JP2008010673A - Icパッケージ - Google Patents

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    • H01L2924/15311Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA

Abstract

【課題】差動伝送線路対を備え、該差動伝送線路対でのクロストークやノイズ放射を抑え易いICパッケージを得ること。
【解決手段】2本の信号線路1a,1bにより構成された差動伝送線路対DPを有する配線基板10と、該配線基板に実装された半導体チップと、該半導体チップを遮蔽する封入手段とを具備し、差動伝送線路対は平面上で曲折した曲折部を有し、半導体チップは差動伝送線路対に電気的に接続された集積回路を含むICパッケージを構成するにあたり、差動伝送線路対の曲折部での内側の信号線路に対する実効誘電率と外側の信号線路に対する実効誘電率とを調節する誘電率調節部27Aを差動伝送線路対の平面視上の周囲に形成する。
【選択図】 図3

Description

この発明はIC(Integrated Circuit;集積回路)パッケージに関するものであり、更に詳しくは差動伝送線路を備えたICパッケージに関するものである。
電子機器では常にデータ処理速度の向上が求められており、当該電子機器の部品として用いられる半導体チップでのデータ処理速度の向上は勿論、半導体チップ間あるいは電機子機器と外部装置との間でのデータの伝送速度についても、その向上が図られている。データの伝送速度を向上させるうえからは、1本の信号線路での電圧の高低によりデータを伝送するシングルエンド伝送よりも、互いに対をなす2本の信号線路での電圧差によりデータを伝送する差動伝送の方が有利であるため、今日では入出力インターフェース等の多くの回路で差動伝送が適用されている。なお、以下の説明においては、差動伝送に使用される1対の信号線路を「差動信号線路対」という。
例えば、半導体基板上に高速シリアル−デシリアル相互変換回路を含む大規模集積回路(LSI)が形成されている半導体チップをパッケージングしてICパッケージを得る場合には、データ伝送速度の向上を図るために、通常、所望数の差動伝送線路対が形成された配線基板に上記の半導体チップが実装される。配線基板上に形成される差動伝送線路対の平面形状は必ずしも直線的ではなく、ICパッケージの小型を図るという観点から、その平面形状は途中に曲折部が形成された形状とされることも多々ある。
差動伝送線路対の途中に曲折部を形成した場合、内側の伝送線路と外側の伝送線路とで配線長に差異が生じることとなるため、これらの伝送線路を伝播する信号間には伝送遅延差(スキュー;skew)が生じる。差動伝送は、差動伝送線路対を構成する2本の信号線路それぞれでの信号の位相を互いに逆位相にしてデータの伝送を行い、受信側でこれらの信号同士を減算して本来のデータを検知するものであるので、各信号の出力端での出力タイミングを揃えることが望まれる。
差動伝送に関するものではないが、バスラインにおける出力端での信号出力のタイミングを揃える方法としては、特許文献1に記載された伝送速度の制御方法が知られている。この制御方法では、バスラインを構成する複数の配線の中から基準となる配線を決定してその配線長を基準長とし、基準長よりも長い配線上には比誘電率の小さい誘電体を設け、基準長よりも短い配線上には比誘電率の大きい誘電体を設けることにより、上記複数の配線の出力端での信号出力のタイミングを揃える。
特開2001−217509号公報
しかしながら、差動伝送においては、たとえ差動伝送線路対の出力端での信号の出力タイミングを揃えたとしても、伝送経路内で伝送遅延差が生じるとクロストークが増大して信号品質が低下するため、受信側で本来のデータを検知し難くなる。また、伝送経路内での伝送遅延差の発生はノイズ放射の増大をまねくことから、周囲の回路が誤作動する要因ともなる。
この発明は上記の事情に鑑みてなされたものであり、差動伝送線路対を備え、該差動伝送線路対でのクロストークやノイズ放射を抑え易いICパッケージを得ることを目的とする。
