JP4570547B2 - 充填剤入りエポキシ樹脂組成物及びその製造法 - Google Patents
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式中、
は沈降速度であり、
Dpは充填剤粒子の特徴的な直径、
gは重力定数、
ρpは充填剤粒子の密度、
ρは液状封止剤の密度、及び
μは液状封止剤の粘度である。
本発明の範囲の2成分エポキシ樹脂から製造した封止剤が、説明のための実施例で製造される。
ガラス充填剤粒子の製造方法を、図3に示したフローチャートにより概略説明する。スコット社がAF45の登録商標の下で市場において販売する、約588nm、約25℃で測定して約1.526の平均屈折率、及び約0.001未満のガラス内屈折率のばらつきを有し、アルカリを含有しないホウケイ酸ガラス板を粗い粒子に破砕し、8メッシュの篩を用いて篩わけを行ない、直径約2.36mm超の全ての粒子を除去した。この篩い分けした粒子を、直径20mmの3個のミリングボール及び直径15mmの15個のミリングボールとともに、100mlのジルコニア製ミリングジャーに配置した。次に、この粒子を約200rpmで約30分間遊星ボールミルした。ボールミルステップ後に得られた粒子の粒子径分布を、粒子径分析器(カルフォルニア州、アービン市のホリバ社製、型式LA−900)を用いて測定した。図4に示したように、得られた白色粉末の粒子径は、約50μmにピークをもつ、1μmから300μmの範囲である。
液状2成分エポキシ樹脂組成物の製造法を概略で図6に示す。このエポキシ樹脂組成物を下記の成分を用いて製造する:ビスフェノール−Aのジグリシジルエーテル樹脂(E3002)、脂環式エポキシ樹脂(CY179)、トリグリシジルイソシアヌレート(TIC)、硬化剤(HHPA)、及び硬化促進剤(TPPP)。このエポキシ樹脂は、密閉容器中で、約43gのE3002及び約64.5gのCY179を組み合わせて製造する。この容器を約100℃の温度のエチレングリコール浴に配置し、2成分を約300rpmで約60分間混合する。次に、この溶液に約67.5gのHHPAを加え、溶液を約300rpmで約5分間攪拌する。最後に、溶液に約1.08gのTPPPを加え、溶液を約300rpmで約120分間攪拌してエポキシ樹脂組成物を作成する。このエポキシ樹脂組成物のモル比は、E3002について約0.139、CY179について約0.861、HHPAについて約0.781、TPPPについて約0.0073である。
充填剤粒子及び液状エポキシ樹脂組成物を混合するプロセスを図7に概略示す。硬化促進剤を添加後、このエポキシ樹脂組成物を約100℃で約120分間反応させる。約100℃で測定したエポキシ樹脂組成物の粘度は、約0.8s−1のずり速度で約1,020cPであると判明する。このエポキシ樹脂組成物の約30gと充填剤の約20gを組み合わせた。得られた液状懸濁物は、約16容量%の充填剤含有量であった。液状懸濁物をハイブリッドミキサー中で約2分間混合し、続いて冷却し、約80℃の温度で、約20分間オーブン中で真空脱泡する。液状懸濁物は、冷却及び脱泡ステップの間攪拌する。別の実験で、同一の組成をもつ液状エポキシ樹脂組成物を粘度計のチャンバー内で、約100℃で約120分間反応させ、次に約100℃から約50℃の温度まで冷却する。この冷却期間中、エポキシ樹脂組成物の粘度を上記の手法で測定する。エポキシ樹脂組成物(充填剤なし)の粘度は、約0.4s−1のずり速度で、約80℃で約8,750cPである。得られた80℃の高粘度懸濁物を、約20℃の室温に保持された試料型に注入する。最後に、充填剤入りエポキシ樹脂組成物を約70℃の温度で約2時間部分硬化させ、続いて約165℃の温度で約4時間硬化させる。これにより得られた封止剤は、約13mmの直径、約14mmの長さの寸法である。
TPPPの添加後に、溶液を約120分間に代わり、100℃で約25分間攪拌することを除いて、実施例1と同様な手法で封止剤を製造し、分析する。得られたエポキシ樹脂組成物の粘度は、約100℃、約2.0s−1のずり速度で、約151cPである。この比較例で製造した封止剤、充填剤、及びエポキシ樹脂組成物の特性を表3に示す。そのCTEは、封止剤の上部で約62.0ppm/℃、中間部で約35.0ppm/℃、底部で約7.5ppm/℃である。この封止剤に対する平均CTE値は、約34.8ppm/℃であり、その全容積にわたり約±78%のばらつきを有している。この比較例の結果は、固化する前に、充填剤粒子がエポキシ樹脂組成物の底部に沈降することを示唆する。このエポキシ樹脂組成物は、充填剤と混合する前は低粘度であり、このことが粒子の急速な重力沈降、及び封止剤中で充填剤粒子の不均一分散をもたらす。したがって、CTEのばらつきは、光電子デバイス収納のためには許容不能な大きさである。
