JP4624944B2 - 集積回路をテストするための自動テスト装置内で使用するピンエレクトロニクス - Google Patents
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Description
集積回路(IC)をテストする自動テスト装置(ATE)内で使用するように構成されたピンエレクトロニクス(10)であって、データソースから入力信号を受信する入力(14、16、18)と、被測定物(DUT)(22)の入力ピン(20)に接続された出力(24)とを有するドライバ回路(12)と、DUT(22)の入力ピン(20)において入力電圧または電流を受けとめる少なくとも1つの入力(34、40)と、出力(30)とを有するフィードバック回路(26)であって、前記DUT(22)の入力ピン(20)において実質的に一定な電圧または電流を強制するように電圧を提供するように構成されたフィードバック回路(26)と、前記ドライバ回路(12)の入力(14、16、18)に、入力信号を提供すること、または前記フィードバック回路(26)の出力(30)を提供することを選択的に提供するスイッチング手段(28、29)とを備える、ピンエレクトロニクス(10)。
前記ドライバ回路(12)は、第1の電圧V1を受け取る第1の入力(16)と、第2の電圧V2を受け取る第2の入力(18)と、前記第1の入力と第2の入力(16、18)の間で前記ドライバ回路(12)の出力(24)をトグルするテストプロセッサからのデジタルデータストリームを受信するデータ入力(14)とを備え、前記スイッチング手段(28)は、前記ドライバ回路(12)の第1の入力と第2の入力(16、18)のうち1つを前記第1の電圧V1と前記第2の電圧V2のうち1つか、前記フィードバック回路(26)の出力(30)に選択的に接続する、実施態様1に記載のピンエレクトロニクス。
前記フィードバック回路(26)は、前記フィードバック回路(26)が、前記DUT(22)の入力ピン(20)において電圧を実質的に定電圧に調整し、前記DUT(22)の入力ピン(20)への入力電流を測定する強制電圧モードと、前記フィードバック回路(26)が、前記DUT(22)の入力ピン(20)に流れる電流をほぼ定電流に調整し、前記DUT(22)の入力ピン(20)において電圧を測定する強制電流モードのいずれかで動作するように構成される、実施態様1または2のいずれか一項に記載のピンエレクトロニクス。
前記フィードバック回路(26)は、第2のスイッチング手段(42)と調整回路(32)とを備え、前記調整回路(32)の出力は前記フィードバック回路(26)の出力(30)に接続され、前記調整回路(32)の入力は前記第2のスイッチング手段(42)によって前記フィードバック回路(26)の第1の制御入力(34)または第2の制御入力(40)のいずれかに接続することのできる、実施態様3に記載のピンエレクトロニクス。
前記調整回路(32)は、前記第1の制御入力または前記第2の制御入力(34、40)のいずれかから前記第2のスイッチング手段(42)上で受け取った電圧を、既定の電圧VSETと比較し、前記フィードバック回路(26)の出力(30)において制御電圧または電流を生成する第1の増幅器(38)を備える、実施態様4に記載のピンエレクトロニクス。
前記フィードバック回路(26)が強制電流モードで動作している時に、前記調整回路(32)は、前記フィードバック回路(26)の出力電圧範囲を限定するために前記DUT(22)の入力ピン(20)の電圧に関連する前記フィードバック回路(26)の最大出力電圧と最小出力電圧とを設定するようにプログラミング可能である、実施態様4または5に記載のピンエレクトロニクス。
前記ドライバ回路(12)の出力(24)と前記DUT(22)の入力ピン(20)の間に接続される抵抗器(36)と、前記抵抗器上(36)の電圧低下を増幅する第2の増幅器(44)であって該第2の増幅器(44)の出力は前記フィードバック回路(32)の第1の制御入力(34)に接続される、第2の増幅器(44)とを備える、実施態様4から6のいずれか一項に記載のピンエレクトロニクス。
前記フィードバック回路(26)は、少なくとも2つの出力電流範囲を備え、前記ドライバ回路(10)は、もっとも高い出力電流を伴う範囲で前記フィードバック回路(32)のバッファとして使用される、実施態様1から7のいずれか一項に記載のピンエレクトロニクス。
集積回路(IC)をテストする自動テスト装置(ATE)(102)内で使用するように構成されたチャネルボード(100)であって、少なくとも1つのチャネル(104)について、前記実施態様1から8のいずれか一項に記載のピンエレクトロニクス(10)を備える、チャネルボード(100)。
被測定物(DUT)(20)のそれぞれのピン(22)に関連づけられた複数のチャネル(104)を伴う自動テスト装置(ATE)(102)であって、前記各チャネル(104)は実施態様1から8のいずれか一項に記載のピンエレクトロニクス(10)を含む、自動テスト装置(102)。
集積回路(IC)をテストする自動テスト装置(ATE)で使用するように構成されたピンエレクトロニクス(10)で、被測定物(DUT)(22)の入力ピン(20)においてパラメータ測定を行う方法であって、データソースからの入力信号を受信する入力(14、16、18)と、被測定物(DUT)(22)の入力ピン(20)に接続された出力(24)とを有するドライバ回路(12)と、前記DUT(22)の入力ピン(20)において入力電圧または電流を受け取る少なくとも1つの入力(34、40)と、出力(30)とを有するフィードバック回路(26)であって、前記フィードバック回路(26)は、前記DUT(22)の入力ピン(20)において実質的に定電圧または定電流を強制するために電圧を提供するように構成されたフィードバック回路(26)と、前記ドライバ回路(12)の入力(14、16、18)に、入力信号、または前記フィードバック回路(26)の出力(30)を、次のステップで選択的に提供するスイッチング手段(28、29)とを備え、該ステップは、第1のモードでは、前記DUT(22)の入力ピン(20)において既定の電圧を強制するために前記フィードバック回路(26)が提供する電圧を受け取るように、前記ドライバ回路(12)に、前記フィードバック回路(26)の出力(30)を提供するように、前記スイッチング手段をスイッチングするステップと、第2のモードでは、前記DUT(22)の入力ピン(20)に前記入力データを駆動するために前記ドライバ回路に入力信号を提供するように前記スイッチング手段をスイッチングするステップである、方法。
好ましくはデータキャリア上に記憶され、コンピュータなどのデータ処理システム上で実行される時、実施態様11の方法を行うソフトウェアプログラムまたは製品。
12 ドライバ回路
14 第1の入力
16 第2の入力
18 第3の入力
20 入力ピン
22 DUT
24 出力
26 フィードバック回路
28 第1のスイッチング手段
29 第3のスイッチング手段
30 出力
31 測定出力
32 調整回路
34 第1の制御入力
36 抵抗器
38 第1の増幅器
40 第2の制御入力
42 第2のスイッチング手段
44 第2の増幅器
48 第1の電源
50 第3の電源
52 第4の電源
100 チャネルボード
102 ATE
104 チャネル
108 コントローラ
110 ディスプレイ
Claims (12)
- 集積回路(IC)をテストする自動テスト装置(ATE)内で使用するように構成されたピンエレクトロニクスであって、
データソースから入力信号を受信する入力と、被測定物(DUT)の入力ピンに接続された出力とを有するドライバ回路と、
DUTの入力ピンにおいて入力電圧または電流を受けとめる少なくとも1つの入力と、出力とを有するフィードバック回路であって、前記DUTの入力ピンにおいて実質的に一定な電圧または電流を強制するように電圧を提供するように構成されたフィードバック回路と、
前記ドライバ回路の入力に、入力信号を提供すること、または前記フィードバック回路の出力を提供することを選択的に提供するスイッチング手段とを備える、ピンエレクトロニクス。 - 前記ドライバ回路は、第1の電圧V1を受け取る第1の入力と、第2の電圧V2を受け取る第2の入力と、前記第1の入力と第2の入力の間で前記ドライバ回路の出力をトグルするテストプロセッサからのデジタルデータストリームを受信するデータ入力とを備え、
