JP4583233B2 - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4583233B2
JP4583233B2 JP2005131285A JP2005131285A JP4583233B2 JP 4583233 B2 JP4583233 B2 JP 4583233B2 JP 2005131285 A JP2005131285 A JP 2005131285A JP 2005131285 A JP2005131285 A JP 2005131285A JP 4583233 B2 JP4583233 B2 JP 4583233B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wiring
circuit
shield
digital
analog
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2005131285A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006310540A (ja
Inventor
幸司 山下
安弘 武田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sanyo Electric Co Ltd filed Critical Sanyo Electric Co Ltd
Priority to JP2005131285A priority Critical patent/JP4583233B2/ja
Publication of JP2006310540A publication Critical patent/JP2006310540A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4583233B2 publication Critical patent/JP4583233B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Description

本発明は、半導体装置に関し、特に半導体基板上の2つの回路配線間のノイズ伝搬の抑制に係る構造に関する。
半導体装置に複数の回路が混在する場合、各回路間でのノイズ伝搬が問題となる。特にアナログ回路とデジタル回路とを含む集積回路を備える半導体装置では、高速動作するデジタル回路において発生する高周波ノイズが、ノイズの影響を受けやすいアナログ回路に伝搬され、アナログ回路の動作を阻害することがある。こうした回路間のノイズ伝搬は、アナログ回路やデジタル回路などの回路間に金属配線で構成されたシールド層を介設することで低減することができる。
従来技術として特許文献1に記載のアナログ/デジタル混在の集積回路のレイアウト図について、図5および図6を用いて説明する。
図5は、アナログ/デジタル混在の集積回路のメタル層のレイアウト図であり、図6は、アナログ回路とデジタル回路との間のシールド部分の拡大図である。従来のアナログ/デジタル混在の集積回路100は、アナログ回路部分のメタルレイアウト部分101、デジタル回路部分のメタルレイアウト部分102、デジタル回路部分とアナログ回路部分を接続する信号ライン群103、及びデジタル回路部分を遮蔽するシールド部のレイアウト部分104を備える。尚、シールド部104は、デジタル回路部分102とは完全に独立したグランドラインに接続されている。このように構成されたアナログ/デジタル混在の集積回路において、デジタル回路部分102から発生する高周波ノイズは放射状に現われる。デジタル回路部分102をシールド部104により囲みグランドラインに接続することにより、デジタル回路部分102から高周波ノイズはシールド部104で遮蔽され、シールド部104外部のアナログ回路部分101への影響を抑制することができる。
特開平6−163694号公報
しかしながら、アナログ回路部分101やデジタル回路部分102の回路間にシールド部104を介設する場合、アナログ回路部分101とデジタル回路部分102を接続する信号ライン群103がシールド部104を横切るためシールド部104に間隙(開口部)105ができ、その開口部105からデジタル回路部分102から発生する高周波ノイズが漏れてしまう。また、アナログ回路部分101とデジタル回路部分102の回路間のシールド部104に間隙を形成しないで信号ライン群103を敷設しようとすると、信号ライン群103の配線長が長くなり、チップ面積も増大するためコストアップにつながってしまう。
この発明は、こうした実状に鑑みてなされたものであって、その解決しようとする課題は、回路配線間のノイズ伝搬を好適に抑制することのできる半導体装置を提供することにある。
上記課題を解決するために、本発明のある態様の半導体装置は、半導体基板の上に設けられた第1の回路および第2の回路と、第1の回路と第2の回路とを接続する信号配線と、第1の回路または第2の回路の周囲を囲うように配置され、第1の回路と第2の回路との間に、信号配線を敷設するための開口部を有するシールド配線と、を備え、第1の回路、第2の回路、信号配線、及びシールド配線は、同一配線層に設けられた配線であり、シールド配線の開口部が、第1の回路から第2の回路に向かう方向と異なる方向に開口していることを特徴とする。
この態様によると、シールド配線は、第1の回路または第2の回路の周囲を囲うように配置され、シールド配線の開口部が、第1の回路から第2の回路に向かう方向と異なる方向に開口していることにより、第1の回路から見てシールド配線に間隙がなくなるので、第1の回路または第2の回路から発生する高周波ノイズを好適に抑制することができる。一方、シールド配線の開口部を介して信号配線が敷設されているので、シールド配線に開口部がない場合に比べて、信号配線の配線長を短くすることができる。
上記構成において、第1の回路と第2の回路とを接続する信号配線は、開口部を通過することで非直線状に設けられることが望ましい。このようにすることにより、シールド配線と信号配線との間隔を効率的に狭めるようにレイアウトすることができるので、第1の回路または第2の回路から発生する高周波ノイズをより好適に抑制することができる。
上記構成において、第1の回路は、アナログ回路領域に設けられたアナログ回路配線であり、第2の回路は、デジタル回路領域に設けられたデジタル回路配線であることが望ましい。このようにすることにより、高速動作されて高周波ノイズを発生するデジタル回路領域とそうした高周波ノイズの影響を受け易いアナログ回路領域と間に、信号配線を敷設するための開口部を有するシールド配線が設けられるので、より顕著な効果が奏せられるようになる。
本発明によれば、回路配線間のノイズ伝搬を好適に抑制することのできる半導体装置が提供される。
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。尚、すべての図面において、同様な構成要素には同様の符号を付し、適宜説明を省略する。
(第1実施形態)
本発明の第1実施形態を図1および図2に基づいて説明する。図1は、本発明のアナログ/デジタル混在の半導体装置のメタル層のレイアウト図であり、図2はアナログ回路とデジタル回路との間のシールド部分の拡大図である。
図1において、本発明の第1実施形態のアナログ/デジタル混在の半導体装置10は、半導体基板(図示せず)上に設けられたアナログ回路領域におけるアナログ回路配線1、デジタル回路領域におけるデジタル回路配線2、アナログ回路配線1とデジタル回路配線2を接続する信号配線3、及びデジタル回路配線2を囲い高周波ノイズを遮蔽するシールド配線4を備える。シールド配線4は、デジタル回路配線2の周囲を囲うように配置されるとともに、デジタル回路配線2とは完全に独立したグランドラインに接続されている。ここで、アナログ回路配線1、デジタル回路配線2、信号配線3、及びシールド配線4は、同一配線層に設けられる。シールド配線4は、アナログ回路配線1とデジタル回路配線2との間に開口部5を有し、この開口部5は、デジタル回路配線2からアナログ回路配線1に向かう方向と異なる方向に開口している。尚、図2に示すように、シールド配線4は、アナログ回路配線1とデジタル回路配線2との間に、第1シールド配線部4aと第2シールド配線部4bによって構成される開口部5を有し、さらに第1シールド配線部4aと第2シールド配線部4bは、デジタル回路配線2の側から見て、第1シールド配線部4aと第2シールド配線部4bの一部(先端部分)が重なるように設けられている。この結果、デジタル回路配線2の側から見てシールド配線4に間隙はなくなり、アナログ回路配線1は第1シールド配線部4aと第2シールド配線部4bによって完全に隠されることになる。そして信号配線3は、シールド配線4の開口部5を介して非直線状に設けられ、アナログ回路配線1とデジタル回路配線2とを接続している。
このように構成されたアナログ/デジタル混在の半導体装置10においては、デジタル回路配線2の側から見て、第1シールド配線部4aと第2シールド配線部4bが重なるように設けられていることにより、その部分ではデジタル回路配線2の側から見てシールド配線4に間隙がなくなるので、デジタル回路配線2から発生する高周波ノイズを好適に抑制することができる。一方、シールド配線4の開口部5を介して信号配線3が敷設されているので、シールド配線4に開口部5がなく信号配線3を迂回させていた場合に比べて、信号配線3の配線長を短くすることができる。
デジタル回路部分2から発生する高周波ノイズは放射状に現れるので、デジタル回路配線2をシールド配線4により囲みグランドラインに接続することにより、デジタル回路部分2から高周波ノイズはシールド部4で遮蔽され、シールド部4外部のアナログ回路部分1への影響を抑制することができる。
また、本発明の第1実施形態においては、第1シールド配線部4aと第2シールド配線部4bが重なる領域において、第1シールド配線部4a、第2シールド配線部4b、及び信号配線3とが平行になるように配置している。このようにすることにより、第1シールド配線部4aと信号配線3との間隔(配線スペース)および第2シールド配線部4bと信号配線3との間隔(配線スペース)を効率的に狭めるようにレイアウトすることができるので、デジタル回路配線2から発生する高周波ノイズをより好適に抑制することができる。
以下に、本発明の第1実施形態におけるシールド配線構造が高周波ノイズの伝搬抑制に有効であることについて、図3を用いて説明する。
図3は、各シールド配線構造(A〜C)での伝搬ノイズの周波数依存性の実験値(実測値)の結果を示す図である。伝搬ノイズは、In側回路配線(デジタル回路配線を想定)からのOut側回路配線(アナログ回路配線を想定)へのノイズを測定評価した。シールド配線構造(A)は、In側とOut側との間に、開口部のないシールド配線を配置した場合であり、シールド配線構造(B)は、シールド配線が開口部を有し、さらにIn側から見て2つのシールド配線部が重なる領域を有するように配置した場合(シールド配線の開口部がIn側からOut側に向かう方向と異なる方向に開口している場合)であり、シールド配線構造(C)は、シールド配線構造(A)に対して開口部を設けた場合(シールド配線の開口部がIn側からOut側に向かう方向と同じ方向に開口している場合)である。尚、シールド配線構造(B)と(C)でのシールド配線の開口部は同じ寸法とした。
この実験結果により、シールド配線構造(A)に対して開口部を設けたシールド配線構造(C)の場合には、In側回路配線からの伝搬ノイズが多くなっているが、シールド配線構造(B)とした場合には、シールド配線に開口部を有していても伝搬ノイズの増加を大幅に抑制することができていることが分かる。
(第2実施形態)
本発明の第1実施形態では、アナログ回路配線1とデジタル回路配線2とを接続する信号配線3が1箇所の場合の例を示したが、図4に信号配線が2箇所の場合の例を示す。
図4は、本発明の第2実施形態のアナログ/デバイス混在の半導体装置のメタル層のレイアウト図である。第1実施形態と異なる箇所は、信号配線3が2箇所であること、それに対応して第1シールド配線部4a、第2シールド配線部4b、及び第3シールド配線部4cを有するシールド配線4が設けられていることである。
図4に示すように、シールド配線4は、アナログ回路配線1とデジタル回路配線2との間に、第1シールド配線部4aと第2シールド配線部4bによって構成される開口部5aを有し、さらに第1シールド配線部4aと第2シールド配線部4bは、デジタル回路配線2の側から見て、第1シールド配線部4aと第2シールド配線部4bの一部(先端部分)が重なるように設けられている。さらにこれ加えて、シールド配線4は、アナログ回路配線1とデジタル回路配線2との間に、第1シールド配線部4aと第3シールド配線部4cによって構成される開口部5bを有し、さらに第1シールド配線部4aと第3シールド配線部4cは、デジタル回路配線2の側から見て、第1シールド配線部4aと第3シールド配線部4cの一部(先端部分)が重なるように設けられている。開口部5a,5bはいずれもデジタル回路配線2からアナログ回路配線1に向かう方向と異なる方向に開口している。これらの結果、デジタル回路配線2の側から見てシールド配線4に間隙はなくなり、アナログ回路配線1は第1シールド配線部4a、第2シールド配線部4b、及び第3シールド配線4cによって完全に隠されることになる。そして信号配線3a,3bは、シールド配線4の開口部5a,5bを介して非直線状に、それぞれアナログ回路配線1とデジタル回路配線2とを接続している。このことから、第2実施形態においても第1実施形態と同様、デジタル回路配線2から発生する高周波ノイズを好適に抑制するとともに、信号配線3a,3bの配線長を短くすることができる。
さらに、第2実施形態では信号配線が2箇所の場合について説明したが、信号配線3が3箇所以上存在する場合であっても、信号配線3とシールド配線4を本発明の実施形態の構成とすることによって、それぞれの信号配線3部分においてデジタル回路配線2からの高周波ノイズを抑制するとともに、信号配線3の配線長を短くすることができる。
以上、実施の形態により本発明を詳細に説明したが、本発明はこれに限定されることなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、回路配線間のノイズ伝搬対策として適用することができる。
本発明の第1実施形態に係るアナログ/デジタル混在の半導体装置のレイアウト図である。 図1におけるアナログ回路とデジタル回路との間のシールド部分の拡大図である。 各シールド配線構造(A〜C)での伝搬ノイズの周波数依存性の実験値(実測値)の結果を示す図である。 本発明の第2実施形態に係るアナログ/デジタル混在の半導体装置のレイアウト図である。 従来のアナログ/デジタル混在の集積回路のレイアウト図である 図5におけるアナログ回路とデジタル回路との間のシールド部分の拡大図である。
符号の説明
1 アナログ回路配線(第1回路配線)
2 デジタル回路配線(第2回路配線)
3 信号配線
4 シールド配線
4a 第1シールド配線部
4b 第2シールド配線部
5 シールド配線の開口部
10 半導体装置

Claims (3)

  1. 半導体基板の上に設けられた第1の回路および第2の回路と、
    前記第1の回路と第2の回路とを接続する信号配線と、
    前記第1の回路または第2の回路の周囲を囲うように配置され、前記第1の回路と第2の回路との間に、前記信号配線を敷設するための開口部を有するシールド配線と、
    を備え、
    前記第1の回路、第2の回路、信号配線、及びシールド配線は、同一配線層に設けられた配線であり、
    前記シールド配線の開口部が、第1の回路から第2の回路に向かう方向と異なる方向に開口していることを特徴とした半導体装置。
  2. 前記第1の回路と第2の回路とを接続する信号配線は、前記開口部を通過することで非直線状に設けられることを特徴とした請求項1に記載の半導体装置。
  3. 前記第1の回路は、アナログ回路領域に設けられたアナログ回路配線であり、前記第2の回路は、デジタル回路領域に設けられたデジタル回路配線であることを特徴とした請求項1または2に記載の半導体装置。
JP2005131285A 2005-04-28 2005-04-28 半導体装置 Expired - Fee Related JP4583233B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005131285A JP4583233B2 (ja) 2005-04-28 2005-04-28 半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005131285A JP4583233B2 (ja) 2005-04-28 2005-04-28 半導体装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006310540A JP2006310540A (ja) 2006-11-09
JP4583233B2 true JP4583233B2 (ja) 2010-11-17

Family

ID=37477095

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005131285A Expired - Fee Related JP4583233B2 (ja) 2005-04-28 2005-04-28 半導体装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4583233B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7786546B2 (en) * 2005-02-25 2010-08-31 United Microelectronics Corp. System-on-chip with shield rings for shielding functional blocks therein from electromagnetic interference
CN101370652B (zh) * 2006-01-17 2012-07-18 横滨橡胶株式会社 低透气性橡胶叠层体和使用它的充气轮胎
KR101120508B1 (ko) 2007-08-22 2012-02-29 (주) 와이팜 간섭 현상을 줄이기 위한 레이아웃 구조

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06163694A (ja) * 1992-11-25 1994-06-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd 集積回路
JP2000150802A (ja) * 1998-11-18 2000-05-30 Nec Corp アナログ信号パッドのシールド法、および半導体集積回路

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06163694A (ja) * 1992-11-25 1994-06-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd 集積回路
JP2000150802A (ja) * 1998-11-18 2000-05-30 Nec Corp アナログ信号パッドのシールド法、および半導体集積回路

Also Published As

Publication number Publication date
JP2006310540A (ja) 2006-11-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5694251B2 (ja) Ebg構造体および回路基板
JP2009177139A (ja) 半導体集積回路
JP2008147338A (ja) 半導体集積回路装置
JP2008028218A (ja) 多層プリント基板
JP4583233B2 (ja) 半導体装置
JP6579111B2 (ja) 半導体集積回路装置
JP2010135374A (ja) 多層プリント配線基板
JP2012069571A (ja) 半導体集積回路装置
JP2007234979A (ja) シールド基板、半導体パッケージ、及び半導体装置
JP2005123520A (ja) プリント配線板
JP4957543B2 (ja) プリント回路基板
JP2008010673A (ja) Icパッケージ
JP2007335811A (ja) プリント配線板及び電子機器
JP4262242B2 (ja) 半導体装置
JP6059950B2 (ja) 半導体装置
JP7226899B2 (ja) 電子機器及び配線基板
US20050161810A1 (en) Semiconductor device
JP5610953B2 (ja) プリント配線板及びプリント回路板
JP6602241B2 (ja) 信号伝送基板
JP2007096170A (ja) 半導体装置
JP6131600B2 (ja) 層間接続穴を備えたプリント基板、および、配置方法
JP3646970B2 (ja) 半導体集積回路及び半導体集積回路装置
JP7216231B2 (ja) 半導体装置
TWI756744B (zh) 電子零件內藏基板
WO2018122949A1 (ja) インダクタ素子

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080205

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100803

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100805

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100831

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130910

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees