JP4586081B2 - 蛍光分析装置 - Google Patents
蛍光分析装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4586081B2 JP4586081B2 JP2008089174A JP2008089174A JP4586081B2 JP 4586081 B2 JP4586081 B2 JP 4586081B2 JP 2008089174 A JP2008089174 A JP 2008089174A JP 2008089174 A JP2008089174 A JP 2008089174A JP 4586081 B2 JP4586081 B2 JP 4586081B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- probe
- substrate
- fluorescence
- target substance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
- G01N21/648—Specially adapted constructive features of fluorimeters using evanescent coupling or surface plasmon coupling for the excitation of fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
- G01N21/6452—Individual samples arranged in a regular 2D-array, e.g. multiwell plates
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N21/15—Preventing contamination of the components of the optical system or obstruction of the light path
Description
102,602 反応溶液
103,603 スペーサ
104,604 プローブ
105 捕捉された標的物質
106 未反応の標的物質
107 非特異吸着した標的物質
108 ゴミ
109,609 ノイズ除去光
110 デバイスと反応溶液の界面
111 ノイズ除去光の入射角
112,612 ノイズ除去光のエバネッセント場
113 励起光
114 励起光のエバネッセント場
203 支持体
304 スペーサ−プローブ
402 媒質
605 プローブに捕捉された標的物質
606 反応溶液中に浮遊する標的物質
607 デバイス基板表面に非特異吸着した標的物質
608 ゴミ等の標的物質以外のノイズ原因物質
613 非導光性媒質
614 ナノ開口
615 導光性媒質
701,901 カバープレート
702 検出窓
703,903 注入口
704,904 排出口
705 デバイス
706,906 反応槽
707,708 YAGレーザ光源
709,710 レーザ光
711 λ/4板
712 ダイクロイックミラー
713,724 レンズ
714 プリズム
715 対物レンズ
716 光学フィルタ
717 結像レンズ
718 2次元CCDカメラ
721 UVレーザ光源
722 UVレーザ光
725 N2パージエリア
801 ストレプトアビジン
802 一本鎖鋳型DNA
803 プライマ
804,811 ビオチン
805 dATP(3′−O−allyl−dATP−PC−R6G)
806 Thermo Sequenaseポリメラーゼ
807 蛍光体
808 パラジウムを含んだ溶液
810 金構造体
Claims (17)
- 標的物質と相互作用できるプローブが配置されている基板と、
前記標的物質又は前記プローブに向けて励起光を照射する励起光照射光学系と、
前記励起光により生じた蛍光を検出する蛍光検出光学系と、
前記基板表面に非特異吸着した前記標的物質やゴミを分解できるノイズ除去光を、前記基板表面にエバネッセント場が発生する条件で、前記基板に照射するノイズ除去用光学系を備え、
前記エバネッセント場の範囲外に、前記プローブが配置されていることを特徴とする蛍光分析装置。 - 請求項1記載の蛍光分析装置において、
前記励起光照射光学系が、前記基板表面にエバネッセント場が発生する条件で、前記基板に励起光を照射することを特徴とする蛍光分析装置。 - 請求項2記載の蛍光分析装置において、
励起光のエバネッセント場の染み出し距離が、ノイズ除去光のエバネッセント場の染み出し距離よりも長いことを特徴とする蛍光分析装置。 - 請求項2記載の蛍光分析装置において、
前記励起光が可視光であり、前記ノイズ除去光がUV光であることを特徴とする蛍光分析装置。 - 請求項1記載の蛍光分析装置において、
前記基板表面にスペーサが存在し、当該スペーサに前記プローブが配置されていることを特徴とする蛍光分析装置。 - 請求項1記載の蛍光分析装置において、
前記基板表面に対向する位置に支持体が存在し、当該支持体に前記プローブが配置されていることを特徴とする蛍光分析装置。 - 請求項1記載の蛍光分析装置において、
前記ノイズ除去用光学系が、前記基板の界面にて全反射するようにノイズ除去光を照射することを特徴とする蛍光分析装置。 - 請求項1記載の蛍光分析装置において、
前記基板が、ナノ開口を備え、
前記ノイズ除去用光学系が、前記ナノ開口にノイズ除去光を照射することを特徴とする蛍光分析装置。 - 請求項1記載の蛍光分析装置において、
前記プローブが、DNA,RNA,アプタマー,遺伝子,ヌクレオソーム,クロマチン,染色体,核様体、細胞膜,細胞壁、ウイルス,抗原,抗体,レクチン,ハプテン,レセプター,酵素,ペプチド,スフィンゴ糖、又はスフィンゴ脂質であることを特徴とする蛍光分析装置。 - 請求項1記載の蛍光分析装置において、
前記標的物質が、DNA,RNA,アプタマー,抗原,抗体,デオキシリボヌクレオシド3リン酸、又はリボヌクレオシド3リン酸であることを特徴とする蛍光分析装置。 - 請求項1記載の蛍光分析装置において、
前記標的物質が、蛍光標識されたヌクレオチドのモノマー又はオリゴマーであり、
前記プローブが、核酸合成酵素、又は核酸分子であり、
前記標的物質と前記プローブが相互作用することにより生成される核酸鎖中に取り込まれた前記ヌクレオチドの蛍光を検出することにより、核酸の配列情報を取得することを特徴とする蛍光分析装置。 - 請求項1記載の蛍光分析装置において、
前記ノイズ除去用光学系が、励起光が照射されない領域にノイズ除去光を照射できることを特徴とする蛍光分析装置。 - プローブを配置できるスペーサを有する光透過性基板と、
プローブと相互作用できる標的物質を含む溶液を、前記光透過性基板の表面に保持できる反応槽と、