前記スイッチング手段は、前記ドライバ回路の第1の入力を前記第1の電圧V1か、前記フィードバック回路の出力に選択的に接続する、請求項1に記載のピンエレクトロニクス。 - 前記フィードバック回路は、
前記フィードバック回路が、前記DUTの入力ピンにおいて電圧を実質的に定電圧に調整し、前記DUTの入力ピンへの入力電流を測定する強制電圧モードと、
前記フィードバック回路が、前記DUTの入力ピンに流れる電流をほぼ定電流に調整し、前記DUTの入力ピンにおいて電圧を測定する強制電流モードのいずれかで動作するように構成される、請求項1または2のいずれか一項に記載のピンエレクトロニクス。 - 前記フィードバック回路は、第2のスイッチング手段と調整回路とを備え、前記調整回路の出力は前記フィードバック回路の出力に接続され、前記調整回路の入力は前記第2のスイッチング手段によって前記フィードバック回路の第1の制御入力または第2の制御入力のいずれかに接続することのできる、請求項3に記載のピンエレクトロニクス。
- 前記調整回路は、前記第1の制御入力または前記第2の制御入力のいずれかから前記第2のスイッチング手段上で受け取った電圧を、既定の電圧VSETと比較し、前記フィードバック回路の出力において制御電圧または電流を生成する第1の増幅器を備える、請求項4に記載のピンエレクトロニクス。
- 前記フィードバック回路が強制電流モードで動作している時に、前記調整回路は、前記フィードバック回路の出力電圧範囲を限定するために前記DUTの入力ピンの電圧に関連する前記フィードバック回路の最大出力電圧と最小出力電圧とを設定するようにプログラミング可能である、請求項4または5に記載のピンエレクトロニクス。
- 前記ドライバ回路の出力と前記DUTの入力ピンの間に接続される抵抗器と、前記抵抗器上の電圧低下を増幅する第2の増幅器であって該第2の増幅器の出力は前記フィードバック回路の第1の制御入力に接続される、第2の増幅器とを備える、請求項4から6のいずれか一項に記載のピンエレクトロニクス。
- 前記フィードバック回路は、少なくとも2つの出力電流範囲を備え、前記ドライバ回路は、もっとも高い出力電流を伴う範囲で前記フィードバック回路のバッファとして使用される、請求項1から7のいずれか一項に記載のピンエレクトロニクス。
- 集積回路(IC)をテストする自動テスト装置(ATE)内で使用するように構成されたチャネルボードであって、少なくとも1つのチャネルについて、前記請求項1から8のいずれか一項に記載のピンエレクトロニクスを備える、チャネルボード。
- 被測定物(DUT)のそれぞれのピンに関連づけられた複数のチャネルを伴う自動テスト装置(ATE)であって、前記各チャネルは請求項1から8のいずれか一項に記載のピンエレクトロニクスを含む、自動テスト装置。
- 集積回路(IC)をテストする自動テスト装置(ATE)で使用するように構成されたピンエレクトロニクスで、被測定物(DUT)の入力ピンにおいてパラメータ測定を行う方法であって、
データソースからの入力信号を受信する入力と、被測定物(DUT)の入力ピンに接続された出力とを有するドライバ回路と、
前記DUTの入力ピンにおいて入力電圧または電流を受け取る少なくとも1つの入力と、出力とを有するフィードバック回路であって、前記フィードバック回路は、前記DUTの入力ピンにおいて実質的に定電圧または定電流を強制するために電圧を提供するように構成されたフィードバック回路と、
前記ドライバ回路の入力に、入力信号、または前記フィードバック回路の出力を、次のステップで選択的に提供するスイッチング手段とを備え、該ステップは、
第1のモードでは、前記DUTの入力ピンにおいて既定の電圧を強制するために前記フィードバック回路が提供する電圧を受け取るように、前記ドライバ回路に、前記フィードバック回路の出力を提供するように、前記スイッチング手段をスイッチングするステップと、
第2のモードでは、前記DUTの入力ピンに前記入力データを駆動するために前記ドライバ回路に入力信号を提供するように前記スイッチング手段をスイッチングするステップである、方法。 - データキャリア上に記憶され、コンピュータなどのデータ処理システム上で実行される時、請求項11の方法を行うソフトウェアプログラムまたは製品。
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