上記の目的を達成するこの発明のICパッケージは、2本の信号線路により構成された差動伝送線路対を有する配線基板と、配線基板に実装された半導体チップと、半導体チップを遮蔽する封入手段とを具備し、差動伝送線路対は平面上で曲折した曲折部を有し、半導体チップは差動伝送線路対に電気的に接続された集積回路を含むICパッケージであって、差動伝送線路対の平面視上の周囲に形成されて曲折部での内側の信号線路に対する実効誘電率と外側の信号線路に対する実効誘電率とを調節する誘電率調節部を有することを特徴とするものである。
この発明のICパッケージでは、差動伝送線路対の曲折部を信号が伝播するときに内側の信号線路と外側の信号線路とに生じる伝送遅延差を誘電率調節部により抑えることができる。したがって、この発明によれば、差動伝送線路対を備えたICパッケージでのクロストークやノイズ放射を抑え易くなる。
この発明のICパッケージは、差動伝送線路対を有する配線基板に半導体チップが実装され、該半導体チップが封入手段により遮蔽されているものであり、差動伝送線路対は平面上で曲折した曲折部を有している。差動伝送線路対に曲折部を設ける場合には、曲折方向が互いに逆向きの2つの曲折部を1組として複数組の曲折部を設けることが多いが、奇数個の曲折部を設けることもある。また、上記の封入手段としては、半導体チップを覆う封入樹脂層や、半導体チップが実装された配線基板を気密に収容するセラミックス容器等が用いられる。以下、この発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、この発明は以下に説明する実施の形態に限定されるものではない。
実施の形態1.
図1は、この発明のICパッケージの一例を概略的に示す部分断面図である。同図に示すICパッケージ30は、配線基板10と、配線基板10に表面実装された2つの半導体チップ(ベアチップ)15,20と、配線基板10上に形成されたソルダレジスト層25と、半導体チップ15,20を覆って該半導体チップ15,20を遮蔽する2つの封入樹脂層SR1,SR2とを具備している。
上記の配線基板10は多層配線基板であり、その内部には所定形状の多層配線(図示せず。)が形成されている。また、配線基板10の上面には多数の配線によって構成された配線パターン1が形成されており、下面には多数のボールグリッド5が設けられている。配線パターン1には後述する差動伝送線路対が含まれている。
半導体チップ15は、半導体基板12と、半導体基板12に形成された集積回路(図示せず。)と、集積回路を外部回路に接続するための複数のパッド13とを有しており、半導体チップ20は、半導体基板17と、半導体基板17に形成された集積回路(図示せず。)と、集積回路を外部回路に接続するための複数のパッド18とを有している。半導体チップ15を構成するパッド13の各々、および半導体チップ20を構成するパッド18の各々は、配線パターン1を構成する所定の配線にはんだボールSBを介して接続されており、これら2つの半導体チップ15,20の少なくとも一方は、上記の差動伝送線路対に電気的に接続された集積回路を含んでいる。
ソルダレジスト層25は、配線パターン1を構成する各配線の機械的保護や、酸化からの保護、あるいは配線とパッド13,18もしくは外部回路との接合箇所以外へのはんだの付着の防止等を図るために配線基板10上に設けられて、該配線基板10の上面および配線パターン1を覆っている。したがって、上記の差動伝送線路対はソルダレジスト層25により覆われている。
また、封入樹脂層SR1,SR2は前述した封入手段の1つであり、これらの封入樹脂層SR1,SR2は例えばエポキシ系の封入樹脂により配線基板10上に形成されて、半導体チップ15,20を空気中の水分や塵埃、あるいは光等から保護している。一方の封入樹脂層SR1が半導体チップ15を覆っており、他方の封入樹脂層SR2が半導体チップ20を覆っている。
