JP2002265568A - 光半導体封止用エポキシ樹脂組成物及び光半導体装置 - Google Patents

光半導体封止用エポキシ樹脂組成物及び光半導体装置

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JP2002265568A
JP2002265568A JP2001069308A JP2001069308A JP2002265568A JP 2002265568 A JP2002265568 A JP 2002265568A JP 2001069308 A JP2001069308 A JP 2001069308A JP 2001069308 A JP2001069308 A JP 2001069308A JP 2002265568 A JP2002265568 A JP 2002265568A
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JP
Japan
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epoxy resin
resin composition
optical semiconductor
filler
composition
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Application number
JP2001069308A
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English (en)
Inventor
Satoshi Segawa
聡 瀬川
Shinji Komori
慎司 小森
Masahito Akiyama
仁人 秋山
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Sumitomo Bakelite Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Bakelite Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 透明性、離型性、流動性および耐半田性に優
れた光半導体封止用エポキシ樹脂組成物及びその硬化物
で封止された光半導体装置を提供する。 【解決手段】 エポキシ樹脂、酸無水物硬化剤、硬化促
進剤、特定の離型剤(D)、炭素数12〜26の脂肪酸
のグリセリンエステルからなる相溶化剤(E)、充填材
(F)を必須成分とし、充填材(F)が、 SiO2、C
aO、およびAl 23を主成分としてなるガラス粒子で
あり、かつ前記(F)成分以外の成分からなる組成物の
硬化物の屈折率と、充填材(F)の屈折率との差が0.
01以下であることを特徴とする光半導体封止用エポキ
シ樹脂組成物、および、その硬化物で封止された半導体
装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、透明性、離型性及
び流動性に優れた光半導体封止用エポキシ樹脂組成物及
びその硬化物で封止された光半導体装置に関するもので
ある
【0002】
【従来の技術】オプトデバイスの分野においても、近年
電子デバイスと同様、高密度実装のトレンドから表面実
装パッケージが主流になりつつある。また一方で生産効
率の向上を目的に成形のオートモールド化が進行してい
る。このような技術動向からオプトデバイス用封止材に
おいて、透明性以外に、離型性、耐半田性、流動性が強
く求められている。
【0003】光半導体封止用エポキシ樹脂組成物として
は、これまでに数多く示されている。例えば、特許第2
970214号公報では、特定構造のエポキシ樹脂を用
いることで耐熱性と透明性が得られることが示されてい
るが、硬化剤に酸無水物を用いているため、酸無水物基
の親水性が高さから、樹脂組成物の吸水率が高くなり、
表面実装型の光半導体パッケージを、IRリフロー等で
実装すると、半田クラックが多発するという問題があ
る。
【0004】上記の問題点を解決するために、シリカな
どの無機質充填材を高い比率で充填することで、吸水
率、線膨張係数を低下させる手法があるが、光半導体封
止材は透明性が必要であることから、充填材を添加する
と透明性が低下するという問題点がある。特開平6−6
5473号公報では、SiO2、CaOおよびAl23
を主成分とするガラス粒子を、充填材として用いる技術
が述べられている。この技術によれば、各成分の組成を
変化させることで、充填材の屈折率を容易に変化させ、
レジンと充填材の屈折率を整合させることで透明性を向
上させる技術の開示がなされている。しかし耐半田性向
上のために本発明の光半導体封止用エポキシ樹脂組成物
に該技術によるガラス充填材を用いたところ、充填材を
添加していくに従い著しく流動性が低下するという問題
が発生した。
【0005】光半導体封止用エポキシ樹脂組成物の場
合、一般に離型性と透明性の両立が困難であり、離型技
術も重要な項目である。従来公知の内部離型材は、離型
性は向上するものの、硬化物の濁りを生じ透明性が低下
する問題がある。一方、外部離型剤を用いると、成形す
るごとに離型剤を金型に直接塗布する必要があり、生産
効率を下げることになる。
【0006】すなわち、透明性、離型性、流動性および
耐半田性の面でこれらの特性を満たす組成物は、いまだ
知られていない。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、透明性、離
型性、流動性および耐半田性に優れた光半導体封止用エ
ポキシ樹脂組成物及びその硬化物で封止された光半導体
装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、特定の離
型剤、相溶化剤及びガラス充填材を用いることにより、
透明性、離型性、流動性および耐半田性に優れた光半導
体封止用エポキシ樹脂組成物を得られることを見出し
た。
【0009】即ち本発明は、1分子内に2個以上のエポ
キシ基を有するエポキシ樹脂(A)、酸無水物硬化剤
(B)、硬化促進剤(C)、一般式(1)で表される離
型剤(D)、炭素数12〜26の脂肪酸のグリセリンエ
ステルからなる相溶化剤(E)、充填材(F)を必須成
分とし、充填材(F)が、 SiO2、CaO、およびA
23を主成分としてなるガラス粒子であり、かつ前記
(F)成分以外の成分からなる組成物の硬化物の屈折率
と、充填材(F)の屈折率との差が0.01以下である
ことを特徴とする光半導体封止用エポキシ樹脂組成物、
および、その硬化物で封止された半導体装置である。
【0010】
【化3】 (但し、式中、kの値が40〜60であり、mの値は1
〜5であり、nの値が15〜45である。 R1、R2
水素原子もしくは一価のアルキル基であり、少なくとも
一方が一価のアルキル基である。)
【0011】
【発明の実施の形態】本発明に用いる、1分子内に2個
以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂(A)は、1分
子内に2個以上のエポキシ基を有していれば、何ら制限
されるものではなく、ビスフェノールA型エポキシ樹
脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノール
S型エポキシ樹脂、一般式(2)に代表される、複数の
ビスフェノール骨格を一分子内に有するエポキシ樹脂な
どのビスフェノール型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポ
キシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレ
ゾールノボラック型エポキシ樹脂などのノボラック型エ
ポキシ樹脂、トリスフェノールメタン型エポキシ樹脂な
どの芳香族多官能エポキシ樹脂、トリグリシジルイソシ
アヌレートなどの多官能複素環式エポキシ樹脂、ポリ
(エポキシ化シクロヘキセンオキサイド)などの多官能
脂環式エポキシ樹脂等が上げられるが、特にこれらに限
定されるものではなく、単独もしくは2種以上用いても
何ら差し支えない。
【0012】これらのうち、透明性に優れるという面で
は、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノール
F型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、
水添ビスフェノールA型エポキシ樹脂、一般式(2)に
代表される、複数のビスフェノール骨格を一分子内に有
するエポキシ樹脂などのビスフェノール型エポキシ樹脂
が好ましい。中でも、一般式(2)で示されるエポキシ
樹脂は、ビスフェノールA型エポキシ樹脂の色調安定性
とビスフェノールF型エポキシ樹脂の低粘度の性質を兼
ね備えるため、特性上より好ましい。
【0013】
【化4】 (但し、式中、RはC(CH32およびCH2を表し、
それぞれ少なくとも1個以上有する。nは1以上であ
る。)
【0014】また、透明性に優れるエポキシ樹脂として
は、波長300nm以下の短波長に吸収のある芳香環を
分子内に有さない複素環式のエポキシ樹脂も好ましい。
ここで言う複素環式とは2種以上の原子で形成された環
を有する化合物のことである。このようなエポキシ樹脂
としては、トリグリシジルイソシアヌレートやそのオリ
ゴマーなどが上げられ、中でもトリグリシジルイソシア
ヌレートを用いた場合、多官能であるため、硬化物の耐
熱性も高くなり、より好ましい。
【0015】本発明に用いる酸無水物硬化剤(B)とし
ては、無水フタル酸、無水マレイン酸、無水トリメリッ
ト酸、無水ピロメリット酸、ヘキサヒドロ無水フタル
酸、3−メチル−ヘキサヒドロ無水フタル酸、4−メチ
ル−ヘキサヒドロ無水フタル酸、あるいは3−メチル−
ヘキサヒドロ無水フタル酸と4−メチル−ヘキサヒドロ
無水フタル酸との混合物、テトラヒドロ無水フタル酸、
無水ナジック酸、無水メチルナジック酸などが例示され
るが、特にこれらに限定されるものではなく、単独もし
くは2種以上用いても差し支えない。
【0016】本発明に用いる硬化促進剤(C)として
は、通常、エポキシ樹脂のアニオン硬化に用いられるも
のは、すべて使用可能である。具体的には、イミダゾー
ル類、3級アミン、4級アンモニウム塩、1,8−ジア
ザビシクロ(5,4,0)ウンデセン−7などの双環式
アミジン類とその誘導体、ホスフィン、ホスホニウム塩
などが例示されるが、硬化性がよく、硬化時に着色がな
いものであれば、何ら限定されるものではなく、単独で
も2種以上用いても差し支えない。特に2−メチルイミ
ダゾールなどのイミダゾール類は、少量の添加量でもエ
ポキシ樹脂に対して高い活性を示し、150℃程度の比
較的低い硬化温度であっても硬化することができより好
ましい。
【0017】本発明で用いる離型剤(D)は、一般式
(1)で表される化合物である。
【0018】
【化5】 (但し、kの値が40〜60であり、mの値は1〜5で
あり、nの値は15〜45である。R1、R2は水素原子
もしくは一価のアルキル基であり、少なくとも一方が一
価のアルキル基である。)
【0019】一般式(1)で表される化合物は、1分子
内にエポキシ樹脂に相溶するポリエーテル構造と相溶し
ない炭化水素の構造を有しているため、従来の離型剤と
は異なり透明性と離型性を両立することができる。また
離型剤に結晶性があるとくもりの原因になる場合がある
が、本発明の離型剤は一般式(1)中のR1、R2の少な
くも一つはメチル基であるため、非晶性となるため、く
もることがない。
【0020】離型剤(D)は、当業者間では公知の技術
によって合成することができる。例えば、長鎖のアルコ
ール、例示すると炭素数40の脂肪族アルコールと所定
量のプロピレンオキサイドを反応させ、続けて所定量の
エチレンオキサイドを付加重合することで得ることがで
きる。
【0021】離型剤(D)の添加量としては、エポキシ
樹脂組成物中に0.01重量パーセント以上、5重量パ
ーセント以下の割合で配合されていることがより好まし
く、0.01重量パーセントを下まわるとパッケージの
離型性が悪く、また5重量パーセントを越えると、相分
離が発生し、硬化物にくもりが生じ透明性が低下する場
合がある。
【0022】本発明に用いる相溶化剤(E)は、主鎖炭
素数炭素数12〜26の脂肪酸のグリセリンエステルで
あり、グリセリンモノベヘネート、グリセリンモノステ
アレートなどが例示でき、それらは良好な相溶化効果を
有し、成形時のエポキシ樹脂硬化物と成形金型の接触面
の摩擦を低減させることで流動性を向上させることがで
きる。
【0023】相溶化剤(E)の添加量として、エポキシ
樹脂組成物中0.01重量パーセント以上、10重量パ
ーセント以下の割合で配合されることがより好ましく、
0.01重量パーセントを下回ると流動性が改善され
ず、10重量パーセントを超えると硬化性が低下しガラ
ス転移温度の低下をもたらす場合がある。
【0024】本発明に用いる充填材(F)は、Si
2、CaO、およびAl23を主成分としてなるガラ
ス粒子であれば、その粒径や形状、その他の無機成分を
加えることに関しては何ら制限は無い。ただし本発明に
用いる充填材(F)は、本発明の樹脂組成物において、
成分(F)以外の成分からなる組成物の硬化物と、充填
材(F)との屈折率の差が0.01以下であることを特
徴とする。本発明の樹脂組成物における(F)成分以外
の成分に、充填材(F)の屈折率を整合するためには、
SiO2を40〜70重量%、CaOを1〜40重量
%、Al23を5〜30重量%、合計で100重量%と
なるような組成が好ましい。ただし、必要に応じて、他
成分として金属元素類、金属酸化物類などを添加するこ
とは差し支えない。また、本発明に用いる充填材(F)
の、原料となるガラスは、5mmの光路長における波長
400nmの直線光透過率が80%以上となるようガラ
ス中の気泡が低減されていることが好ましい。ガラスの
気泡を低減する手法としては、必要に応じて消泡剤など
の添加剤を利用することもできる。
【0025】本発明で、さらに高い透明性を得るために
は、ガラス充填材(F)が球状であり、平均粒径が5μ
m以上、100μm以下であると良い。形状を球状とす
ることにより、光の散乱損失を小さく抑えることができ
る。また平均粒径が5μm未満の場合、ガラス粉末が凝
集して透明性を低下させる。一方、平均粒径が100μ
mを越える場合、樹脂組成物成形時に金型のゲート部で
樹脂詰まりがおこり、未充填となる場合がある。
【0026】ガラス充填材(F)の配合量としては、エ
ポキシ樹脂組成物中に5〜70重量%であることがより
好ましい。配合量が5重量%未満の場合、吸水率の低減
効果が僅かであり、耐半田性が向上しない場合がある。
一方70重量%を超える場合、流動性や透明性が低下し
たり、成形不良が生じる場合がある。
【0027】本発明の光半導体封止用エポキシ樹脂組成
物には、上記成分以外に必要に応じて従来公知の他のエ
ポキシ樹脂、酸化防止剤、離型剤、カップリング剤、充
填剤等の当業者にて公知の添加剤、副資材を組み合わせ
ることは何らさしつかえない。
【0028】本発明のエポキシ樹脂組成物の、エポキシ
樹脂と酸無水物硬化剤の配合比としては、酸無水物基1
に対し、エポキシ基が0.9〜1.3となるような配合
比が好ましく、1.0〜1.2となるような配合比がよ
り好ましい。また、エポキシ樹脂(A)および硬化剤
(B)の、総重量を100重量部とした時、硬化促進剤
(C)の添加量は、0.5〜2重量部が好ましい。
【0029】本発明の樹脂組成物は、(A)〜(F)成
分、及びその他の添加剤をミキサー等を用いて混合後、
加熱ニーダ・熱ロール、押し出し機等を用いて加熱混練
し、続いて冷却、粉砕することで得られる。また
(A)、(B)成分を予め反応釜等で加熱混合し、Bス
テージ状態の樹脂組成物を得た後に前述工程を経る方法
も本発明の技術的範囲に含まれる。
【0030】このようにして得られた光半導体封止用エ
ポキシ樹脂組成物の硬化物を用いて封止された光半導体
装置も本発明の技術的範囲に含まれる。
【0031】
【実施例】以下に、本発明について更に詳細に説明する
ため実施例を示すが、これらに本発明が限定されるもの
ではない。
【0032】(実施例1〜7、比較例1〜4)(A)〜
(F)成分に相当する成分を表1、2に示した配合割合
で混合し、2本ロールを用いて50〜90℃で5分間混
練し、得られた混練物シートを冷却後粉砕して樹脂組成
物を得た。評価方法は以下の通り。結果は表1、2にま
とめて示す。
【0033】[光透過率の測定]上記の樹脂組成物タブ
レットを、金型温度150℃、注入圧力6.86MP
a、硬化時間90秒の条件でトランスファー成形し、3
0×10×1mmの成形品を得た。この成形品を、積分
球を搭載した分光光度計(島津製作所製自記分光光度計
UV−3100)を用いて、波長400nm、厚み1m
mの光透過率を測定した。
【0034】[ガラス転移温度の測定]上記の樹脂組成
物タブレットを、金型温度150℃、注入圧力6.86
MPa、硬化時間90秒の条件でトランスファー成形
し、この成形品を、温度150℃の熱風オーブンで2時
間ポストキュアした後、熱膨張計(セイコー電子社製T
MA120)を用い、5℃/分の昇温速度で昇温して、
前記成形品の伸び率が急激に変化する温度をガラス転移
点として測定した。
【0035】[吸水率の評価]上記の樹脂組成物タブレ
ットを、金型温度150℃、注入圧力6.86MPa、
硬化時間90秒の条件でトランスファー成形し、直径5
0mm、厚み3mmの円板状の成形品を得た。この成形
品を、温度150℃の熱風オーブンで2時間ポストキュ
アした後、温度85℃、相対湿度85%に設定した恒温
恒湿槽に168時間放置し、保管前後の重量変化率を吸
水率として測定した。
【0036】[流動性の評価]成形前の樹脂組成物を、
EMMI−I−66に準じたスパイラルフロー測定用の
金型を用い、成形温度175℃、注入圧力6.86MP
a、硬化時間5分の条件で成形し、充填した長さより流
動性を測定した。
【0037】[離型性の評価]上記の樹脂組成物タブレ
ットを、メラミン樹脂クリーニング材によりクリーニン
グ済みの表面実装用パッケージ(12ピンSOP、4×
5mm、厚み1.2mm、チップサイズは1.5mm×
2.0mm、リードフレームは42アロイ製)金型を用
いて、金型温度150℃、注入圧力6.86MPa、硬
化時間90秒でトランスファー成形した。評価はパッケ
ージがイジェクトピンによって金型から離型する場合を
○、パッケージの変形やクラックが発生する場合を×と
した。
【0038】[耐半田性の評価]上記の樹脂組成物タブ
レットを、メラミン樹脂クリーニング材によりクリーニ
ング済みの表面実装用パッケージ(12ピンSOP、4
×5mm、厚み1.2mm、チップサイズは1.5mm
×2.0mm、リードフレームは42アロイ製)金型を
用いて、金型温度150℃、注入圧力6.86MPa、
硬化時間90秒でトランスファー成形し、温度150℃
の熱風オーブンで、2時間後硬化させた。得られた光半
導体パッケージを、温度85℃、相対湿度60%の環境
下で、168時間放置し、その後240℃のIRリフロ
ー処理を行った。処理したパッケージを顕微鏡及び超音
波探傷装置で観察し、クラック、チップと樹脂との剥離
の有無を確認した。
【0039】
【表1】
【0040】表1中、注1:油化シェルエポキシ製ビス
フェノールA型エポキシ樹脂(エポキシ当量475)、
注2:三井化学製ビスフェノール型エポキシ樹脂(エ
ポキシ当量950、一般式(2)で表されるエポキシ樹
脂で、R=C(CH32が70%、CH2が30%含
み、n=4)、注3:日本化薬製オルソクレゾールノボ
ラック型エポキシ樹脂(エポキシ当量210)、注4:
日産化学製トリグリシジルイソシアヌレート(エポキシ
当量100)、 注5:新日本理化製ヘキサヒドロ無水
フタル酸とメチルヘキサヒドロ無水フタル酸との混合
物、 注6:新日本理化製テトラヒドロ無水フタル
酸、、 注7:サンアプロ製ジアザビシクロウンデセン
オクチル酸塩 、 注8:日本ユニカー製シラン系カッ
プリング剤、 注9: 一般式(1)で表される離型剤
である化合物A (k=48、m=2、n=21、R1
H、R2=CH3)、注10: 一般式(1)で表される
離型剤である化合物B、k=54、m=4、n=18、
1=H、R2=CH3CH2CH2、注11:理研ビタミ
ン製グリセリンモノベヘネート、 注12:理研ビタミ
ン製グリセリンモノステアレート、注13:成分(F)
に該当する、原料ガラスが5mm厚で400nmの光透
過率が79%である、平均粒径30μmの球状ガラス
(脱泡処理なし)、注14:成分(F)に該当する、原
料ガラスが5mm厚で400nmの光透過率が91%で
ある、脱泡処理した平均粒径28μm球状ガラス、注1
5:成分(F)に該当する、原料ガラスが5mm厚で4
00nmの光透過率が84%である、脱泡処理した平均
粒径29μm球状ガラス、注16:成分(F)に該当す
る、原料ガラスが5mm厚で400nmの光透過率が9
2%である、脱泡処理した平均粒径30μmの球状ガラ
【0041】表の結果より明らかなように、本発明の樹
脂組成物は優れた透明性、離型性、流動性および耐半田
性を有していることがわかる。
【0042】
【発明の効果】本発明の製造方法によって得られた光半
導体封止用エポキシ樹脂組成物は透明性、離型性、流動
性および耐半田性に優れており、高い信頼性を有したオ
プトデバイスを提供することができる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 23/31 C08L 71:02) //(C08L 63/00 H01L 23/30 F 71:02) Fターム(参考) 4J002 CD051 CD131 CH022 DL006 EH047 FA086 FD016 FD162 FD207 GQ05 4J036 AA01 AB17 AC02 AD07 AD08 AD21 AF06 AF08 DB17 DC05 DC40 DC46 FA05 FA10 FB12 JA07 4M109 AA01 CA21 EA02 EA03 EB02 EB04 EB09 EB12 EC05 EC11 EC20 GA01

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】1分子内に2個以上のエポキシ基を有する
    エポキシ樹脂(A)、酸無水物硬化剤(B)、硬化促進
    剤(C)、一般式(1)で表される離型剤(D)、炭素
    数12〜26の脂肪酸のグリセリンエステルからなる相
    溶化剤(E)、充填材(F)を必須成分とし、充填材
    (F)が、 SiO2、CaO、およびAl23を主成分
    としてなるガラス粒子であり、かつ前記(F)成分以外
    の成分からなる組成物の硬化物の屈折率と、充填材
    (F)の屈折率との差が0.01以下であることを特徴
    とする光半導体封止用エポキシ樹脂組成物。 【化1】 (但し、式中、kの値が40〜60であり、mの値は1
    〜5であり、nの値が15〜45である。 R1、R2
    水素原子もしくは一価のアルキル基であり、少なくとも
    一方が一価のアルキル基である。)
  2. 【請求項2】 1分子内に2個以上のエポキシ基を有す
    るエポキシ樹脂(A)が、ビスフェノール型エポキシ樹
    脂、及び複素環式エポキシ樹脂からなる群より、少なく
    とも一つ選ばれることを特徴とする、請求項1に記載の
    光半導体封止用エポキシ樹脂組成物。
  3. 【請求項3】 ガラス粒子が、平均粒径5μm以上、1
    00μm以下の球状であり、5mmの光路長で波長40
    0nmにおいて80%以上の直線光透過率を有すること
    を特徴とする請求項1に記載の光半導体封止用エポキシ
    樹脂組成物。
  4. 【請求項4】 1分子内に2個以上のエポキシ基を有す
    るエポキシ樹脂(A)が、一般式(2)で表されるエポ
    キシ樹脂及びトリグリシジルイソシアヌレートからなる
    群より、少なくとも一つ選ばれることを特徴とする、請
    求項1記載の光半導体封止用エポキシ樹脂組成物。 【化2】 (但し、式中、RはC(CH32およびCH2を表し、
    それぞれ少なくとも1個以上有する。nは1以上であ
    る。)
  5. 【請求項5】 離型剤(D)が、エポキシ樹脂組成物中
    に0.01重量パーセント以上、5重量パーセント以下
    の割合で配合されていることを特徴とする請求項1記載
    の光半導体封止用エポキシ樹脂組成物。
  6. 【請求項6】 相溶化剤(E)が、エポキシ樹脂組成物
    中に0.01重量パーセント以上、10重量パーセント
    以下の割合で配合されていることを特徴とする請求項1
    記載の光半導体封止用エポキシ樹脂組成物。
  7. 【請求項7】 請求項1〜6記載のいずれかの光半導体
    封止用エポキシ樹脂組成物の硬化物で封止された光半導
    体装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2008031229A (ja) * 2006-07-26 2008-02-14 Matsushita Electric Works Ltd 光半導体封止用エポキシ樹脂組成物及び光半導体装置
JP2009007407A (ja) * 2007-06-26 2009-01-15 Panasonic Electric Works Co Ltd 封止用エポキシ樹脂組成物および半導体装置

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