JP4628250B2 - キャパシタンス測定システム - Google Patents
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Description
キャパシタンスを測定する装置であって、
各々異なるキャパシタンスを表す複数の状態を有するキャパシタネットワーク(31)と、
測定されるキャパシタンスを該ネットワーク(31)のキャパシタンスと比較し、該測定されるキャパシタンスが該ネットワーク(31)のキャパシタンスより大きいか小さいかを表す出力を提供するセンスアンプ(30)と、
該センスアンプ(30)の出力に応答する制御回路であって、該ネットワーク(31)の複数の状態のなかから選択した状態が表すキャパシタンスと、該測定されるキャパシタンスとに基づいてデジタル測定出力であるデジタル値を供給する制御回路(33)と
を備え、
該制御回路(33)は、
その出力が該キャパシタネットワークの状態を選択するように構成され、該キャパシタネットワークの出力するキャパシタンス値を、該状態の選択により一定量ずつ段階的に変化させつつ、この変化の回数をカウントするカウンタ(60〜65)を備え、
該センスアンプ(30)は、該キャパシタネットワークの出力するキャパシタンスに応じた電圧値と、測定されるキャパシタンスの容量値に応じた電圧値とを比較し、
該制御回路(33)は、該センスアンプ(30)での比較結果の極性が反転したときの該カウンタのカウント値を、測定されるキャパシタンスの容量値を示すデジタル値として測定し、
該比較結果の極性は、該測定されるキャパシタンスが該ネットワーク(31)のキャパシタンスより大きいか小さいかによって異なることを特徴とする、キャパシタンス測定装置。
上記センスアンプ(30)は測定サイクルを有し、
該測定サイクルは、上記測定されるキャパシタンスおよび上記キャパシタネットワーク(31)を同一電圧に充電することと、該測定されるキャパシタンス内 および該キャパシタネットワーク(31)内の電荷を同一量だけ変化させることと、該測定されるキャパシタンスの電圧と該キャパシタネットワーク(31)の電圧とを比較することとを含む、ことを特徴とする、項目1に記載のキャパシタンス測定装置。
上記センスアンプ(30)は、チャージトランスファーアンプを備えることを特徴とする、項目2に記載のキャパシタンス測定装置。
上記キャパシタネットワーク(31)は、各々、電子スイッチ(SW0,...,SWN)
を介して並列に接続可能な複数のキャパシタ(C0,...,CN)を備えることを特徴とす
る、項目1〜3のうちのいずれか一項に記載のキャパシタンス測定装置。
上記複数のキャパシタ(C0,...,CN)は、バイナリーに重み付けされたキャパシタ
ンスを有することを特徴とする、項目4に記載のキャパシタンス測定装置。
上記キャパシタネットワーク(31)は、永続的に接続されたキャパシタ(CR)をさらに備えることを特徴とする、項目4または5に記載のキャパシタンス測定装置。
上記センスアンプ(30)の出力に接続された電圧比較器(32)を備えることを特徴とする、項目1〜6のうちのいずれか一項に記載のキャパシタンス測定装置。
上記電圧比較器(32)は、ダイナミックラッチを備えることを特徴とする、項目7に記載のキャパシタンス測定装置。
較正動作フェーズの間において上記制御回路(33)からの較正値を格納し、測定動作フェーズの開始において該較正値を上記キャパシタネットワーク(31)に、該キャパシタネットワーク(31)の初期状態が前記測定されるキャパシタンスに対して適切な状態となるよう提供するメモリ(80)を備えることを特徴とする、項目1〜8のうちのいずれか一項に記載のキャパシタンス測定装置。
センサ素子(10)のアレイであって、センサ素子の各々が、キャパシタを形成するために上に重なる素材と協働するための電極(15)を含む、アレイと、
項目1〜9のうちのいずれか一項に記載の少なくとも1つのキャパシタンス測定装置と、
該電極(15)を該少なくとも1つのキャパシタンス測定装置に接続するためのスイッチングネットワーク(6)と
を備えることを特徴とする、センサアレイ。
上記ネットワーク(6)が、上記電極(15)を同時に各キャパシタンス測定装置に接続するように配置されていることを特徴とする、項目10に記載のセンサアレイ。
上記ネットワークが、アクティブマトリクス(6)を備えることを特徴とする、項目10または11に記載のセンサアレイ。
アクティブマトリクスディスプレイであって、その中において、センサ素子は行列状に配置された画素(10)を備え、各画素は、表示される画像データを受信 するためのディスプレイデータ入力と、該データ入力からの画像データの入力をイネーブルにするスキャン入力とを有し、各列の画素(10)のデータ入力は各々列データ線(12)に接続され、各行の画素(10)のスキャン入力は各々行スキャン線(13)に接続される、アクティブマトリクスディスプレイと、
該列データ線(12)にデータ信号を供給するデータ信号生成器(4)と、
該行スキャン線(13)にスキャン信号を供給するスキャン信号生成器(5)と、
該列データ線(12)に接続され、外部刺激に応答して該ディスプレイ画素(10)によっておよびその中において生成されたセンサ信号に応答する出力配置 (19)であって、データ線キャパシタンスおよび画素キャパシタンスを測定する少なくとも1つのキャパシタンス測定装置を備える出力配置(19)と
を備えることを特徴とする、項目12に記載のセンサアレイ。
上記データ信号生成器(4)、上記スキャン信号生成器(5)、および上記出力配置(19)が、その上に集積されるディスプレイ基板(1)を備えることを特徴とする、項目13に記載のセンサアレイ。
各画素(10)は、画像生成素子(14)および電子スイッチ(11)を備えることを特徴とする、項目13または14に記載のセンサアレイ。
各画像生成素子(14)は、液晶素子を備えることを特徴とする、項目15に記載のセンサアレイ。
センサ素子(10)のセンサアレイであって、センサ素子の各々が、キャパシタを形成するために上に重なる素材と協働するための電極(15)を含む、センサアレイと、
項目9に記載の少なくとも1つのキャパシタンス測定装置と、
該電極(15)を該少なくとも1つのキャパシタンス測定装置に接続するためのスイッチングネットワーク(6)とを備え、
各キャパシタンス測定装置が、外部的な刺激なしに、周期的に上記較正フェーズを実行するように配置されていることを特徴とする、センサアレイ。
各キャパシタンス測定装置が、少なくとも上記アレイのスイッチオン時において、上記較正フェーズを実行するように配置されていることを特徴とする、項目17に記載のセンサアレイ。