実施例1においてボールミリング及び篩い分けステップ後に除去した粒子を、この比較例では充填剤として用いたことを除いて、実施例1と同様な手法で封止剤を製造し、分析する。この充填剤は、約250μm超の径を有する粒子を含有する。この例で製造した封止剤、充填剤、及びエポキシ樹脂組成物の特性を表3に示す。そのCTEは、封止剤の上部で約62.0ppm/℃、中間部で約37.0ppm/℃、底部で約15.0ppm/℃である。平均CTEは、約38.5ppm/℃であり、封止剤の全容積にわたり約±61%のCTEのばらつきを有している。このばらつきは、約250μm超の粒子の重力沈降が原因であり、この沈降は充填剤とエポキシ樹脂組成物を混合した後に起きる。沈降は、封止剤中で充填剤粒子の不均一分散をもたらし、封止剤の不均一なCTEを生む。この封止剤は、不均一なCTEを有するために、光電子デバイスの収納に適さない。
溶媒洗浄ステップで用いた溶媒中に残留する充填剤粒子を充填剤として用いることを除いて、実施例1と同様な手法で封止剤を製造し、分析する。これらの粒子は、ろ過及び溶媒の乾燥により回収する。図8に示すように、粒子径分析器で測定した時、これらの粒子径は、1μmから100μmの範囲であり、約10μmにピークを有する。この粉末の約60容量%は、約10μm未満の径をもつ粒子から成り立つ。この例で製造した封止剤、充填剤、及びエポキシ樹脂組成物の特性を表3に示す。得られた封止剤の透過率は、約48%であり、本発明の範囲である。この実施例から得た結果は、約10μm未満の粒子が封止剤中で凝集し、これが透過率の低減をもたらすことを示している。
得られた封止剤中に充填剤粒子を含有しないことを除いて、実施例1と同様な手法で封止剤を製造し、分析する。この例で製造した封止剤、及びエポキシ樹脂組成物の特性を表3に示す。この封止剤の透過率は約91%である。しかし、平均CTEは、非常に高く、約62.0ppm/℃である。
封止剤中の充填剤量が、約16容量%である代わりに、約5容量%であることを除いて、実施例1と同様な手法で封止剤を製造し、分析する。この例で製造される封止剤、充填剤、及びエポキシ樹脂組成物の特性を表3に示す。この封止剤の透過率は約89.6%である。平均CTEは、約55.6ppm/℃であり、約±1%のCTEばらつきを有する。
封止剤中の充填剤量が、約16容量%である代わりに、約46容量%であることを除いて、実施例1と同様な手法で封止剤を製造し、分析する。この実施例で製造される封止剤、充填剤、及びエポキシ樹脂組成物の特性を表3に示す。この封止剤の透過率は約79.2%である。平均CTEは、約14.4ppm/℃であり、約±1%未満のCTEばらつきを有する。
充填剤を熱処理しないことを除いて、実施例1と同様な手法で封止剤を製造し、分析する。充填剤を雰囲気の空気中、約20℃の温度で約1時間保持した後、エポキシ樹脂組成物と組み合わせる。この実施例で製造される封止剤、充填剤、及びエポキシ樹脂組成物の特性を表3に示す。この封止剤の透過率は約69.0%である。
充填剤を、約500℃で熱処理する代わりに、約350℃で約36時間熱処理することを除いて、実施例1と同様な手法で封止剤を製造し、分析する。この実施例で製造される封止剤、充填剤、及びエポキシ樹脂組成物の特性を表3に示す。この封止剤の透過率は約69.0%である。
充填剤粒子を、約500℃で熱処理する代わりに、約650℃の温度で36時間熱処理することを除いて、実施例1と同様な手法で封止剤を製造する。この熱処理温度は、このガラスのひずみ点、約627℃を越える。得られた封止剤は、約60.5%という低減された透過率を有する。
充填剤粒子を、約500℃で熱処理する代わりに、約750℃の温度で36時間熱処理することを除いて、実施例1と同様な手法で封止剤を製造する。この熱処理温度は、このガラスのひずみ点の約627℃を越え、ガラス軟化温度の約883℃に近づく。この熱処理は、充填剤粒子の目に見える凝集を引き起こす。充填剤粒子を分離するためにやや軽い粉砕後に、封止剤を実施例1に記載したように製造する。得られた封止剤は、約46%の低減された透過率を有する。この低透過率は、凝集粒子間にエアーポケットの生成が原因である。この結果は、好ましくは熱処理温度がガラスのひずみ点未満であるべきであることを示唆する。
E3002のモル比を約0.001と約0.821の間で変動させることを除いて、実施例1と同様な手法で5種の封止剤を製造する。この実施例で製造される封止剤、充填剤、及びエポキシ樹脂組成物の特性を表3に示す。E3002のモル比の変動は、硬化段階のエポキシ樹脂組成物の屈折率を変え、その結果、22.0%から78.1%の範囲で変わる透過率をもつ封止剤をもたらす。
HHPAのモル比が、約0.781に代わり、約0.062となるようにエポキシ樹脂組成物の成分のモル量を調節することを除いて、実施例1と同様な手法で封止剤を製造する。この実施例で製造される封止剤、充填剤、及びエポキシ樹脂組成物の特性を表3に示す。この比較例では、エポキシ樹脂組成物および充填剤の混合物は、固体封止剤に硬化しない。この実施例の結果は、硬化剤のモル比が本発明の好適な範囲より低い時、個体封止剤が容易に製造できないことを証明する。
硬化剤HHPAのモル比が、0.583から1.177の範囲で変動することを除いて、実施例1と同様な手法で封止剤を製造し、分析する。この実施例で製造される封止剤、充填剤、及びエポキシ樹脂組成物の特性を表3に示す。この調節は、硬化段階のエポキシ樹脂組成物の屈折率に影響を及ぼし、その結果、21.8%から73.8%の範囲で変動する屈折率をもつ封止剤をもたらす。
この実施例で、数種のガラス充填剤材料を用いる。これらのガラスは、Schott社がK5の登録商標で販売するソーダライムガラス、及びCorning社が製品番号0211として販売するZnO−TiO2を含む。本発明の好ましい観点で使用されるホウケイ酸ガラスは、アルカリを含有しない。ZnO−TiO2ガラスのアルカリ含有量は、0.3重量%未満であり、一方、ソーダライムガラスのアルカリ含有量は、非常に高く、13重量%から17重量%の範囲である。これら3種のガラスのそれぞれの充填剤粒子を、実施例1に記載のように製造する。製造されるエポキシ樹脂組成物は、実施例1に記載のものと同一であり、それぞれの充填剤の約40重量%を含有する3種の封止剤を製造する。個別の光電子デバイスを3種のそれぞれの封止剤内に収納し、封止剤を硬化させる。
この実施例では、本発明の範囲内の3成分エポキシ組成物から封止剤を製造する。封止剤の製造方法は、図9で概略説明する。
Schott社が登録商標AF45で販売する、約588nm、約25℃で約1.526の平均屈折率、及び約0.001未満のガラス内の屈折率ばらつきをもつ、アルカリを含有しない市販のホウケイ酸ガラス板を粉砕して粗粒子を作成し、続いて8メッシュの篩に通して篩い分けして直径が2.36mm超の粒子を全て除去する。この篩い分けした粒子を、直径20mmの3個のミリングボール及び直径15mmの15個のミリングボールとともに、100mlのジルコニア製ミリングジャーに配置した。次に、この粒子を約200rpmで約30分間、遊星ボールミル(ドイツ国、Retsch GmbH社製、型式PM400)を用いて粉砕する。次に、直径が約125μm超の粉砕粒子の全てを篩により除去する。任意選択で、溶媒洗浄を行ない、充填剤中の直径が10μm未満の粒子量を減少させる。この洗浄粒子を約160℃の温度で約12時間乾燥する。
約0.333標準(normal)モルのビスフェノール−Aのジグリシジルエーテルエポキシ樹脂(E3002)、0.367標準モルの脂環式エポキシ樹脂(CY179)、及び約0.300標準モルのトリグリシジルイソシアヌレート樹脂(TIC)を複式(double)遊星ミキサー(ニューヨーク州、Hauppauge、Charles Ross&Son社製、型式DPM−4)中で混合して、第一溶液を製造する。この第一溶液を、約150rpm、約100℃の温度で約45分間混合する。約0.825標準モルのHHPAを約45℃で溶融させ、続いてこの溶融物を第一溶液に加えることにより、第二溶液を製造する。この第二溶液を、約300rpm、約100℃の温度で約5分間攪拌する。
3成分エポキシ組成物を表5に示すように変更することを除いて、実施例17と同様な手法で、7種の封止剤を製造し、分析する。それぞれの組成物を成形後、トランスファー成形機及び光電子デバイスを肉眼で検査する。プランジャーと成形型の間に充填剤入りエポキシ樹脂組成物の残存物は存在しない。また、型のランナー及びキャビテイ領域に、充填剤入りエポキシ樹脂組成物の残存物は存在しない。触手検査は、部分硬化した充填剤入りエポキシ樹脂組成物が、十分に硬質であり取り扱いに際し支障がないことを証明する。更に、デバイスの配線及びその他の部品は、損傷を受けていない。
樹脂組成物にTICを組み込まないことを除いて、実施例17と同様な手法で封止剤を製造し、分析する。成形後、トランスファー成形機及び光電子デバイスを肉眼で検査する。プランジャーと成形型の間に充填剤入りエポキシ樹脂組成物の残存物が見つかる。配線又はチップコンデンサーなどのデバイスの部品は、2成分エポキシ組成物から製造した封止剤を用いて製造したデバイスの8%超の割合で損傷を受けている。
樹脂組成物にCY179を組み込まないことを除いて、実施例17と同様な手法で封止剤を製造し、分析する。成形後、トランスファー成形機と光電子デバイスを肉眼で検査する。型のランナーとキャビテイ領域に封止剤の残存物は見つからない。触手検査すると、封止剤が柔らかくハンドリング困難であることが判る。
樹脂組成物に充填剤粒子を組み込まないことを除いて、実施例17と同様な手法で封止剤を製造し、分析する。この実施例で製造された封止剤及びエポキシ樹脂組成物の特性を表5に示す。この封止剤の透過率は約93%である。しかし、平均CTEは、非常に高く、約65.0ppm/℃である。
Claims (36)
- 光電子デバイス又は光学部品用の封止剤であって、熱膨張係数及び光透過率を特徴とする封止剤であって、
250μm未満の直径をもつガラス粒子から本質的になり、ガラス粒子が1.48から1.60の範囲の値のガラス屈折率をもち、ホウケイ酸から本質的になり、かつ封止剤の全容積の10容量%から50容量%を構成することを特徴とする充填剤と、
硬化段階のエポキシ組成物の屈折率を特徴とする、硬化段階のエポキシ樹脂組成物を含む封止剤であって、
その際、封止剤の熱膨張係数が、50ppm/℃未満の平均値を有し、±30%未満のばらつきであり、
ガラスの屈折率及び硬化段階のエポキシ樹脂組成物の屈折率が、封止剤の光透過率が400nmから900nmの範囲の波長で約1mmの封止剤厚さで測定した時に少なくとも20%になるように、十分に近似した値を有し、かつ
封止剤がエポキシ樹脂組成物を充填剤と混合して調製され、混合前のエポキシ樹脂組成物の粘度が300cPから40000cPの範囲の値を有し、かつエポキシ樹脂組成物が少なくとも1種の硬化剤、少なくとも1種の硬化促進剤、及びビスフェノール−Aエポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、トリグリシジルイソシアヌレート樹脂からなる三元エポキシ混合物を含有する封止剤。 - 封止剤の熱膨張係数が、±10%より小さいばらつきである請求項1に記載の封止剤。
- 封止剤の熱膨張係数が、40ppm/℃未満の平均値を有する請求項1に記載の封止剤。
- 封止剤の光透過率が、400nmから900nmの範囲の波長で約1mmの封止剤厚さで測定した時に少なくとも40%である請求項1に記載の封止剤。
- 封止剤の光透過率が、400nmから900nmの範囲の波長で約1mmの封止剤厚さで測定した時に少なくとも60%である請求項1に記載の封止剤。
- ガラス粒子が本質的にアルカリを含有しない請求項1に記載の封止剤。
- ガラス粒子が1μmから250μmの範囲の直径をもつ請求項1に記載の封止剤。
- ガラス粒子が1μmから125μmの範囲の直径をもつ請求項1に記載の封止剤。
- 60容量%未満の充填剤が、10μm未満の直径をもつガラス粒子を含む請求項1に記載の封止剤。
- 20容量%未満の充填剤が、10μm未満の直径をもつガラス粒子を含む請求項1に記載の封止剤。
- 10容量%未満の充填剤が、10μm未満の直径をもつガラス粒子を含む請求項1に記載の封止剤。
- 充填剤が、封止剤の全容積の15から40容量%を構成する請求項1に記載の封止剤。
- 充填剤が、熱処理温度で少なくとも約1時間熱処理されたガラス粒子を更に含み、熱処理温度がガラス粒子のひずみ点以下である請求項1に記載の封止剤。
- 熱処理温度が、20℃とガラス粒子のひずみ点の間である請求項13に記載の封止剤。
- ガラス粒子が、熱処理温度で5時間から50時間、熱処理される請求項13に記載の封止剤。
- ガラス粒子が、熱処理温度で30時間から40時間、熱処理される請求項13に記載の封止剤。
- 充填剤が、アミノプロピルトリエトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、メタクリルオキシプロピルトリエトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、及びそれらの混合物からなる群から選ばれたシランカップリング剤と反応させたガラス粒子を更に含む請求項1に記載の封止剤。
- シランカップリング剤が、アミノプロピルトリエトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、及びそれらの混合物からなる群から選ばれる請求項17に記載の封止剤。
- 硬化剤が、酸無水物硬化剤、フェノール硬化剤、及びそれらの混合物からなる群から選ばれる請求項1に記載の封止剤。
- 硬化剤が、無水フタル酸、無水マレイン酸、無水トリメリト酸、無水ピロメリト酸、無水ヘキサヒドロフタル酸、無水テトラヒドロフタル酸、無水メチルナデイック酸、無水ナデイック酸、無水グルタル酸、無水メチルヘキサヒドロフタル酸、無水メチルテトラヒドロフタル酸、及びフェノールノボラック樹脂硬化剤、及びそれらの混合物からなる群から選ばれる請求項1に記載の封止剤。
- 硬化剤が、無水フタル酸、無水ヘキサヒドロフタル酸、無水テトラヒドロフタル酸、無水メチルヘキサヒドロフタル酸、フェノールノボラック樹脂硬化剤、及びそれらの混合物からなる群から選ばれる請求項1に記載の封止剤。
- 硬化剤が、無水ヘキサヒドロフタル酸である請求項1に記載の封止剤。
- 硬化促進剤が、1,8−ジアザビシクロ[5,4,0]ウンデセン−7、トリエチレンジアミン、第三級アミン、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−メチルイミダゾール、トリフェニルホスファイト、テトラフェニルホスホニウムテトラフェニルホウ酸、テトラ−n−ブチルホスホニウム、O,O−ヂエチルホスホロジチオエート、第四級アンモニウム塩、有機金属塩、及びそれらの混合物からなる群から選ばれる請求項1に記載の封止剤。
- 硬化促進剤が、トリフェニルホスファイト、2−エチル−4−メチルイミダゾール、及びそれらの混合物なる群から選ばれる請求項1に記載の封止剤。
- ビスフェノール−Aエポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂及びトリグリシジルイソシアヌレート樹脂の総モル量に対するビスフェノール−Aエポキシ樹脂のモル量の比が、0.05から0.6の範囲である請求項1に記載の封止剤。
- ビスフェノール−Aエポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂及びトリグリシジルイソシアヌレート樹脂の総モル量に対するビスフェノール−Aエポキシ樹脂のモル量の比が、0.15から0.40の範囲である請求項1に記載の封止剤。
- ビスフェノール−Aエポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂及びトリグリシジルイソシアヌレート樹脂の総モル量に対する脂環式エポキシ樹脂のモル量の比が、0.05から0.70の範囲である請求項1に記載の封止剤。
- ビスフェノール−Aエポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂及びトリグリシジルイソシアヌレート樹脂の総モル量に対する脂環式エポキシ樹脂のモル量の比が、0.10から0.55の範囲である請求項1に記載の封止剤。
- ビスフェノール−Aエポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂及びトリグリシジルイソシアヌレート樹脂の総モル量に対するトリグリシジルイソシアヌレート樹脂のモル量の比が、0.05から0.70の範囲である請求項1に記載の封止剤。
- ビスフェノール−Aエポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂及びトリグリシジルイソシアヌレート樹脂の総モル量に対するトリグリシジルイソシアヌレート樹脂のモル量の比が、0.20から0.65の範囲である請求項1に記載の封止剤。
- ビスフェノール−Aエポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂及びトリグリシジルイソシアヌレート樹脂の総モル量に対する硬化剤のモル量の比が、0.50から1.20の範囲である請求項1に記載の封止剤。
- ビスフェノール−Aエポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂及びトリグリシジルイソシアヌレート樹脂の総モル量に対する硬化剤のモル量の比が、0.70から1.00の範囲である請求項1に記載の封止剤。
- ビスフェノール−Aエポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂及びトリグリシジルイソシアヌレート樹脂の総モル量に対する硬化促進剤のモル量の比が、0.001から0.050の範囲である請求項1に記載の封止剤。
- ビスフェノール−Aエポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂及びトリグリシジルイソシアヌレート樹脂の総モル量に対する硬化促進剤のモル量の比が、0.004から0.030の範囲である請求項1に記載の封止剤。
- 請求項1に記載の封止剤に実質的に収納された光電子デバイスを含む組立品。
- 光電子デバイス又は光学部品用の封止剤であって、熱膨張係数及び光透過率を特徴とする封止剤であって、
(1)3−グリシドキシプロピルトリメトキシシランでシリル化され、アルカリを含有しないホウケイ酸ガラスから形成されたガラス粒子から本質的になる、15容量%から40重量%の充填剤であって、この粒子が1μmから250μmの範囲の直径を有し、その10容量%未満の粒子が10μm未満の直径を有し、このガラスが約1.526の値及び約0.001未満のばらつきのガラス屈折率を特徴とする充填剤、及び
(2)60容量%から85容量%の硬化段階のエポキシ樹脂組成物であって、ビスフェノール−Aのジグリシジルエーテル樹脂、脂環式エポキシ樹脂、トリグリシジルイソシアヌレート樹脂、硬化剤、及び硬化促進剤を含む組成物から製造されたエポキシ樹脂組成物であって、ビスフェノール−Aのジグリシジルエーテル樹脂、脂環式エポキシ樹脂及びトリグリシジルイソシアヌレート樹脂の総モル量に対するビスフェノール−Aのジグリシジルエーテル樹脂のモル量の比が、0.15から0.40の範囲の値を有し、ビスフェノール−Aのジグリシジルエーテルエポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂及びトリグリシジルイソシアヌレート樹脂の総モル量に対する脂環式エポキシ樹脂のモル量の比が、0.10から0.55であり、ビスフェノール−Aのジグリシジルエーテルエポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂及びトリグリシジルイソシアヌレート樹脂の総モル量に対するトリグリシジルイソシアヌレート樹脂のモル量の比が、0.20から0.65であり、ビスフェノール−Aのジグリシジルエーテルエポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂及びトリグリシジルイソシアヌレート樹脂の総モル量に対する硬化剤のモル量の比が0.70から1.00であり、ビスフェノール−Aのジグリシジルエーテルエポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂及びトリグリシジルイソシアヌレート樹脂の総モル量に対する硬化促進剤のモル量の比が0.004から0.030である硬化段階のエポキシ樹脂組成物を含む封止剤であって、
その際、封止剤の熱膨張係数が、約40ppm/℃未満の平均値及び約±10%未満のばらつきであり、かつ封止剤の光透過率が、400nmから900nmの波長範囲で1mmの封止剤厚さで測定した時に、少なくとも20%であって、
充填剤がエポキシ樹脂組成物内に分散され、かつ
充填剤のエポキシ樹脂組成物内への分散前のエポキシ樹脂組成物の粘度が300cPから40000cPの範囲の値を有する封止剤。
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