JP4591800B2 - 弾性表面波デバイスおよび弾性表面波発振器 - Google Patents
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Description
特許文献2には、電極指を多数並べた周期構造にて生じるSAWの周期的な反射によってストップバンドが形成されることが記載されており、反射反転型IDTについても詳細に開示されている。また、ストップバンド内の下端(下限)及び上端(上限)のそれぞれの周波数において共振状態となり、定在波が形成され、下限モードと上限モードのそれぞれの定在波の腹(または節)の位置が互いにずれる旨の記載がある。
本発明に係る第1の形態は、少なくともRayleigh型弾性表面波を励振させるための電極パターンとしてのIDTを備え、前記弾性表面波のストップバンドの上限モードを励振させる弾性表面波デバイスであって、前記IDTを形成するための圧電基板として、(φ,θ,ψ)で示すオイラー角表示で(0°,95°≦θ≦155°,33°≦|ψ|≦46°)のカット角で切り出された水晶基板を採用し、前記IDTを構成する櫛歯状電極の電極指間に電極指間溝を形成することで、前記電極指間溝で挟まれた水晶部分を電極指台座とし、該電極指台座の上面に前記電極指が位置する構成とし、電極材料をアルミニウムとした前記IDTを構成する前記電極指のライン占有率ηを0.8±yとし、前記電極指台座の厚みHdを、前記電極指の膜厚と前記電極指台座の厚みを足した厚みHで除した値をHd/Hとしたとき、前記yと前記Hd/Hとの関係が、y=0.1825×(Hd/H)4−0.1753×(Hd/H)3+0.0726×(Hd/H)2−0.0058×(Hd/H)+0.0085を満たし、前記Hd/Hが0.167以上であることを特徴とする弾性表面波デバイス。
本発明に係る第2の形態は、第1の形態に記載の弾性表面波デバイスであって、前記Hd/Hが0.3以上0.833以下であることを特徴とする弾性表面波デバイス。
本発明に係る第3の形態は、第1の形態または第2の形態に記載の弾性表面波デバイスであって、前記水晶基板の表面に、前記IDTを前記弾性表面波の伝播方向に挟み込むように反射器を配設し、導体ストリップ間溝を前記反射器を構成する導体ストリップ間に形成し、前記導体ストリップ間溝で挟まれた導体ストリップ台座と、この上面に形成された前記導体ストリップとを有することを特徴とする弾性表面波デバイス。
本発明に係る第4の形態は、第1乃至第3の形態のいずれか1形態に記載の弾性表面波デバイスと、前記IDTを駆動するためのICを備えたことを特徴とする弾性表面波発振器。
[適用例1]少なくともRayleigh型弾性表面波を励振させるための電極パターンとしてのIDTを備え、前記弾性表面波のストップバンドの上限モードを励振させる弾性表面波デバイスであって、前記IDTを形成するための圧電基板として、(φ,θ,ψ)で示すオイラー角表示で(0°,95°≦θ≦155°,33°≦|ψ|≦46°)のカット角で切り出された水晶基板を採用し、前記IDTを構成する櫛歯状電極の電極指間に電極指間溝を形成することで、前記電極指間溝で挟まれた水晶部分を電極指台座とし、該電極指台座の上面に前記電極指が位置する構成としたことを特徴とする弾性表面波デバイス。
このような特徴を有することにより、反射器における弾性表面波の反射効率を向上させることができる。
このような特徴を有することで反射器のストップバンドをIDTのストップバンドより高域側へ周波数シフトさせることができる。このため、fr1<ft2<fr2の関係を実現させることが可能となる。
このような特徴を有することにより、Hd/Hの値に基づいて、周波数温度特性を良好に保つことのできるライン占有率の許容交差yを求めることができる。
本実施形態に係る弾性表面波(SAW:surface acoustic wave)デバイス10は、図1に示すように、圧電基板12と、IDT(interdigital transducer)16、および反射器24とを基本として構成される共振子型のものである。圧電基板12としては、図2に示すように、結晶軸をX軸(電気軸)、Y軸(機械軸)、およびZ軸(光軸)で示す水晶基板を用いる。
共振周波数を322MHzとするSAW共振子の場合を例に挙げると、設計値の一例として、電極膜厚を0.6μmとするものを挙げることができる。これに対し、本実施形態に係るSAWデバイス10(共振子)の場合、例えば電極膜厚の半分、すなわち0.3μm程度を溝28(ここで、電極指22間の溝を電極指間溝、導体ストリップ間の溝を導体ストリップ間溝と定義し、以下合わせて溝と称する)の堀量により補い、水晶による台座(電極指台座30、導体ストリップ台座32)を構成することで、実際の電極膜厚を0.3μmとしてIDT16、および反射器24を構成する。
上記のような構成の本実施形態に係るSAWデバイス10によれば、溝28の深さの調整によって、製造工程における電極指22の幅の誤差範囲内に存在するSAWデバイス10の周波数温度特性の頂点温度のズレ量を少なくすることができる。このため、製造されたSAWデバイス個体間における周波数変動量の差を少なくし、個々のSAWデバイスそれぞれにおいて周波数変動量を許容範囲内に収めることが可能となる。よって、SAWデバイス10を製造する上での歩留りを向上させることが可能となる。
また、必要に応じて、電極指と導体ストリップの少なくとも何れか一方を覆う保護膜を設けてもよい。
また、上記実施形態では、SAWデバイス10の一例としてSAW共振子のみを挙げているが、本発明のSAWデバイスには、SAWフィルタ等も含まれる。
Claims (4)
- 少なくともRayleigh型弾性表面波を励振させるための電極パターンとしてのIDTを備え、前記弾性表面波のストップバンドの上限モードを励振させる弾性表面波デバイスであって、
前記IDTを形成するための圧電基板として、(φ,θ,ψ)で示すオイラー角表示で(0°,95°≦θ≦155°,33°≦|ψ|≦46°)のカット角で切り出された水晶基板を採用し、
前記IDTを構成する櫛歯状電極の電極指間に電極指間溝を形成することで、前記電極指間溝で挟まれた水晶部分を電極指台座とし、該電極指台座の上面に前記電極指が位置する構成とし、
電極材料をアルミニウムとした前記IDTを構成する前記電極指のライン占有率ηを0.8±yとし、
前記電極指台座の厚みHdを、前記電極指の膜厚と前記電極指台座の厚みを足した厚みHで除した値をHd/Hとしたとき、前記yと前記Hd/Hとの関係が、
y=0.1825×(Hd/H)4−0.1753×(Hd/H)3+0.0726×(Hd/H)2−0.0058×(Hd/H)+0.0085
を満たし、
前記Hd/Hが0.167以上であることを特徴とする弾性表面波デバイス。 - 請求項1に記載の弾性表面波デバイスであって、
前記Hd/Hが0.3以上0.833以下であることを特徴とする弾性表面波デバイス。 - 請求項1または請求項2に記載の弾性表面波デバイスであって、
前記水晶基板の表面に、前記IDTを前記弾性表面波の伝播方向に挟み込むように反射器を配設し、
導体ストリップ間溝を前記反射器を構成する導体ストリップ間に形成し、前記導体ストリップ間溝で挟まれた導体ストリップ台座と、この上面に形成された前記導体ストリップとを有することを特徴とする弾性表面波デバイス。 - 請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の弾性表面波デバイスと、前記IDTを駆動するためのICを備えたことを特徴とする弾性表面波発振器。
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