キャパシタンス測定装置(20)は、例えば、「タッチスクリーン」機能を提供するためのアクティブマトリクス液晶ディスプレイの様々な画素キャパシタンスを測定するために提供される。その装置は、複数の異なるキャパシタンスの状態を有するキャパシタネットワーク(31)を含む。センスアンプ(30)は、測定されるキャパシタンスとネットワーク(31)のキャパシタンスとを比較し、比較器(32)は、測定されるキャパシタンスがネットワーク(31)キャパシタンスよりも大きいか小さいかを示す出力を供給する。制御回路(33)は、ネットワーク(31)にその状態を介してスイッチさせ、計測されるキャパシタンスに隣接するキャパシタンスにあるネットワーク(31)の状態を選択するために比較器(32)の出力を監視する。ネットワーク(31)によって与えられたキャパシタンスに対応したデジタル測定は、出力(34)へ供給され、測定されるキャパシタンスの測定を提供する。
VA>VB=0
VA<VB=1
となる。制御ロジック33は、キャパシタ出力が状態を変更すると、キャパシタネットワークの値に対応するバイナリ数が出力されるように配置される。
キャパシタネットワークが状態xである第xのセンスアンプ動作サイクル毎に、CNet、x>CMeasである場合、アンプ30は、VB>VA(48)であるように待機フェーズ中に出力電圧を生成し、比較器出力は、ハイに状態を変更し、制御ロジック33は、キャパシタネットワーク31に値に対応するバイナリ数を出力する(49)。このキャパシタンス測定シーケンスは完了する。
(a)比較器出力がハイである場合、カウンタはディスエーブルされ、変換が完了する。この時点でカウンタ出力に固定された値はキャパシタネットワーク31の状態に対応し、したがって測定されるキャパシタンスの値である。
31 キャパシタネットワーク
32 比較器
33 制御回路(ロジック)
80 メモリ
Claims (18)
- キャパシタンスを測定する装置であって、
各々異なるキャパシタンスを表す複数の状態を有するキャパシタネットワーク(31)と、
測定されるキャパシタンスを該ネットワーク(31)のキャパシタンスと比較し、該測定されるキャパシタンスが該ネットワーク(31)のキャパシタンスより大きいか小さいかを表す出力を提供するセンスアンプ(30)と、
該センスアンプ(30)の出力に応答する制御回路であって、該ネットワーク(31)の複数の状態のなかから選択した状態が表すキャパシタンスと、該測定されるキャパシタンスとに基づいてデジタル測定出力であるデジタル値を供給する制御回路(33)と
を備え、
該制御回路(33)は、
その出力が該キャパシタネットワークの状態を選択するように構成され、該キャパシタネットワークの出力するキャパシタンス値を、該状態の選択により一定量ずつ段階的に変化させつつ、この変化の回数をカウントするカウンタ(60〜65)を備え、
該センスアンプ(30)は、該キャパシタネットワークの出力するキャパシタンスに応じた電圧値と、測定されるキャパシタンスの容量値に応じた電圧値とを比較し、
該制御回路(33)は、該センスアンプ(30)での比較結果の極性が反転したときの該カウンタのカウント値を、測定されるキャパシタンスの容量値を示すデジタル値として測定し、
該比較結果の極性は、該測定されるキャパシタンスが該ネットワーク(31)のキャパシタンスより大きいか小さいかによって異なることを特徴とする、キャパシタンス測定装置。 - 前記センスアンプ(30)は測定サイクルを有し、
該測定サイクルは、前記測定されるキャパシタンスおよび前記キャパシタネットワーク(31)を同一電圧に充電することと、該測定されるキャパシタンス内および該キャパシタネットワーク(31)内の電荷を同一量だけ変化させることと、該測定されるキャパシタンスの電圧と該キャパシタネットワーク(31)の電圧とを比較することとを含む、ことを特徴とする、請求項1に記載のキャパシタンス測定装置。 - 前記センスアンプ(30)は、チャージトランスファーアンプを備えることを特徴とする、請求項2に記載のキャパシタンス測定装置。
- 前記キャパシタネットワーク(31)は、各々、電子スイッチ(SW0,...,SWN)を介して並列に接続可能な複数のキャパシタ(C0,...,CN)を備えることを特徴とする、請求項1〜3のうちのいずれか一項に記載のキャパシタンス測定装置。
- 前記複数のキャパシタ(C0,...,CN)は、バイナリーに重み付けされたキャパシタンスを有することを特徴とする、請求項4に記載のキャパシタンス測定装置。
- 前記キャパシタネットワーク(31)は、永続的に接続されたキャパシタ(CR)をさらに備えることを特徴とする、請求項4または5に記載のキャパシタンス測定装置。
- 前記センスアンプ(30)の出力に接続された電圧比較器(32)を備えることを特徴とする、請求項1〜6のうちのいずれか一項に記載のキャパシタンス測定装置。
- 前記電圧比較器(32)は、ダイナミックラッチを備えることを特徴とする、請求項7に記載のキャパシタンス測定装置。
- 較正動作フェーズの間において前記制御回路(33)からの較正値を格納し、測定動作フェーズの開始において該較正値を前記キャパシタネットワーク(31)に、該キャパシタネットワーク(31)の初期状態が前記測定されるキャパシタンスに対して適切な状態となるよう提供するメモリ(80)を備えることを特徴とする、請求項1〜8のうちのいずれか一項に記載のキャパシタンス測定装置。
- センサ素子(10)のアレイであって、センサ素子の各々が、キャパシタを形成するために上に重なる素材と協働するための電極(15)を含む、アレイと、
請求項1〜9のうちのいずれか一項に記載の少なくとも1つのキャパシタンス測定装置と、該電極(15)を該少なくとも1つのキャパシタンス測定装置に接続するためのスイッチングネットワーク(6)と
を備えることを特徴とする、センサアレイ。 - 前記ネットワーク(6)が、前記電極(15)を同時に各キャパシタンス測定装置に接続するように配置されていることを特徴とする、請求項10に記載のセンサアレイ。
- 前記ネットワークが、アクティブマトリクス(6)を備えることを特徴とする、請求項10または11に記載のセンサアレイ。
- アクティブマトリクスディスプレイであって、その中において、センサ素子は行列状に配置された画素(10)を備え、各画素は、表示される画像データを受信するためのディスプレイデータ入力と、該データ入力からの画像データの入力をイネーブルにするスキャン入力とを有し、各列の画素(10)のデータ入力は各々列データ線(12)に接続され、各行の画素(10)のスキャン入力は各々行スキャン線(13)に接続される、アクティブマトリクスディスプレイと、
該列データ線(12)にデータ信号を供給するデータ信号生成器(4)と、
該行スキャン線(13)にスキャン信号を供給するスキャン信号生成器(5)と、
該列データ線(12)に接続され、外部刺激に応答して該ディスプレイ画素(10)によっておよびその中において生成されたセンサ信号に応答する出力配置(19)であって、データ線キャパシタンスおよび画素キャパシタンスを測定する少なくとも1つのキャパシタンス測定装置を備える出力配置(19)と
を備えることを特徴とする、請求項12に記載のセンサアレイ。 - 前記データ信号生成器(4)、前記スキャン信号生成器(5)、および前記出力配置(19)が、その上に集積されるディスプレイ基板(1)を備えることを特徴とする、請求項13に記載のセンサアレイ。
- 各画素(10)は、画像生成素子(14)および電子スイッチ(11)を備えることを特徴とする、請求項13または14に記載のセンサアレイ。
- 各画像生成素子(14)は、液晶素子を備えることを特徴とする、請求項15に記載のセンサアレイ。
- センサ素子(10)のセンサアレイであって、センサ素子の各々が、キャパシタを形成するために上に重なる素材と協働するための電極(15)を含む、センサアレイと、
請求項9に記載の少なくとも1つのキャパシタンス測定装置と、
該電極(15)を該少なくとも1つのキャパシタンス測定装置に接続するためのスイッチングネットワーク(6)とを備え、
各キャパシタンス測定装置が、外部的な刺激なしに、周期的に前記較正フェーズを実行するように配置されていることを特徴とする、センサアレイ。 - 各キャパシタンス測定装置が、少なくとも前記アレイのスイッチオン時において、前記較正フェーズを実行するように配置されていることを特徴とする、請求項17に記載のセンサアレイ。
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Families Citing this family (113)
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US7663607B2 (en) | 2004-05-06 | 2010-02-16 | Apple Inc. | Multipoint touchscreen |
US7504833B1 (en) | 2005-04-01 | 2009-03-17 | Cypress Semiconductor Corporation | Automatically balanced sensing device and method for multiple capacitive sensors |
KR20070033532A (ko) * | 2005-09-21 | 2007-03-27 | 삼성전자주식회사 | 접촉 감지 기능이 있는 표시 장치, 그 구동 장치 및 감지신호 처리 방법 |
KR20070078522A (ko) * | 2006-01-27 | 2007-08-01 | 삼성전자주식회사 | 표시 장치 및 액정 표시 장치 |
DE102006011239B3 (de) * | 2006-03-10 | 2007-10-11 | Infineon Technologies Ag | Sensorschaltung zum Messen einer Messgröße |
US8144115B2 (en) * | 2006-03-17 | 2012-03-27 | Konicek Jeffrey C | Flat panel display screen operable for touch position determination system and methods |
US8040142B1 (en) | 2006-03-31 | 2011-10-18 | Cypress Semiconductor Corporation | Touch detection techniques for capacitive touch sense systems |
KR20110058895A (ko) | 2006-06-09 | 2011-06-01 | 애플 인크. | 터치 스크린 액정 디스플레이 |
DE102006030224A1 (de) * | 2006-06-30 | 2008-01-03 | Imi Intelligent Medical Implants Ag | Vorrichtung und Verfahren zum Überprüfen der Dichtigkeit von Feuchtigkeitsbarrieren für Implantate |
US20080047764A1 (en) * | 2006-08-28 | 2008-02-28 | Cypress Semiconductor Corporation | Temperature compensation method for capacitive sensors |
US9201556B2 (en) * | 2006-11-08 | 2015-12-01 | 3M Innovative Properties Company | Touch location sensing system and method employing sensor data fitting to a predefined curve |
US8547114B2 (en) | 2006-11-14 | 2013-10-01 | Cypress Semiconductor Corporation | Capacitance to code converter with sigma-delta modulator |
US8207944B2 (en) * | 2006-12-19 | 2012-06-26 | 3M Innovative Properties Company | Capacitance measuring circuit and method |
US8134542B2 (en) * | 2006-12-20 | 2012-03-13 | 3M Innovative Properties Company | Untethered stylus employing separate communication and power channels |
US20080149401A1 (en) * | 2006-12-20 | 2008-06-26 | 3M Innovative Properties Company | Untethered stylus employing separate communication channels |
US8243049B2 (en) * | 2006-12-20 | 2012-08-14 | 3M Innovative Properties Company | Untethered stylus employing low current power converter |
US7956851B2 (en) * | 2006-12-20 | 2011-06-07 | 3M Innovative Properties Company | Self-tuning drive source employing input impedance phase detection |
US8040329B2 (en) * | 2006-12-20 | 2011-10-18 | 3M Innovative Properties Company | Frequency control circuit for tuning a resonant circuit of an untethered device |
US7436164B2 (en) * | 2006-12-20 | 2008-10-14 | 3M Innovative Properties Company | Untethered device employing tunable resonant circuit |
US20080150917A1 (en) * | 2006-12-20 | 2008-06-26 | 3M Innovative Properties Company | Oscillator circuit for use in an untethered stylus |
US7787259B2 (en) * | 2006-12-28 | 2010-08-31 | 3M Innovative Properties Company | Magnetic shield for use in a location sensing system |
US8040330B2 (en) * | 2006-12-28 | 2011-10-18 | 3M Innovative Properties Company | Untethered stylus empolying multiple reference frequency communication |
US8089474B2 (en) * | 2006-12-28 | 2012-01-03 | 3M Innovative Properties Company | Location sensing system and method employing adaptive drive signal adjustment |
US7812827B2 (en) | 2007-01-03 | 2010-10-12 | Apple Inc. | Simultaneous sensing arrangement |
US8094128B2 (en) | 2007-01-03 | 2012-01-10 | Apple Inc. | Channel scan logic |
US8125456B2 (en) | 2007-01-03 | 2012-02-28 | Apple Inc. | Multi-touch auto scanning |
US9710095B2 (en) | 2007-01-05 | 2017-07-18 | Apple Inc. | Touch screen stack-ups |
KR20080066308A (ko) * | 2007-01-12 | 2008-07-16 | 삼성전자주식회사 | 표시패널, 이의 검사방법 및 이의 제조방법 |
US8493331B2 (en) | 2007-06-13 | 2013-07-23 | Apple Inc. | Touch detection using multiple simultaneous frequencies |
US9500686B1 (en) | 2007-06-29 | 2016-11-22 | Cypress Semiconductor Corporation | Capacitance measurement system and methods |
US8169238B1 (en) | 2007-07-03 | 2012-05-01 | Cypress Semiconductor Corporation | Capacitance to frequency converter |
US8570053B1 (en) | 2007-07-03 | 2013-10-29 | Cypress Semiconductor Corporation | Capacitive field sensor with sigma-delta modulator |
TW200905642A (en) * | 2007-07-16 | 2009-02-01 | Mstar Semiconductor Inc | Liquid crystal driving device capable of self-adjusting driving force and its method |
US8125465B2 (en) * | 2007-10-19 | 2012-02-28 | Chimei Innolux Corporation | Image displaying systems |
JP4997447B2 (ja) * | 2007-11-08 | 2012-08-08 | 国立大学法人東京工業大学 | 可変容量計測装置及び可変容量計測方法 |
US20090163256A1 (en) * | 2007-12-21 | 2009-06-25 | Motorola, Inc. | Translucent single layer touch screen devices having vertically oriented pattern traces |
US8525798B2 (en) | 2008-01-28 | 2013-09-03 | Cypress Semiconductor Corporation | Touch sensing |
US10969917B2 (en) | 2008-01-30 | 2021-04-06 | Apple Inc. | Auto scanning for multiple frequency stimulation multi-touch sensor panels |
US8358142B2 (en) | 2008-02-27 | 2013-01-22 | Cypress Semiconductor Corporation | Methods and circuits for measuring mutual and self capacitance |
US8319505B1 (en) | 2008-10-24 | 2012-11-27 | Cypress Semiconductor Corporation | Methods and circuits for measuring mutual and self capacitance |
US9104273B1 (en) | 2008-02-29 | 2015-08-11 | Cypress Semiconductor Corporation | Multi-touch sensing method |
JP4990198B2 (ja) * | 2008-03-14 | 2012-08-01 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | センサ出力装置 |
US9367179B2 (en) | 2008-05-27 | 2016-06-14 | Microchip Technology Incorporated | Capacitive voltage divider touch sensor |
US9069418B2 (en) * | 2008-06-06 | 2015-06-30 | Apple Inc. | High resistivity metal fan out |
US8592697B2 (en) | 2008-09-10 | 2013-11-26 | Apple Inc. | Single-chip multi-stimulus sensor controller |
US9606663B2 (en) | 2008-09-10 | 2017-03-28 | Apple Inc. | Multiple stimulation phase determination |
US9348451B2 (en) | 2008-09-10 | 2016-05-24 | Apple Inc. | Channel scan architecture for multiple stimulus multi-touch sensor panels |
US8321174B1 (en) | 2008-09-26 | 2012-11-27 | Cypress Semiconductor Corporation | System and method to measure capacitance of capacitive sensor array |
US8941595B2 (en) * | 2008-10-01 | 2015-01-27 | Integrated Device Technology, Inc. | Alternating, complementary conductive element pattern for multi-touch sensor |
KR101323045B1 (ko) * | 2008-10-21 | 2013-10-29 | 엘지디스플레이 주식회사 | 감지장치와 그 출력 증폭방법 |
WO2010107961A2 (en) * | 2009-03-18 | 2010-09-23 | Synaptics Incorporated | Integrated display and touch sensor |
TWI490736B (zh) * | 2009-04-30 | 2015-07-01 | Asustek Comp Inc | 顯示裝置與反應裝置 |
CN101876863B (zh) * | 2009-04-30 | 2013-02-27 | 华硕电脑股份有限公司 | 显示装置与反应装置 |
JP5203293B2 (ja) * | 2009-05-21 | 2013-06-05 | 株式会社ジャパンディスプレイウェスト | 表示装置および電子機器 |
US9036650B2 (en) | 2009-09-11 | 2015-05-19 | Apple Inc. | Automatic low noise frequency selection |
US8816762B2 (en) * | 2010-01-13 | 2014-08-26 | Maxlinear, Inc. | Area-optimized analog filter with bandwidth control by a quantized scaling function |
US9805692B2 (en) * | 2010-02-26 | 2017-10-31 | Synaptics Incorporated | Varying demodulation to avoid interference |
CN102193693B (zh) * | 2010-03-17 | 2014-03-19 | 群康科技(深圳)有限公司 | 触控面板及其差动辨识方法 |
US9898121B2 (en) | 2010-04-30 | 2018-02-20 | Synaptics Incorporated | Integrated capacitive sensing and displaying |
KR101697342B1 (ko) | 2010-05-04 | 2017-01-17 | 삼성전자 주식회사 | 터치 감지 시스템의 캘리브레이션 방법 및 장치와 이를 적용한 터치 감지 시스템 |
US9335870B2 (en) * | 2010-06-07 | 2016-05-10 | Apple Inc. | Touch-display crosstalk |
US8653832B2 (en) | 2010-07-06 | 2014-02-18 | Sharp Kabushiki Kaisha | Array element circuit and active matrix device |
US8547111B2 (en) * | 2010-07-06 | 2013-10-01 | Sharp Kabushiki Kaisha | Array element circuit and active matrix device |
US8654571B2 (en) | 2010-07-06 | 2014-02-18 | Sharp Kabushiki Kaisha | Static random-access cell, active matrix device and array element circuit |
US8688393B2 (en) * | 2010-07-29 | 2014-04-01 | Medtronic, Inc. | Techniques for approximating a difference between two capacitances |
JP5611721B2 (ja) * | 2010-08-20 | 2014-10-22 | 株式会社ワコム | 指示体検出装置、位置検出センサおよび位置検出センサの製造方法 |
US8593431B1 (en) | 2010-08-24 | 2013-11-26 | Cypress Semiconductor Corp. | Edge positioning accuracy in a mutual capacitive sense array |
US20120050206A1 (en) * | 2010-08-29 | 2012-03-01 | David Welland | Multi-touch resolve mutual capacitance sensor |
KR101715850B1 (ko) | 2010-09-07 | 2017-03-13 | 엘지디스플레이 주식회사 | 터치 센서를 위한 리드아웃 회로 |
KR101711014B1 (ko) | 2010-12-10 | 2017-02-28 | 삼성전자주식회사 | 테스트 장치 및 이를 포함하는 테스트 시스템 |
US8804056B2 (en) | 2010-12-22 | 2014-08-12 | Apple Inc. | Integrated touch screens |
US8624607B2 (en) * | 2011-07-29 | 2014-01-07 | Atmel Corporation | Measuring voltage |
JP5925896B2 (ja) | 2011-09-07 | 2016-05-25 | シナプティクス インコーポレイテッド | 非表示更新時間の間の容量性検知 |
TWI465994B (zh) * | 2011-12-09 | 2014-12-21 | Nuvoton Technology Corp | 電荷分配式觸控感測方法及其感測裝置 |
US8933712B2 (en) | 2012-01-31 | 2015-01-13 | Medtronic, Inc. | Servo techniques for approximation of differential capacitance of a sensor |
US8970547B2 (en) | 2012-02-01 | 2015-03-03 | Synaptics Incorporated | Noise-adapting touch sensing window |
CN103376578A (zh) * | 2012-04-20 | 2013-10-30 | 冠捷投资有限公司 | 触控式液晶显示器 |
US10073568B2 (en) | 2012-08-15 | 2018-09-11 | Synaptics Incorporated | System and method for interference avoidance for a display device comprising an integrated sensing device |
US10073550B2 (en) | 2012-09-20 | 2018-09-11 | Synaptics Incorporated | Concurrent input sensing and display updating |
JP6035132B2 (ja) * | 2012-12-06 | 2016-11-30 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 液晶表示装置 |
US20140266262A1 (en) * | 2013-03-14 | 2014-09-18 | Perkinelmer Holdings, Inc. | High resolution fingerprint imaging device |
CN103309611B (zh) | 2013-05-10 | 2016-07-06 | 北京京东方光电科技有限公司 | 一种触摸屏显示控制的方法、装置及系统 |
US9798372B2 (en) * | 2013-06-03 | 2017-10-24 | Qualcomm Incorporated | Devices and methods of sensing combined ultrasonic and infrared signal |
WO2015013530A1 (en) * | 2013-07-24 | 2015-01-29 | Synaptics Incorporated | Signal strength enhancement in a biometric sensor array |
US9442615B2 (en) | 2013-10-02 | 2016-09-13 | Synaptics Incorporated | Frequency shifting for simultaneous active matrix display update and in-cell capacitive touch |
US9638743B2 (en) * | 2014-01-16 | 2017-05-02 | Qualcomm Incorporated | State-dependent capacitance estimation |
US9582099B2 (en) | 2014-03-31 | 2017-02-28 | Synaptics Incorporated | Serrated input sensing intervals |
US9298309B2 (en) | 2014-04-29 | 2016-03-29 | Synaptics Incorporated | Source driver touch transmitter in parallel with display drive |
CN104156709B (zh) * | 2014-08-26 | 2019-07-16 | 南昌欧菲生物识别技术有限公司 | 指纹识别检测组件、终端设备及指纹验证方法 |
US10175827B2 (en) | 2014-12-23 | 2019-01-08 | Synaptics Incorporated | Detecting an active pen using a capacitive sensing device |
CN104536169B (zh) * | 2014-12-31 | 2018-01-12 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种用于获取阵列基板中电容容值的结构体及方法 |
US10275070B2 (en) | 2015-01-05 | 2019-04-30 | Synaptics Incorporated | Time sharing of display and sensing data |
US10394391B2 (en) | 2015-01-05 | 2019-08-27 | Synaptics Incorporated | System and method for reducing display artifacts |
CN104657715A (zh) * | 2015-02-10 | 2015-05-27 | 柳州市金旭节能科技有限公司 | 一种指纹检测装置 |
CN104678186B (zh) * | 2015-02-12 | 2017-12-22 | 深圳精智达技术股份有限公司 | 电容式触摸屏传感器的测量系统 |
CN104655935B (zh) * | 2015-02-12 | 2018-04-20 | 深圳市精智达技术有限公司 | 节点电容的测试方法及装置 |
US10229304B2 (en) * | 2015-06-05 | 2019-03-12 | Synaptics Incorporated | Finger detection with auto-baseline tracking |
WO2017003848A1 (en) * | 2015-06-30 | 2017-01-05 | Synaptics Incorporated | Active matrix capacitive fingerprint sensor with 1-tft pixel architecture for display integration |
TWI619044B (zh) * | 2015-07-23 | 2018-03-21 | 瑞鼎科技股份有限公司 | 電容式指紋感測裝置及電容式指紋感測方法 |
CN105093025B (zh) * | 2015-08-18 | 2019-01-22 | 深圳市华星光电技术有限公司 | In Cell触控显示面板的检测电路及检测方法 |
US10037112B2 (en) | 2015-09-30 | 2018-07-31 | Synaptics Incorporated | Sensing an active device'S transmission using timing interleaved with display updates |
US10592022B2 (en) | 2015-12-29 | 2020-03-17 | Synaptics Incorporated | Display device with an integrated sensing device having multiple gate driver circuits |
WO2018085972A1 (zh) * | 2016-11-08 | 2018-05-17 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 | 电容检测电路及其控制方法 |
US10289888B2 (en) * | 2017-01-03 | 2019-05-14 | Himax Technologies Limited | Fingerprint sensing circuit and electrical device |
US11435251B2 (en) | 2017-09-13 | 2022-09-06 | Nec Corporation | Control apparatus, array-type sensor, sensor usage method, control method, and program |
US10437365B2 (en) * | 2017-10-11 | 2019-10-08 | Pixart Imaging Inc. | Driver integrated circuit of touch panel and associated driving method |
WO2019127313A1 (zh) * | 2017-12-29 | 2019-07-04 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 | 节点电容的校准方法 |
WO2019241968A1 (zh) * | 2018-06-21 | 2019-12-26 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 | 一种按键基底消除方法、电容式按键检测电路和智能终端 |
TW202009676A (zh) * | 2018-08-14 | 2020-03-01 | 瑞鼎科技股份有限公司 | 觸碰感測裝置及觸碰感測方法 |
US10726191B2 (en) * | 2018-09-28 | 2020-07-28 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Ltd. | Method and system for manufacturing a semiconductor device |
JP7432419B2 (ja) * | 2020-03-27 | 2024-02-16 | ローム株式会社 | 容量検出回路、入力装置 |
CN112631030B (zh) * | 2020-12-03 | 2022-04-01 | Tcl华星光电技术有限公司 | 阵列基板及测量阵列基板电容的方法 |
CN113567752B (zh) * | 2021-07-22 | 2024-04-23 | 之江实验室 | 面向触觉感知的高动态阵列式电容测量电路及其测量方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63501979A (ja) * | 1985-10-01 | 1988-08-04 | アンデイ−ン ハガ−リング インコ−ポレ−テツド | 容量測定装置 |
JPH02135820A (ja) * | 1988-09-30 | 1990-05-24 | Siemens Ag | 自己較正a―dおよびd―a変換器の補正値の決定方法および装置 |
JPH0383358A (ja) * | 1989-08-28 | 1991-04-09 | Horiba Ltd | 容量測定回路 |
JPH05167449A (ja) * | 1991-12-12 | 1993-07-02 | Toshiba Corp | 逐次比較型アナログデジタル変換器 |
JP2004264845A (ja) * | 2003-02-28 | 2004-09-24 | Sharp Corp | ディスプレイおよびセンサ装置 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5049878A (en) * | 1981-05-13 | 1991-09-17 | Drexelbrook Engineering Company | Two-wire compensated level measuring instrument |
CH648929A5 (fr) * | 1982-07-07 | 1985-04-15 | Tesa Sa | Dispositif de mesure capacitif de deplacement. |
US4716361A (en) * | 1984-11-05 | 1987-12-29 | John Fluke Mfg. Co., Inc. | Capacitance measuring method and apparatus |
FR2675583B1 (fr) * | 1991-04-18 | 1993-08-27 | Marelli Autronica | Procede et dispositif de mesure de condensateur. |
EP0693238A4 (en) * | 1993-04-06 | 2000-03-08 | Creative Integrated Syst Inc | TELEPHONE SYSTEM FOR HOUSE AND SMALL BUSINESS USE FOR OPERATION THROUGH A SINGLE INTERNAL TWO-WIRE LINE |
US5461425A (en) * | 1994-02-15 | 1995-10-24 | Stanford University | CMOS image sensor with pixel level A/D conversion |
US5675340A (en) * | 1995-04-07 | 1997-10-07 | Iowa State University Research Foundation, Inc. | Charge-redistribution analog-to-digital converter with reduced comparator-hysteresis effects |
US6028581A (en) * | 1997-10-21 | 2000-02-22 | Sony Corporation | Method and apparatus for a liquid crystal display (LCD) having an input function |
US6885396B1 (en) * | 1998-03-09 | 2005-04-26 | Micron Technology, Inc. | Readout circuit with gain and analog-to-digital a conversion for image sensor |
US20030102858A1 (en) * | 1998-07-08 | 2003-06-05 | E Ink Corporation | Method and apparatus for determining properties of an electrophoretic display |
US6466036B1 (en) * | 1998-11-25 | 2002-10-15 | Harald Philipp | Charge transfer capacitance measurement circuit |
GB2372620A (en) * | 2001-02-27 | 2002-08-28 | Sharp Kk | Active Matrix Device |
GB0229236D0 (en) * | 2002-12-12 | 2003-01-22 | Koninkl Philips Electronics Nv | AMLCD with integrated touch input |
GB2398926A (en) * | 2003-02-28 | 2004-09-01 | Richard Knight | Light emitting device |
US7075316B2 (en) * | 2003-10-02 | 2006-07-11 | Alps Electric Co., Ltd. | Capacitance detector circuit, capacitance detection method, and fingerprint sensor using the same |
-
2004
- 2004-11-09 GB GB0424688A patent/GB2419950A/en not_active Withdrawn
-
2005
- 2005-10-31 JP JP2005317580A patent/JP4628250B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2005-11-07 US US11/267,967 patent/US20060114247A1/en not_active Abandoned
- 2005-11-09 KR KR1020050106872A patent/KR100740394B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2005-11-09 CN CNB200510120155XA patent/CN100381996C/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63501979A (ja) * | 1985-10-01 | 1988-08-04 | アンデイ−ン ハガ−リング インコ−ポレ−テツド | 容量測定装置 |
JPH02135820A (ja) * | 1988-09-30 | 1990-05-24 | Siemens Ag | 自己較正a―dおよびd―a変換器の補正値の決定方法および装置 |
JPH0383358A (ja) * | 1989-08-28 | 1991-04-09 | Horiba Ltd | 容量測定回路 |
JPH05167449A (ja) * | 1991-12-12 | 1993-07-02 | Toshiba Corp | 逐次比較型アナログデジタル変換器 |
JP2004264845A (ja) * | 2003-02-28 | 2004-09-24 | Sharp Corp | ディスプレイおよびセンサ装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1773442A (zh) | 2006-05-17 |
GB2419950A (en) | 2006-05-10 |
GB0424688D0 (en) | 2004-12-08 |
KR100740394B1 (ko) | 2007-07-16 |
KR20060052547A (ko) | 2006-05-19 |
JP2006184273A (ja) | 2006-07-13 |
US20060114247A1 (en) | 2006-06-01 |
CN100381996C (zh) | 2008-04-16 |
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