前記光透過性基板と直接又は間接的に接触するプリズムと、
レーザ光である励起光を生じる光源と、
レーザ光であるUV光を生じる光源と、を備え、
前記プリズムに入射した励起光が、前記光透過性基板の表面で全反射し、前記プローブを含む領域にエバネッセント場が発生し、
前記プリズムに入射したUV光が、前記光透過性基板の表面で全反射し、前記プローブを含まない領域にエバネッセント場が発生することを特徴とする蛍光分析装置。 - 光透過性基板と、
光透過性基板の基板表面と対向する位置に存在し、プローブを配置できる支持体と、
プローブと相互作用できる標的物質を含む溶液を、前記光透過性基板の表面に保持できる反応槽と、
前記光透過性基板と直接又は間接的に接触するプリズムと、
レーザ光である励起光を生じる光源と、
レーザ光であるUV光を生じる光源と、を備え、
前記プリズムに入射した励起光が、前記光透過性基板の表面で全反射し、前記プローブを含む領域にエバネッセント場が発生し、
前記プリズムに入射したUV光が、前記光透過性基板の表面で全反射し、前記プローブを含まない領域にエバネッセント場が発生することを特徴とする蛍光分析装置。 - プローブを配置できるスペーサと、ナノ開口を備えた基板と、
プローブと相互作用できる標的物質を含む溶液を、前記基板の表面に保持できる反応槽と、
レーザ光である励起光を生じる光源と、
レーザ光であるUV光を生じる光源と、を備え、
前記ナノ開口に励起光が照射され、前記プローブを含む領域にエバネッセント場が発生し、
前記ナノ開口にUV光が照射され、前記プローブを含まない領域にエバネッセント場が発生することを特徴とする蛍光分析装置。 - 光透過性基板と、
光透過性基板の基板表面と対向する位置に存在し、プローブを配置できる支持体と、
プローブを配置できるスペーサと、ナノ開口を備えた基板と、
プローブと相互作用できる標的物質を含む溶液を、前記基板の表面に保持できる反応槽
と、
レーザ光である励起光を生じる光源と、
レーザ光であるUV光を生じる光源と、を備え、
前記ナノ開口に励起光が照射され、前記プローブを含む領域にエバネッセント場が発生し、
前記ナノ開口にUV光が照射され、前記プローブを含まない領域にエバネッセント場が発生することを特徴とする蛍光分析装置。 - 標的物質と相互作用できるプローブが配置されている基板と、
前記基板の表面に溶液を保持できる第1の反応槽と、
前記第1の反応槽に配置された前記基板に対し、当該基材表面にエバネッセント場が発生する条件で、ノイズ除去光を照射するノイズ除去用光学系と、
プローブと相互作用できる標的物質を含む溶液を、前記光透過性基板の表面に保持できる第2の反応槽と、
前記第2の反応槽に配置された前記基板に対し、励起光を照射する励起光照射光学系と、
前記励起光により生じた蛍光を検出する蛍光検出光学系と、
を備える蛍光分析装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008089174A JP4586081B2 (ja) | 2008-03-31 | 2008-03-31 | 蛍光分析装置 |
US12/400,321 US8294122B2 (en) | 2008-03-31 | 2009-03-09 | Method for fluorescence analysis and fluorescence analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008089174A JP4586081B2 (ja) | 2008-03-31 | 2008-03-31 | 蛍光分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009244000A JP2009244000A (ja) | 2009-10-22 |
JP4586081B2 true JP4586081B2 (ja) | 2010-11-24 |
Family
ID=41115687
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008089174A Active JP4586081B2 (ja) | 2008-03-31 | 2008-03-31 | 蛍光分析装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8294122B2 (ja) |
JP (1) | JP4586081B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5497587B2 (ja) * | 2010-03-23 | 2014-05-21 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | マイクロ流路チップ及びマイクロアレイチップ |
CN105424625A (zh) * | 2015-11-16 | 2016-03-23 | 西北大学 | 一种定量检测糖鞘脂中糖链结构的方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006153639A (ja) * | 2004-11-29 | 2006-06-15 | Sony Corp | ノイズ蛍光処理方法及び蛍光検出システム |
JP2006177725A (ja) * | 2004-12-21 | 2006-07-06 | Sony Corp | 物質間の相互作用検出部と該検出部を用いるバイオアッセイ用基板、装置及び方法 |
JP2007017432A (ja) * | 2005-06-08 | 2007-01-25 | Canon Inc | プラズモン共鳴を利用して検体中の標的物質を検知するための検知装置に用いられる検知素子及びその製造方法 |
JP2007508536A (ja) * | 2003-10-09 | 2007-04-05 | コミツサリア タ レネルジー アトミーク | 化学種又は生物種用の表面プラズモンマイクロセンサ及びナノセンサ |
JP2008051512A (ja) * | 2006-08-22 | 2008-03-06 | Fujifilm Corp | 近接場光を用いたセンサおよびその作製方法 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AU2001282881B2 (en) * | 2000-07-07 | 2007-06-14 | Visigen Biotechnologies, Inc. | Real-time sequence determination |
JP4208115B2 (ja) * | 2001-09-12 | 2009-01-14 | 富士フイルム株式会社 | 全反射減衰を利用したセンサー |
US20030224370A1 (en) * | 2002-05-31 | 2003-12-04 | William Rassman | Method and apparatus for recognizing molecular compounds |
WO2004059301A1 (en) * | 2002-12-25 | 2004-07-15 | Proteoptics Ltd. | Surface plasmon resonance sensor |
DE112008000507T5 (de) * | 2007-02-26 | 2010-02-18 | Wisconsin Alumni Research Foundation, Madison | Mit Oberflächen-Plasmon-Resonanz kompatible Kohlenstoff-Dünnschichten |
JP5216318B2 (ja) * | 2007-12-27 | 2013-06-19 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 蛍光検出装置 |
JP4603591B2 (ja) * | 2008-03-31 | 2010-12-22 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 核酸分析装置 |
-
2008
- 2008-03-31 JP JP2008089174A patent/JP4586081B2/ja active Active
-
2009
- 2009-03-09 US US12/400,321 patent/US8294122B2/en active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007508536A (ja) * | 2003-10-09 | 2007-04-05 | コミツサリア タ レネルジー アトミーク | 化学種又は生物種用の表面プラズモンマイクロセンサ及びナノセンサ |
JP2006153639A (ja) * | 2004-11-29 | 2006-06-15 | Sony Corp | ノイズ蛍光処理方法及び蛍光検出システム |
JP2006177725A (ja) * | 2004-12-21 | 2006-07-06 | Sony Corp | 物質間の相互作用検出部と該検出部を用いるバイオアッセイ用基板、装置及び方法 |
JP2007017432A (ja) * | 2005-06-08 | 2007-01-25 | Canon Inc | プラズモン共鳴を利用して検体中の標的物質を検知するための検知装置に用いられる検知素子及びその製造方法 |
JP2008051512A (ja) * | 2006-08-22 | 2008-03-06 | Fujifilm Corp | 近接場光を用いたセンサおよびその作製方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2009244000A (ja) | 2009-10-22 |
US20090242804A1 (en) | 2009-10-01 |
US8294122B2 (en) | 2012-10-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4597175B2 (ja) | 標的物質を検出するための分析装置、又は分析方法、若しくはこれら分析装置及び分析方法に用いるデバイス | |
JP5260339B2 (ja) | 核酸分析デバイス、及び核酸分析装置 | |
CN105555966B (zh) | 核酸分析用流动池和核酸分析装置 | |
JP5222599B2 (ja) | 核酸分析デバイス及びそれを用いた核酸分析装置 | |
JP5663008B2 (ja) | 核酸分析デバイスの製造方法 | |
JP5587816B2 (ja) | 核酸分析デバイス、及び核酸分析装置 | |
JP2007333497A (ja) | 蛍光検出デバイスおよび装置 | |
US8865403B2 (en) | Nucleic acid analyzing device and nucleic acid analyzer | |
JPWO2010137543A1 (ja) | 核酸分析用デバイス、核酸分析装置、及び核酸分析方法 | |
JP4586081B2 (ja) | 蛍光分析装置 | |
JP5033820B2 (ja) | 全反射顕微鏡装置、及び蛍光試料分析方法 | |
JP5309092B2 (ja) | 核酸分析用デバイス,核酸分析装置、及び核酸分析用デバイスの製造方法 | |
JP5707030B2 (ja) | 核酸分析デバイス、及び核酸分析装置 | |
JP5026359B2 (ja) | 核酸分析デバイス、核酸分析装置及び核酸分析方法 | |
JP5462548B2 (ja) | 核酸分析素子及びそれを用いた核酸分析装置 | |
WO2021024416A1 (ja) | フローセルの調整方法 | |
JP5433308B2 (ja) | 計測装置、及び計測方法 | |
JP5455941B2 (ja) | 核酸分析用反応デバイス、及び核酸分析装置 | |
JP2011200141A (ja) | 反応基板および分析装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100129 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100129 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100618 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100629 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100729 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100824 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100906 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4586081 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130910 Year of fee payment: 3 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |