続される抵抗と、
   前記ＩＣテスタに設けられ、前記抵抗のそれぞれに対して、抵抗の一端に試験ピンを電気的に接続し、電圧を測定し、液晶駆動ドライバの多階調電圧出力ピンの試験が行える第１の液晶駆動ドライバ試験部と、
   前記ＩＣテスタに設けられ、前記抵抗のそれぞれに対して、抵抗の他端に試験ピンを電気的に接続し、電圧試験を行う場合、前記プリント基板との接続をオフまたはハイインピーダンスとし、電流試験を行う場合、抵抗に電圧を与え、液晶駆動ドライバの多階調電圧出力ピンの試験が行える第２の液晶駆動ドライバ試験部と
   を備えたことを特徴とするテストシステム。
2. 第１、第２の液晶駆動ドライバ試験部は、
   試験ピンと一端を電気的に接続し、オン、オフを行う第１のスイッチと、
   この第１のスイッチの他端と電気的に接続するＡ／Ｄ変換器と、
   前記第１のスイッチの他端と一端を電気的に接続し、オン、オフを行う第２のスイッチと、
   この第２のスイッチと電気的に接続し、電圧発生が行える電圧発生部と
   を有することを特徴とする請求項１記載のテストシステム。
3. 有機ＥＬドライバ接続前に、第１または第２の液晶駆動ドライバ試験部の電圧出力を、抵抗を介して、第２または第１の液晶駆動ドライバ試験部に出力し、少なくとも第２または第１の液晶駆動ドライバ試験部で測定を行った結果により、第１、第２の液晶駆動ドライバ試験部間の抵抗値を求める演算部を設けたことを特徴とする請求項１または２記載のテストシステム。
4. 第１、第２の液晶駆動ドライバ試験部は、抵抗のそれぞれに対して、個別に設けられることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載のテストシステム。

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