CN110632969A - 一种具多电压基准发生器的集成电路测量与供电系统 - Google Patents

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崔善默
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    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F1/00—Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
    • G05F1/10—Regulating voltage or current
    • G05F1/46—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
    • G05F1/56—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices

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Abstract

本发明涉及一种具多电压基准发生器的集成电路测量与供电系统，是一个具有可选择的测量和供电电压源的一体化可选择测量和电源系统，所述系统被配置为CPU控制块(CPU control block)控制测量块和电压供应器块的选择,所述控制是可以通过控制命令块文本形式脚本或GUI界面来实现控制设置。该系统具有多种模式的选择，例如，具有用于需要多个电压源的情况下的电源模式(PSM)的模式选项以及用于需要大量电压输出情况下的测量模式(MM)。可用于评估晶片级或封装级显示驱动器IC的特性。可用于在面板模块组装前或组装后对其特性进行评估或验证。

Description

一种具多电压基准发生器的集成电路测量与供电系统
技术领域
本发明涉及电子仪器领域，尤其是一种具多电压基准发生器的集成电路测量与供电系统。
背景技术
传统的半导体产品，诸如显示面板、显示驱动器IC或多电压基准发生器之类的，经常产生或需要10个以上的电压基准。
对于某些半导体产品,需要多电压输出或多电压输入源,大多数市售电源能同时输出2-4通道，同时,因为对于使用多元化这一目的，很难提供一个多元化的商用电源的电压针。(例如，对于最近的显示模块，需要10个以上的电压源来驱动面板)。
在这种情况下，必须使用大量的市售测量设备来配置测量或电源供应器系统，以分别用于测量和供电模式。
因此，在这种情况下，需要使用昂贵的专业设备或一些高成本体系构造的商业设备。
由于显示模块的生产，通常需要用专业面板检查设备或将显示面板和显示驱动器IC组装成模块的形式，用于验证其工作特性。
此外，在上述显示驱动IC的情况下，需要多个基准电压输出，以便为显示面板操作提供必要的电压。在这种情况下，为了同时测量如此大量的电压，需要配备有相应数量的多通道万用表和示波器。
由此带来了高昂的成本和大量重复的建设，且使得建立测试环境的工作更为复杂。
发明内容
本发明要解决的技术问题是：提供一种具多电压基准发生器的集成电路测量与供电系统，该系统可具有多种模式的选择，例如，在需要多个电压源的情况下可以选择供电方式(PSM)，而在需要大量电压输出的情况下可以选择测量方式(MM)。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：本发明提供了一种具多电压基准发生器的集成电路测量与供电系统，其包含有CPU控制块和工作模块，该工作模块主要是由测量块和电压供应器块组成，且该工作模块具有数个输出/输入数据通道，由CPU控制块对工作模块中的测量块和电压供应器块的控制选通使得所述输出/输入通道能根据需求设置,且所述控制是通过控制命令块文本形式脚本或GUI界面来实现控制设置。
进一步地，所述工作模块还包含选择块和选择开关，其中所述选择块执行该CPU控制块的控制指令对测量块和电压供应器块进行选择，而选择开关是根据控制指令定义每个输出/输入通道。
进一步地，该系统外接DUT插接板，其上可插接目标设备。
进一步地，该系统还包含有一个接口块，当通过外部DUT进行测量或供电时，其被配置为能够通过接口块进行设置和控制，以便更改作为目标装置的半导体产品的测量偏好。
进一步地，该系统还包含一控制命令块，该系统能通过在控制命令块中写入脚本或通过内在化到GUI界面控制台来执行所述控制，所述命令的配置是存储在每个脚本文件或内部存储器中。
进一步地，该系统还包含有显示模块，该显示模块能输出显示测量及电源的数据，使得该系统能够通过连接的显示模块实时检查通过输入/输出单元传送的数据，以能确定测量电压和输出电压的当前状态。
进一步地，该系统可具有多种模式的选择，所述模式至少包含供电方式及测量方式，所述供电方式是在需要多个电压源的情况下选择，而测量方式是在需要大量电压输出的情况下选择。
为了确定测量电压和输出电压的当前状态，可以通过连接的显示模块实时检查通过输入/输出单元传送的数据。此配置可以立即对可能发生的错误情况做出响应。并且该系统能外接DUT插接板，其上可插接目标设备，例如DDI或者电压调整IC、显示面板等。
且该系统可具有多种模式的选择，例如，在需要多个电压源的情况下可以选择供电方式(PSM)，而在需要大量电压输出的情况下可以选择测量方式 (MM)。
本发明的有益效果是：借助上述结构，本发明的一种具多电压基准发生器的集成电路测量与供电系统，是一体化可选择测量和电源系统(ASMPS)，该系统具有多种模式的选择，例如，具有用于需要多个电压源的情况下的电源模式 (PSM)的模式选项以及用于需要大量电压输出情况下的测量模式(MM)。
该系统可用于评估晶片级或封装级显示驱动器IC的特性。此外，它也可用于在面板模块组装前或组装后对其特性进行评估或验证。
本发明可以降低使用昂贵的市售设备分别配置两个电源和测量系统的成本，其具有以下优点：可以建立一个可以评估显示面板和驱动器IC的系统。本发明主要是针对两个相互冲突的目标，测量的功能和电源的功能均能可选的实现，其目的是提高上述半导体产品的系统测试的效率和负担能力。
附图说明
图1本发明的一种具多电压基准发生器的集成电路测量与供电系统的系统框图。
图中：C:命令，D：数据，DDI：显示驱动器IC(集成电路),DUT：被测器件。
具体实施方式
现在结合附图对本发明作进一步的说明。这些附图均为简化的示意图仅以示意方式说明本发明的基本结构，因此其仅显示与本发明有关的构成。
本发明主要是针对两个矛盾的目标，测量的功能和电源的功能均能可选的实现，以提高上述半导体产品的系统测试效率和负担能力。
本发明的一种具多电压基准发生器的集成电路测量与供电系统，其硬件系统(Hardware)主要包括：CPU控制块(CPU control block)和工作模块，其中，该工作模块主要是由测量块和电压供应器块及选择块和选择开关组成，且具有数个输出/输入数据通道D(CH1-CHn)。由CPU控制块对工作模块中的测量块和电压供应器块的控制选通使得所述输出/输入通道能根据需求设置,且所述控制是通过控制命令块文本形式脚本或GUI界面来实现控制设置。其中CPU控制块可向该工作模块发出控制指令(Command)，并相互传递数据信号(Date)，所述控制指令借助选择块(Selection Block)和选择开关(Selectableswitch)定义各路输出/输入通道(CH1-CHn)该系统外接DUT插接板，其上可插接目标设备。分别选择测量块(输出电压测量模块，Output Voltage measurement Block)或者电压供应器块(Voltage source supplier Block),以定义其为测量或者供电。其中所述选择块执行该CPU控制块的控制指令对测量块和电压供应器块进行选择，而选择开关是根据控制指令定义每个输出/输入通道。
该硬件系统可外接DUT(design under test被测器件)插接板，在具体实施例中是ECOF/COB/SSOP/等连接DUT板，其上可插接目标设备(system Target Device)：DDI或者电压调整IC、显示面板等。
在一具体实施例中，还可包含控制命令块(Control Command Block)、显示模块(DisplayBlock)及接口块(Interface Block)。其中，该系统能通过在控制命令块中写入脚本或通过内在化到GUI界面控制台来执行所述控制，所述命令的配置是存储在每个脚本文件或内部存储器中。
接口块(InterfaceBlock)可连接中央CPU控制块及DUT板，可传输命令及数据，当通过外部DUT进行测量或供电时，其被配置为能够通过接口块进行设置和控制，以便更改作为目标装置的半导体产品的测量偏好。
该系统还包含有显示模块，该显示模块能输出显示测量及电源的数据，使得该系统能够通过连接的显示模块实时检查通过输入/输出单元传送的数据，以能确定测量电压和输出电压的当前状态。而显示模块可以输出显示测量及电源的数据。
借助上述结构，该系统可具有多种模式的选择，所述模式至少包含供电方式及测量方式，所述供电方式是在需要多个电压源的情况下选择，而测量方式是在需要大量电压输出的情况下选择。例如，在需要多个电压源的情况下可以选择供电方式(PSM)，而在需要大量电压输出的情况下可以选择测量方式 (MM)。
其工作模式如下：
如图1所示，该系统被配置为CPU控制块(CPU control block)控制测量块和电压供应器块的选择，此配置可以通过控制命令块(the control command block)文本形式的脚本或GUI界面来实现。
为了确定测量电压和输出电压的当前状态，能够通过连接的显示块实时检查通过输入/输出单元传送的数据，该显示块可实时接收CPU控制块的数据。此配置允许立即响应可能发生的错误情况。
接下来，当通过外部DUT进行测量或供电时，其被配置为能够通过接口块进行设置和控制，以便更改作为目标装置的半导体产品的测量偏好。
此外，这些设置被配置为通过在控制命令块中写入脚本或通过内在化到 GUI界面控制台来执行。该配置将存储在每个脚本文件或内部存储器中。
该配置可以缩短每次模式转换及其设置所需的时间。并且，由于可以使测量和电源供应整合为单个系统使用，因此与常规的市售产品和专业设备相比，其经济性相当高。
综上，本发明测量的功能和电源的功能均能可选的实现，提高了半导体产品系统测试的效率和负担能力。
以上述依据本发明的理想实施例为启示，通过上述的说明内容，相关工作人员完全可以在不偏离本项发明技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项发明的技术性范围并不局限于说明书上的内容，必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。