上述の構成を有するICパッケージ30の特徴の1つは、差動伝送線路対の曲折部での内側の信号線路に対する実効誘電率と外側の信号線路に対する実効誘電率とを調節する誘電率調節部を有している点にある。以下、図2を参照して当該誘電率調節部を説明する。
図2は、図1に示した配線基板10上に形成されている誘電率調節部の一例を概略的に示す平面図である。同図に示す例では、差動伝送線路対DPを構成する2本の信号線路1a,1bのうちの1本の近傍、すなわち曲折部での外側の信号線路1bの近傍に開口部OP1を残した状態で配線基板10上にソルダレジスト層25が形成されており、上記の開口部OP1がそのまま誘電率調節部として機能する。誘電率調節部(開口部OP1)は、曲折部での外側の信号線路1bの更に外側に位置している。
誘電率調節部が開口部OP1であることから、曲折部での信号線路1bに対する実効誘電率は開口部OP1がない場合に比べて低くなる。その結果として、信号線路1bでは曲折部での信号の伝搬速度が早くなり、内側の信号線路1aを伝播する信号との伝送遅延差が抑えられる。誘電率調節部(開口部OP1)の形状、大きさ、信号線路1bとの距離、数等は、ソルダレジスト層25の誘電率、差動伝送線路対DPでの信号の伝送速度、信号線路1aと信号線路1bとの曲折部での配線長差等に応じて、上記の伝送遅延差が許容範囲内に収まるように適宜選定される。
なお、図2には1つの曲折部のみが示されているが、差動伝送線路対DPが複数の曲折部を有する場合には、これら複数の曲折部の各々に対応して誘電率調節部を形成する、すなわち曲折部の各々に上述の開口部OP1を形成することが好ましい。
このような構成を有するICパッケージ30(図1参照)では、差動伝送線路対DPの曲折部を信号が伝播するときに内側の信号線路と外側の信号線路とに生じる伝送遅延差が誘電率調節部(開口部OP1)により抑えられるので、各信号線路1a、1bを伝播する信号の波形劣化が抑え易くなるのみならず、差動伝送線路対DPを伝播する信号間の伝送遅延差に起因するクロストークやノイズ放射を抑え易くなる。
実施の形態2.
この発明のICパッケージでは、配線基板上にソルダレジスト層を設ける一方で該ソルダレジスト層とは別の誘電体層を設けることにより、前述の誘電率調節部を形成することもできる。
図3は、ソルダレジスト層とは別の誘電体層により形成された誘電率調節部の一例を概略的に示す平面図である。同図に示す誘電率調節部27Aは、ソルダレジスト層25よりも誘電率の低い誘電体によって配線基板10上に形成された低誘電率誘電体層からなり、この誘電率調節部27Aは曲折部での外側の信号線路1bの更に外側に位置している。ソルダレジスト層25は、差動伝送線路対DPの曲折部での外側の信号線路1aの近傍に実施の形態1で説明した開口部OP1を残した状態で配線基板10上に形成されており、誘電率調節部27Aである低誘電率誘電体層は開口部OP1内に形成されて該開口部OP1を埋めている。なお、図3においては、便宜上、誘電率調節部(低誘電率誘電体層)27Aにスマッジングを付してある。
この誘電率調節部27Aを設けることにより、該誘電率調節部27Aおよび開口部OP1がない場合に比べて信号線路1bに対する実効誘電率が低くなる。その結果として、信号線路1bでは曲折部での信号の伝搬速度が早くなり、内側の信号線路1aを伝播する信号との伝送遅延差が抑えられる。誘電率調節部27Aの形状、大きさ、信号線路1bとの距離、数等は、誘電率調節部27Aの誘電率、差動伝送線路対DPでの信号の伝送速度、信号線路1aと信号線路1bとの曲折部での配線長差等に応じて、上記の伝送遅延差が許容範囲内に収まるように適宜選定される。差動伝送線路対DPが複数の曲折部を有する場合には、実施の形態1で説明したように、これら複数の曲折部の各々に対応して誘電率調節部27Aを形成することが好ましい。
上述の誘電率調節部27Aが設けられたICパッケージにおいては、実施の形態1で説明したICパッケージ30におけるのと同様の理由から、各信号線路1a、1bを伝播する信号の波形劣化が抑え易くなるのみならず、差動伝送線路対DPを伝播する信号間の伝送遅延差に起因するクロストークやノイズ放射を抑え易くなる。
実施の形態3.
図4は、ソルダレジスト層とは別の誘電体層により形成された誘電率調節部の他の例を概略的に示す平面図である。同図に示す誘電率調節部27Bは、ソルダレジスト層25よりも誘電率の大きい誘電体によって配線基板10上に形成された高誘電率誘電体層からなり、この誘電率調節部27Bは曲折部での内側の信号線路1aの更に内側に位置している。ソルダレジスト層25は、差動伝送線路対DPの曲折部での内側の信号線路1aの近傍に開口部OP2を残した状態で配線基板10上に形成されており、誘電率調節部27Bである高誘電率誘電体層は開口部OP2内に形成されて該開口部OP2を埋めている。なお、図4においては、便宜上、誘電率調節部(高誘電率誘電体層)27Bにスマッジングを付してある。
この誘電率調節部27Bを設けることにより、該誘電率調節部27Bおよび開口部OP2がない場合に比べて信号線路1aに対する実効誘電率が高くなる。その結果として、信号線路1aでは曲折部での信号の伝搬速度が遅くなり、外側の信号線路1bを伝播する信号との伝送遅延差が抑えられる。誘電率調節部27Bの形状、大きさ、信号線路1aとの距離、数等は、誘電率調節部27Bの誘電率、差動伝送線路対DPでの信号の伝送速度、信号線路1aと信号線路1bとの曲折部での配線長差等に応じて、上記の伝送遅延差が許容範囲内に収まるように適宜選定される。差動伝送線路対DPが複数の曲折部を有する場合には、実施の形態1で説明したように、これら複数の曲折部の各々に対応して誘電率調節部27Bを形成することが好ましい。
上述の誘電率調節部27Bが設けられたICパッケージにおいては、実施の形態1で説明したICパッケージ30におけるのと同様の理由から、各信号線路1a、1bを伝播する信号の波形劣化が抑え易くなるのみならず、差動伝送線路対DPを伝播する信号間の伝送遅延差に起因するクロストークやノイズ放射を抑え易くなる。
実施の形態4.
この発明のICパッケージにおいては、配線基板上にソルダレジスト層を形成することなく誘電率調節部を設けることもできる。
図5は、ソルダレジスト層が形成されていない配線基板上に設けられた誘電率調節部の一例を概略的に示す平面図である。同図に示す誘電率調節部27Cは、配線基板10上に形成された誘電体層からなり、この誘電率調節部27Cは差動伝送線路対DPの曲折部での内側の信号線路1aの更に内側に位置している。配線基板10上にはソルダレジスト層が形成されておらず、差動伝送線路対DPは裸出している。なお、図5においては、便宜上、誘電率調節部27Cにスマッジングを付してある。
この誘電率調節部27Cを設けることにより、該誘電率調節部27Cがない場合に比べて信号線路1aに対する実効誘電率が高くなる。その結果として、信号線路1aでは曲折部での信号の伝搬速度が遅くなり、外側の信号線路1bを伝播する信号との伝送遅延差が抑えられる。誘電率調節部27Cの形状、大きさ、信号線路1aとの距離、数等は、誘電率調節部27Cの誘電率、差動伝送線路対DPでの信号の伝送速度、信号線路1aと信号線路1bとの曲折部での配線長差等に応じて、上記の伝送遅延差が許容範囲内に収まるように適宜選定される。差動伝送線路対DPが複数の曲折部を有する場合には、実施の形態1で説明したように、これら複数の曲折部の各々に対応して誘電率調節部27Cを形成することが好ましい。
上述の誘電率調節部27Cが設けられたICパッケージにおいては、実施の形態1で説明したICパッケージ30におけるのと同様の理由から、各信号線路1a、1bを伝播する信号の波形劣化が抑え易くなるのみならず、差動伝送線路対DPを伝播する信号間の伝送遅延差に起因するクロストークやノイズ放射を抑え易くなる。
以上、実施の形態を4つ挙げてこの発明のICパッケージについて詳述したが、前述のように、この発明は上記の各形態に限定されるものではない。例えば、差動伝送線路対が複数の曲折部を有する場合、これら複数の曲折部の各々に対応する誘電率調節部は同じ構造のものであってもよいし、異なる構造のものであってもよい。また、差動伝送線路対を平面視したときにその周囲に位置するようにして、ソルダレジスト層上に低誘電率誘電体層または高誘電率誘電体層を形成することで誘電率調節部を構成することも可能である。そして、この発明のICパッケージを構成する配線基板の構造や、配線基板への半導体チップの実装方法、あるいは封入手段の構造は、得ようとするICパッケージの用途や性能等に応じて適宜選定可能である。その他、この発明のICパッケージについては、種々の変形、修飾、組合せ等が可能である。
この発明のICパッケージの一例を概略的に示す部分断面図である。 図1に示した配線基板に設けられている誘電率調節部を概略的に示す平面図である。 この発明のICパッケージに設けられる誘電率調節部のうちで、ソルダレジスト層とは別の誘電体層により形成された誘電率調節部の一例を概略的に示す平面図である。 この発明のICパッケージに設けられる誘電率調節部のうちで、ソルダレジスト層とは別の誘電体層により形成された誘電率調節部の他の例を概略的に示す平面図である。 この発明のICパッケージに設けられる誘電率調節部のうちで、ソルダレジスト層が形成されていない配線基板上に設けられた誘電率調節部の一例を概略的に示す平面図である。
符号の説明
1a,1b 信号線路
10 配線基板
15,20 半導体チップ
25,25A ソルダレジスト層
27A,27B,27C 誘電率調節部
30 ICパッケージ
SR1,SR2 封入樹脂層
DP 差動伝送線路対
OP1,OP2 開口部

Claims (6)

  1. 2本の信号線路により構成された差動伝送線路対を有する配線基板と、該配線基板に実装された半導体チップと、該半導体チップを遮蔽する封入手段とを具備し、前記差動伝送線路対は平面上で曲折した曲折部を有し、前記半導体チップは前記差動伝送線路対に電気的に接続された集積回路を含むICパッケージであって、
    前記差動伝送線路対の平面視上の周囲に形成されて前記曲折部での内側の信号線路に対する実効誘電率と外側の信号線路に対する実効誘電率とを調節する誘電率調節部を有することを特徴とするICパッケージ。
  2. 前記曲折部での外側の信号線路の更に外側に開口部を残した状態で前記配線基板の上面および前記差動伝送線路対を覆うソルダレジスト層を更に備え、
    前記開口部が前記誘電率調節部であることを特徴とする請求項1に記載のICパッケージ。
  3. 前記曲折部での外側の信号線路の更に外側に開口部を残した状態で前記配線基板の上面および前記差動伝送線路対を覆うソルダレジスト層と、
    前記ソルダレジスト層よりも誘電率の低い誘電体により前記開口部内に形成されて該開口部を埋める低誘電率誘電体層と、
    を更に備え、
    前記低誘電率誘電体層が前記誘電率調節部であることを特徴とする請求項1に記載のICパッケージ。
  4. 前記曲折部での内側の信号線路の更に内側に開口部を残した状態で前記配線基板の上面および前記差動伝送線路対を覆うソルダレジスト層と、
    前記ソルダレジスト層よりも誘電率の高い誘電体により前記開口部内に形成されて該開口部を埋める高誘電率誘電体層と、
    を更に備え、
    前記高誘電率誘電体層が前記誘電率調節部であることを特徴とする請求項1に記載のICパッケージ。
  5. 前記配線基板上に形成されて前記曲折部での内側の信号線路の更に内側に位置する誘電体層を更に有し、
    前記誘電体層が前記誘電率調節部であることを特徴とする請求項1に記載のICパッケージ。
  6. 前記差動伝送線路対は複数の曲折部を有し、該複数の曲折部の各々に対応して前記誘電率調節部が形成されていることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1つに記載のICパッケージ。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2016213248A (ja) * 2015-04-30 2016-12-15 株式会社デンソー 半導体装置、半導体装置の設計方法
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