Claims (7)

1.一种具多电压基准发生器的集成电路测量与供电系统,其特征在于，其包含有CPU控制块和工作模块，该工作模块主要是由测量块和电压供应器块组成，且该工作模块具有数个输出/输入数据通道，由CPU控制块对工作模块中的测量块和电压供应器块的控制选通使得所述输出/输入通道能根据需求设置,且所述控制是通过控制命令块文本形式脚本或GUI界面来实现控制设置。
2.根据权利要求1所述的一种具多电压基准发生器的集成电路测量与供电系统,其特征在于，所述工作模块还包含选择块和选择开关，其中所述选择块执行该CPU控制块的控制指令对测量块和电压供应器块进行选择，而选择开关是根据控制指令定义每个输出/输入通道。
3.根据权利要求1或2所述的一种具多电压基准发生器的集成电路测量与供电系统,其特征在于，该系统外接DUT插接板，其上可插接目标设备。
4.根据权利要求3所述的一种具多电压基准发生器的集成电路测量与供电系统,其特征在于，该系统还包含有一个接口块，当通过外部DUT进行测量或供电时，其被配置为能够通过接口块进行设置和控制，以便更改作为目标装置的半导体产品的测量偏好。
5.根据权利要求4所述的一种具多电压基准发生器的集成电路测量与供电系统,其特征在于，该系统还包含一控制命令块，该系统能通过在控制命令块中写入脚本或通过内在化到GUI界面控制台来执行所述控制，所述命令的配置是存储在每个脚本文件或内部存储器中。
6.根据权利要求1或2所述的一种具多电压基准发生器的集成电路测量与供电系统,其特征在于，该系统还包含有显示模块，该显示模块能输出显示测量及电源的数据，使得该系统能够通过连接的显示块实时检查通过输入/输出单元传送的数据，以能确定测量电压和输出电压的当前状态。
7.根据权利要求1或2所述的一种具多电压基准发生器的集成电路测量与供电系统,其特征在于，该系统可具有多种模式的选择，所述模式至少包含供电方式及测量方式，所述供电方式是供需要多个电压源的情况下选择，而测量方式是供在需要大量电压输出的情况下选择。
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030163266A1 (en) * 2002-02-26 2003-08-28 Ward Benjamin A. Method and apparatus for visually time-correlating waveform measurements to a source waveform
CN103901337A (zh) * 2014-03-31 2014-07-02 西安华芯半导体有限公司 利用集成开关矩阵测量i-v电路的测试系统及方法
CN107544018A (zh) * 2017-07-21 2018-01-05 芯海科技（深圳）股份有限公司 一种多site信号量检测及失效判定系统及方法
CN108572291A (zh) * 2017-03-10 2018-09-25 基思利仪器有限责任公司 自动设备检测和连接验证

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030163266A1 (en) * 2002-02-26 2003-08-28 Ward Benjamin A. Method and apparatus for visually time-correlating waveform measurements to a source waveform
CN103901337A (zh) * 2014-03-31 2014-07-02 西安华芯半导体有限公司 利用集成开关矩阵测量i-v电路的测试系统及方法
CN108572291A (zh) * 2017-03-10 2018-09-25 基思利仪器有限责任公司 自动设备检测和连接验证
CN107544018A (zh) * 2017-07-21 2018-01-05 芯海科技（深圳）股份有限公司 一种多site信号量检测及失效判定系统及方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
TEKTRONIX: "《使用2460SourceMeter SMU以高电流量测低电阻装置》", 31 October 2016 *

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